「Probe Unit」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a probe unit suitable for improving working efficiency when diagnosing a substrate inspection apparatus as compared with before.例文帳に追加

基板検査装置を診断する際の作業効率を従来よりも向上させるのに適したプローブユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a method for easily manufacturing a probe unit equipped with highly fine conducting wires projecting from an edge of a substrate.例文帳に追加

基板の縁から突出している高精細な導線を備えるプローブユニットを容易に製造する方法を提供する。 - 特許庁

The extending direction detecting unit 152b also determines the position of the ultrasonic probe from the relative moving amount of the extending direction.例文帳に追加

また、走行方向検出部１５２ｂは、走行方向の相対的移動量から超音波プローブの位置を確定する。 - 特許庁

To provide an imaging unit, with which a more accurate measured value of the position of a transducer in a transesophageal ultrasound probe can be obtained.例文帳に追加

食道越し超音波プローブ内の変換器の位置のより正確な測定値を得られる撮像装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe unit enabling conduction to electrodes arranged two-dimensionally at narrow intervals in a specimen, and its manufacturing method.例文帳に追加

検体の狭い間隔で２次元に配置された電極に導通できるプローブユニット及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

A probe 11 performs the irradiation of a laser beam guided from a laser unit 13 and the reception of at least an ultrasonic wave.例文帳に追加

プローブ１１は、レーザユニット１３から導光されたレーザ光の照射及び少なくとも超音波の受信を行う。 - 特許庁

SAMPLE HOLDER-ELECTRODE HOLDER INTEGRATED UNIT, POSITIONING BASE, ATOM PROBE, AND ASSEMBLY METHOD OF SAMPLE AND ELECTRODE ONTO DEVICE例文帳に追加

試料ホルダ電極ホルダ一体化ユニット、位置調整台、アトムプローブ、並びに試料及び電極の装置への組付方法 - 特許庁

To provide a method in which the sideslip of an aircraft is measured by using an air data probe and an inertia reference unit.例文帳に追加

エアーデータプローブおよび慣性基準装置を用いて、航空機の横滑りを測定する方法を提供すること。 - 特許庁

The magnetism measuring device 1 detects magnetism included in the plurality of cells from 31 through 33 by irradiating parallel light of pump light to the first surface of the each cell with a pump light irradiating unit 10, irradiating parallel light of probe light to the second surface such that parallel light of probe light crosses path with pump light in the each cell with a probe light detecting unit 20 and detecting probe light reflected by the reflecting mirror 5.例文帳に追加

磁気計測装置１は、ポンプ光照射部１０により各セルの第１の面にポンプ光の平行光を照射し、プローブ光検出部２０によってセル内でポンプ光と交差するようにプローブ光の平行光を第２の面に照射し、反射鏡５で反射されたプローブ光を検出することでセル３１〜３３における磁気を検出する。 - 特許庁

This prober device is equipped with a cleaning chamber 5 equipped with a mechanism for cleaning the explorer of a probe unit 4 of the prober device by dry treatment using ions or the like in vacuum, and a measuring mechanism (a preparation chamber 3, a conveyance device 12, a test wafer 13 and a gate valve 6) for confirming electric measurement of the probe of the probe unit 4 in vacuum.例文帳に追加

真空中内で、イオン等を用いたドライ処理で、プローバ装置の探針ユニット４の探針をクリーニングする機構を備えたクリーニング室５と、真空中内で、探針ユニット４の探針の電気的測定を確認する測定機構（仕込み室３、搬送装置１２、試験ウエハ１３、ゲート弁６）を備える。 - 特許庁

A multi probe card unit 100 is provided with a probe card 120 having probes on both surfaces and can simultaneously test a plurality of wafers by the contact between the pads of the wafers 300 respectively approaching one surface and the other surface of the probe card, and the probes, and the probe test device 500 is provided with the same.例文帳に追加

探針が両面に設けられるプローブカード１２０を備え、プローブカードの一面及び他面にそれぞれ接近するウェーハ３００のパッドと探針との接触により複数のウェーハを同時に検査できることを特徴とするマルチプローブカードユニット１００及びそれを備えたプローブ検査装置５００である。 - 特許庁

To inspect the deterioration of the sensitivity of a gas sensor without detaching a probe unit from a flue and to extend the life of a filter by enabling not only the comparison test with the gas sensor in the probe unit but also the elimination of the clogging of the filter.例文帳に追加

プローブユニットを煙道から取り外すことなくガスセンサの感度劣化を点検できるようにし、また、プローブユニット内のガスセンサとの比較試験を可能にするだけでなく、フィルタの目詰まりを解消可能にし、フィルタ寿命を長くする。 - 特許庁

