「Scan.」に関連した英語例文の一覧と使い方(29ページ目) - Weblio英語例文検索

An organic EL device as one of electro-optical devices includes a plurality of write scan lines, a plurality of erase scan lines provided corresponding to the write scan lines, a plurality of data lines extending crossing those scan lines, light emitting elements disposed corresponding to intersections of the scan lines and data lines, and a drive device driving them.例文帳に追加

電気光学装置の一種である有機ＥＬ装置は、複数の書き込み用走査線、書き込み用走査線に対応して設けられた複数の消去用走査線、これらの走査線に対して交差する方向に延びる複数のデータ線、走査線とデータ線との交点に対応して配設された発光素子、及びその駆動装置を備えている。 - 特許庁

A request origin ID is imparted to each of scan start requests from two or more parts to a control part, one scan start request is received (S1), the scan request origin ID is stored as a permission ID (S2), and the scan start request having a request origin ID different from the permission ID is not received until the scan is ended (S3).例文帳に追加

制御部に対する複数箇所からのスキャン開始要求のそれぞれに、要求元ＩＤが付与されており、１つのスキャン開始要求を受け付けて（Ｓ１）、そのスキャン要求元ＩＤを許可ＩＤとして記憶しておき（Ｓ２）、そのスキャンが終了するまで、この許可ＩＤと異なる要求元ＩＤを持つスキャン開始要求を受け付けない（Ｓ３）。 - 特許庁

In this scan test circuit device, an initialization reset means performs in a scan mode, initialization reset in the integrated circuit constituted of a combination circuit 11 and scan test circuits S1 to Sn+m, and D-FF-1 to D-FF-n+m, based on an initialization reset signal CL synchronized with a scan clock pulse CK for performing operation of a scan test.例文帳に追加

本発明のスキャンテスト回路装置では、初期化リセット手段は、スキャンテストの動作を行うスキャンクロックパルスＣＫと同期する初期化リセット信号ＣＬに基づいて、組み合わせ回路１１と、スキャンテスト回路Ｓ１〜Ｓｎ＋ｍおよびＤ−ＦＦ−１〜Ｄ−ＦＦ−ｎ＋ｍにより構成される集積回路内の初期化リセットをスキャンモードにより行う。 - 特許庁

After an external scan instruction mode to carry out the scanning of the film image in accordance with the scan instruction from the information processor is instructed by a scan instruction button 9, the detection state of the scan start instruction from a controller 20 is monitored and the reading by the scanning of a scanning body is controlled every time the scan start instruction from the controller 20 is detected.例文帳に追加

フィルム画像の走査を情報処理装置からの走査指示に基づき行う外部走査指示モードがスキャン指示ボタン９により指示された後、制御装置２０からの走査開始指示の検知状態を監視して、制御装置２０からの走査開始指示を検知する毎に、走査体の走査による読み取りを制御する構成を特徴とする。 - 特許庁

The flat-surface video display device includes a means which supplies a first voltage to a main scan line to be driven and supplies a second voltage lower than the first voltage or a third voltage having a drive period shorter than that of the main scan line, to an auxiliary scan line to be driven simultaneously with the main scan line, when successively driving a plurality of scan lines at a time.例文帳に追加

走査線を複数本ずつ順次駆動する場合、駆動される主走査線には第１の電圧を供給し、他の同時駆動される副走査線には、第１の電圧よりも低い第２の電圧を供給するか、もしくは、前記主走査線の駆動期間よりも短い駆動期間の第３の電圧を供給する手段を設けている。 - 特許庁

The flat-surface video display device includes a means which supplies a first voltage to a main scan line to be driven and supplies a second voltage lower than the first voltage or a third voltage having a drive period shorter than that of the main scan line, to an auxiliary scan line to be driven simultaneously with the main scan line, when successively driving a plurality of scan lines at a time.例文帳に追加

走査線を複数本ずつ順次駆動する場合、駆動される主走査線には第１の電圧を供給し、他の同時駆動される副走査線には、第１の電圧よりも低い第２の電圧を供給するか、もしくは、前記主走査線の駆動期間よりも短い駆動期間をもつ第３の電圧を供給する手段を設けている。 - 特許庁

