「Probe Unit」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To releasably and rigidly couple a chip unit and a probe unit with a connection pin.例文帳に追加

チップユニット及びプローブユニットと接続ピンとを解除可能に堅固に結合すること。 - 特許庁

The ultrasonic treatment apparatus 10 can be disassembled into a main body unit 12, a probe unit, and a vibrator unit.例文帳に追加

超音波処置装置１０は、本体ユニット１２と、プローブユニットと、振動子ユニットとに分解可能である。 - 特許庁

An ultrasonic probe for supporting spine surgery serving as a tissue insertion type ultrasonic probe comprises an insertion unit and an operation unit.例文帳に追加

組織挿入型超音波プローブとしての脊椎手術支援用超音波プローブは、挿入部および操作部を有する。 - 特許庁

PROBE UNIT FOR CIRCUIT BOARD CHECKUP AND CIRCUIT BOARD CHECKUP DEVICE例文帳に追加

回路基板検査用プローブユニットおよび回路基板検査装置 - 特許庁

PROBE UNIT, ITS MANUFACTURING METHOD AND INSPECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

プローブユニット、その製造方法及びそれを用いた検査方法 - 特許庁

NEAR-FIELD LIGHT PROBE UNIT PRODUCING DEVICE AND ITS PRODUCING METHOD例文帳に追加

近接場光プローブユニット作製装置及びその作製方法 - 特許庁

To provide a high-strength probe unit which is highly stable in the form against changes in temperature, and to provide a method for manufacturing the probe unit.例文帳に追加

温度変化による形状安定性が高く、強度が高いプローブユニット及びプローブユニットの製造方法を提供する。 - 特許庁

INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD, AND PROBE UNIT USED FOR INSPECTION DEVICE例文帳に追加

検査装置、検査方法及び検査装置に用いるプローブユニット - 特許庁

PHOTOACOUSTIC IMAGING DEVICE, AND PROBE UNIT USED IN THE SAME例文帳に追加

光音響撮像装置およびそれに用いられるプローブユニット - 特許庁

PROBE UNIT, ITS MANUFACTURING METHOD, AND INSPECTING METHOD OF ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

プローブユニット、その製造方法及び電子デバイスの検査方法 - 特許庁

PROBE INFORMATION COLLECTION SYSTEM, ROADSIDE COMMUNICATION EQUIPMENT, AND IN-VEHICLE UNIT例文帳に追加

プローブ情報収集システム、路上通信装置、および、車載機 - 特許庁

To prevent a probe mounting pad from tilting by reducing irregularity of the surface of a probe unit substrate without complicating the manufacturing process of the probe unit substrate.例文帳に追加

プローブユニット基板の製造工程を複雑にすることなく、プローブユニット基板の表面の凹凸を少なくして、プローブ搭載パッドが傾斜することのないようにする。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe which reduces resistance to an oscillator unit by a coupling medium and reduces weight of the ultrasonic probe in the ultrasonic probe having the oscillator unit performing scan mechanically.例文帳に追加

振動子ユニットが機械的に走査される超音波探触子において、カップリング媒体による振動子ユニットへの抵抗を緩和し、また超音波探触子を軽量化する。 - 特許庁

To provide a multi probe card unit, a probe test device including the same, their manufacturing methods and a method of using the probe test device.例文帳に追加

マルチプローブカードユニット、それを備えたプローブ検査装置、それらの製造方法、及びプローブ検査装置を利用する方法を提供する。 - 特許庁

The inspection unit 201 is constituted of the probe 210, the first and second probe slide plates 211, 212, and a probe coming-off preventive plate 213.例文帳に追加

検査ユニット２０１は、プローブ２１０、第１、第２のプローブスライド板２１１、２１２、およびプローブ抜け防止板２１３から構成される。 - 特許庁

To provide a contact probe and a probe unit perform stably inspecting over a long period of time.例文帳に追加

長期にわたって安定した検査を行うことができるコンタクトプローブおよびプローブユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a probe unit that improves the positional precision of probe pins with respect to electrodes provided on a specimen.例文帳に追加

