「Probe Unit」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

The ultrasonic probe 13 includes a probe body 21 applied to a subject, a communication unit 22 communicating with the ultrasonic monitor 12, and a communication cable 23 connecting them.例文帳に追加

超音波プローブ１３は、被検体に宛がうプローブ本体２１と、超音波観測器１２と通信する通信ユニット２２と、これらを繋ぐ通信ケーブル２３とからなる。 - 特許庁

When the attachment/detachment detection sensor 54 detects that the probe is detached, a control unit 23 automatically sets the maximum number of rotations of the probe at a low value.例文帳に追加

着脱検出センサ５４が、プローブが取り外されたことを検出したときには、コントロールユニット２３がプローブの最大回転数を低い値に自動的に設定する。 - 特許庁

A control unit 334 is connected to communicate with the probe 304, and is configured to receive one or more signals indicating the detected electromagnetic energy from the probe 304.例文帳に追加

制御ユニット３３４がプローブ３０４と通信するよう接続され、且つ、検知された電磁エネルギを示す１以上の信号をプローブ３０４から受信するように構成される。 - 特許庁

A stage 10 and an image acquisition device are relatively moved to acquire images of respective probe pins 48 of a probe unit 40 by the CCD camera 25 of the image acquisition device.例文帳に追加

ステージ１０と画像取得装置とを相対的に移動し、画像取得装置のＣＣＤカメラ２５により、プローブユニット４０の各プローブピン４８の画像を取得する。 - 特許庁

This calibration device 1 is mainly formed of a calibration robot 30 for holding and moving a probe 34 and a control unit 40 for controlling the calibration by the probe 34.例文帳に追加

プローブ３４を保持して移動させるキャリブレーションロボット３０と、プローブ３４によるキャリブレーションを制御する制御部４０と、を主体に、キャリブレーション装置１を構成する。 - 特許庁

Mobile probe unit 21 adjusts an opening 23 corresponding to different sizes of different kinds of liquid crystal panels 22 and adjusts the position of a probe needle.例文帳に追加

品種の違う液晶パネル２２の異なる寸法に応じて、開口２３Ａを調整すると共に、プローブ針の位置を調整する可動式プローブユニット機構２１である。 - 特許庁

The transmitting probe 3a of an ultrasonic oscillator 3 is disposed at an inspecting position of spray-coated film 2 and the receiving probe 4a of an AE unit 4 is disposed on a sound part.例文帳に追加

溶射被膜２の検査位置に超音波発振器３の送信用探触子３ａを置き、健全部上にＡＥ装置４の受信用探触子４ａを置く。 - 特許庁

This confocal optical scanning probe device consists of a probe 1, having a scanner, a controller 2 to drive the scanner, an optical unit 3, an imaging device 4 and a monitor 5.例文帳に追加

この共焦点光走査プロープ装置は、スキャナを有するプローブ１と、スキャナを駆動する制御装置２と、光学ユニット３と、画像化装置４と、モニタ５とからなる。 - 特許庁

To achieve a base unit which does not need soldering work and can easily secure connection with a probe card side connector, only the probe card side connector being easily replaced and repaired.例文帳に追加

半田付け作業が必要とされず、容易にプローブカード側コネクタとの接続が確保でき、容易にプローブカード側コネクタのみ交換し修理が容易なベースユニットを実現する。 - 特許庁

To offer a probe card unit equipped with a probe card wafer which securely establishes electrical connection with the pads of two or more semiconductor devices formed on a semiconductor substrate to be measured.例文帳に追加

被測定用半導体基板に形成された複数の半導体装置のパッドと確実に電気的に接続されるプローブカードウェハを備えたプローブカード装置を提供する。 - 特許庁

A transfer mechanism is provided between a metal film preparation unit and a measurement unit; by enabling a speedy transition to measurement, immediately after the preparation of a probe coated with a metal film, contamination of the probe due to the atmosphere is alleviated.例文帳に追加

金属膜作製ユニットと測定ユニットの間に搬送機構を設け、金属膜をコートしたプローブを作製し次第、迅速に測定に移る事を可能にすることにより、大気によるプローブの汚染を軽減する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe which compulsorily recovers and discards heat generated at a probe handle wherein the probe handle has a simple structure that resembles a natural air cooling structure and a compulsorily cooling unit is easily exchanged when the unit is broken down or the like.例文帳に追加

