「Scan.」に関連した英語例文の一覧と使い方(26ページ目) - Weblio英語例文検索

The drive unit for the plasma display panel is configured by including a level conversion section 20 for inclinatorily changing the bias level of a scan bias voltage and a scan driving section 22 for sequentially applying the scan bias voltage having the changed bias level to a scan electrode.例文帳に追加

前記スキャンバイアス電圧のバイアスレベルを傾斜的に変化させるレベル変換部２０と、前記変化されたバイアスレベルを有する前記スキャンバイアス電圧をスキャン電極に順次印加するスキャン駆動部２２と、を含んでプラズマディスプレイパネルの駆動装置を構成する。 - 特許庁

In an address period, a scan reference waveform (-Vsc) of a ground voltage (GND) level and less is applied to scan electrodes and a negative scan waveform (-Vy) whose voltage level is lower than the scan reference waveform and higher than a negative sustain waveform (-Vs) is applied.例文帳に追加

アドレス期間では、スキャン電極にグラウンド電圧(ＧＮＤ)レベル以下であるスキャン基準波形（−Ｖｓｃ）が印加され、スキャン基準波形より電圧レベルが低くて負極性サステイン波形（−Ｖｓ）より高い電圧レベルの負極性スキャン波形（−Ｖｙ）が印加される。 - 特許庁

The plasma display apparatus includes; a plasma display panel comprising scan electrodes; and a scan driver comprising a set up pulse supplier which forms a current loop connecting a resistor and capacitors of the plasma display panel to the scan electrodes to thereby supply set up pulses to the scan electrodes.例文帳に追加

本発明は、スキャン電極を含むプラズマディスプレイパネルと、前記スキャン電極に抵抗部と前記プラズマディスプレイパネルのパネルキャパシタとを連結する電流ループを形成して、セットアップパルスを供給するセットアップパルス供給部を含むスキャン駆動部とを備える。 - 特許庁

Since a comparatively large clock skew occurs between the flip flop belonging to a prescribed group connected by the scan path and the scan flip flop belonging to the different group, the scan flip-flops including delay circuits are applied to the scan flip-flops in the final stages of the respective groups.例文帳に追加

スキャンパスによって接続するあるグループに属するスキャンフリップフロップと、別のグループに属するスキャンフリップフロップとの間に比較的大きなクロックスキューが発生するので、各グループの最後段のスキャンフリップフロップに、遅延回路を含むスキャンフリップフロップを適用する。 - 特許庁

Also, when the request origin identifier is a present ID (S8), a request relating to scan other than the scan start request and a scan end request is received even when the permission ID is not the present ID (S7).例文帳に追加

また、要求元識別子が自ＩＤであれば（Ｓ８）、許可ＩＤが自ＩＤで無くてもスキャン開始要求及びスキャン終了要求以外のスキャンに関する要求を受け付ける（Ｓ７）。 - 特許庁

Many asymmetric graphics are arranged repeatedly at definite intervals with reference to the scan line direction of the line scan camera, in such a way that they are measured by the line scan camera and that they have the same size and the same shape.例文帳に追加

ラインスキャンカメラによって測定され、同一のサイズと形状をもって前記ラインスキャンカメラのスキャンライン方向に対して左右非対称の図形が一定の間隔で多数個繰り返し配列されている。 - 特許庁

Synchronous moving operation (dummy scan exposure) of both stages WST and RST is performed similarly to when performing scan exposure of shot areas SA_1, SA_2, SA_3..., and a focus deviation ΔZ during scan exposure is acquired.例文帳に追加

ショット領域ＳＡ_1、ＳＡ_2、ＳＡ_3、…の走査露光を行うときと同様の両ステージＷＳＴ、ＲＳＴの同期移動動作（ダミー走査露光）を行い、走査露光中のフォーカス偏差ΔＺを取得する。 - 特許庁

A system for scanning includes the scannable device and a controller for broadcasting a scan related message, in response to a user input and for identifying for the user scan destinations that responds to the scan-related message.例文帳に追加

走査用システムは、走査可能装置と、ユーザ入力に応答して走査関連メッセージを同報通信し、該走査関連メッセージに応答したユーザ走査宛て先を識別するためのコントローラと、を含む。 - 特許庁

To provide a connection test means which is inexpensive and eliminates extra signal delay concerning the boundary scan circuit of a boundary scan adaptive device connected to a boundary scan non-adaptive device.例文帳に追加

