「Scan.」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

A scan radar 4 is attached to a trailer front face panel 2F to scan in the horizontal direction for a tractor rear face panel 1B.例文帳に追加

トレーラ前面パネル２_F にスキャンレーダ４を取り付け、トラクタ後面パネル１_B に対し水平方向にスキャンする。 - 特許庁

A scan test and scan compression are important for achieving cost reduction and high quantity of shipping products.例文帳に追加

スキャンテスト及びスキャン圧縮は、コストの低減及び高い出荷品品質を実現するうえで重要である。 - 特許庁

To provide a digital broadcasting channel scan device and a digital broadcasting channel scan method.例文帳に追加

本発明の目的は、デジタル放送チャンネルスキャン装置およびデジタル放送チャンネルスキャン方法を提供することである。 - 特許庁

This system is constituted so as to generate a logic of a scan path at a VHDL level based on definition information on the scan path (#8).例文帳に追加

スキャン・パスの定義情報に基づいて、ＶＨＤＬレベルのスキャン・パスのロジックを生成するようにした（＃８）。 - 特許庁

At the high-speed traveling time, a scan locus is set, wherein a scan frequency of a traveling direction center part is heightened.例文帳に追加

また、高速走行時には、走行方向中心部分のスキャン頻度が高められるスキャン軌跡を設定する。 - 特許庁

The wireless LAN terminal 10 does not keep a scan pause time constant, the scan pause time being a time from one scanning operation to a succeeding scan operation, but extends the scan pause time as the number of scan operation times increases in the case of carrying out an automatic assignment operation repeating the scan operations for searching a connection destination AP.例文帳に追加

無線ＬＡＮ端末装置１０は、接続先のＡＰを探索するためのスキャン動作を繰り返す自動帰属動作が行われる際に、スキャン動作が行われてから次のスキャン動作が行われるまでの時間であるスキャン休止時間を、一定時間のままとするのではなく、スキャン動作が行われる回数が増加するにともない長くする。 - 特許庁

In net replacement processing (P3), concerning net lists (NL1, NL2) before and after a scan order, the nets of the scan input terminals of the second and following scan flip flops are successively replaced with the net of the scan input terminals of the first scan flip flop for every scan chain so that net lists (NL3, NL4) for logic equivalence verification can be created.例文帳に追加

ネット置換処理（Ｐ３）において、スキャンリオーダー前後のネットリスト（ＮＬ１、ＮＬ２）について、スキャンチェーン毎に２番目以降のスキャンフリップフロップのスキャン入力端子のネットが１番目のスキャンフリップフロップのスキャン入力端子のネットに順次置換されることにより、論理等価性検証用のネットリスト（ＮＬ３、ＮＬ４）が生成される。 - 特許庁

For example, an F/F (frip-frop) chain circuit 21 for a SCAN test to activate the critical path 12 in the combination circuit 11 is configured by using SCAN F/F (frip-frop for scan test) (1) 21a to SCAN F/F (5) 21e having MUXs 22a-22e.例文帳に追加

たとえば、組み合わせ回路１１のクリティカルパス１２を活性化させるためのＳＣＡＮテスト用Ｆ／Ｆチェーン回路２１を、ＭＵＸ２２ａ〜２２ｅ付きのＳＣＡＮ Ｆ／Ｆ（１）２１ａ〜ＳＣＡＮ Ｆ／Ｆ（５）２１ｅを用いて構成する。 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit 1 has a logic circuit part comprising a user logic circuit 10, and a scan chain 11 for performing its scan test, and a memory part comprising a memory 40, a BIST circuit 20, and a scan chain 21 for performing its scan test.例文帳に追加

半導体集積回路１は、ユーザロジック回路１０及びそのスキャンテストを行うスキャンチェーン１１からなるロジック回路部と、メモリ４０、ＢＩＳＴ回路２０及びそのスキャンテストを行うスキャンチェーン２１からなるメモリ部とを有する。 - 特許庁

A current scan position 52 for a subject P during the execution of real time helical scanning, a real time helical scan tomographic image at the scan position 52, and display buttons 56, 57, 58 indicating real time helical scan operation during he execution are displayed.例文帳に追加