The voltage measurement unit 17 measures the electromotive force of the semiconductor sample 22 detected between the exploring needles b, c of the probe 15 with four exploring needles for output to a control unit 14.例文帳に追加

電圧測定部１７は、４探針プローブ１５の探針ｂ、ｃ間で検出した半導体試料２２の起電力を測定し、制御部１４へ出力する。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR CLEANING PROBE FOR MEASURING FOR EXAMINING UNIT, EXAMINING UNIT HAVING CLEANING APPARATUS AND METHOD FOR EXAMINING MATERIAL TO BE EXAMINED例文帳に追加

検査装置用測定プローブのクリーニング装置、このクリーニング装置を備える検査装置、および、検査装置用測定プローブのクリーニング方法、ならびに、被検体の検査方法 - 特許庁

The ultrasonic probe 1 performs the ultrasonic scanning by changing the scan position in transmission unit smaller than the frame unit, on the basis of the ultrasonic driving signal from the transmission part 2.例文帳に追加

超音波プローブ１は、送信部２からの超音波駆動信号に基づいて、フレーム単位よりも小さい送信単位でスキャン位置を変更して超音波走査を行う。 - 特許庁

The semiconductor inspection device includes: a stage for placing a wafer to be inspected; a probe card including a probe abutting on an electrode formed in the wafer to be inspected; a distance adjustment mechanism for adjusting a distance between the probe card and the wafer to be inspected; and a control unit.例文帳に追加

検査対象ウエハを載置する、ステージと、前記検査対象ウエハに形成された電極と接触するプローブ、を有するプローブカードと、前記プローブカードと前記検査対象ウエハとの間の距離を調節する、距離調節機構と、制御装置とを具備する。 - 特許庁

The probe device 10 includes: the conductive probe body 14 having at a tip end a contact part 38 where a plane in contact with a terminal 102 of the body 100 to be inspected is formed; and a support unit 28 movably supporting the probe body 14 in the axial direction.例文帳に追加

プローブ装置１０は、被検査体１００の端子１０２に接触する平面が形成された接触部３８を先端に有する導電性のプローブ本体１４と、プローブ本体１４をその軸線方向に移動可能に支持する支持部２８を備える。 - 特許庁

The other embodiment of the probe unit comprises a substrate and one or more probe pins, the probe pin being formed of a fixed part fixed to the substrate and a tip part arranged with a predetermined space from the substrate, and a part of either the fixed part or the tip part being formed of a magnetic body.例文帳に追加

基板と、１または複数のプローブピンとを備え、プローブピンは、基板に固定された固定部と基板と所定間隔をおいて配置された先端部からなり、固定部もしくは先端部のいずれか一方の一部が磁性体で形成されているプローブユニット。 - 特許庁

The hydrogen/oxygen sensor 10 comprises a cylindrical sensor probe 11, a cylindrical closed-end holder 12 for retaining the sensor probe 11, a connection cable 13 which keeps one end connected to the sensor probe 11, and a computing unit 15 connected to the other end of the connection cable 13.例文帳に追加

水素酸素センサ１０は、円柱状のセンサプローブ１１と、該センサプローブ１１を保持する有底円筒状のホルダー１２と、一端がセンサプローブ１１に接続された接続ケーブル１３と、該接続ケーブル１３の他端に接続された演算器１５とを備えている。 - 特許庁

The semiconductor device includes two or more bonding pads 11, made up of a bonding unit 11a formed on a semiconductor chip and each as an electrode for bonding of an external connection wire or a bump, and a projection unit 11b formed in a projected state from the bonding unit 11a to the inner part of the face and having a probe contact unit, to which a testing probe is made to contact.例文帳に追加

半導体装置は、半導体チップ１０の上に形成され、それぞれが外部接続用のワイヤ又はバンプをボンディングする電極であるボンディング部１１ａと、該ボンディング部１１ａから面内に突き出して形成され、検査用プローブが接触されるプローブ接触部を含む突き出し部１１ｂとを有する複数のボンディング用パッド１１を備えている。 - 特許庁

The display units 25 to 28 respectively add reception time information on the probe packet 90 and display processing completion time information on the reference image data to the probe packet 90 and send them back to the multi-display control unit 23.例文帳に追加

ディスプレイユニット２５〜２８は、プローブパケット９０の受信時刻情報と、基準画像データの表示処理完了時刻情報とをプローブパケット９０に付加して、マルチディスプレイ制御部２３に返信する。 - 特許庁

To provide a probe unit, a probe assembly, and an inspection method of an electronic device capable of inspecting the electronic device having electrodes arranged at a narrow interval without damaging the top surfaces of the electrodes of the electronic device.例文帳に追加

