「Scan.」に関連した英語例文の一覧と使い方(23ページ目) - Weblio英語例文検索

The receiving unit receives, from an operator, operation for setting diagnostic scan parameter for the respective imaging stations, based on the preparation scan data corresponding to the respective scan stations.例文帳に追加

受付部は、前記撮像ステーションそれぞれに対応する前記準備スキャンデータに基づいて、前記撮像ステーションごとに診断スキャンパラメータを設定する操作を操作者から受け付ける。 - 特許庁

This circuit is constituted so that a flip-flop constituting a scan chain is reset when the scan test is started or finished by an edge of a mode signal for switching between an ordinary operation and the scan test.例文帳に追加

通常動作とスキャンテストを切り替える為のモード信号のエッジにより、スキャンテストが開始される際や終了される際にスキャンチェーンを構成するフリップフロップをリセットする。 - 特許庁

The scan output signal cut-off means 3 is provided between the scan cell 1a and the scan cell 1b, and a buffer BUFF1 and an Nch insulated gate type field effect transistor NT1 are provided.例文帳に追加

スキャン出力信号遮断手段３は、スキャンセル１ａとスキャンセル１ｂの間に設けられ、バッファＢＵＦＦ１とＮｃｈ絶縁ゲート型電界効果トランジスタＮＴ１が設けられる。 - 特許庁

The scanner 10 transmits scan data included in one scan data file stored in the scan data storage region 26 to the PC 40 in parallel by using the plurality of communication sessions.例文帳に追加

スキャナ１０は、上記の複数の通信セッションを利用して、スキャンデータ記憶領域２６に記憶されている１つのスキャンデータファイルに含まれるスキャンデータをＰＣ４０に並行的に送信する。 - 特許庁

Further, when the reading mode in actual scan is color (No at S115), the machine determines an amount of light in pre-scan by the operation of the determined amount of light in actual scan (S120).例文帳に追加

また、本スキャン時の読取モードがカラーである場合には（Ｓ１１５でＮｏ）、上記決定した本スキャン時の光量から演算によりプレスキャン時の光量を決定する（Ｓ１２０）。 - 特許庁

Also, a Y step guide having the air float device moves in a cross scan direction together with the substrate holding member so the substrate can arbitrarily move in the scan direction and/or the cross scan direction.例文帳に追加

また、エア浮上装置を有するＹステップガイドは、基板支持部材と共にクロススキャン方向に移動するので、基板を、スキャン方向、及び／又はクロススキャン方向へ任意に移動できる。 - 特許庁

The pixel is apportioned into a plurality of sub-scan lines, the sub-scan line defines a plurality of sub-pixels on one pixel, the plurality of sub-pixels of multisample points are corresponded on one of the sub-scan lines.例文帳に追加

ピクセルを複数のサブ走査線に分け、サブ走査線は１つのピクセルについて複数のサブピクセルを定め、マルチポイントされた複数のサブピクセルはそれぞれ１つのサブ走査線に対応する。 - 特許庁

A line which reads bit map data is switched in response to a position of a scan direction so that a bending of the scan line is offset with respect to a print part 107 having the scan line having the bending.例文帳に追加

曲がりがある走査ラインを持つ印刷部１０７に対して、走査ラインの曲がりを相殺するようにビットマップデータを読み出すラインを走査方向の位置に応じて切り替える。 - 特許庁

A shift-scan chain composed of logic circuit blocks 11-18 and scan registers 21-28 connected to the poststages of the blocks 11-18 is divided into split chains of scan registers 21-24 and 25-28.例文帳に追加

論理回路ブロック１１〜１８とその後段に接続されたスキャンレジスタ２１〜２８からなるシフトスキャンのチェーンは、スキャンレジスタ２１〜２４と、スキャンレジスタ２５〜２８の分割チェーンに分けられる。 - 特許庁

To provide an ultrasound system and method which can automatically set a scan angle, scan depth and a scan speed to provide an optimized 4-dimensional ultrasound image.例文帳に追加

スキャン角度、スキャン深さおよびスキャン速度を自動的に設定して、最適化された４次元超音波映像を提供することができる超音波システムおよび方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a scan flip-flop capable of reducing the number of transistors without introducing a deterioration of an operation speed at the normal operation, and to provide a scan test circuit using this scan flip-flop.例文帳に追加

通常動作時の動作速度の低下を招くことなくトランジスタ数を削減することのできるスキャンフリップフロップ、およびこのスキャンフリップフロップを用いるスキャンテスト回路を提供する。 - 特許庁