リアルタイムヘリカルスキャン実行中の被検体Ｐに対する現在のスキャン位置５２と、スキャン位置５２におけるリアルタイムヘリカルスキャン断層像と、実行中のリアルタイムヘリカルスキャンの操作を示す表示ボタン５６、５７、５８とを表示させる。 - 特許庁

A scan data generation unit 102 reads the burst data from the storage device 152 for each corresponding scan by a processing device 151, and fills a spacing in the read burst data with zero for each scan to generate scan data by the processing device 151.例文帳に追加

スキャンデータ生成部１０２は、記憶装置１５２からバーストデータを、対応するスキャンごとに処理装置１５１により読み出して、スキャンごとに、読み出したバーストデータの隙間をゼロで埋めてスキャンデータを処理装置１５１により生成する。 - 特許庁

A scan F/F (selector 31, regX 32) being specific for control is inserted between the regB 18 inside the scan F/F as the control target constituting the scan chain and the selector 13 inside another scan F/F as a control target.例文帳に追加

スキャンチェーンを構成する制御対象のスキャンＦ／Ｆ内のｒｅｇＢ１８と、制御対象の別のスキャンＦ／Ｆ内のセレクタ１３との間に制御専用のスキャンＦ／Ｆ（セレクタ３１，ｒｅｇＸ３２）が挿入される。 - 特許庁

A computer reads the definition information of scan pass according to a program (#1-#12), and a scan pass logic of hardware description language level forming the basis of the scan pass to be constructed on the integrated circuit is generated on the basis of scan pass definition information (#13).例文帳に追加

プログラムが、コンピュータに、スキャン・パスの定義情報を読み込ませ（＃１乃至＃１２）、集積回路上に構築するスキャン・パスの基になるハードウェア記述言語レベルのスキャン・パスのロジックを、スキャン・パス定義情報に基づいて生成させる（＃１３）。 - 特許庁

The plasma display apparatus of the present invention comprises the plasma display panel comprising a plurality of scan electrodes, a scan driver for driving the scan electrodes and a scan pulse controller for controlling the scan driver to set the width of the scan pulse applied to the scan electrodes in the address period of at least one of a plurality of sub-fields to be less than a first critical time.例文帳に追加

本発明に係るプラズマディスプレイ装置は、多数の走査電極を含むプラズマディスプレイパネルと、前記走査電極を駆動するための走査駆動部と、前記走査駆動部を制御して、複数のサブフィールドのうち少なくともいずれかのサブフィールドのアドレス期間中に前記走査電極に印加される走査パルスの幅を第１の臨界時間以下とする走査パルス制御部と、を含むことを特徴とする。 - 特許庁

MOTION ADAPTIVE SCAN CONVERTING APPARATUS AND METHOD FOR VIDEO SIGNAL例文帳に追加

映像信号の動き適応走査変換装置及び方法 - 特許庁

OPTICAL SCAN TYPE IMAGE DISPLAY DEVICE AND SPECKLE REMOVAL METHOD例文帳に追加

光走査型画像表示装置及びスペックル除去方法 - 特許庁

Two beams scan the odd and even lines simultaneously.例文帳に追加

２本のビームはその奇数ライン、偶数ラインを同時に走査する。 - 特許庁

A scanner 1 scans a document to generate scan data.例文帳に追加

スキャナー部１は原稿をスキャンしてスキャンデータを作成する。 - 特許庁

POLYGONAL SCANNER, OPTICAL SCAN DEVICE, AND IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加

ポリゴンスキャナおよび光走査装置および画像形成装置 - 特許庁

To provide a highly accurate scan test with low power consumption.例文帳に追加

低消費電力で精度の良いスキャンテストを提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR COMPENSATING SCAN CHARGE OF DIGITAL DETECTOR例文帳に追加

ディジタル式検出器のスキャン電荷補償方法および装置 - 特許庁

VECTOR SCAN TRANSMISSION METHOD AND TRANSMISSION DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

ベクタースキャン電送方法及びこれを用いた電送装置 - 特許庁

FLIP-FLOP CIRCUIT FOR SCAN PATH TEST AND SIMULATION METHOD THEREOF例文帳に追加

スキャンパステスト用のフリップフロップ回路およびシミュレーション方法 - 特許庁

In authentication, a finger is made to scan on the light receiving element string.例文帳に追加