A multiphase clock supplying circuit 50 is installed, which generates a scan clock signal SCK (k) of (n+1) arising from the clock signal SCLK for test indicating implementation of scan path test, with no overlap mutually and in sequence, to supply the generated scan clock signal SCK (k) to scan flip-flop SFF of (n-1) and one scan flip-flop SFF*.例文帳に追加

スキャンパステストの実行を示すテスト用クロック信号ＳＣＬＫから互いに重複せず順に立ち上がる（ｎ＋１）個のスキャンクロック信号ＳＣＫ（ｋ）を生成する多相クロック供給回路５０を設け、生成したスキャンクロック信号ＳＣＫ（ｋ）を（ｎ−１）個のスキャンフリップフロップＳＦＦと１個のスキャンフリップフロップＳＦＦ＊とに供給する。 - 特許庁

At the time of operating key input, the operation of the second scan circuit 3 is stopped so that the detection sensor A can be scanned by the first scan circuit 2, and at the time of operating fingerwriting input, the second scan circuit 3 is also turned into an operating state, and the detection sensors A and B can be scanned by the first scan circuit 2 and the second scan circuit 3.例文帳に追加

そして、キー入力を行うときは第２のスキャン回路３の動作を停止させて第１のスキャン回路２により検知用センサＡに対するスキャンを行い、指書き入力を行うときは第２のスキャン回路３も動作状態にして、第１のスキャン回路２と第２のスキャン回路３により検知用センサＡ，Ｂに対するスキャンを行う。 - 特許庁

To provide a scan image processing unit, its control method and a storage medium that can match a result of storage of a scan image in a storage means with result of storage of the scan image in other storage means while suppressing the capacity of a storage area when the scan image is transmitted to an objective external device and the scan image is stored for the purpose of reuse after the end of transmission.例文帳に追加

スキャン画像を目的の外部装置へ送信するとともに、送信終了後スキャン画像を再利用の目的で保存する場合に、保存領域の容量を抑制しつつ、スキャン画像の蓄積の結果とスキャン画像の保存の結果とを一致させることが可能なスキャン画像処理装置、その制御方法および記憶媒体を提供する。 - 特許庁

A scan test is executed in a plurality of steps by changing combination between a partial scan chain set as PRS and a partial scan chain set as MISR, and thereby the test can be performed without installing a test response compressor separately from the scan chain, to thereby reduce the area overhead.例文帳に追加

ＰＲＳとして設定する部分スキャンチェーンとＭＩＳＲとして設定する部分スキャンチェーンの組合せを変えて、複数のステップでスキャンテストを実行することによって、スキャンチェーンとは別にテスト応答圧縮器を設けることなくテストを行うことができるので、面積オーバーヘッドが削減される。 - 特許庁

The scan lens group includes: an incident plane which the light enters and an emission plane from which the light is emitted; a scan lens 21 having a negative power in a sub-scanning direction; and scan lenses 22 and 23 provided in the downstream side of the scan lens 21 in the light advancing direction.例文帳に追加

走査レンズ群は、光が入射する入射面及び該光が射出する射出面を有し、かつ、副走査方向に負のパワーを有している走査レンズ２１と、走査レンズ２１よりも、光の進行方向の下流側に設けられている走査レンズ２２，２３と、を含んでいる。 - 特許庁

A scan signal Scan 1 for controlling a stress voltage to be inputted or not to be inputted at a burn-in test time and a scan signal Scan 2 for controlling the stress voltage to be inputted or not to be inputted to an interface circuit part are inputted to the semiconductor devices 1 constituting each row on the test board 2.例文帳に追加

また、テストボード２上で各行を構成する半導体装置１には、バーンインテスト時におけるストレス電圧の入力のオン／オフを制御するスキャン信号Ｓｃａｎ１及びインタフェース回路部へのストレス電圧の入力のオン／オフを制御するスキャン信号Ｓｃａｎ２が入力される。 - 特許庁

