「Probe Unit」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

A dispensing mechanism control unit 13 controls a probe, an arm, and a reaction disk to make the probe dispense a solution to a reaction tube.例文帳に追加

分注機構制御部１３は、プローブとアームと反応ディスクとを制御して、反応管に対してプローブに溶液の分注を行なわせる。 - 特許庁

The probe unit is equipped with the frame, and a plurality of probe blocks arranged along the direction of arrangement of a plurality of electrodes which a display panel has.例文帳に追加

プローブユニットは、フレームと、表示パネルが有する複数の電極の並び方向に沿って配列された複数のプローブブロックとを備えている。 - 特許庁

An electrical connection device couples the chip unit having a plurality of electronic components disposed on the upper side of a chip support with the probe unit having a plurality of contacts disposed on the lower side of a probe support via a connection unit having a plurality of connection members for electrically connecting the chip unit with the probe unit disposed on a connection member support under vacuum conditions.例文帳に追加

電気的接続装置は、複数の電子部品をチップ支持体の上側に配置したチップユニットと、複数の接触子をプローブ支持体の下側に配置したプローブユニットとを、チップユニット及びプローブユニットを電気的に接続する複数の接続部材を接続部材支持体に配置した接続ユニットを間にして真空的に結合させている。 - 特許庁

The probe body 14 includes: a first small-diameter unit 32 positioned at the tip end side; a second small-diameter unit 34 positioned at a rear end side; a large-diameter unit 36 positioned between the first small-diameter unit 32 and the second small-diameter unit 34; and a tapered unit 50 with the diameter reduced gradually from a large-diameter unit 36 toward the first small-diameter unit 32.例文帳に追加

プローブ本体１４は、先端側に位置する第１細径部３２と、後端側に位置する第２細径部３４と、第１細径部３２及び第２細径部３４の間に位置する大径部３６と、大径部３６から第１細径部３２にかけて徐々に縮径するテーパ部５０を有する。 - 特許庁

To provide a film type probe unit, along with a method of manufacturing the same, and more specifically to provide a film type probe unit having improved contact performance when an electrode is formed at an extreme fine pitch by separately manufacturing a probe sheet having the same pitch as that of the electrode of a body to be inspected, and to provide a method of manufacturing the film type probe unit.例文帳に追加

本発明は、フィルムタイプのプローブユニット及びその製造方法に関するものであり、より詳しくは、被検査体の電極と同一なピッチを有するプローブシートを別途製作し、電極が極微細ピッチで形成された場合にも接触性能に優れるフィルムタイプのプローブユニット及びその製造方法に関するものである。 - 特許庁

OPTOACOUSTIC IMAGING DEVICE, PROBE UNIT USED THEREFOR, AND OPERATION METHOD OF OPTOACOUSTIC IMAGING DEVICE例文帳に追加

光音響撮像装置、それに用いられるプローブユニットおよび光音響撮像装置の作動方法 - 特許庁

To provide a surface characteristic analysis apparatus allowing improvement of the positional accuracy of a probe unit.例文帳に追加

プローブユニットの位置決め精度の向上を図ることができる表面特性解析装置の提供。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING MAGNETIC CHARACTERISTICS, AND FIXTURES FOR CLEANING OR FOR INSPECTING CONTACT PROBE UNIT例文帳に追加

磁気特性検査方法、検査装置およびコンタクトプローブユニットの清掃用あるいは検査用の治具 - 特許庁

The ultrasonic probe 24 generates ultrasonic waves from the pulses from the pulse generating unit 42.例文帳に追加

超音波探触子２４は、パルス発生手段４２からのパルスに基づき超音波を発生させる。 - 特許庁

Consequently, the probe unit having this constitution can be aligned easily with the electrode of the specimen.例文帳に追加

したがって、上記構成のプローブユニットによると、検体の電極との位置合わせが容易である。 - 特許庁

The light source part, the probe part, the light receiving part and the arithmetic part are formed into a single assembly unit.例文帳に追加