認証時には、指を受光素子列上を走査させる。 - 特許庁

WIRELESS RECEIVING TERMINAL DEVICE, AND SCAN METHOD FOR RECEIVING CHANNEL例文帳に追加

無線受信端末装置および受信チャンネルのスキャン方法 - 特許庁

To reduce the number of cycles during a capture period in a scan test.例文帳に追加

スキャンテストにおけるキャプチャ期間のサイクル数を削減する。 - 特許庁

SPLIT SCAN LINE AND COMBINED DATA LINE X-RAY DETECTORS例文帳に追加

分割走査線及び結合データ線のＸ線検出器 - 特許庁

To automatically run a boundary-scan test with a test device.例文帳に追加

バウンダリスキャンテストをテスト装置によって自動的に実行する。 - 特許庁

To synchronize the data path or scan path of an analog LSI.例文帳に追加

アナログＬＳＩのデータパスまたはスキャンパスを同期化させる。 - 特許庁

MOTION ADAPTIVE MEDIAN FILTER FOR INTERLACE TO PROGRESSIVE SCAN CONVERSION例文帳に追加

インターレース−プログレッシブスキャン変換用動き適応メディアンフィルタ - 特許庁

DIGITAL IMAGE DISPLAY HAVING SCAN VELOCITY MODULATING FUNCTION例文帳に追加

走査速度変調機能を有するデジタル映像表示装置 - 特許庁

The logic circuit 10 has N scan chains (11, 12).例文帳に追加

論理回路１０は、Ｎ本のスキャンチェーン（１１，１２）を有する。 - 特許庁

SCAN DATA PROCESSING METHOD FOR COLOR-SCANNABLE MONOCHROMATIC MFP例文帳に追加

カラースキャン可能なモノクロＭＦＰにおけるスキャンデータ処理方法 - 特許庁

To optically scan with high accuracy without incurring high cost.例文帳に追加

高コスト化を招くことなく、高精度の光走査を行う。 - 特許庁

ROLLING DEVICE AND PROXIMITY SCAN EXPOSURE APPARATUS INCLUDING THE SAME例文帳に追加

転動装置及びそれを備えた近接スキャン露光装置 - 特許庁

A device 500 is provided with a key scan code set storage area.例文帳に追加

デバイス５００は、キースキャンコードセット記憶領域を有する。 - 特許庁

SELF-SCAN TYPE LIGHT EMITTING ELEMENT ARRAY CHIP AND OPTICAL WRITING HEAD例文帳に追加

自己走査型発光素子アレイチップおよび光書込みヘッド - 特許庁

HEAT EXHAUSTER FOR HELICAL SCAN TYPE RECORDING AND REPRODUCING DEVICE例文帳に追加

ヘリカルスキャン型磁気記録再生装置における排熱装置 - 特許庁

To provide a scan converter that prevents outrun from being generated.例文帳に追加

スキャンコンバータにおいて、追い越しが生じることを防止する。 - 特許庁

IMAGE-REGULATABLE STANDARD SAMPLE TABLE FOR SCAN IMAGE OBSERVATION DEVICE例文帳に追加

走査像観察装置用画像調整標準試料台 - 特許庁

SCANNING MECHANISM AND MECHANICAL SCAN TYPE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

走査機構およびこれを用いた機械走査型顕微鏡 - 特許庁

In a scan line j, eight pixels are defined as one block.例文帳に追加

スキャンラインｊにおいて、８個のピクセルを１ブロックとする。 - 特許庁

SCAN BASE TEST OF DEVICE PROVIDED WITH TEST CLOCK CONTROL STRUCTURE例文帳に追加

テストクロック制御構造を実装するデバイスのスキャンベーステスト - 特許庁

The elements after altered are transferred to the scan control part 5.例文帳に追加

また、変更後のエレメントをスキャン制御部５に転送する。 - 特許庁

MONITORING METHOD FOR SCAN ITEM OF SELF-CHECK-OUT SYSTEM例文帳に追加

セルフ・チェックアウト・システムにおけるスキャン・アイテムのモニタリング方法 - 特許庁