「Scan.」に関連した英語例文の一覧と使い方(25ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a digital broadcast receiver in which the time required for executing a channel scan is shortened by achieving improvement in efficiency of the channel scan.例文帳に追加

チャンネルスキャンの効率化を図り、チャンネルスキャンの実行にかかる時間を短縮させたデジタル放送受信機を提供する。 - 特許庁

Based on this list, a boundary-scan cell connected to a circuit terminal is operated as a driver and/or sensor for latching into a boundary-scan register.例文帳に追加

このリストに基づいて、回路端子に接続されたバウンダリスキャン・セルがドライバ、センサとし作動し、バウンダリスキャン・レジスタにラッチする。 - 特許庁

A period adjusting flip-flop is added to a rearmost stage in a SCAN circuit included in a system circuit configured in a semiconductor device (an LSI).例文帳に追加

半導体素子（LSI）に構成されるシステム回路に含まれるSCAN回路の最後段に期間調整用フリップフロップが追加される。 - 特許庁

An actual scan control part 231 sets the exposure parameter to an exposure control part and makes the actual scan of the film image executed.例文帳に追加

本スキャン制御部２３１は、前記露光パラメータを露光量制御部に設定し、前記フィルム画像の本スキャンを実行させる。 - 特許庁

The second drive circuit 12 has a second sequential circuit and gives scan signals to a plurality of scan lines s of even rows in turn.例文帳に追加

第２駆動回路１２は、第２順序回路を有し、偶数行の複数の走査線ｓに走査信号を順番に与える。 - 特許庁

To prevent even an operation unit, too, from being opened by reducing the impact to a scan unit when the scan unit is rotated.例文帳に追加

スキャナユニットを回動させた場合にスキャナユニットにかかる衝撃を低減させて操作ユニットまでもが開くことを防止する。 - 特許庁

The zigzag scan section 36 applies zigzag scanning to the high-order quantized Hadamard transformation coefficient and the Huffman coding section 37 encodes an output of the zigzag scan section 36.例文帳に追加

上位量子化アダマール変換係数をジグザグスキャン部においてジグザグスキャンし、ハフマン符号化部３７において符号化する。 - 特許庁

To provide a scan test method for reducing the number of test patterns (the number of clocks), memory capacity and a processing period of time required for a scan test.例文帳に追加

スキャンテストに必要なテストパタン数（クロック数）、メモリ容量及び処理時間を削減可能なスキャンテスト方法を提供する。 - 特許庁

Moreover, at the time of performing the pre-scan, the diaphragm totally closed is opened for a specified amount according to the condition when the pre-scan is performed.例文帳に追加

なお、プレスキャンを行うときには、全閉していた絞りはプレスキャンを行うときの条件により所定量開かれる。 - 特許庁

A CCD drive system (23) has an electronic shutter function and switches measuring sensitivity of the going way scan and the returning way scan to a specific ratio.例文帳に追加

ＣＣＤ駆動系(23)は電子シャッター機能を有し、往路走査と復路走査とで計測感度を所定比率に切り替える。 - 特許庁

An electronic scan analog part 2 performs Doppler scan by transmitting and receiving ultrasonic sound to and from a plurality of sample points inside a subject.例文帳に追加

電子走査アナログ部２は、被検体内における複数のサンプル点に対して超音波を送受信することドプラスキャンを行う。 - 特許庁

To provide a method for measuring scan optical system light quantity for inspecting optical abnormalities of scan optical system easily and precisely.例文帳に追加

走査光学系の光学異常を容易且つ高精度に検査するための走査光学系光量測定方法を提供する。 - 特許庁

The server computer 104 has a JTAG scan program 103 and capable of issuing a scan test to a desired device to be tested.例文帳に追加

該サーバコンピュータ104は、JTAGスキャンプログラム103を備えており、所望の被試験装置へスキャンテストを発行することが可能なものである。 - 特許庁

A scan chain having a small number of flip-flops is provided with additional flip-flops such that the number of the flip-flops becomes constant among the scan chains.例文帳に追加

又、フリップフロップが少ないスキャン・チェーンにフリップフロップを追加して、スキャン・チェーン間でフリップフロップ数が同一になるようにする。 - 特許庁

For example, a paper feed signal is made 'true' in a scan start timing and a paper discharge signal is made 'true' in a scan end timing.例文帳に追加

