「Probe Unit」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a probe unit having high dimensional precision of conduction wires which are prevented removal from a substrate, and to provide a conduction inspection method using the probe unit and its manufacturing method.例文帳に追加

導線と基板の剥離が防止され、導線の寸法精度が高いプローブユニットと、それを用いた導通検査方法と、その製造方法とを提供する。 - 特許庁

ULTRASOUND PROBE, ULTRASONIC WAVE MEASURING UNIT AND ULTRASONIC WAVE THICKNESS MEASURING METHOD例文帳に追加

超音波探触子、超音波測定器、及び、超音波厚み測定方法 - 特許庁

To provide an apparatus including a scanning probe unit provided with a mechanism attaching position-regulably the scanning probe unit to an object revolver of an optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡の対物レボルバに走査型プローブユニットを位置調整可能に取り付ける機構を備えた、走査型プローブユニットを含めた装置を提供する。 - 特許庁

A liquid dispensing unit dispenses probe solutions for preparing a probe array, the dispensing unit has therein charge electrodes for charging the probe solutions, and a solid phase substrate on which the probe solutions land has charges in portions where the probe solutions are to land.例文帳に追加

プローブ・アレイを調整する為のプローブ溶液を吐出させる液体吐出ユニットを持ち前記吐出ユニット内に、プローブ溶液に電荷を与える電荷電極を持ち、プローブ溶液が着弾する固相基板の、前記プローブ溶液が着弾すべき部分に、電荷を持つことを特徴とする。 - 特許庁

A probe vehicle information specifying unit 14, using probe information obtained from a probe vehicle via a communication unit 11, specifies the time when the probe vehicle passes through a sensing area of the vehicle sensor and the time and position of arrival of the probe vehicle at the end of a wait line at a stoplight.例文帳に追加

プローブ車両情報特定部１４は、通信部１１を介してプローブ車両から取得したプローブ情報を用いて、プローブ車両が車両感知器の感知領域を通過した時刻、信号待ち行列の末尾に到達した時刻及び到達位置を特定する。 - 特許庁

To provide a probe unit capable of narrowing probe pitches, and assembling many probes with high precision.例文帳に追加

プローブの狭ピッチ化を実現するとともに多数のプローブを高精度で組み立てることができるプローブユニットを提供する。 - 特許庁

The intensity of the probe signal is controlled based on information that the user unit receives from the system unit.例文帳に追加

プローブ信号の強さは、システム機器からユーザ機器が受信する情報に基づいて調節される。 - 特許庁

Alternatively, the slave unit sets hiding of its ESSID on the basis of an ESSID hiding setting value contained in a probe response from the master unit in response to a probe request sent by the slave unit.例文帳に追加

または，子機の送出したプローブ要求に対する親機からのプローブ応答に含まれるＥＳＳＩＤ秘匿設定値に基づき自身のＥＳＳＩＤ秘匿設定を行う。 - 特許庁

In each probe unit 25, a probe group including a plurality of probes 37 and moving means (magnets 32n and 32s and a conductive material 36) for moving the probe group independently from the other probe units 25 are provided.例文帳に追加

各プローブユニット２５には、複数のプローブ３７を含むプローブ群と、このプローブ群を、他のプローブユニット２５から独立して移動させる移動手段（磁石３２ｎ及び３２ｓ、導電材３６）が設けられている。 - 特許庁

The inner diameter measuring unit 2 is formed of a unit side body 2-1, a probe 53 integrally connected to the unit side body 2-1, and a unit side moving shaft 2-2.例文帳に追加

内径測定ユニット２は、ユニット側本体２−１と、それに同体に結合する測定子５３と、ユニット側運動軸２−２とから形成されている。 - 特許庁

Cleaning and inspection are executed under a state that a probe is fixed by mounting a cleaning unit 11 for removing foreign matters from a probe by means of laser radiation and a work unit 12 for executing an inspection process inside the probe inspection apparatus 1 so that the cleaning unit 11 and the work unit 12 can move.例文帳に追加

プローブ検査装置１の内部に、レーザ照射によってプローブから異物を除去するクリーニングユニット１１と検査処理を実行するワークユニット１２とを移動可能に設けることでプローブを固定した状態でクリーニングと検査処理とを実行可能とする。 - 特許庁

METHOD OF INSPECTING FLAW BY ULTRASONIC WAVES, AND PROBE UNIT FOR ULTRASONIC FLAW DETECTOR例文帳に追加

超音波探傷検査方法、及び、超音波探傷装置用探触子ユニット - 特許庁

The ultrasonic examination apparatus 1 is provided with an ultrasonic probe unit 2 and a personal computer 3.例文帳に追加

超音波検査装置１は、超音波プローブユニット２とパソコン３とを備える。 - 特許庁

A high frequency driving unit 3 supplies a high-frequency current to the probe.例文帳に追加

