「Sample」に関連した英語例文の一覧と使い方(118ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD AND APPARATUS FOR ANALYSIS OF METAL ELEMENT IN SOLID SAMPLE例文帳に追加

固体試料の金属元素分析方法およびその分析装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PERFORMING SURFACE ANALYSIS ON SAMPLE例文帳に追加

サンプルの表面分析を行う方法及びこれを実施する装置 - 特許庁

PREPARATORY REDUCING FURNACE AND PRETREATMENT METHOD FOR SILICON SAMPLE USING THE SAME例文帳に追加

予備還元炉およびこれを用いるシリコン試料の前処理方法 - 特許庁

METHOD FOR PURIFYING PHOSPHORYLATED PEPTIDE ORIGINATING IN NATURAL SAMPLE UTILIZING TITANIA COLUMN例文帳に追加

チタニアカラム利用天然試料由来のリン酸化ペプチド精製方法 - 特許庁

To calculate accurately a sample heat flow by a differential scanning calorimeter.例文帳に追加

差分走査熱量計によりサンプル熱流を正確に算出する。 - 特許庁

TEMPERATURE ADJUSTMENT APPARATUS FOR EXPERIMENT FOR TEMPERATURE ADJUSTMENT OF REACTION SAMPLE例文帳に追加

反応試料の温度調節のための実験用温度調節装置 - 特許庁

METHOD AND INSTRUMENT FOR ANALYZING SAMPLE UNDER PRESENCE OF INTERFERENCE SUBSTANCE例文帳に追加

干渉物質の存在下でサンプルを分析する方法及び装置 - 特許庁

Code Listing5.3: Removing sample database and all unnecessary users 例文帳に追加

コード表示5.3: サンプルのデータベースと全ての必要でないユーザを削除する - Gentoo Linux

Sample colour-coded pre block: Code Listing2.7: My first ebuild 例文帳に追加

コードサンプルのなかで使われている言語でのキーワードを表示します - Gentoo Linux

To create the Synchronous Sample Application project: 例文帳に追加

同期サンプルアプリケーションプロジェクトを作成するには、次の手順に従います。 - NetBeans

Add the statements shown in bold in the following code sample to the edit.html.erb file.例文帳に追加

次のコード例でボールドで示している文を edit.html.erb ファイルに追加します。 - NetBeans

Add the statements shown in bold in the following code sample to the new.html.erb file.例文帳に追加

次のコード例でボールドで示している文を new.html.erb ファイルに追加します。 - NetBeans

Sample Debugging Session The section illustrates a standard debugging session.例文帳に追加

デバッグセッションの例この節では、標準的なデバッグセッションを示します。 - NetBeans

The debugging session continues as described in section Sample Debugging Session. 例文帳に追加

デバッグセッションは「デバッグセッションの例」に示すように処理を続行します。 - NetBeans

Therefore, sample databases cannot be used without the InnoDB storage engine. 例文帳に追加

したがって、InnoDB ストレージエンジンなしではサンプルデータベースを使用できません。 - NetBeans

Code Sample 7: Code to Upload a File to a Known Directory on a Server 例文帳に追加

コード例 7: サーバー上の既知のディレクトリにファイルをアップロードするコード - NetBeans

Delete the existing code, and replace it with the code shown in the following sample: 例文帳に追加

既存のコードを削除し、次の例に示すコードに置き換えます。 - NetBeans

SAMPLE HOLDER FOR FOCUSED ION BEAM PROCESSING, AND FOCUSED ION BEAM DEVICE例文帳に追加

集束イオンビーム加工用試料ホルダ及び集束イオンビーム装置 - 特許庁

ELECTRON-SPECTROSCOPE DEVICE, ELECTRON SPECTROSCOPE AND SAMPLE ANALYSIS METHOD例文帳に追加

電子分光装置および電子分光器ならびに試料分析方法 - 特許庁

A sample including imino saccharides is introduced into a liquid chromatography.例文帳に追加

イミノ糖類を含有する試料を液体クロマトグラフィーに導入する。 - 特許庁

It is also conducted to gather sample kosa grains and to analyze them. 例文帳に追加

黄砂粒子のサンプルを採取した分析なども行われている。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

DEVICE AND METHOD FOR CARRYING AND DECELERATING FOLDED SAMPLE例文帳に追加

折り見本の搬送および減速装置と搬送および減速方法 - 特許庁

CLEANING METHOD FOR REMOVING UNWANTED ELEMENT IN ANALYTICAL SAMPLE例文帳に追加

分析試料中の不要成分を取り除くための洗浄方法 - 特許庁

SAMPLE STIRRING DEVICE AND FLOW TYPE PARTICLE MEASURING APPARATUS EQUIPPED THEREWITH例文帳に追加

試料撹拌装置及びそれを備えたフロー式粒子測定装置 - 特許庁

DEVICE FOR BRAKING SAMPLE AND DEFECTIVE SHEET OF SHEET PROCESSING MACHINE例文帳に追加

枚葉紙処理機械の見本紙および不良紙を減速させる装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DIVIDING SAMPLE AND ITS PROGRAM RECORDING MEDIUM例文帳に追加