光源部とプローブ部と受光部と演算部とが一つのアセンブリユニットとして形成されている。 - 特許庁

To provide a probe unit capable of preventing damage to an electrode as a specimen and short circuit of a wire.例文帳に追加

検体の電極の損傷と、導線のショートとを防止できるプローブユニットを提供する。 - 特許庁

A main unit 400 diagnoses the ultrasonic probe 200 based on the situation in which the ultrasonic probe 200 receives the reflection ultrasonic waves from a test object disposed facing the ultrasonic probe 200.例文帳に追加

メインユニット４００は、超音波プローブ２００に対向配置されたテスト物体からの反射超音波を超音波プローブ２００が受信する状況に基づいて超音波プローブ２００を診断する。 - 特許庁

A probe 46 is arranged in the probe unit 38 in parallel to the fitting direction so that one end is elastically contacted to the contact electrode 36, and the other end of the probe 46 is electrically connected to the measuring instrument.例文帳に追加

プローブユニット３８に当接電極３６に一端が弾接するようにプローブ４６を嵌合方向と平行に配設し、プローブ４６の他端を測定器へ電気的接続するように構成する。 - 特許庁

This probe unit is equipped with a connection cable part for connecting electrically a probe assembly to an external device, and the connection cable part is equipped with a short circuit part for connecting electrically each wire of an FPC cable to each probe side of the probe assembly.例文帳に追加

プローブユニットは、プローブ組立体と外部装置とを電気的に接続する接続ケーブル部を備え、この接続ケーブル部は、ＦＰＣケーブルの各配線を前記プローブ組立体の各探針側に電気的に接続する短絡部とを備えている。 - 特許庁

The scanning probe microscope 100 integrated with the shafts by each of the optical microscopes has the existing scanning probe microscope 110 for optically observing a sample and a scanning probe microscope unit 140 for observing the sample by using a probe.例文帳に追加

光学顕微鏡別軸一体型走査型プローブ顕微鏡１００は、試料を光学的に観察するための既知の光学顕微鏡１１０と、プローブ（探針）を用いて試料を観察するための走査型プローブ顕微鏡ユニット１４０とを有している。 - 特許庁

This probe card unit has an insulator board 2, two or more bumps 21, and a probe card wafer 1 made of a material same as the wafer to be measured.例文帳に追加

プローブカード装置は、絶縁物ボード２と、複数のバンプ２１が配設され、被測定用ウェハと同じ材質からなるプローブカードウェハ１とを備えている。 - 特許庁

The table 14 supports a probe unit including a probe and has an opening 16 with an objective lens of the observational optical system disposed therein.例文帳に追加

可動テーブル１４は、探針を含む探針ユニットを支持し、また、その内側に観察光学系の対物レンズが配置される開口１６を有している。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a probe unit in which a probe pin is arranged precisely on a substrate and a hole for mounting to an apparatus is formed precisely.例文帳に追加

プローブピンが高精度に基板上に配置されかつ装置への取付け用の穴が高精度に形成されたプローブユニットの製造方法を提供する。 - 特許庁

The probe unit 12 is formed by fixing a disk plate 33 at the rear of a conductive probe 31 via a nonconductive bush 32.例文帳に追加

触針ユニット１２は導電性の触針３１の後部に非導電性のブッシュ３２を介して円板状のプレート３３を固定することにより形成する。 - 特許庁

An oscillation generated from the transmitting probe 3a is received by the AE unit 4 through the receiving probe 4a and FFT operation is performed by a frequency analyzer 6.例文帳に追加

送信用探触子３ａから発した振動を受信用探触子４ａを介しＡＥ装置４で受け、周波数解析装置６でＦＦＴ演算する。 - 特許庁

The probe device 10 is equipped with a probe card 11, a wafer transferring mechanism 12, an XY stage 13, chuck tables 14a, 14b, an alignment mechanism 15 and a control unit 16.例文帳に追加