The sub-scan direction shift register 105 actuates a piezoelectric element 60 by transmitting two pixels of the pixel data at a time to the sub-scan direction in synchronizing with a printing timing clock and a sub-scan clock.例文帳に追加

副走査方向シフトレジスタ１０５は、印字タイミングクロック及び副走査クロックに同期して、ピクセルデータを２ピクセルずつ副走査方向に転送して、圧電素子６０を駆動させる。 - 特許庁

To provide a scan control method capable of efficiently performing cluster scan synchronized with body motion even when a body motion cycle is disturbed, and an X-ray CT apparatus for performing such scan control.例文帳に追加

体動周期が乱れても体動同期のクラスタスキャンが能率良く行えるスキャン制御方法、および、そのようなスキャン制御を行うＸ線ＣＴ装置を実現する。 - 特許庁

The scan paths and the SRAM memory units perform a parallel transfer of data from the scan path registers to temporary registers of the SRAM memory units in order to perform a parallel data exchange between the multiple scan path registers.例文帳に追加

該スキャンパス及びSRAMメモリユニットは、SRAMメモリユニットの一時レジスタとの間でスキャンパスレジスタからのデータのパラレル伝送を行って、多数のスキャンパスレジスタ間でのパラレルデータ交換を実施する。 - 特許庁

Upon pressing the scan and transmit button, a document is scanned in the scan settings associated therewith and the acquired document data is transmitted to the transmission destination associated with the scan and transmit button.例文帳に追加

そのスキャン送信ボタンが押されると、文書を関連づけたスキャン設定でスキャンして文書データを獲得し、その文書データをスキャン送信ボタンに関連づけた送信先に送信する。 - 特許庁

Also, the output registers 9, 18 are constituted of flip-flop with scan, and flip-flop with scan constitutes scan path for the bit of random access memories 6, 15 having the same address constitution.例文帳に追加

また、出力レジスタ９，１８は、スキャン付きフリップフロップで構成され、スキャン付きフリップフロップはアドレス構成が同一のランダムアクセスメモリ６，１５のビットについてスキャンパスを構成する。 - 特許庁

The inverse scan section 121 arrays a plurality of coefficients, which constitutes decoded variable-length data generated from the bit stream of encoded data, in a predetermined scan order to generate inverse scan data.例文帳に追加

逆スキャン部１２１は、符号化データのビットストリームから生成される復号可変長データを構成する複数の係数を所定のスキャン順に並べて逆スキャンデータを生成する。 - 特許庁

Scan result data output from the scan path are compared with the scan output expected value data read out of an other RAM by a comparison circuit 6 inside the semiconductor integrated circuit 1.例文帳に追加

そして、スキャンパスから出力されるスキャン結果データと、他方のＲＡＭから読み出したスキャン出力期待値データとを半導体集積回路１の内部の比較回路６で比較する。 - 特許庁

After the first scan is carried out, the second scan is carried out and this is repeated and an image may be produced by obtaining an arithmetic mean of the frame obtained by the second scan.例文帳に追加

第１の走査を実行した後に前記第２の走査を実行することを繰返し、第２の走査によって得られたフレームの相加平均を求めることによって画像を生成してもよい。 - 特許庁

Namely, the scan stop period (t) is set for a period between the end of a linear forward scan signal Sf and the start of a linear backward scan signal Sb.例文帳に追加

すなわち、直線状の往路走査信号Ｓｆが終了した後、直線状の復路走査信号Ｓｂが開始するまでの間、走査の停止期間ｔが設定されている。 - 特許庁

The invention includes: scan means 16 to scan article information shown on an article; formation means 10 to form an image representing certainty of work with the scan means 16 to scan the article information; and display means 2 to display the image.例文帳に追加

物品に表示された物品情報をスキャンするスキャン手段１６と、スキャン手段１６に物品情報をスキャンさせる作業の確実さを表す画像を生成する生成手段１０と、画像を表示する表示手段２とを備える。 - 特許庁

Each of the scan sub-chains belonging to the same first kind of groups is connected to a different scan shift input terminal, and each of the scan sub-chains belonging to different first kind of groups is connected to one scan shift input terminal in parallel.例文帳に追加

スキャンサブチェーンは、同一の第１種のグループに属するスキャンサブチェーンのそれぞれが、異なるスキャンシフト入力端子に接続され、かつ、異なる第１種のグループに属するスキャンサブチェーンが、一のスキャンシフト入力端子に並列に接続されている。 - 特許庁