事例分類方法、事例分類装置、およびそのプログラム記録媒体 - 特許庁

SAMPLE FOR SEM OBSERVATION AND ITS PREPARATION METHOD例文帳に追加

ＳＥＭ観察用サンプル及びＳＥＭ観察用サンプルの調製方法 - 特許庁

a part which on the face of it seems to be the illustration or a sample of the textile fabric.例文帳に追加

一見して図解又は織物生地の見本と判る部分 - 特許庁

The sample must be contained in a single envelope or packet. 例文帳に追加

当該見本は，1個の封筒若しくは包みに収めなければならない。 - 特許庁

SAMPLE DEGRADING DEVICE AND IMPURITY ANALYZING METHOD例文帳に追加

試料分解処理装置及びこれを用いた不純物分析方法 - 特許庁

SAMPLE INCLINATION OBSERVING METHOD IN SCANNING CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM例文帳に追加

走査型荷電粒子ビーム装置における試料傾斜観察方法 - 特許庁

Cover glass smaller than slide glass is used as a sample plate 42.例文帳に追加

スライドグラスより小さなカバーグラスを試料プレート４２として用いる。 - 特許庁

WRITING PRACTICE SYSTEM, WRITING PRACTICE PROGRAM, AND LETTER SAMPLE DATA STRUCTURE例文帳に追加

筆記練習システム、筆記練習プログラムおよび文字見本データ構造 - 特許庁

SAMPLE POSITIONING METHOD AND LINE WIDTH MEASURING DEVICE THEREWITH例文帳に追加

試料位置決め方法及びその方法を用いた線幅測定装置 - 特許庁

GAS SAMPLE CHAMBER AND CONCENTRATION MEASURING APPARATUS WITH THE SAME例文帳に追加

気体サンプル室及びこの気体サンプル室を備えた濃度測定装置 - 特許庁

IMAGE PROCESSING PROCEDURE DESIGN EXPERT SYSTEM HAVING FEATURE IN SAMPLE PREPARATION例文帳に追加

サンプル作成に特長をもつ画像処理手順設計エキスパートシステム - 特許庁

To reduce damage given to an observation sample by an extreme ultraviolet laser beam.例文帳に追加

極紫外線レーザが観察試料に与えるダメージを軽減する。 - 特許庁

To efficiently separate and detect a component in a sample.例文帳に追加

効率的にサンプル中の成分を分離、検出することができる。 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING SAMPLE TO BE INSPECTED AND METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

被検試料の作製方法及び半導体装置の検査方法 - 特許庁

To provide a method and a device for analyzing a three-dimensional internal structure allowing sequential observation of sample sectional images formed by continuously sectioning a sample without any influence of transparency of the sample and throughout observation of the sample under the substantially same condition even in a sample colored with a fluorescent dye for reconstructing the internal structure of the sample with high precision from the respective sectional images.例文帳に追加

試料の透けの影響を受けることなく、試料を連続的に切断してその断面画像を連続して観察でき、かつ試料を蛍光染料で着色した場合でも試料全体をほぼ同一の条件で観察することができ、これにより各断面画像から試料の内部構造を高精密に再構築することができる３次元内部構造の解析方法及び装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ADJUSTING ANALYTICAL SAMPLE FOR ANLALYZING COMPONENT IN METAL例文帳に追加

金属中成分分析用試料の調整方法及び装置 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING THIN-FILM SAMPLE FOR OBSERVING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡観察用薄膜試料の作製方法 - 特許庁

To provide a crystal orientation measuring method for measuring highly accurately the crystal orientation of a monocrystal sample.例文帳に追加

単結晶試料の結晶方位を高精度に測定する。 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING WORKED AND DEGENERATED LAYER AND GRINDING APPARATUS FOR PPEPARING SAMPLE例文帳に追加

加工変質層の測定方法及びサンプル作成用研削装置 - 特許庁

The method allows a dual beam FIB/STEM system with a typical tilt stage having a maximum tilt of approximately 60 to be used to extract a STEM sample from a substrate, to mount the sample onto a TEM sample holder, to thin the sample using FIB milling and to rotate the sample so that the sample face is perpendicular to a vertical electron column for STEM imaging.例文帳に追加

方法は、約６０度の最大傾斜を有する典型的な傾斜ステージを有するデュアル・ビームＦＩＢ／ＳＴＥＭシステムが、基板からＳＴＥＭサンプルを抜き出し、ＴＥＭサンプル・ホルダ上にサンプルを搭載し、ＦＩＢミリングを使用してサンプルを薄化し、かつサンプル面がＳＴＥＭ撮像のために垂直電子カラムに垂直であるように、サンプルを回転するために使用されることを可能にする。 - 特許庁