例えば、スキャン開始タイミングで給紙信号がｔｒｕｅにされ、スキャン完了タイミングで排紙信号がｔｒｕｅにされる。 - 特許庁

To provide a scan test circuit that enables the observation of an internal signal when necessary during a scan test without increasing the number of test terminals.例文帳に追加

テスト端子数を増加させることなく、スキャンテスト中に内部信号を随時観測できるスキャンテスト回路を提供する。 - 特許庁

As a result, the apparatus improves an image quality of the plasma display panel, and increases operation efficiency of the plasma display panel driving including use of single scan rather than dual scan.例文帳に追加

デュアルスキャンではないシングルスキャンの使用を含むプラズマディスプレイパネル駆動の効率性を増加させ、画質を改善する。 - 特許庁

The outputs of the multiple scan chain is successively selected by a multiplexer 32 and is outputted to one scan output terminal 34.例文帳に追加

多重スキャンチェーンの出力は、マルチプレクサ３２で順次選択されて１つのスキャン出力端子３４に出力される。 - 特許庁

To register, in a digital multifunction peripheral, a preset scan and transmit button of scan settings or a transmission destination registered beforehand, through simple operation.例文帳に追加

スキャン設定や送信先を予め登録したプリセットのスキャン送信ボタンを簡単な操作でデジタル複合機に登録する。 - 特許庁

The irradiation timing can prevent the unnecessary irradiation of the X-ray to the subject near the connecting part between the first scan and the second scan.例文帳に追加

この曝射タイミングにより、１回目と２回目のスキャンのつなぎ目付近で、被検体に余計なＸ線を曝射しないで済む。 - 特許庁

At the same time, the scan path flip-flop outputs a fixed value from a data output terminal (64) in accordance with the value of the scan enable signal.例文帳に追加

このとき、スキャンパスフリップフロップは、スキャンイネーブル信号の値に従って、データ出力端子（６４）から固定値を出力する。 - 特許庁

The first drive circuit 11 has a first sequential circuit and gives scan signals to a plurality of scan lines of odd rows in turn.例文帳に追加

第１駆動回路１１は、第１順序回路を有し、奇数行の複数の走査線に走査信号を順番に与える。 - 特許庁

When a scan pulse is output to a scan line Ls, a voltage output to a data line Ld is applied to the capacitor Cs2.例文帳に追加

走査ラインＬｓに走査パルスが出力されると、データラインＬｄに出力されている電圧がコンデンサＣｓ２に印加される。 - 特許庁

To provide a design method for a scan test circuit allowing the inspection of a critical path of a semiconductor integrated circuit by a scan test.例文帳に追加

スキャンテストによって半導体集積回路のクリティカルパスの検査を可能にするスキャンテスト回路の設計方法を提供する。 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE, SCAN SIGNAL DRIVING DEVICE, DRIVING METHOD OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE, SCAN SIGNAL DRIVING METHOD, AND TELEVISION RECEIVER例文帳に追加

液晶表示装置、走査信号駆動装置、液晶表示装置の駆動方法、走査信号駆動方法、およびテレビジョン受像機 - 特許庁

When an actual scan is instructed, the PC performs actual scan using the reader part based on the reading region 57 set in advance.例文帳に追加

ＰＣは本スキャンを指示すると、先に設定された読取領域５７に基づいて読取部による本スキャンが行われる。 - 特許庁

The high definition(HD) video information is converted into video information of progressive scan of the number of standard(SD) scan lines to be outputted.例文帳に追加

高精細（ＨＤ）映像情報を、標準（ＳＤ）走査線数のプログレッシブ走査の映像情報に変換して出力する。 - 特許庁

If a scan parameter that is not present locally is obtained from the server to perform scanning, the scan parameter is automatically registered locally (S19).例文帳に追加

ローカルに存在しないスキャンパラメータをサーバから取得してスキャンすれば、このスキャンパラメータがローカルに自動登録される（Ｓ１９）。 - 特許庁

A scan driving part includes a set-up pulse supply part 210 for supplying a reset pulse to a scan electrode in a set-up period.例文帳に追加

スキャン駆動部は、セットアップ期間にスキャン電極にリセットパルスを供給するためのセットアップパルス供給部２１０を含む。 - 特許庁

To reduce noise generated in the waveforms applied to a scan electrode and a sustain electrode when a data pulse and a scan pulse are simultaneously applied.例文帳に追加