バウンダリースキャン非対応デバイスに接続されたバウンダリースキャン対応デバイスのバウンダリースキャン回路に関し、安価かつ余分な信号遅延を生ずることのない接続試験手段の提供を目的とする。 - 特許庁

For the scan chain including the failure, a shift operation is performed by fixing a scan chain input terminal to L or H, and data are set in a flip-flop on the scan chain without being influenced by the failure.例文帳に追加

故障を含むスキャンチェーンに対し、スキャンチェーン入力端子をＬまたはＨに固定してシフト動作を行い、故障の影響を受けずにスキャンチェーン上のフリップフロップにデータを設定する。 - 特許庁

The LCD includes: a first data line, a second data line and a third data line arranged sequentially; a first scan line, a second scan line and a third scan line arranged sequentially; and a pixel array.例文帳に追加

ＬＣＤは、連続的に配列された第１のデータ線、第２のデータ線、第３のデータ線と、連続的に配列された第１の走査線、第２の走査線、第３の走査線と、画素アレイとを含む。 - 特許庁

In an image processing apparatus 20, a scan image acquisition unit 21 acquires a scan image including a document image and a stamp image, and a document ID extraction unit 22 extracts a document ID from the scan image.例文帳に追加

画像処理装置２０において、スキャン画像取得部２１が、文書画像とスタンプ像を含むスキャン画像を取得し、文書ＩＤ抽出部２２が、スキャン画像から文書ＩＤを抽出する。 - 特許庁

To provide a flip-flop circuit for scan path test capable of suppressing operation current in the scan path test and reducing the time necessary for simulation using a scan path, and to provide a simulation method thereof.例文帳に追加

スキャンパステストでの動作電流を抑えると共に、スキャンパスを用いたシミュレーションに要する時間を短縮することのできるスキャンパステスト用のフリップフロップ回路およびシミュレーション方法を提供すること。 - 特許庁

The scan flip-flop circuit SFF4 is inserted between scan flip-flop circuits SFF2, SFF3, and forms a flip flop for one portion of a shift register, in response to a scan enable signal SE.例文帳に追加

スキャンフリップフロップ回路ＳＦＦ４は、スキャンフリップフロップ回路ＳＦＦ２とＳＦＦ３との間に挿入され、スキャンイネーブル信号ＳＥに応じて、シフトレジスタの一部のフリップフロップを形成するように構成されている。 - 特許庁

Image data are read one scan by one scan by an image reading part 11, and after a color correcting processing and rendering are performed, the image data are accumulated into the n-th scan storing part 14a of a memory 14.例文帳に追加

画像読み取り部１１によって、１スキャン分ずつ画像データを読み取り、色補正処理、レンダリングを行った後に、メモリ１４のｎ番目スキャン格納部１４ａに画像データを蓄積する。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit includes a processor having a scan chain, a processor control unit for causing the processor to execute an application, and a scan test control unit for controlling the scan test of the processor.例文帳に追加

本発明にかかる半導体集積回路は、スキャンチェーンを有するプロセッサと、プロセッサにアプリケーションを実行させるプロセッサ制御部と、プロセッサのスキャンテストを制御するスキャンテスト制御部と、を有する。 - 特許庁

In case the user now makes himself known to the multifunctional device and prepares for a scan job, at the user interface of the multifunctional device, the scan template will be displayed for further specification of the scan job by the user.例文帳に追加

多機能デバイスのユーザーインターフェースにおいて、ユーザーが多機能デバイスにユーザー自身を知らせ、スキャンジョブの準備をすると、ユーザーがスキャンジョブの詳細を確認できるようスキャニングテンプレートが表示される。 - 特許庁

The DSP control circuit 10 compares an amount of reflected beams P0 at a scan position (reference position) on the target region with an amount of reflected beams Pk at a scan position adjacent to the scan position.例文帳に追加

ＤＳＰ制御回路１０は、目標領域上におけるスキャン位置（参照位置）の反射光量Ｐ０と、当該スキャン位置に隣接する各スキャン位置の反射光量Ｐｋとを比較する。 - 特許庁

Besides, when a scan is instructed from an operator, a main control part 26 calculates a scan cross section from the coordinates of the distal end of the pointer 6 or from an instructed direction and requests imaging of the scan cross section to the MRI system 1.例文帳に追加

また、主制御部２６は、術者よりスキャンの指示があると、ポインタ６の先端の座標や指示方向より、スキャン断面を算出し、スキャン断面の撮像をMRI装置１に要求する。 - 特許庁