電子デバイスの電極の頂面を傷つけることなく、狭い間隔で電極が配列された電子デバイスを検査できるプローブユニット、プローブアッセンブリ及び電子デバイスの検査方法を提供する。 - 特許庁

The probe unit comprises a substrate being made up by a laminate of a metallic thin film and a ceramic thin film, whose thickness is not less than that of the metallic thin film, and a probe, which is fixed to the substrate.例文帳に追加

金属薄膜と前記金属薄膜以上に膜厚が厚いセラミック薄膜とが積層されている基板と、前記基板に固定されたプローブと、を備えることを特徴とするプローブユニット。 - 特許庁

Since one end of the probe 20 is coupled to the unit 10, a point light source having a near field is formed at the other tip of the probe 20.例文帳に追加

光ファイバの探り針２０の一端は光源ユニット１０に連結されるので、光源ユニット１０から供給された光により、探り針２０のもう一つの尖端には近視野をもつ点光源が形成される。 - 特許庁

A stage mounting part 28 and a probe unit mounting part 36 are constructed so that various stages and probe units, which are respectively set in accordance with a liquid crystal panel module to be inspected, is arbitrarily mounted thereon.例文帳に追加

検査対象となる液晶パネルモジュールに応じて夫々設定された各種ステージ及びプローブユニットが任意に装着可能となるよう、ステージ装着部２８及びプローブユニット装着部３６を構成する。 - 特許庁

In a multi-probe two dimensional memory system which performs read-out and/or write-in of information of a memory unit of a two dimensional memory by a multi-probe, shapes of tip parts of probes are made anisotropic.例文帳に追加

マルチプローブにより２次元メモリのメモリユニットの情報の読み出しおよび／または書き込みを行うマルチプローブ２次元メモリシステムにおいて、プローブの先端部の形状を非等方的なものとする。 - 特許庁

To provide a probe unit which can be aligned with respect to an electronic device being an object for inspection with high accuracy, and to provide its manufacturing method.例文帳に追加

検査対象である電子デバイスと高精度に位置合わせできるプローブユニット及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

In a probe unit 1, a conductive film 20 made of a plurality of probes 22 is formed on a substrate 10 as a support part.例文帳に追加

プローブユニット１は、複数のプローブ２２からなる導電膜２０が支持部としての基板１０上に形成されたものである。 - 特許庁

A vibrator mounting part 9 is formed on the tip of the insertion part on which the probe unit 6 can be detachably mounted.例文帳に追加

挿入部の先端部にはプローブユニット６を着脱自在に取り付けるための振動子取付部９が構成されている。 - 特許庁

A transmitting and receiving unit 3 scans the three-dimensional scanning scope specified in accordance with the first marker by an ultrasonic probe 2.例文帳に追加

送受信部３は、第１のマーカに基づいて特定された３次元の走査範囲を超音波プローブ２によって走査する。 - 特許庁

An amplifier 63 measures sound pressure strength corresponding to vibration of a probe 61, and result of measurement is supplied to an arithmetic unit 7.例文帳に追加

アンプ６３は、プローブ６１の振動に応じて音圧強度を測定し、その測定結果を演算装置７に供給する。 - 特許庁

The probe unit 10 is formed with a lead group 14 comprising a plurality of leads 16 bridging over two substrates 12a and 12b.例文帳に追加

プローブユニット１０は、複数のリード１６からなるリード群１４が二つの基板１２ａ、１２ｂに跨って形成されている。 - 特許庁

To provide a scanning type probe unit for measuring SPM in all microscopes, having an objective revolver.例文帳に追加

対物レボルバを有するすべての顕微鏡においてＳＰＭ測定を行なうことを可能にする走査型プローブユニットを提供する。 - 特許庁

The method allows the measurement of the sideslip of an aircraft by using an air data probe and an inertia reference unit.例文帳に追加

本発明による方法は、エアーデータプローブおよび慣性基準装置を用いて、航空機の横滑りを測定することを可能にする。 - 特許庁

To provide a probe pin unit and an inspection method of an electronic component using the unit not requiring necessarily a mechanical chuck, capable of mitigating a pressing pressure to a work by using a diaphragm type probe pin unit, recovering dust even if the dust is generated, and coping even with an instantaneous contact.例文帳に追加

ダイアフラム型プローブピンユニットを用いることより、ワークに対する押し圧を緩和し、必ずしも機械的チャックを必要とせず、塵埃が発生したとしても、そのような塵埃を回収でき、瞬時のコンタクトにも対応することができるプローブピンユニット及びこれを用いた電子部品の検査方法を得ること。 - 特許庁

