Scan.を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8288件
The scan base ATPG test circuit comprises a scan chain group 400 comprising a plurality of scan chains 401, 403, 405 and 407 connected so that test and diagnosis for these scan chains can be performed; and a scan test point group 410 performing processing so that an unknown value present in the scan chain have no influence on a test result.例文帳に追加
スキャンベースATPGテスト回路は、複数個のスキャンチェーン401,403,405,407についてのテスト及び診断が可能なように、これらを連結したスキャンチェーングループ400、及びスキャンチェーンに存在する未知の値がテスト結果に影響を与えないように処理するスキャンテストポイントグループ410を含む。 - 特許庁
An integrated circuit comprises scan test circuitry and additional circuitry subject to testing utilizing the scan test circuitry.例文帳に追加
集積回路は、スキャンテスト回路と、スキャンテスト回路を使用してテストを受ける追加回路とを備える。 - 特許庁
The determined scan conditions are displayed on the monitor 31 and the operator selects a desired scan condition.例文帳に追加
決定したスキャン条件はモニタ31に表示され、操作者は好みのスキャン条件を選択する。 - 特許庁
Validation of the design of scan chain controller 12 can be achieved using non-concealed scan chain models 24.例文帳に追加
スキャン・チェーン・コントローラ12の設計の有効化は、非隠蔽スキャン・チェーン・モデル24を使用して達成できる。 - 特許庁
ELECTRONIC SCAN RADAR DEVICE AND RECEIVING ARRAY ANTENNA例文帳に追加
電子走査式レーダ装置及び受信用アレーアンテナ - 特許庁
To reduce workload when changing from a single-cashier scan-back checkout mode to a double-cashier scan-back checkout mode.例文帳に追加
一人制スキャンバックチェックアウトから二人制スキャンバックチェックアウトへの切替作業負担を軽減する。 - 特許庁
At step 212, main reading (fine scan) is performed while carrying in an opposite direction to that at the time of the pre-scan.例文帳に追加
ステップ212では、プレスキャン時とは逆の方向に搬送しながら本読み取り(ファインスキャン)を行う。 - 特許庁
To provide an image reading apparatus capable of designating a scan parameter as well as a scan box at the same time.例文帳に追加
スキャンボックスの指定と同時的にスキャンパラメータも指定することができる画像読取装置を提供する。 - 特許庁
ULTRASONIC SCAN METHOD AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC DEVICE例文帳に追加
超音波スキャン方法および超音波診断装置 - 特許庁
A mean value of height information of scan positions around a certain scan position 50 of a first layer is calculated (S801).例文帳に追加
一の走査位置50の周囲走査位置の第1層の高さ情報の平均値が演算される(S801)。 - 特許庁
Right half scan data and left half scan data are prepared so that the composition marks are matched with each other after reading the original manuscript twice.例文帳に追加
原稿を二度読みし、合成目印が合うように右半分、左半分のスキャンデータ作成する。 - 特許庁
By the energization, the mirror holder 110 is quickly returned to the scan start position from a scan end position.例文帳に追加
この付勢により、ミラーホルダ110は、走査終了位置から走査開始位置に迅速に戻される。 - 特許庁
SCAN FLIP-FLOP AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加
スキャンフリップフロップ及び半導体集積回路装置 - 特許庁
Finally, the respective scan cells are realized in the integrated circuit by forming the scan-in chain.例文帳に追加
最後に、スキャンチェインを作成することによって、集積回路内にそれぞれのスキャンセルを実現化する。 - 特許庁
The light passes through a scan grating 6 and a scan unit 10 and output signals S-120, S0, S120 are generated.例文帳に追加
走査格子6、走査ユニット10を通過して出力信号S−120、S0、S120が発生する。 - 特許庁
To provide a scan test circuit for easy and inexpensive execution of actual operation speed scan test.例文帳に追加
簡易かつ安価に実動作速度スキャンテストを実行することが可能なスキャンテスト回路を提供する。 - 特許庁