検体に設けられた電極に対するプローブピンの位置精度を向上させるプローブユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a probe card adhering unit capable of certainly carrying out the locking/unlocking action of a probe card.例文帳に追加

プローブカードのロック／アンロック動作を確実に行なうことができるプローブカード固着ユニットを提供する。 - 特許庁

WAVE-GUIDING CHANNEL LAYER STRUCTURE, MANUFACTURING METHOD FOR PROBE HAVING THE WAVE-GUIDING CHANNEL LAYER STRUCTURE, PROBE HAVING THE WAVE-GUIDING CHANNEL LAYER STRUCTURE, STORAGE UNIT HAVING THE PROBE, SURFACE OBSERVATION UNIT, EXPOSURE UNIT, AND MANUFACTURING METHOD FOR DEVICE例文帳に追加

導波路層構造、導波路層構造を有するプローブの製造方法、該導波路層構造を有するプローブ、該プローブを有するストレージ装置、表面観察装置、露光装置、デバイス製造方法 - 特許庁

The probe unit 31 is used for inspecting a liquid crystal panel 37.例文帳に追加

液晶パネル３７の検査に使用されるプローブユニット３１である。 - 特許庁

ULTRASONIC TRANSDUCER UNIT, ULTRASONIC TRANSDUCER, AND ULTRASONIC PROBE例文帳に追加

超音波トランスデューサユニット、超音波トランスデューサおよび超音波プローブ - 特許庁

This energization inspection device comprises the probe unit 10, a holder 20 for holding the probe unit 10, and a sample stand for placing an object of inspection.例文帳に追加

プローブユニット１０と、プローブユニット１０を保持するホルダ２０と、被検査対象物を載置する試料台とを備えた通電検査装置。 - 特許庁

This probe unit 21 is equipped with a probe base 23 fixed to the body side, a probe block 24 for supporting a probe needle 80 on an accurate position in the mounted state on the probe base 23, and a lateral direction position adjusting mechanism 34 for positioning the probe needle 80 by adjusting the position of the probe block 24.例文帳に追加

本体側に固定されたプローブベース２３と、プローブベース２３に取り付けられた状態でプローブ針８０を正確な位置に支持するプローブブロック２４と、プローブブロック２４の位置を調整してプローブ針８０の位置決めをする横方向位置調整機構３４とを備えたプローブユニット２１である。 - 特許庁

The compound eye imaging unit 6 and an illumination unit 7 are provided in the probe 5 located on the leading end of the endoscope.例文帳に追加

内視鏡の先端のプローブ５に複眼撮像ユニット６と、照明ユニット７とを備える。 - 特許庁

To provide a recognition probe for sugar chain marker, capable of recognizing an E disaccharide unit or an iE disaccharide unit.例文帳に追加

E二糖単位やiE二糖単位を認識可能な糖鎖マーカー認識プローブを提供する。 - 特許庁

To provide a probe cleaning unit that selects only a probe assembly having a probe requiring cleaning and efficiently cleans the probe by easy operation.例文帳に追加

清掃が必要なプローブを備えたプローブ組立体だけを選んで、簡単な操作で効率良くプローブのクリーニングを行うことができるプローブ清掃ユニットを提供することを課題とする。 - 特許庁

The probe unit 712 has a probe 300 for applying a voltage to the conductor by contacting with the electrode wiring 111 on the base board 110 and a probe holder 711 holding the probe.例文帳に追加

プローブユニット７１２は、基板１１０上の電極配線１１１に接触して導電体に電圧印加を行うためのプローブ３００と、これを保持するプローブホルダ７１１とを有する。 - 特許庁

CONTACT PROBE, TESTER FOR ELECTRIC INSPECTION USING THE CONTACT PROBE, AND METHOD OF MANUFACTURING PRINTED BOARD UNIT USING THE SAME例文帳に追加

コンタクトプローブ、コンタクトプローブを使用する電気検査用試験機及びこれを用いたプリント板ユニットの製造方法 - 特許庁

To provide a probe unit capable of replacing a contact part of a probe pin with satisfactory workability, in a short time.例文帳に追加