高周波駆動ユニット３は、前記プローブに高周波電流を供給する。 - 特許庁

PHOTOACOUSTIC IMAGING APPARATUS, PROBE UNIT USED IN THE SAME, AND ENDOSCOPE例文帳に追加

光音響撮像装置およびそれに用いられるプローブユニット並びに内視鏡 - 特許庁

The electric inspection apparatus 1 comprises the mobile probe unit 21.例文帳に追加

電気検査装置１は、前記可動式プローブユニット機構２１を備えて構成した。 - 特許庁

PROBE UNIT FOR ELECTRICAL INSPECTION, ELECTRICAL INSPECTION DEVICE, AND LIGHTING INSPECTION DEVICE例文帳に追加

電気的検査のためのプローブユニット、電気的検査装置および点灯検査装置 - 特許庁

The first rotor part 13 having a transducer 12 and the second rotor part 14 are stored in a probe case 11 of an ultrasonic probe 5 constituting the ultrasonic probe unit 2.例文帳に追加

超音波プローブユニット２を構成する超音波プローブ５のプローブケース１１内には、トランスデューサ１２を有する第１ロータ部１３と第２ロータ部１４とが収納される。 - 特許庁

When replacing the probe 210, the probe 210 is prevented from coming off by the probe coming-off preventive plate 213, even when the inspection unit 201 detached from the inspection tool 300 is lifted up.例文帳に追加

プローブ２１０の交換時、検査治具３００から外された検査ユニット２０１を持ち上げても、プローブ抜け防止板２１３によってプローブ２１０の脱落が防止される。 - 特許庁

The sensor unit is disposed in the ultrasound probe, and detects a posture and/or a position of the ultrasound probe to form posture information and/or position information of the ultrasound probe.例文帳に追加

センサユニットは、超音波プローブに配置され、超音波プローブの姿勢及び/又は位置を検出して超音波プローブの姿勢情報及び/又は位置情報を形成する。 - 特許庁

The probe coming-off preventive plate 213 is released under the condition where the inspection unit 201 is reversed vertically, and the probe 210 is replaced thereafter.例文帳に追加

検査ユニット２０１を上下逆にした状態でプローブ抜け防止板２１３を外した後にプローブ２１０が交換される。 - 特許庁

The video camera unit 38 picks up an image (hand-side image) of the ultrasonic probe 10 and a part where the ultrasonic probe 10 is applied.例文帳に追加

ビデオカメラ部３８は、超音波プローブ１０と超音波プローブ１０があてがわれている箇所の画像（手元画像）を撮影する。 - 特許庁

To provide a contact probe having springiness, capable of acquiring sure conduction between each contact object, and to provide a probe unit.例文帳に追加

バネ性を有し、接触対象間で確実な導通を得ることができるコンタクトプローブおよびプローブユニットを提供すること。 - 特許庁

CONTACT PROBE SHEET FOR INSPECTING DISPLAY PANEL AND CONTACT PROBE UNIT FOR INSPECTING DISPLAY PANEL FITTED WITH THE SHEET例文帳に追加

表示パネル検査用コンタクトプローブシート、及び該表示パネル検査用コンタクトプローブシートを装着した表示パネル検査用コンタクトプローブユニット - 特許庁

The probe analysis unit 117 of a packet sending terminal 110 detects a burst loss on the basis of the receiving context of the probe packets.例文帳に追加

パケット送出端末１１０のプローブ解析部１１７は、プローブパケットの受信状況に基づいて、バーストロスを検知する。 - 特許庁

A light probe P is inserted through a forceps channel 10e of an endoscope 10, and a base end of the light probe P is connected to a light source unit 20.例文帳に追加

ライトプローブＰは、内視鏡１０の鉗子チャンネル１０ｅに挿通され、その基端は、光源装置２０に接続される。 - 特許庁

This scanning probe microscope includes the scanning probe unit 160 attached to the objective revolver of the scanning optical microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、走査型光学顕微鏡の対物レボルバーに取り付けられる走査型プローブユニット１６０を含んでいる。 - 特許庁

The probe transmission unit 216 of a packet receiving terminal 210 sends out a probe packet to a second radio channel 320 at a constant interval.例文帳に追加

パケット受信端末２１０のプローブ送信部２１６は、第２の無線チャネル３２０に一定間隔でプローブパケットを送出する。 - 特許庁

This fixing device includes a gripping means gripping the probe element to be fixed, a stage receiving a probe unit, a driving means three- dimensionally and relatively moving the probe element gripped by the gripping means and the probe unit received by the stage, and a heating means heating a conductive adhesive, the probe element or the wiring and fixing the probe element to the wiring.例文帳に追加