A signal from a scan route 4 latched by a latch 10 is provided to an input terminal SI for scan data of scan FF2, provided to a front stage of an input terminal I of a logic block 1.例文帳に追加

論理ブロック１の入力端子Ｉの前段に設けられたスキャンＦＦ２のスキャンデータ用の入力端子ＳＩに、スキャン経路４からきた信号をラッチ１０でラッチして与えるように構成する。 - 特許庁

A scan converting part 611 in an encoding processing part 610 changes the arrangement of the input 8×8 pixels according to the information of a scan start position information storage part 614 and a scan route information storage part 615.例文帳に追加

符号化処理部６１０内のスキャン変換部６１１は、スキャン開始位置情報記憶部６１４、スキャンルート情報記憶部６１５の情報に従い、入力した８×８画素の並びを変更する。 - 特許庁

A map image generating part 133 generates a map image MI(x, y) which shows that a SN ratio of a main scan image AI(x, y) generated under the conditions of a main scan is mapped before the main scan is carried out.例文帳に追加

本スキャンが実施される前に、その本スキャン条件にて生成される本スキャン画像ＡＩ（ｘ，ｙ）のＳＮ比をマッピングしたマップ画像ＭＩ（ｘ，ｙ）をマップ画像生成部１３３が生成する。 - 特許庁

The controller also includes a scan layer interface driving a scan chain portion with the configurable test clock, and a control layer interface configured so as to access the control information for controlling the scan chain portion.例文帳に追加

コントローラはまた、構成可能なテストクロックでスキャンチェーン部分を駆動するスキャンレイヤインタフェースと、スキャンチェーン部分を制御するための制御情報にアクセスするように構成された制御レイヤインタフェースを含む。 - 特許庁

A component module constituting this scan test system has an input scan cell 76 and an output scan cell 102 if the input and output are not on a boundary of an integrated circuit 10.例文帳に追加

この走査テストシステムを構成する成分モジュールは、その入力または出力が集積回路１０の境界上になければ、入力走査セル７６と出力走査セル１０２とを有する。 - 特許庁

The scan chain reconfiguration method enables the test and diagnosis for a plurality of scan chains, and can prevent an unknown value present in the scan chain from having influence on the test result.例文帳に追加

又、スキャンチェーン再配置方法により、複数個のスキャンチェーンについてのテスト及び診断が可能にし、スキャンチェーンに存在する未知の値がテスト結果に影響を与えないようにすることができる。 - 特許庁

In the redundant state, the scan cell is extended by forming an additional local path BP for alternating (bypassing) the corresponding storage layer between the corresponding scan input port SI and the scan output port SO.例文帳に追加

冗長状態は、対応するスキャン入力ポートＳＩとスキャン出力ポートＳＯの間に、対応するストレージ層を迂回（バイパス）する追加ローカルパスＢＰを作成することによって、スキャンセルを拡張する。 - 特許庁

The subfields include the subfields having an address interval in which scan pulses are applied to the N scan electrodes in a rising order and the subfields having an address interval in which scan pulses are applied to the electrodes in a falling order.例文帳に追加

その複数のサブフィールドは、Ｎ本のスキャン電極に昇順にスキャンパルスを印加するアドレス期間を有するサブフィールドと、降順にスキャンパルスを印加するアドレス期間を有するサブフィールドとを含む。 - 特許庁

To enable both radial scan and sector scan, to enable radial scan for the whole periphery of 360°, and restrain attenuation of an ultrasonic signal while the protection effect of a protective cover is secured enough.例文帳に追加

ラジアル走査とセクタ走査の双方が可能でとするとともに、３６０゜全周のラジアル走査が可能とし、さらに、保護カバーの保護効果を十分に確保した上で、超音波信号の減衰を抑える。 - 特許庁

To provide a scan projection aligner that prevents exposure in a defocus state even if the scan speed of a substrate to exposure light is increased, and a surface position detection method that is used for the scan projection aligner.例文帳に追加

露光光に対する基板の走査速度が速くなる場合でも、デフォーカス状態で露光されるのを防止した走査露光装置及びこの装置に用いる面位置検出方法を提供する。 - 特許庁

A scan power control circuit 3003 is added to a scan test control circuit 3000 which is a gathering of gated clocks, allowing the operation of the gated clock cell equipped with the scan power control terminal to be controlled.例文帳に追加

またゲーテッドクロックの集合であるスキャンテスト制御回路３０００にスキャン電力制御回路３００３を追加し、スキャン電力制御端子つきゲーテッドクロックセルの動作を制御可能にする。 - 特許庁