An encoder 101 converts data of an embedded image 102 into a scan signal 103 representing the scan sequence.例文帳に追加
エンコーダ101では、埋め込み画像102のデータがスキャン順を示すスキャン信号103へ変換される。 - 特許庁
The plurality of FF (11 to 17) form scan chains during scan path test and operate as shift registers.例文帳に追加
複数のフリップフロップ(11〜17)は、スキャンパステスト時にスキャンチェーンを形成し、シフトレジスタとして動作する。 - 特許庁
To provide a scan test system and a technique with fully indefinite tolerance and very high scan compression.例文帳に追加
完全に不定値許容性の非常に高スキャン圧縮なスキャンテストシステム及び技術を提供する。 - 特許庁
SCAN TYPE DISPLAY DEVICE AND OPTICAL DEVICE FOR DISPLAY例文帳に追加
走査型表示装置及び表示用光学装置 - 特許庁
PRIOR SCAN PRINTER WITH FINGERPRINTS OBTAINMENT OF PAPER例文帳に追加
用紙のフィンガープリント採取のある事前スキャン・プリンタ - 特許庁
SCAN DATA CAPTURING DEVICE, CORRECTION DATA GENERATOR, SCAN DATA CAPTURING METHOD, CORRECTION DATA GENERATION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
スキャンデータ取込装置、補正データ生成装置、スキャンデータ取込方法、補正データ生成方法及びプログラム - 特許庁
The cameras 62a and 62b are configured to be selectively set to a full scan mode and a partial scan mode.例文帳に追加
カメラ62a,62bは、フルスキャンモードおよびパーシャルスキャンモードに選択的に設定可能に構成される。 - 特許庁
The apparatus further includes a scan engine to scan possible values of a plurality of parameters for the apparatus.例文帳に追加
さらに、この装置は、装置に対する複数のパラメータの可能な値をスキャンするためのスキャンエンジンを含む。 - 特許庁
To successfully extract an image only with a character part from a scan image even when the scan image is blurred.例文帳に追加
スキャン画像が不鮮明であっても、その画像から文字部分だけの画像を上手く抽出する。 - 特許庁
Stored contents of respective registers on the scan chain are successively shifted to following registers on the scan chain.例文帳に追加
そして、順次、スキャンチェーン上の各レジスタが、記憶内容をスキャンチェーンにおける次レジスタにシフトする。 - 特許庁
To provide a device for generating a scan path circuit for shortening a time required for a scan test.例文帳に追加
スキャンテストに要する時間を短縮することができるスキャンパス回路を生成する装置を提供する。 - 特許庁
SCAN PATH LAYOUT METHOD AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
スキャンパスレイアウト方法及び半導体集積回路 - 特許庁
A driving part includes a scan circuit connected to scan lines and a signal circuit connected to signal lines 1 and 2.例文帳に追加
駆動部は、走査線に接続した走査回路と、信号線1,2に接続した信号回路とを含む。 - 特許庁
SCAN CHAIN CONNECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のスキャンチェーン接続方法 - 特許庁
For the scan surfaces A2 and B2, the correlation processing to scan surface data is executed between frames.例文帳に追加
それらの走査面A2,B2についてはフレーム間で走査面データに対する相関処理が実行される。 - 特許庁
SCANNER APPARATUS, TERMINAL, AND SCAN DATA PROCESSING PROGRAM例文帳に追加
スキャナ装置、端末装置、及び、スキャンデータ処理プログラム - 特許庁
SCAN SYSTEM AND ITS SCAN ORIGINAL JOINING METHOD, MEDIUM FOR RECORDING ITS CONTROL PROGRAM, ITS SERVER, ITS SCANNER例文帳に追加
スキャンシステムおよびそのスキャン原稿連結方法、その制御プログラムを記録した媒体、そのサーバ、そのスキャナ - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR DESIGNING SCAN CIRCUIT, AND MEDIUM WHERE SCAN CIRCUIT DESIGNING PROGRAM IS RECORDED例文帳に追加
スキャン回路設計装置、スキャン回路設計方法およびスキャン回路設計プログラムを記録した媒体 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT HAVING SCAN TEST CIRCUIT例文帳に追加
スキャン試験回路を備えた半導体集積回路 - 特許庁
When the focus point is not obtained in the first scan processing, the second scan processing is performed.例文帳に追加
また第1スキャン処理においてフォーカスポイントが得られなかった場合、第2スキャン処理を実行する。 - 特許庁
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