A control circuit 9 controls a scan signal generator 10 to supply an X drive circuit 8 and a Y drive circuit 7 with scan signals, and sets a scan stop period to the scan signal supplied to the X drive circuit 8, for example.例文帳に追加

制御回路９は走査信号発生器１０を制御してＸ駆動回路８とＹ駆動回路７に走査信号を供給するが、例えば、Ｘ駆動回路８に供給される走査信号には走査の停止期間を設けるようにしている。 - 特許庁

A T1 emphasis scan S_T1 and a T2 emphasis scan S_T2 are performed so as to detect a position V at the upper end of a liver in the T1 emphasis scan S_T1 and a position W at the upper end of the liver in the T2 emphasis scan S_T2.例文帳に追加

Ｔ１強調スキャンＳ_Ｔ１およびＴ２強調スキャンＳ_Ｔ２を実行し、Ｔ１強調スキャンＳ_Ｔ１における肝臓の上端の位置Ｖと、Ｔ２強調スキャンＳ_Ｔ２における肝臓の上端の位置Ｗとを検出する。 - 特許庁

On the fixed layer, scan clock wiring 11 for supplying a scan clock performing scan test to a selection circuit 4, and clock wiring for supplying the output from the selection circuit 4 to a flip-flop 51 on a scan path are formed.例文帳に追加

固定層には、スキャンテストを行なうためのスキャンクロックを選択回路４に対して供給するスキャンクロック配線１１と、選択回路４の出力をスキャンパス上のフリップフロップ５１に対して供給するクロック配線とを形成している。 - 特許庁

The scan chain 102 latches the scan data in synchronization with a first clock signal supplied to an SC external input terminal 113, and the scan chain 107 latches the scan data in synchronization with a second clock signal outputted by the SC control circuit 402.例文帳に追加

スキャンチェーン１０２はＳＣ外部入力端子１１３に供給される第１クロック信号に同期して、またスキャンチェーン１０７はＳＣ制御回路４０２が出力する第２クロック信号に同期してそれぞれスキャンデータをラッチする。 - 特許庁

To improve image quality of conventional scan (axial scan), cine scan, or helical scan for an X-ray CT apparatus with a two-dimensional area X-ray detector of a matrix structure typified by a multi-row X-ray detector or a flat panel X-ray detector.例文帳に追加

多列Ｘ線検出器または、フラットパネルＸ線検出器に代表されるマトリクス構造の２次元エリアＸ線検出器を持ったＸ線ＣＴ装置のコンベンショナルスキャン（アキシャルスキャン）またはシネスキャンまたはヘリカルスキャンの画質改善を実現する。 - 特許庁

Thereby, the system and method for real time image transmission and preview of the present invention generate scan image under a predetermined scan image format after performing the specified number of times of scanning, display the scan image in a set scan image format in real time to attain the function of real time scan and real time preview.例文帳に追加

これにより、本発明のリアルタイム画像伝送とプレビューのシステム及び方法は所定走査画像形式の下で、特定回数の線状走査を実行した後に走査画像を発生し、走査画像を設定走査画像形式によりリアルタイムで表示し、リアルタイム走査リアルタイムプレビューの機能を達成する。 - 特許庁

After sequentially shifted signals are set in each scan register in synchronism with a scan clock, the output signal and the inverted signal of the scan register are alternately outputted, and output signals of an internal circuit operating according to the alternately outputted output signal and inverted signal are held in the scan register in synchronism with the scan clock.例文帳に追加

スキャンクロックに同期して、信号を順次シフトして各々のスキャンレジスタに設定した後、スキャンレジスタの出力信号と反転信号を切り替えて出力し、この切り替えて出力された出力信号と反転信号に応じて動作した内部回路の出力信号をスキャンクロックに同期してスキャンレジスタに保持する。 - 特許庁

At the burn-in time, the scan chain 11 is set in the enable state, based on a scan enable signal, and the scan chain 21 is set in the disenable state, based on the scan enable signal and a memory test start signal; and stress is applied simultaneously to the user logic circuit 10 by the scan test, and to the memory 40 by BIST.例文帳に追加

バーンイン時には、スキャンイネーブル信号に基づきスキャンチェーン１１がイネーブルに設定されると共に、スキャンイネーブル信号及びメモリテスト開始信号に基づきスキャンチェーン２１がディスイネーブルに設定され、ユーザロジック回路１０はスキャンテストにより、メモリ４０はＢＩＳＴにより同時にストレス印加される。 - 特許庁