A calculating unit repetitively compares a first scan with the subsequent scan, detects a new relative position of the mobile unit at each point of the subsequent scan to the position in the first scan and takes into account the last relative position in each case as prior information.例文帳に追加

計算ユニットが第１のスキャンを反復的に後続のスキャンと比較し、第１のスキャンの時点における位置に対する後続のスキャンのそれぞれの時点における移動ユニットの新たな相対位置を検出し、その都度最後に求められた相対位置を先験情報として考慮する。 - 特許庁

If an activity to be executed includes a scan process of a document and an upload process of scan data generated by the scan process, a workflow server 104 stores upload destination data so that an MFP 103 uploads the scan data to an upload destination that is determined corresponding to the upload process.例文帳に追加

ワークフローサーバ１０４は、実行すべきアクティビティが、ドキュメントのスキャン処理と、スキャン処理によって生成されるスキャンデータのアップロード処理とを含む場合、ＭＦＰ１０３がアップロード処理に対応して定められたアップロード先にスキャンデータをアップロードするようにアップロード先データを保存する。 - 特許庁

The TFT 50a is turned on and off under the control of a scan signal Yi supplied through the scan line 20 of the row and the TFT 50b is turned on and off under the control of a scan signal Yi-1 supplied from the scan line 20 of the previous row.例文帳に追加

ＴＦＴ５０ａのオン・オフは当該行の走査線２０を介して供給される走査信号Ｙｉに基づいて制御され、ＴＦＴ５０ｂのオン・オフは直前の行の走査線２０を介して供給される走査信号Ｙｉ−１に基づいて制御される。 - 特許庁

At the scan angle control part 11, the scan angle or the like on traveling in a curve is controlled in the case of a fixing-type radar, and the scan angle is controlled in the case of a scan-type radar.例文帳に追加

反射されたビームのパワーのピークが数が複数であり、該複数のピークが形成する山の数が１である場合、複数のピークの内で最も大きいパワーのピークとその両側のピークの３つのピークのパワーの大きさが均衡する角度を物体の中心位置として検出する。 - 特許庁

A scan control part 14 controls the beam former 12 to form a scan plane of ultrasonic beam for each period of periodical motion confirmed based on the synchronizing signal and move the scan plane stepwise over a plurality of periods to form a plurality of scan planes in the three-dimensional space.例文帳に追加

走査制御部１４は、ビームフォーマ１２を制御することにより、同期信号に基づいて確認される周期運動の各周期ごとに超音波ビームの走査面を形成し、複数周期に亘って走査面を段階的に移動させて三次元空間内において複数の走査面を形成する。 - 特許庁

Macroscopic density correction is realized by correcting the density of the right end side in a second main scan and density corresponding to nozzles on the left end side in a fourth main scan for a high density portion 142 occurring in a seam between a second main scan 152 and a fourth main scan 154.例文帳に追加

例えば、２回目の主走査１５２と、４回目の主走査１５４とのつなぎ目に生じる高濃度部１４２は、２回目の主走査における右端側の濃度と４回目の主走査における左端側のノズルに対応する濃度を補正することでマクロ的な濃度補正が実現される。 - 特許庁

DIAMOND 2D SCAN FOR ALIGNING AN OPTICAL FIBER TO AN OPTICAL OUTPUT PORT例文帳に追加

光ファイバを光出力ポートに整合させるダイヤモンド２次元スキャン - 特許庁

To provide a generation device or the like for generating a test vector set, capable of reducing the difference between each logic value generated before and after scan capture, concerning the output of a scan cell included in a full-scan sequential circuit.例文帳に追加

フルスキャン順序回路に含まれるスキャンセルの出力について、スキャンキャプチャの前後において発生する論理値の相違が低減されるようなテストベクトル集合の生成を行う生成装置等を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray micro-tomograph apparatus for selecting a scan in a stationary state of an object and a scan in a rotation state of a rotary table in response to a possibility of movement of the object during the scan.例文帳に追加