プローブハンドルで発生する熱を強制的に回収・廃熱する超音波プローブにおいて、プローブハンドルの構造を自然空冷に類似する単純な構造とし、かつ強制冷却ユニットが故障等した場合であっても容易に交換可能な超音波プローブを提供すること。 - 特許庁

A probe control unit 142 chooses a measurement probe from the plurality of the probes depending on the size of the cell block, and the probe chosen is arranged on the selected cell block using image data of the semiconductor wafer.例文帳に追加

プローブ制御部142は、前記セルブロックの大きさによって前記複数の測定プローブから一つを選択し、前記半導体基板のイメージデータを用いて前記選択された測定プローブを前記選択されたセルブロック上に整列させる。 - 特許庁

The probes 20 are not fixed by screws or machine screws, etc. and are placed on a bottom surface of a probe housing recess room 45 with body parts thereof inserted into probe holding holes so that the probe unit 1 enables extremely easy replacement work of probes.例文帳に追加

プローブ２０は、ネジやビスなどで固定されることなく、本体部をプローブ保持孔に挿通した状態で、プローブ収納凹室４５の底面に載置されるため、プローブユニット１は、極めて容易なプローブ交換作業を可能にする。 - 特許庁

The probe 2 is inserted removably into the probe insertion hole 40 of the protective sleeve 4 and surrounded by the inner wall face 41 of the protective sleeve 4 while exposing the forward end part of the heat resistant tube 21 and the probe unit 1 is used under that state.例文帳に追加

プローブ２を保護スリーブ４のプローブ挿通孔４０に離脱可能に挿通し、耐熱管２１の先端部を露出させつつプローブ２を保護スリーブ４の内壁面４１で包囲する構成とし、この状態で使用する。 - 特許庁

To provide a probe unit highly reliable in continuity to a specimen, a continuity test method, and its manufacturing method.例文帳に追加

検体と導通できる確実性が高いプローブユニット、導通試験方法及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

This fit-in type micro touch unit is manufactured by a micro mechano-electric process, and includes an arm 41 and a probe tip end part 43.例文帳に追加

マイクロ機電工程により製作され、かつアーム４１とプローブ尖端部４３と嵌入部４５とを備える。 - 特許庁

To replace the stop frequency of a vehicle included in probe information with stop frequency by a link unit.例文帳に追加

プローブ情報に含まれる車両の停止回数を、リンク単位での停止回数に置き換えられるようにする。 - 特許庁

Each contact resistance value of the plurality of probes provided to the probe unit is calculated based on the measuring result.例文帳に追加

その測定結果に基づいて、プローブユニットが備える複数のプローブの各々の接触抵抗値を計算する。 - 特許庁

A medium chamber is formed in the ultrasonic probe and has the oscillator unit 16 making oscillating movements in the inside.例文帳に追加

超音波探触子内には媒体室が形成され、その内部において振動子ユニット１６が揺動運動する。 - 特許庁

A scanner 10 mounting a sample 8 that is arranged oppositely to the probe 3 in the base unit 13.例文帳に追加

ベースユニット１３内には、探針３に対向配置される試料８を載置するスキャナ１０が設けられている。 - 特許庁

PROBE AND TARGET REACTING METHOD USING BIOCHEMICAL ANALYZING UNIT AND REACTION VESSEL USED IN BIOCHEMICAL ANALYSIS例文帳に追加

生化学解析用ユニットを用いたプローブとターゲットの反応方法及び生化学解析に用いられる反応容器 - 特許庁

The lower unit 200 is elevated when inspecting a printed circuit board 11, and the probe 210 contacts with a contact point 14.例文帳に追加

プリント基板１１の検査時、下部ユニット２００が上昇して、プローブ２１０が接触ポイント１４に接触する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a probe unit of high durability, with high geometrical accuracy and high positional accuracy.例文帳に追加

耐久性、形状精度及び位置精度が高いプローブを備えたプローブユニットの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a prove unit and its manufacturing method which prevents a probe from dropping from electrodes of a sample under test.例文帳に追加

検体の電極からプローブが脱落することを防止できるプローブユニット及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a unit performing pitch conversion of a probe card used for inspecting a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハを検査する場合に使用されるプローブカードのピッチ変換を行うためのピッチ変換ユニットの提供。 - 特許庁