The method for performing color Doppler mode in the ultrasonic wave diagnosis system includes a step of performing scanning a first scan line set which set over the all scan area to detect at least one scan line where moving objects pass through, a step of setting a second scan line set using the detected scan line, and a step of performing scanning the second scan line set to form the first color Doppler image.例文帳に追加

超音波診断システムにおけるカラードップラーモード遂行方法は、全スキャン領域に設定された第１のスキャンラインセットをスキャニングして、動く物体を通過する少なくとも一つのスキャンラインを検出する段階と、前記検出されたスキャンラインを用いて、第２のスキャンラインセットを設定する段階と、前記第２のスキャンラインセットをスキャニングして、第１のカラードップラー映像を形成する段階とを備える。 - 特許庁

Each CLAB is provided with a terminal for inputting signals of a scan switching signal, a scan data signal and a scan clock signal and a terminal for a scan output signal for outputting a state of a flip-flop holding an internal state in response to the scan signals, so that outputs of flip-flops of a plurality of CLABs can be inputted in predetermined order as scan data signals of following CLABs.例文帳に追加

各ＣＬＡＢにスキャン切り替え信号，スキャン用データ信号及びスキャン用クロック信号の各信号を入力する端子と前記スキャン用信号により内部状態を保持するフリップフロップの状態を出力するスキャン出力信号の端子とを設け，複数のＣＬＡＢのフリップフロップの出力を後続のＣＬＡＢのスキャン用データ信号として予め決められた順に入力するよう構成する。 - 特許庁

A scan line drive circuit 350 sequentially selects 320 lines of scan lines, applies selected voltage to the selected scan lines, turns a predetermined one among scan lines other than the selected scan lines into a high impedance state when low-order voltage is applied to the common electrodes 111 and applies non-selected voltage to the predetermined scan line when the high-order voltage is applied to the common electrodes 111.例文帳に追加

走査線駆動回路３５０は、３２０行の走査線を順番に選択するとともに、選択した走査線に対しては選択電圧を印加する一方、選択した走査線以外の走査線のうち、所定のものに対しては、共通電極１１１に低位電圧が印加されたときにハイ・インピーダンス状態とし、共通電極１１１に高位電圧が印加されたときに非選択電圧を印加する。 - 特許庁

SCAN DRIVING CIRCUIT AND ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY USING SAME例文帳に追加

走査駆動回路とこれを利用した有機電界発光表示装置 - 特許庁

The scan data is converted to the data of the determined format (S307).例文帳に追加

スキャンデータを、決定されたフォーマットのデータに変換する（Ｓ３０７）。 - 特許庁

A scanner illuminates a partial width 212 of a scan line.例文帳に追加

スキャンラインの部分的な幅２１２を照明するスキャナが開示される。 - 特許庁

To achieve a configuration preventing data leakage via a scan chain.例文帳に追加

スキャンチェインを介したデータ漏洩を防止した構成を実現する。 - 特許庁

The scan FFs 11-15 are disposed in parallel with the memory macrocell 20.例文帳に追加

スキャンＦＦ１１〜１５は、メモリマクロセル２０に並列に配置される。 - 特許庁

X-RAY CT SYSTEM, SCAN METHOD THEREFOR, AND SOFTWARE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

Ｘ線ＣＴ装置、そのスキャン方法、及びソフトウェア記録媒体 - 特許庁

The active device is electrically connected to the scan line and the data line.例文帳に追加

能動素子は、スキャンラインおよびデータラインに電気接続されている。 - 特許庁

FLIP-FLOP CIRCUIT, SHIFT REGISTER AND SCAN DRIVING CIRCUIT FOR DISPLAY DEVICE例文帳に追加

フリップフロップ回路、シフトレジスタおよび表示装置の走査駆動回路 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR PROVIDING AN IMAGE FORMING APPARATUS WITH A SCAN SERVICE例文帳に追加

画像形成装置にスキャン・サービスを提供する方法およびシステム - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR SPECIFYING FAULTY FLIP-FLOP IN SCAN CHAIN例文帳に追加

スキャンチェーンの不良フリップフロップ特定回路およびその特定方法 - 特許庁

The CR motor 4 drives the belt 2 to allow the carriage 1 to scan.例文帳に追加

ＣＲモータ４は、ベルト２を駆動してキャリッジ１を走査させる。 - 特許庁

An original image is set onto the image input device to perform pre-scan.例文帳に追加

原稿画像を画像入力装置にセットし、プレスキャンを行う。 - 特許庁