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「Scan.」に関連した英語例文の一覧と使い方(31ページ目) - Weblio英語例文検索


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Scan.を含む例文一覧と使い方

該当件数 : 8291



例文

Thus, since key scan is performed only when the state of key is changed, the power consumption of the key scan system can be reduced.例文帳に追加

このようにして、キーの状態が変化した場合にのみキースキャンを行うことで、キースキャン装置の消費電力を削減することができる。 - 特許庁

Focus control is provided in a cross-scan direction by bending a reticle about a scan axis based on a mapped topology of the substrate.例文帳に追加

基板のマップされたトポロジに基づいてレチクルをスキャン軸の周りに湾曲させることにより、交差スキャン方向の焦点制御が提供される。 - 特許庁

This step-and-scan type projection aligner is provided with a controller for setting the step drive profile for each step drive, based on scan synchronization errors.例文帳に追加

ステップ駆動プロファイルを、スキャン同期誤差に基づいて、ステップ駆動毎に設定する制御装置を備えるステップ&スキャン式投影露光装置。 - 特許庁

An image processor 101 stores scan data for one page in a page memory.例文帳に追加

画像処理プロセッサ101はスキャンデータを1ページ分、ページメモリへ溜める。 - 特許庁

例文

The scan line driving circuit selects all or part of charging control lines (3C) extending according to each scan line, in the writing period.例文帳に追加

走査線駆動回路は、書込期間において、走査線の各々に対応して延びる充電制御線(3C)の全部又は一部をも選択する。 - 特許庁


例文

In scan testing a logic IC, on which a plurality of IP circuits 141-143 substantially identical in structure are combined, scan data are inputted to the respective IP circuit in parallel.例文帳に追加

実質的に同一構成の複数のIP回路141 〜143 を混載したロジックICにおいて、スキャンテスト時に各IP回路に並列にスキャンデータを入力する。 - 特許庁

The encoder has a reflection scale body 20 and a scan unit 10.例文帳に追加

エンコーダは、反射スケール本体20およひ走査ユニット10を有する。 - 特許庁

SCAN EXPOSING METHOD, SCANNING ALIGNER, LASER APPARATUS, AND ELEMENT MANUFACTURE例文帳に追加

走査露光方法、走査型露光装置、レーザ装置、および素子製造方法 - 特許庁

To provide an optical scanner which is free from requiring a scan lens, has high versatility and can be reduced in size, while maintaining a stable optical scan.例文帳に追加

走査レンズが不要であり、汎用性が高く、安定した光走査を維持しつつ、小型化を図ることができる光走査装置を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a circuit which reduces an increase in the number of scan path test clock terminal.例文帳に追加

スキャンパステストクロック端子数の増大を抑止する回路の提供。 - 特許庁

例文

Whenever receiving an ECG (electrocardiogram) trigger signal, a control section 8 changes a starting position of the scan and allows an ultrasonic probe 2 to scan the whole scanning range.例文帳に追加

制御部8はECGトリガ信号を受信するたびに走査の開始位置を変えて超音波プローブ2に全走査範囲を走査させる。 - 特許庁

When scan action incapable of detecting coherent light in nonprojection periods have continued a specified number of times, this photoelectric sensor varies the scan cycle at random.例文帳に追加

非投光期間において干渉光を検出できないスキャン動作が所定回数連続したときは、スキャン周期をランダムに可変する。 - 特許庁

A control means makes the scan switch means connect the scan lines to the 1st potential and selects the scan lines in order to control the connection state of the drive switch means and also adjust dimming rates of the pixels.例文帳に追加

制御手段は、走査スイッチ手段によって走査ラインを第一電位に接続させ走査ラインを順次選択し、ドライブスイッチ手段の接続状態を制御すると共に、画素の減光率を調整する。 - 特許庁

PROGRESSIVE SCAN CONVERTING DEVICE, ITS METHOD, AND TELEVISION例文帳に追加

順次走査変換装置と順次走査変換方法及びテレビジョン装置 - 特許庁

To detect a failure of a scan chain without using an LSI tester.例文帳に追加

LSIテスタを使用することなくスキャンチェーンの故障検出を行う。 - 特許庁

To provide a method for converting from an interlaced scan image to a progressive scan image that generates a desired visible image in a minimum processing time.例文帳に追加

最小の処理時間、かつ、所望の視覚画像を生成する飛び越し走査からプログレッシブ走査へ変換する方法を提供すること。 - 特許庁

The respective scan cells are analyzed to identify a redundant state.例文帳に追加

それぞれのバウンダリスキャンセルを解析して冗長状態を識別する。 - 特許庁

To provide an image reader that can accurately and easily scan an image of an original.例文帳に追加