A multi-display control unit 23 transmits a probe packet 90 containing reference image data to display units 25 to 28.例文帳に追加

マルチディスプレイ制御部２３は、基準画像データを含むプローブパケット９０をディスプレイユニット２５〜２８に送信する。 - 特許庁

To provide a probe card in which a contact unit can smoothly move up and down against a main substrates and can prevent the horizontal movement of the contact unit.例文帳に追加

コンタクトユニットをメイン基板に対してスムーズに上下動させられ、かつ、コンタクトユニットの水平方向の移動を阻止することができるプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a probe card which can smoothly move a contact unit vertically with respect to a main substrate and suppress the horizontal movement of the contact unit.例文帳に追加

コンタクトユニットをメイン基板に対してスムーズに上下動させられ、かつ、コンタクトユニットの水平方向の移動を抑制できるプローブカードを提供する。 - 特許庁

The ocean data measurement device 1 is equipped with: a supporting unit 20 supporting a probe 10 measuring ocean data removably to a ship 11 as a supporting object; a winding unit 30 winding ropes 12 connecting the probe 10 with a ship 11 from the ship 11 side; and a winding unit 40 winding the ropes 12 around periphery of the probe 10.例文帳に追加

海洋データ測定装置１は、海洋のデータを測定するプローブ１０を支持対象である船舶１１に着脱可能に支持する支持ユニット２０と、船舶１１とプローブ１０とを連結するロープ１２を、船舶１１側から巻き取る巻取りユニット３０と、ロープ１２をプローブ１０の周りに巻きつける巻きつけユニット４０と、を備える。 - 特許庁

The equipment is provided with a data processing unit 11 having a net information extracting part 17 extracting information of nets, a moving type test probe controlling unit 12 which controls a inspection probe by using information outputted from the data processing unit 11, and an electric detecting device 13 detecting electric information from the inspection probe and judging electric continuity or discontinuity.例文帳に追加

ネットの情報を抽出するネット情報抽出部１７を備えたデータ処理装置１１と、データ処理装置１１からの出力情報により検査プローブを制御する移動式検査プローブ制御装置１２と、検査プローブからの電気情報を検出し導通・非導通を判定する電気検出装置１３とを有する。 - 特許庁

The probe unit includes: a plate-like probe base; a support base arranged on the probe base; a probe device that is supported by the probe base and has multiple probes with front-end needlepoints and back-end needlepoints; and an electrical connection accessory that extends from the probe device toward the backside and has multiple wires extending in the anteroposterior direction with the front edge of each wiring connected to the back-end needlepoint.例文帳に追加

プローブユニットは、板状のプローブベースと、該プローブベースの上に配置された支持台と、該支持台に支持されたプローブ装置であって、先端針先及び後端針先を有する複数のプローブを備えるプローブ装置と、該プローブ装置から後方へ延びる電気的接続具であって、前後方向へ延びる複数の配線を有し、かつ各配線の先端部が後端針先に接続された電気的接続具とを含む。 - 特許庁

A method for controlling a probe signal that the user unit of a communication system transmits is constituted of a state receiving information from the system unit of a communication system and a stage controlling the probe signal based on reception information.例文帳に追加

本発明は、通信システムのユーザ機器が送信するプローブ信号を調節する方法であって、通信システムのシステム機器から情報を受信する段階と、受信情報に基づいてプローブ信号を調節する段階からなる。 - 特許庁

To provide a probe unit capable of preventing damage of a specimen due to contact with the specimen, its manufacturing method, and an inspecting method of an electronic device capable of preventing damage of the specimen due to contact of the specimen with a substrate of the probe unit.例文帳に追加

検体との接触による検体の損傷を防止できるプローブユニット、その製造方法及び検体とプローブユニットの基板との接触による検体の損傷を防止できる電子デバイスの検査方法を提供する。 - 特許庁

The flaw detector of the metallic machine component has a flaw detecting means including a flaw detection probe 2, a rotation unit 3 for rotatably supporting the flaw detection probe 2 and rotating and driving it, and an image processing apparatus to be connected to the rotation unit 3.例文帳に追加

探傷プローブ２と、探傷プローブ２を回転可能に支持し且つ回転駆動する回転ユニット３と、回転ユニット３に接続される画像処理装置とを含んで成る探傷手段を備えた機械部品の探傷装置である。 - 特許庁