スキャン中に物体が動く可能性に応じて物体を静止させた状態でスキャンすること及び回転テーブルを回転させスキャンすることを選択可能とするＸ線マイクロ断層撮影装置を提供する。 - 特許庁

An operation control system (22) directs a pre-operation block (21) a switching of going way scan and returning way scan by signal (α), and performs an operation for detecting the focus for every pixel during the reciprocal scan by using the recorded data in the third memory (M3).例文帳に追加

演算制御系(22)は、往路走査と復路走査との切替を信号(α)で前演算ブロック(21)に指示し、第３メモリ(M3)の記録データを用いて往復走査中に焦点検出のための演算を画素毎に行う。 - 特許庁

Laser beams are allowed to scan in the scanning region by a mirror 13.例文帳に追加

ミラー１３によってレーザ光を走査領域において走査させる。 - 特許庁

To improve throughput associated with scan exposure of a belt-like photosensitive substrate carried, for example, in a roll-to-roll manner during application to the scan exposure.例文帳に追加

例えばロール・ツー・ロールで搬送される帯状の感光性基板への走査露光に適用したときに走査露光にかかるスループットの向上。 - 特許庁

The control circuit 114 operates a sub-scan feeding-rate of the recording medium 102, and the sub-scan feed is controlled by sending the control signal to a sub-scan motor driver 120 from the result of the operation.例文帳に追加

制御回路１１４はマーカーの読取信号から、記録媒体１０２の副走査送り量を演算し、この演算結果に基づいて副走査モータードライバー１２０へ制御信号を送って副走査送りを制御する。 - 特許庁

To decide crossing order among sides of a graphic object and to decide on the crossing value of the sides regarding each side for a following scan line by evaluating side record corresponding to the present scan line.例文帳に追加

複数の画素位置とを有するラスタ画素画像にレンダリングするための方法、装置およびコンピュータ可読媒体を提供する。 - 特許庁

After that, the machine performs pre-scan with the determined amount of light and reads the front end of the document (S160) and after the pre-scan is completed, the machine reads the whole document by performing actual scan with the determined amount of light (S200).例文帳に追加

その後、プレスキャンを上記決定した光量で実行して原稿先端を読み取り（Ｓ１６０）、プレスキャン終了後には、本スキャンを上記決定した光量にて実行して原稿全体を読み取る（Ｓ２００）。 - 特許庁

A first main scan direction interval, a second main scan direction interval and an optical magnification are related to satisfy the following spot relationship.例文帳に追加

第１主走査方向間隔、第２主走査方向間隔および光学倍率が下記のスポット関係を満たすように関係付けられている。 - 特許庁

In a test pattern for scan-designed LSIs, the generator performs a scan-out process 315 for picking up logic values from each flip flop and a scan-in process 316 for writing logic values for the next test in each flip flop at the same time.例文帳に追加

スキャン設計されたＬＳＩに対するテストパターンにおいて、各フリップフロップから論理値を取り出すスキャンアウト処理３１５と、各フリップフロップへ次のテスト用の論理値を書き込むスキャンイン処理３１６とを同時に行う。 - 特許庁

The sample is scanned back and forth with the stage being tilted clockwise during a forward scan and counterclockwise during a reverse scan.例文帳に追加

試料は、順方向走査の間は時計回りに、逆方向走査の間は反時計回りにステージを傾斜させながら前後に走査される。 - 特許庁

To perform correction of partial magnification error in a main scan direction and total magnification in a simple configuration, and make the magnification in the main scan direction to be uniform over a full range of the main scan direction to improve image quality.例文帳に追加

主走査方向の部分的な倍率誤差および全体倍率の補正が簡易な構成にて行なうことができ、主走査方向全域にわたって主走査方向の倍率を均一とし、高画質化を図る。 - 特許庁

The scan line driving circuit selects a whole or a part of charge control lines (3C) extending according to each scan line in the writing period.例文帳に追加

走査線駆動回路は、書込期間において、走査線の各々に対応して延びる充電制御線（３Ｃ）の全部又は一部をも選択する。 - 特許庁

To achieve excellent closeness to a living body in performing wide-range scan.例文帳に追加