データパルスとスキャンパルスが同時に印加された場合に、スキャン電極およびサステイン電極の波形に生じるノイズを低減する。 - 特許庁

To provide a vacuum seal mechanism which can enhance vacuum seal performance even in case of substrate scan of high speed long scan.例文帳に追加

高速かつ長スキャンの基板スキャンであっても、真空シール性能の向上を実現可能な真空シール機構を提供する。 - 特許庁

To provide a scan system having high reliability by surely preventing a third person from browsing scan data, and an information processor.例文帳に追加

第三者のスキャンデータの閲覧を確実に回避し，信頼性が高いスキャンシステムおよび情報処理装置を提供すること。 - 特許庁

To restrain a hold error upon performing a scan test in which a scan chain is formed by a plurality of flip-flops in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路において複数のフリップフロップでスキャンチェーンを構成するスキャンテスト実施時のホールドエラーを抑制する。 - 特許庁

To disclose a system, structure and method for performing scan-based testing of electronic circuits by generating a test clock for scan chains.例文帳に追加

スキャンチェーンのテストクロックを生成して電子回路のスキャンベースのテストを実施するためのシステム、構造、及び方法が開示される。 - 特許庁

To provide a boundary scan cell circuit which reduces the inspection time for boundary scan test and facilitates the analysis obtained inspection results.例文帳に追加

バウンダリスキャンテストの検査時間を短縮し、また得られた検査結果の解析を容易にするバウンダリスキャンセル回路を提供する。 - 特許庁

A boundary scan cell 1 in the semiconductor storage device (memory core) is disposed corresponding to each terminal 22 to execute boundary scan testing.例文帳に追加

半導体記憶装置（メモリコア）内のバウンダリスキャンセル１は、バウンダリスキャンテストを行なうために各端子２２に対応して設けられる。 - 特許庁

To reduce the total of scan path lengths in the layout design of a test-facilitated semiconductor integrated circuit having plural scan paths.例文帳に追加

複数のスキャンパスをもつテスト容易化半導体集積回路のレイアウト設計において、スキャンパス長の合計を小さくする。 - 特許庁

A vector processor 30 receives the scan-in sequence 14 and the predicted scan-out sequence 16 to allow the exchange of the multiplexed state data.例文帳に追加

ベクトルプロセッサ(30)が、スキャンインシーケンス(14)と予測されたスキャンアウトシーケンス(16)を受け取り、多重化された状態データの交換を可能にする。 - 特許庁

The mechanism for notifying the influence of scan data editing or CAD remodeling work on accuracy of scan data to a user is provided.例文帳に追加

スキャンデータ編集又はキャドリモデリング作業がスキャンデータの精密度に与える影響をユーザーに通知するメカニズムを提供する。 - 特許庁

To acquire scan chain reorder information enabling optimum scan chain reordering in a layout routing processing.例文帳に追加

配置配線処理においてより最適なスキャン・チェーン・リオーダをおこなうことが可能なスキャン・チェーン・リオーダ情報を取得すること。 - 特許庁

A scan pass test circuit 20 of the semiconductor device 10 includes scan chains 102, 107, an EXOR 201, and an SC control circuit 402.例文帳に追加

半導体装置１０が備えるスキャンパステスト回路２０は、スキャンチェーン１０２，１０７、EXOR２０１、及びＳＣ制御回路４０２を含む。 - 特許庁

To efficiently and effectively reduce power consumption during scan shift operation of a scan test of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のスキャンテストのスキャンシフト動作時における消費電力を効率的かつ効果的に削減すること。 - 特許庁

This circuit is equipped with a plurality of boundary scan chains 8A-8C to which a plurality of boundary scan cells 81-92 are connected, in each bit in parallel.例文帳に追加

複数のバウンダリスキャンセル８１〜９２が接続されたバウンダリスキャンチェーン８Ａ〜８Ｃをビットごとに複数並列的に備える。 - 特許庁

A vertical scan conveying device is fitted with an acceleration pickup 178 to measure the acceleration of the vertical scan conveying device.例文帳に追加

副走査搬送装置に加速度ピックアップ１７８を取付け、副走査搬送装置加速度の測定を行うようにしている。 - 特許庁

To provide a helical scan type X-ray CT system which realizes a helical scan imaging by minimizing the quantity of a contrast medium.例文帳に追加

できる限り造影剤の量は減らしたヘリカルスキャン撮影を実現するヘリカルスキャン型のＸ線ＣＴ装置を提供する。 - 特許庁