To provide a near-field light probe unit producing device for producing a near-field light probe unit that can efficiently perform an approach operation to a sample for near-field light measurement and can prevent damage due to a collision to the sample.例文帳に追加

近接場光測定を行うための試料へのアプローチ動作を効率的に行うことでき、しかもプローブの試料への衝突による破損を防ぐことが可能な近接場光プローブユニットを作製する近接場光プローブユニット作成装置を提供する。 - 特許庁

After the dispensing probe 1 constituted of an insulator material is immersed in a solution in a cleaning tank 15 and a solution for electrophoresis is absorbed by the dispensing probe 1, a voltage is applied across both an electrode 27 in the probe 1 and an electrode 26 in the cleaning tank 15 by a power supply unit 28 for electrophoresis.例文帳に追加

絶縁体材料で構成された分注プローブ１が洗浄槽１５内の溶液に浸漬され電気泳動用溶液が分注プローブ１内に吸引された後、電気泳動用電源装置２８によりプローブ１内の電極２７と洗浄槽１５内の電極２６に電圧が印加される。 - 特許庁

An on-vehicle terminal 2 mounted on a probe car 1 transmits probe information collected by an information collecting part 5 via a DSRC system radio communication instrument 4, when the probe car 1 intrudes into an area communicable with a mobile radio station unit 9 mounted on a route bus 7.例文帳に追加

プローブカー１に搭載された車載端末２は、プローブカー１が路線バス７に搭載された移動無線局ユニット９と通信可能なエリアに進入したときに、情報収集部５により収集したプローブ情報を、ＤＳＲＣ方式の無線通信機４を通じて送信する。 - 特許庁

This high frequency probe device comprises the probe that is formed of the thin-sheet-like composite having a base metal and an insulation layer formed on the base metal, and has a contact point with the micro-strip line structure formed on the insulation layer and a signal line, and a mounting unit 20 to which the probe can be mounted removably.例文帳に追加

ベースメタル及び該ベースメタル上に形成された絶縁層を備える薄板状の複合材から成り、前記絶縁層上に形成されたマイクロストリップライン構造の接触点及び信号線を備えるプローブと、該プローブが着脱可能に取付けられる取付ユニット２０とを有する。 - 特許庁

The probe 20 is controlled to have the same potential as the photoreceptor 12, and voltage is applied to the probe 20 so that the potential of the probe 20 may have the same polarity as the potential by electrification of toner regardless of the value of the potential of the photoreceptor 12 when a developer carrier in the developing unit 40 is driven.例文帳に追加

プローブ２０は、感光体１２と同電位となるように制御されるが、現像ユニット４０の現像剤担持体が駆動しているときには、感光体１２の電位の値に関わらず、トナーの帯電電位と同極性となるように、プローブ２０に電圧が印加される。 - 特許庁

To give a skin-sensitive motion and to further increase a skin beatifying effect and a cleaning effect of ultrasonic waves via friction by rotating the head of a probe of an ultrasonic cosmetic unit and to make the probe usable for a long period in an ordinary temperature state by cooling the head of the probe.例文帳に追加

超音波美容器のプローブのヘッドを回転させることにより、肌に感じる動きを与え、摩擦によって超音波の美肌効果と洗浄効果をさらに高めると共に、プローブのヘッドを冷却することにより、常温状態で長時間使用できるようにする。 - 特許庁

A main control unit 50 on a processor unit 15 stores an ultrasonic image obtained by the ultrasonic probe 10 as related to the hand side image at almost similar imaging timing in a frame memory 56.例文帳に追加

プロセッサ部１５の主制御部５０は、超音波プローブ１０で得られる超音波画像と、撮影タイミングが略同じ手元画像を関連付けてフレームメモリ５６に記憶させる。 - 特許庁

Optical characteristics of the optical operation unit 42 are changed following propagation of electromagnetic waves, and a probe light pulse affected by the change in the optical characteristics is outputted from the optical operation unit 42.例文帳に追加

電磁波の伝搬に伴って光学的作用部４２の光学特性が変化し、その光学特性の変化の影響を受けたプローブ光パルスが光学的作用部４２から出力される。 - 特許庁

To facilitate the contact of a first optical member of an optical unit for a probe, with a biotissue and improve the product reliability and workability.例文帳に追加

プローブ用光学ユニットの第１光学部材を生体組織に接触し易くさせ、また製品信頼性、作業性を向上させる。 - 特許庁

The probe unit includes a substrate consisting of crystalized glass of which at least a part is crystalized and conduction wires formed on the substrate.例文帳に追加

プローブユニットは、少なくとも一部が結晶化した結晶化ガラスからなる基板と、前記基板上に形成された導線と、を備える。 - 特許庁