プローブピンのコンタクト部を作業性よく短時間で交換することができるプローブユニットを提供すること。 - 特許庁

The attaching unit has a probe support frame 60 for moving the ultrasonic probe along the kneecap.例文帳に追加

装着ユニットは、さらに超音波プローブを膝頭に沿って移動させるためのプローブ支持フレーム６０を備える。 - 特許庁

When the stage 70 stops, the probe 126 of a probe unit comes into contact with the electrode of a glass substrate 73 on a chuck top 72.例文帳に追加

このとき、プローブユニット６０のプローブ１２６がチャックトップ７２上のガラス基板７３の電極にコンタクトする。 - 特許庁

The signal sensing unit comprises a sensor board, a probe, and an operation amplifier.例文帳に追加

該信号検出部には、センサーボード、プローブ、演算増幅器が含まれる。 - 特許庁

INSPECTION UNIT AND OUTER SHEATH TUBE ASSEMBLY FOR INSPECTION PROBE USED FOR IT例文帳に追加

検査ユニットおよびそれに用いる検査プローブ用外皮チューブ組立体 - 特許庁

SURFACE CHARACTERISTIC ANALYSIS APPARATUS, SURFACE CHARACTERISTIC ANALYSIS METHOD, AND PROBE UNIT例文帳に追加

表面特性解析装置、表面特性解析方法およびプローブユニット - 特許庁

LIQUID DISCHARGE UNIT FOR PROBE ARRAY MANUFACTURING DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

プローブ・アレイ作製装置用の液体吐出ユニットとその製造方法 - 特許庁

A probe contacts with a patient to transmit a temperature signal to a control unit.例文帳に追加

プローブは患者に接触して温度信号を制御ユニットに送る。 - 特許庁

In addition, the slave unit does not respond to any probe request.例文帳に追加

また，子機は，どのようなプローブ要求に対しても応答を返さない。 - 特許庁

To provide a probe unit which is superior in dimensional stability and durability.例文帳に追加

寸法安定性および耐久性に優れたプローブユニットを提供する。 - 特許庁

To surely align an liquid crystal panel 3 to a probe unit 11.例文帳に追加

液晶パネル３をプローブユニット１１に対して確実に位置合わせする。 - 特許庁

The ultrasound system includes an ultrasound probe, a sensor unit, a processor unit and an input unit.例文帳に追加

本発明の一実施例による超音波システムは、超音波プローブと、センサユニットと、プロセッサユニットと、入力ユニットとを備える。 - 特許庁

In this probe unit having the probe pin, a lead wire, and the support base board, the probe pin is directly connected to the surface of the support base board.例文帳に追加

プローブピンと、引き出し用配線と、支持基板とを備えたプローブユニットであって、支持基板の表面にプローブピンが直接接合されているプローブユニット。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a probe unit having high bonding strength between a probe and a substrate, capable of forming highly accurately the probe bent three-dimensionally by plating.例文帳に追加

立体的に曲がったプローブをめっきにより高精度に形成でき、プローブと基板の接合強度が高い、プローブユニットの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a contact probe unit capable of reducing a noise generated in a contact probe, in a portion of the contact probe, by simple structure.例文帳に追加

簡単な構造でありながら、コンタクトプローブで発生したノイズを該コンタクトプローブの箇所で低減させることが可能なコンタクトプローブユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a repair technology of an integrated probe card, capable of repairing in a probe unit when a defective probe is generated, and thereby reducing the total cost.例文帳に追加

不良プローブが発生した場合、プローブ単位での修復を可能とし、トータルコストを安価にすることができる集積化プローブカードの修復技術を提供する。 - 特許庁

The probe pin 16 of a high-frequency probe unit 15 is selectively connected to the measurement part of a measuring instrument body 19 via a probe pin selection switch 18.例文帳に追加

高周波プローブユニット１５のプローブピン１６は、プローブピン切換スイッチ１８を介して、測定器本体１９の測定部に選択的に接続する。 - 特許庁