プローブ装置１０は、プローブカード１１、ウェハ搬送機構１２、ＸＹステージ１３、チャックテーブル１４ａ，１４ｂ、アライメント機構１５、及び制御部１６を有する。 - 特許庁

To provide a probe unit capable of simply and highly precisely adjust the direction of each probe block fitted to a frame, and excellent in workability.例文帳に追加

フレームに取り付けられた個々のプローブブロックの向きを簡単かつ精度よく調整することができ、作業性に優れるプローブユニットを得ることにある。 - 特許庁

To provide a probe unit and its manufacturing method capable of being surely conducted to a specimen with proper contact pressure and having a probe hardly separated from a base.例文帳に追加

適切な接触圧で検体と確実に導通させることができ、プローブが基板から剥がれにくいプローブユニット、及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a heatproof probe unit and a manufacturing method for it using a low resistance base board for arranging a probe pin on it with high precision.例文帳に追加

耐熱性を有し、プローブピンが高精度に基板上に配置され、抵抗の低い基板を用いたプローブユニットおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

A probe unit 21 detects the surface state of a sample 34 on the basis of the change of physical quantity acting between the sample 34 and a probe 78.例文帳に追加

探針ユニット２１は、試料３４と探針７８との間に作用する物理量の変化に基づいて試料３４の表面の状態の検出を行う。 - 特許庁

This prober device includes a cleaning chamber 5 including a mechanism for cleaning a probe of a probe unit 4 of the prober device by dry processing using ion or the like in vacuum, and a measuring mechanism (a preparation chamber 3, a conveyance device 12, a test wafer 13, and a gate valve 6) for confirming electrical measurement of the probe of the probe unit 4 in vacuum.例文帳に追加

真空中内で、イオン等を用いたドライ処理で、プローバ装置の探針ユニット４の探針をクリーニングする機構を備えたクリーニング室５と、真空中内で、探針ユニット４の探針の電気的測定を確認する測定機構（仕込み室３、搬送装置１２、試験ウエハ１３、ゲート弁６）を備える。 - 特許庁

The invention relates to a vein stripper comprising a probe and a coagulation and cutting unit, whereby the coagulation and cutting unit has at least two electrodes and one front face opening through which the probe can be guided.例文帳に追加

本発明は、探子と凝固切削ユニットを含み、凝固切削ユニットが少なくとも２つの電極と、探子を通過させて導くことができる正面開口部とを備えた、静脈ストリッパに関する。 - 特許庁

The ultrasound probe has an ultrasound wave generating unit, the integrated circuit board and a battery as a function unit, wherein the battery is disposed in a grip of a casing configuring the ultrasound probe to solve the problem.例文帳に追加

機能ユニットとして、超音波発生ユニットと、集積回路基板と、バッテリとを有し、かつ、バッテリを、超音波探触子を構成する筐体のグリップ部に配置することにより、前記課題を解決する。 - 特許庁

To adjustably couple relative pressure between at least one of a chip unit and a probe unit, and to provide a connection pin.例文帳に追加

チップユニット及びプローブユニットの少なくとも一方と接続ピンとを、それらの間の相対的な押圧力を調整可能に結合すること。 - 特許庁

An electrifier 14, an exposure device 16, the probe 20 of the surface potential sensor 18, a developing unit 40, a transfer unit 42 and a cleaning unit 22 are arranged around the photoreceptor 12.例文帳に追加

感光体１２の周囲に、帯電器１４、露光器１６、表面電位センサ１８のプローブ２０、現像ユニット４０、転写ユニット４２、クリーニングユニット４４が配置される。 - 特許庁

A wireless LAN terminal that performs communication in an ad hoc mode is simply distinguished as being a master unit or a slave unit on the basis of its operation, and a slave unit detects absence of a master unit when no beacon from the master unit is detected or when there is no response to a probe request sent by the slave unit to the master unit.例文帳に追加