原稿の画像を正確に、しかも、容易に走査することができる。 - 特許庁

A non-scan selecting voltage data are read out from a lookup table 14 based on the lighting rate and dimmer set data, and thereby, a non-scan selecting voltage VM in a non-scan selecting voltage setting means 21 is determined.例文帳に追加

前記点灯率およびディマー設定データに基づいてルックアップテーブル14より非走査選択電位データが読み出され、これにより非走査選択電位設定手段21における非走査選択電位VMが決定される。 - 特許庁

To reduce greatly a heavy current flowing momentarily at a scan test time.例文帳に追加

スキャンテスト時に瞬間的に流れる大電流を大幅に低減する。 - 特許庁

The storage part 52 also stores a target heart rate or a target breath-holding passage time at a scan start timing by the scan mechanism 10.例文帳に追加

また、記憶部52は、スキャン機構10によるスキャンの開始タイミングにおける目標心拍数又は目標息止め経過時間を記憶する。 - 特許庁

A scan flip-flop circuit OSFF for observation is incorporated in a shift register constituted by a plurality of scan flip-flop circuits as mentioned above.例文帳に追加

また、観測用スキャンフリップフロップ回路OSFFは、前述したような複数のスキャンフリップフロップ回路が構成するシフトレジスタに組み込まれる。 - 特許庁

To provide a scan path circuit design method or the like which allows a scan path test to be performed for a logic circuit designed by gated clock design.例文帳に追加

ゲーティッドクロック設計により設計された論理回路に対してスキャンパステストを実行可能なスキャンパステスト回路設計方法等を提供する。 - 特許庁

WIDE-ANGLE LIGHT DETECTION MEMBER AND SCAN TYPE OBSERVATION DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

広角光検出部材及びそれを用いた走査型観察装置 - 特許庁

Since the image data and the scan setting information are stored related to each other, the image data can be retrieved, based on the scan setting information.例文帳に追加

画像データとスキャン設定情報とが関連付けられて記憶されるので、スキャン設定情報に基づき画像データを検索することができる。 - 特許庁

To continuously execute a scan, even when a respiratory synchronous trigger is not generated.例文帳に追加

呼吸同期トリガーが発生されなくても、スキャンを続けて実行する。 - 特許庁

runtime analysis is performed on the black box scan of the web application.例文帳に追加

ランタイム解析がウェッブ・アプリケーションのブラック・ボックス走査の際に行われる。 - 特許庁

SCAN AND PRINT PROCESSING IN NETWORK SYSTEM HAVING A PLURALITY OF DEVICES例文帳に追加

複数の装置を有するネットワークシステム内のスキャンおよび印刷処理 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit includes a logic circuit (65) having a scan path flip-flop and a test circuit (70) executing a scan path test.例文帳に追加

スキャンパスフリップフロップを有する論理回路(65)と、スキャンパステストを実行するテスト回路(70)とを具備する半導体集積回路を構成する。 - 特許庁

The plasma display apparatus comprises a plasma display panel including scan electrodes, and a scan driving part for supplying a setup pulse to the scan electrodes by resonance between the plasma display panel and a setup inductor.例文帳に追加

本発明によるプラズマディスプレイ装置は、スキャン電極を含むプラズマディスプレイパネルと前記スキャン電極に前記プラズマディスプレイパネルとセットアップインダクタとの共振によりセットアップパルスを供給するスキャン駆動部を含む。 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT INCLUDING IT, AND SUBSTRATE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WHERE SCAN TEST CIRCUIT IS MOUNTED例文帳に追加

スキャンテスト回路及びスキャンテスト回路を含む半導体集積回路及びスキャンテスト回路を搭載した半導体集積回路試験用基板 - 特許庁

A selection voltage resulting from correcting waveform dulness due to electric characteristics of a row-direction wiring (scan lines) by a selection signal correction circuit is applied to scan lines.例文帳に追加

行方向配線(スキャン線)の電気特性による波形鈍りを選択信号補正回路で補正した選択電圧をスキャン線に印加する。 - 特許庁

When the scan execution frequency counter of the user exceeds a predetermined value (S107; YES), the scan image is abandoned (S109), and the user is notified (S111).例文帳に追加

ユーザのスキャン実行回数カウンタが所定の値を超えた場合(S107でYES)、スキャン画像を破棄し(S109)、ユーザへ通知する(S111)。 - 特許庁

SCAN STRUCTURE OF DISPLAY DEVICE, ITS DRIVING METHOD AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

ディスプレイデバイスのスキャン構造、その駆動方法、及びその製造方法 - 特許庁

To provide an information processing apparatus which incorporates a TV tuner, capable of automatically carrying out channel scan without the need for a user to perform an operation for channel scan, when the channel scan is needed.例文帳に追加