A data output circuit is provided in a boundary scan cell for internal-connecting the fellow chips, out of the boundary scan cells in the midway positioned in an output terminal side of the boundary scan path in its one side, and a data input circuit is provided in the boundary scan cell internal-connected to the boundary scan cell provided with the data output circuit.例文帳に追加

また、一方のバウンダリスキャンパスの出力端側に位置する途中のバウンダリスキャンセルのうちで、チップどうしを内部接続するバウンダリスキャンセルにデータ出力回路を設けるとともに、このデータ出力回路を設けたバウンダリスキャンセルと内部接続したバウンダリスキャンセルにデータ入力回路を設けた。 - 特許庁

Of SCAN test circuits implementing scan test in semiconductor integrated circuits, the SCAN test circuit is characterized by generating scan cell enable signal of a plurality of timings from a scan enable external input signal and controlling formation of a launch clock and a capture clock for detecting delay failure from real operation speed based on the scan cell enable signal of the plurality of timings.例文帳に追加

半導体集積回路におけるスキャンテストを行うＳＣＡＮテスト回路であって、スキャンイネーブル外部入力信号から複数タイミングのスキャンセルイネーブル信号を生成し、上記複数タイミングのスキャンセルイネーブル信号により、実動作速度による遅延故障検出のためのラウンチクロック及びキャプチャクロックの生成が制御されることを特徴とするＳＣＡＮテスト回路を開示する。 - 特許庁

The method of driving the plasma display apparatus comprises applying a scan pulse to a scan electrode during an address period, and applying a data pulse corresponding to the scan pulse to an address electrode during the address period, wherein the scan pulse falls from a scan reference voltage to a first intermediate voltage and maintains the first intermediate voltage, and then falls to a scan voltage.例文帳に追加

本発明のプラズマディスプレイ装置の駆動方法は、アドレス区間の間、スキャン電極にスキャンパルスを印加する段階と、アドレス区間の間、スキャンパルスに対応するデータパルスをアドレス電極に印加する段階と、を含み、前記スキャンパルスはスキャン基準電圧から第１中間電圧まで下降した後、第１中間電圧を維持してからスキャン電圧まで下降する。 - 特許庁

SCANNING TYPE ALIGNER, SCAN TYPE ALIGNING METHOD AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型露光装置、走査露光方法、及びデバイス製造方法。 - 特許庁

Therefore, both of the interlaced san and the non-interlaced scan are possible.例文帳に追加

従って、インタレース走査も、また、ノンインタレース走査も可能である。 - 特許庁

To enable the shift correction of an X-ray beam reflecting a scan parameter.例文帳に追加

スキャンパラメータを反映させたX線ビームのシフト補正ができる。 - 特許庁

The pixel value data of the test images are calculated for each scan screen.例文帳に追加

試験画像の画素値データは、走査画面ごとに算出される。 - 特許庁

DEVICE OF COMPENSATING WARPAGE OF SCAN LINE WITHIN OPTICAL SCANNING SYSTEM例文帳に追加

光学スキャニングシステム内のスキャンラインの反りを補償する装置 - 特許庁

To enhance the accuracy of fault diagnosis in a scan chain.例文帳に追加

スキャンチェーンにおける故障診断の精度を向上させること。 - 特許庁

A phase shift of a scan is made small in width under a certain condition.例文帳に追加

スキャンの位相ズレ幅を一定の条件内で小さくする。 - 特許庁

To solve the scan line position error in a scanning optical system.例文帳に追加

走査光学システムにおける走査線の位置エラーを解決する。 - 特許庁

The active element is electrically connected to the scan line and the data line.例文帳に追加

能動素子は、スキャンラインおよびデータラインに電気接続される。 - 特許庁

DETERMINATION METHOD OF SWITCH AREA, AND SURFACE SCAN TYPE INPUT DEVICE例文帳に追加

スイッチ領域の決定方法及び面走査型入力装置 - 特許庁

PRINTING SYSTEM AND SCAN START TIMING CONTROL METHOD OF PRINTING DEVICE例文帳に追加

記録システム及び記録装置の走査開始タイミング制御方法 - 特許庁

A plurality of scanners 25, 35 scan the incident laser beam.例文帳に追加

複数の走査装置２５，３５が、入射するレーザビームを走査する。 - 特許庁