アドホックモードで通信を行う無線ＬＡＮ端末に対し，その動作により簡易的な親機子機の区別を設け，子機は，親機からのビーコンが検出されない場合や，親機に対して送出したプローブ要求の応答がない場合に，親機が不在であると検出する。 - 特許庁

To provide a contact probe unit capable of mounting contact probes inexpensively with a short lead time for a component.例文帳に追加

部品のリードタイムを短く、かつ安価にコンタクトプローブを実装できるコンタクトプローブユニットを提供する。 - 特許庁

NEAR-FIELD LIGHT PROBE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING IT AND OPTICAL RECORDING REPRODUCING UNIT例文帳に追加

近接場光プローブおよびそれを用いた近接場光学顕微鏡および光記録再生装置 - 特許庁

To provide a probe unit that is easily handled during conveyance and reduces the space of a storage place.例文帳に追加

運搬時の取り扱いが容易で保管場所のスペースを削減できるプローブユニットを提供すること。 - 特許庁

A probe is spotted in a spotting area of a unit 10 for biochemical analysis to form the flow-through area 41.例文帳に追加

生化学解析用ユニット１０のスポット領域にプローブと点着し、フロースルーエリア４１を形成する。 - 特許庁

PHOTOACOUSTIC IMAGING DEVICE, PROBE UNIT USED IN THE SAME, AND OPERATION METHOD OF PHOTOACOUSTIC IMAGING DEVICE例文帳に追加

光音響撮像装置、それに用いられるプローブユニットおよび光音響撮像装置の作動方法 - 特許庁

By having a cleaning dummy head assembly disposed and clamped on a head clamp base, in place of a magnetic head assembly and bring a contact probe unit into contact with a cleaning part, e.g., a cleaning sheet, without having manual work with the contact terminal of the contact probe unit, the contact probe unit is cleaned by contact operation.例文帳に追加

この発明は、清掃用のダミーヘッドアッセンブリを設けて、磁気ヘッドアッセンブリに換えてヘッドクランプ台にクランプしてクリーニング部材、例えば、クリーニングシートにコンタクトプローブユニットを接触させることでコンタクトプローブユニットの接触端子を人手によることなく、コンダクト動作でコンタクトプローブユニットを清掃することができる。 - 特許庁

Since the controlled probe signal is transmitted, possibility that the signal is detected by the system unit becomes high.例文帳に追加

調節されたプローブ信号が送信されるので、システム機器によって検出される可能性が高まる。 - 特許庁

NEAR-FIELD LIGHT PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD AND OPTICAL RECORDING REPRODUCING UNIT AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

近接場光プローブとその製造方法と光記録再生装置及び近接場光顕微鏡 - 特許庁

The relay unit 40 has a function for converting a loop probe pitch to the terminal pitch of a TAB substrate 14.例文帳に追加

中継ユニット４０は、ループプローブピッチをＴＡＢ基板１４の端子ピッチに変換する機能を有する。 - 特許庁

PROBE UNIT FOR ULTRASONIC FLAW DETECTOR, AND METHOD OF ESTIMATING CRACK DEPTH BY ULTRASONIC FLAW DETECTION METHOD例文帳に追加

超音波探傷装置用の探触子ユニット、及び、超音波探傷法によるき裂深さの推測方法 - 特許庁

An elongated protrusion or probe is extended from the injection unit of the injection molding machine.例文帳に追加

本発明によれば、射出成形装置の射出ユニットから、細長い突出部またはプローブが延びている。 - 特許庁

PROBE UNIT, INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD OF ELECTRO-OPTICAL PANEL BOARD, AND MANUFACTURING METHOD OF ELECTRO-OPTICAL APPARATUS例文帳に追加

プローブユニット、検査装置、電気光学パネル基板の検査方法および電気光学装置の製造方法 - 特許庁

The phase detection unit 12 is provided with a probe 34, an opening/closing sensor 27 and rotary encoder 42.例文帳に追加

位相検出ユニット１２は接触子３４と開閉センサ２７とロータリエンコーダ４２とを備えている。 - 特許庁