TVチューナを内蔵する情報処理装置において、チャネルスキャンが必要なときには、ユーザがそのための操作をすることなく、自動的にチャネルスキャンを実行することができる情報処理装を提供する。 - 特許庁

IMAGE DISPLAY TERMINAL, SCAN CONVERTER, AND DIGITAL IMAGE DISTRIBUTION SYSTEM例文帳に追加

画像表示用端末装置、スキャンコンバータおよびデジタル画像配信システム - 特許庁

A first test circuit section TCi1 receives an address signal a'', a scan-in signal SIN, a scan select signal SS, and a shift clock signal SCLK and outputs an address signal a''' and a scan-out signal SiOUT1.例文帳に追加

第1テスト回路部TCi1は,アドレス信号a’’,スキャンイン信号SIN,スキャンセレクト信号SS,およびシフトクロック信号SCLKを受け,アドレス信号a’’’およびスキャンアウト信号SiOUT1を出力する。 - 特許庁

A CPU 10 executes first TV broadcast scan interrupt processing at a time of a TV broadcast scan interrupt interval 93 set by a user.例文帳に追加

CPU10は、ユーザにより設定されたTV放送スキャンインタラプト間隔93の時間おきに、第1TV放送スキャンインタラプト処理を実行する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE PROVIED WITH SCAN SIGNAL CONVERSION CIRCUIT例文帳に追加

SCAN信号変換回路を具備した半導体集積回路装置 - 特許庁

After performing first scan S1 for gathering magnetic resonance signals from the head of a subject SU as first scan data, a positioning image SI is generated for the head of the subject SU on the basis of the first scan data.例文帳に追加

被検体SUの頭部から磁気共鳴信号を第1スキャンデータとして収集する第1スキャンS1を実施後、その第1スキャンデータに基づいて被検体SUの頭部について位置決め画像SIを生成する。 - 特許庁

To provide a television broadcast signal receiver capable of reducing an automatic scan processing time by allowing a viewer to set a scan range in the channel automatic scan processing of the television broadcast signal receiver.例文帳に追加

テレビジョン放送信号受信装置のチャンネルオートスキャン処理において、視聴者によりスキャン範囲を設定可能とすることで、オートスキャン処理時間を短縮可能なテレビジョン放送信号受信装置を提供する。 - 特許庁

Hereby, the number of steps per scan chain can be controlled corresponding to the semiconductor integrated circuit, and the time for the scan test can be shortened.例文帳に追加

これにより、半導体集積回路に応じてスキャンチェーン1本当たりの段数を制御でき、スキャンテストの時間を短縮することができる。 - 特許庁

To enable a user to operate a scan server via a client process by providing an interface between a client computer and a JTAG scan server.例文帳に追加

クライアントコンピュータとJTAGスキャンサーバとの間のインタフェイスを提供してユーザがクライアントプロセスを介してスキャンサーバを操作することを可能にすること。 - 特許庁

The gantry apparatus performs the scan on the basis of the received scan plan (S753) and transmits collected projection data to the operation console (S754).例文帳に追加

ガントリ装置は受信したスキャン計画に基づいてスキャンを行い(S753)、収集した投影データを操作コンソールに送信する(S754)。 - 特許庁

In the ongoing direction of a light beam LB reflected by the polygon mirror 28, a 1st scan lens 32 and a 2nd scan lens 33 are located.例文帳に追加

ポリゴンミラー28により反射された光ビームLBの進行方向には、第1走査レンズ32、第2、走査レンズ33が配置されている。 - 特許庁

To provide a scanner in which movement of documents to copy/scan glass is automatically detected for automatically performing scan/copy operation.例文帳に追加

スキャン/コピー操作を自動的に行うためにコピー/スキャンのガラスに対する書類の動きを自動的に検出させるスキャン装置を提供する。 - 特許庁

ELECTRONIC SHOPPING SYSTEM HAVING SELF-SCAN PRICE CHECK AND PURCHASE TERMINAL例文帳に追加

セルフ走査プライスチェック及び購入端末を有する電子買物システム - 特許庁

To generate progressive images of high image quality when sequential scan conversion is performed.例文帳に追加

順次走査変換の際に画質のよいプログレッシブ画像を生成する。 - 特許庁

This method performs a scan test of an integrated circuit 1 provided with combinational circuits 10, 11, 12 and a flip-flop constituting a scan chain 20.例文帳に追加

組み合わせ回路10、11、12と、スキャンチェーン20を構成するフリップフロップと、を備える集積回路1のスキャンテストを行う方法である。 - 特許庁

例文

To perform retrieval in cooperation between index type retrieval and scan type retrieval while redeeming defects each other, in a document retrieval device comprising index type retrieval and scan type retrieval.例文帳に追加

インデックス型検索とスキャン型検索からなる文書検索装置において、双方で欠点を補いながら連携して検索を行う。 - 特許庁




  
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