固着装置は、固着すべきプローブ要素を把持する把持手段と、プローブユニットを受けるステージと、把持手段に把持されたプローブ要素とステージに受けられたプローブユニットとを三次元的に相対的に移動させる駆動手段と、プローブ要素を配線に固着させるべく、導電性接着材、プローブ要素又は配線を加熱する加熱手段とを含む。 - 特許庁

A probe unit 12 is freely movably maintained at the front end of a shank 11 by way of an adapter 13 and the probe unit 12 is energized forward by a compressed coil spring 34.例文帳に追加

シャンク１１の前端部に触針ユニット１２をアダプタ１３を介して移動自在に保持し、触針ユニット１２を圧縮コイルばね３４により前方に付勢する。 - 特許庁

In a film-like probe unit 12, a plurality of distributing wires 26 are formed in a sheet-like member.例文帳に追加

フィルム状プローブユニットは、複数の配線をシート状部材に形成している。 - 特許庁

This ultrasonic image inspection device 1 includes an ultrasonic probe unit 2 and a personal computer 3.例文帳に追加

超音波画像検査装置１は、超音波プローブユニット２とパソコン３とを備える。 - 特許庁

A disconnection detecting means is provided to detect the disconnection of a cable having a portion for connecting a probe unit to a control means, and bent when the probe unit is transferred.例文帳に追加

プローブユニットと制御手段とを接続すると共に、プローブユニットが移送される際に屈曲される部分を有するケーブルの断線を検知する断線検知手段を設けた。 - 特許庁

The test device has a cable 3a for connecting the main body device 3 to the probe unit 2.例文帳に追加

そして、本体装置３とプローブユニット２とを接続するケーブル３ａとを備える。 - 特許庁

A probe body 2 of the ultrasonic probe 1 consists of a sheath part 4 and a tip unit part 5 detachable from the sheath part 4.例文帳に追加

超音波プローブ１のプローブ本体２は、シース部４とこのシース部４に対して着脱可能な先端ユニット部５とで構成されている。 - 特許庁

The probe unit includes a probe assembly to be brought into electrical contact with a terminal group including the signal terminal, which is disposed on a workpiece.例文帳に追加

被検査体に配設された、信号用端子を含む端子群に電気的に接触されるプローブ組立体を備えたプローブユニットである。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope having a weight-reduced scanning probe unit attached to an objective revolver of an optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡の対物レボルバーに取り付けられる走査型プローブユニットが軽量化された走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a probe unit which is superior in dimensional stability and in durability.例文帳に追加

寸法安定性および耐久性に優れたプローブユニットの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe unit capable of performing easily alignment with an electrode of a specimen.例文帳に追加

検体の電極との位置合わせが容易なプローブユニットを提供することを目的とする。 - 特許庁

A position/posture obtaining unit 1020 obtains position/posture information indicating the position/posture of the probe.例文帳に追加

位置姿勢取得部１０２０は、プローブの位置姿勢を示す位置姿勢情報を取得する。 - 特許庁

To provide a probe card capable of reducing horizontal movement and inclination of a contact unit.例文帳に追加

コンタクトユニットの水平方向の移動及び傾きを抑制できるプローブカードを提供する。 - 特許庁

In an embodiment, the vector sensor unit includes a proximity probe 14 and an angle position sensor 16.例文帳に追加

一態様では、ベクトル・センサ装置は近接プローブ（１４）と角度位置センサ（１６）とを含む。 - 特許庁

To provide a probe unit mounted on a probe card and its manufacturing method, as to a probe card for measuring the electrical characteristics of a semiconductor device such as an LSI chip.例文帳に追加

本発明はＬＳＩチップなどの半導体デバイスの電気的諸特性を測定するプローブカードに関し、上記プローブカードに装着されるプローブユニットと、その製造方法を提供する。 - 特許庁

In a probe unit 13, a plurality of probe pins 14 are fixed with insulation mold 15 in the state that position of each probe pin 14 is controlled to keep relative positions of those probe pins 14 invariable.例文帳に追加

本発明に係るプローブユニット１３においては、プローブピン１４同士の位置調整がされた状態で、複数のプローブピン１４が絶縁性モールド１５で固定されており、それらプローブピン１４同士の相対位置が変わらないようになっている。 - 特許庁

A probe inspection device 1 carries out probe inspection by bringing a probe needle 42 of a probe card 40 into contact with an electrode pad on a semiconductor wafer 90, and comprises a monitor 10 (display unit) for displaying a picture of an electrode pad.例文帳に追加

プローブ検査装置１は、半導体ウエハ９０上の電極パッドにプローブカード４０のプローブ針４２を接触させてプローブ検査を行う装置であって、電極パッドの画像を表示するモニタ１０（表示部）を備えている。 - 特許庁