To provide a probe unit adjusting the position of conducting wires to electrodes using contact marks, even if the inspecting pads are not prepared in the specimen for each electrode, and also to provide an inspecting method and and a producing method of the probe unit.例文帳に追加

検査用パッドが電極毎に検体に設けられていなくても、接触痕跡を用いて電極に対する導線の位置を調整することができるプローブユニット、検査方法及びプローブユニットの製造方法を提供する。 - 特許庁

An ultrasound transmitting unit 21 and an ultrasound receiving unit 22 are configured to transmit ultrasonic beams in multiple directions by way of an ultrasonic probe 12 and are configured to receive echo signals of the multiple directions by way of the ultrasonic probe 12.例文帳に追加

超音波送信ユニット２１及び超音波受信ユニット２２が、超音波プローブ１２を介して複数方向の超音波ビームを送信するとともに超音波プローブ１２を介して複数方向のエコー信号を受信する。 - 特許庁

With omitting the sleeve, the structure of a probe unit 30 is simplified, and the minute arrangement of probe pins 31 and the reduction of the number of parts are made possible.例文帳に追加

スリーブを省略したことにより、プローブユニット３０の構造を簡素化してプローブピン３１を細密に配置することが可能になるとともに、部品点数を削減することができる。 - 特許庁

The probe unit comprises a base 20 and a comb-like probe sheet having a plurality of probes 10 connected at their base ends in one body by the base 20.例文帳に追加

基部２０と、各基端１４が基部２０で一体に連結された複数のプローブ１０とを有する櫛状のプローブシートを備え、プローブ１０が先端部１２で拡幅していることを特徴とする。 - 特許庁

An ultrasonic probe 5 constituting the ultrasonic probe unit 2 is provided with a transducer 12 for emitting ultrasonic wave containing different frequency components by being pulse-excited.例文帳に追加

超音波プローブユニット２を構成する超音波プローブ５には、パルス励起されることによって異なる周波数成分を含む超音波を照射するためのトランスデューサ１２が設けられている。 - 特許庁

The energy detector 10 has a probe 5 detecting weak electromagnetic energy emitted from a living body and a main unit 8 connected electrically to the probe 5 via a cable 5e.例文帳に追加

エネルギ検知装置１０は、生体が発する微弱な電磁気的エネルギを検知するプローブ５と、プローブ５とケーブル５ｅを介して電気的に接続された本体部８と、を備えている。 - 特許庁

The base unit 12 provides a pressing force acting on the semiconductor chip side from the wafer pressing plate 32 when a bump of a semiconductor chip to be tested is pressed onto the probe terminal of the probe sheet 13.例文帳に追加

ベースユニット１２は、プローブシート１３のプローブ端子に、被試験対象の半導体チップのバンプが押し当てられるとき、ウエハ押圧プレート３２から半導体チップ側に作用する押圧を与える。 - 特許庁

This scanning probe system 100 is provided with a connection member 1 attachable to the revolver of the exiting optical microscope, and the scanning probe unit attached detachably to the connection member 1.例文帳に追加

走査型プローブ装置１００は、既存の光学顕微鏡の対物レボルバに装着可能な接続部材１と、接続部材１に着脱される走査型プローブユニット２０とを備えている。 - 特許庁

This instrument is separately provided with: a treatment unit 10 where the tip of a probe 102 is exposed and arranged; and a holding unit 11 which is for holding the desired part of a patient in cooperation with the exposed part of the probe 102 of the unit 102 and which is provided with a finger insertion part 112.例文帳に追加

プローブ１０２の先端部が露出配置される処置ユニット１０と、この処置ユニット１０のプローブ１０２の露出部位と協働して被検体の所望の部位を把持する、指挿着部１１２が設けられた把持ユニット１１を分離して備えて構成したものである。 - 特許庁

To realize a multi-probe two dimensional memory system which can realize sure access of a probe for a two dimensional memory unit with high stability and can perform read-out and write-in of information for a memory unit without hindrance, even if a position of the two dimensional memory unit is deviated by thermal expansion.例文帳に追加

熱膨張により２次元メモリのメモリユニットの位置がずれても、この２次元メモリのメモリユニットに対するプローブの確実なアクセスを高い安定性で実現することができ、メモリユニットに対する情報の読み出しや書き込みを支障なく行うことができるマルチプローブ２次元メモリシステムを実現する。 - 特許庁