広域走査を行うにあたり、生体との密着性を良好にする。 - 特許庁

A channel scan processing part 115 continues to perform the channel scan processing in order to retrieve the channel information concerning the frequency bands without the identification of the channel information, so that a time for the channel scan processing is shortened.例文帳に追加

チャンネルスキャン処理部１１５は、チャンネル情報が判明していない周波数帯について、チャンネル情報を検索すべくチャンネルスキャン処理を続行していくことで、チャンネルスキャン処理にかかる時間を短縮化できる。 - 特許庁

To provide a lithographic device and a device manufacturing method capable of coping with the influence of intra-field effects such as a scan-up/scan-down (SUSD) effect.例文帳に追加

スキャンアップ−スキャンダウン（SUSD）効果などのフィールド内効果の影響に対処し得るリソグラフィ装置およびデバイス製造方法を提供する。 - 特許庁

An original skew angle (280) is measured (270) based on the fast scan second order moment data set and the slow scan second order moment data set.例文帳に追加

原稿スキュー角度（２８０）は、高速走査による２次モーメントデータセットおよび低速走査による２次モーメントデータセットに基づいて測定する（２７０）。 - 特許庁

INTEGRATED BOREHOLE SCAN IMAGE RECORDING DEVICE INCORPORATING IMAGE SENSOR DEPTH METER例文帳に追加

画像センサー深度計を内蔵した一体型ボアホールスキャン画像記録装置 - 特許庁

To provide a radar which can adaptable select one of a first inter-scan process (correlation processing) and a second inter-scan process (hold processing).例文帳に追加

第１のスキャン間処理（相関処理）と第２のスキャン間処理（保持処理）との一方を適応的に選択することができるレーダ装置の提供。 - 特許庁

In the scan distribution compression mode, a test pattern is supplied from supply terminals 301-30N to scan chains 201-20N provided at stages.例文帳に追加

スキャン分配圧縮モードでは、各段のスキャンチェイン２０１乃至２０Ｎに供給端子３０１乃至３０Ｎからテストパターンが供給される。 - 特許庁

To provide an X-ray computer tomography apparatus which enables a scan condition to be reset for a main scan with respect to variation of the heart rate of a subject.例文帳に追加

Ｘ線コンピュータ断層撮影装置において被検体のハートレートの変動に対してメインスキャンのスキャン条件の再設定を可能にする。 - 特許庁

To provide an input image confirmation system capable of simply discriminating whether or not scan data are valid without the need for entirely confirming a result of scan data in the case that a scanner function acquires a huge amount of the scan data.例文帳に追加

スキャナ機能にて大量のスキャンデータを取得した場合に、そのスキャンデータの結果を全て確認することなく、データが有効かどうかを簡単に判定することができる入力画像確認システムを提供する。 - 特許庁

Usually, the width of incoming light on a scan line L of laser reflection light R2 is wider than the width of incoming light on the scan line L of disturbance light.例文帳に追加

通常、レーザ反射光Ｒ２の走査線Ｌ上における入光幅は、外乱光の走査線Ｌ上における入光幅よりも広い。 - 特許庁

To provide a system and method for controlling electron exposure on image specimens by adjusting a raster scan area in-between scan frame cycles.例文帳に追加

走査フレームサイクル間でラスタ走査領域を調整することによって、画像標本上の電子露光を制御するためのシステムおよび方法 - 特許庁

A specific scanning area setting part 304 sets a specific scanning area for implementing the scan under a specific condition for the scan with a small exposure dose in the radiographic area of a subject for the scan.例文帳に追加

本スキャンが実施される被検体の撮影領域において、被曝線量が小さい特定のスキャン条件でスキャンを実施させる特定スキャン領域を特定スキャン領域設定部３０４が設定する。 - 特許庁

The OCR provider carries out OCR processing for the image scan system.例文帳に追加

ＯＣＲプロバイダはイメージスキャンシステムのためのＯＣＲ処理を実行する。 - 特許庁