Scan.を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8288件
To provide a recording apparatus which can detect such a state that an inclination amount in a sub-scan direction of a carriage differs according to a position in a main scan direction.例文帳に追加
キャリッジの副走査方向の傾き量が主走査方向の位置に応じて異なる状態を検出することが可能な記録装置を提供する。 - 特許庁
To realize a scan function, even if a music processing apparatus 150 is connected to a portable music reproducing apparatus 180, on which the scan function has been omitted.例文帳に追加
楽曲処理装置150が、スキャン機能を欠落した携帯型楽曲再生装置180を接続されたときでも、スキャン機能を実現できるようにする。 - 特許庁
To provide a scan time setting device which can increase the maximum number of control axes having been limited since a scan time is fixed and eliminate a system down.例文帳に追加
スキャンタイムが固定であったために制限されていた最大制御軸数を増大でき、システムダウンを解消できるスキャンタイム設定装置を提供する。 - 特許庁
The select signal applied to a select scan line and a light emission signal for light emission in each subfield can be outputted from one scan driving section.例文帳に追加
そして,選択走査線に印加される選択信号と各副フィールドで発光のための発光信号を一つの走査駆動部から出力することができる。 - 特許庁
Accordingly, for a color patch P, whose colorimetric results in the line scan is normal, spot scan is made to be executed so as to obtain a proper colorimetric result.例文帳に追加
そこで、ラインスキャンにおいて測色結果が異常であったカラーパッチPについてはスポットスキャンを実行させ、適正な測色結果が得られるようにしている。 - 特許庁
Electron guns which divide a phosphor screen into two scan area to scan them with electron beams are arranged in two necks of a vacuum housing.例文帳に追加
真空外囲器の2つのネックには、電子ビームにより蛍光体スクリーンを2つの走査領域に分割して走査する電子銃がそれぞれ配置されている。 - 特許庁
Alternatively, captured data are serially stored in the data storage circuit in the RAM or the hard macro core, in the capture operation of the scan test, and are read out to the outside of the large scale circuit after the scan test, in which an external large scale integrated circuit tester verifies expectations.例文帳に追加
RAMやハードマクロコア内のデータ蓄積回路にスキャンデータを蓄積し、スキャンテストのシフト時にスキャンデータをスキャンチェーンにシフトインする。 - 特許庁
A shift of a selection signal in a shift register included in a scan line driver circuit and supply of a selection signal to scan lines are controlled independently of each other.例文帳に追加
走査線駆動回路が有するシフトレジスタにおける選択信号のシフトと、走査線に対する選択信号の供給とを独立に制御する。 - 特許庁
To provide a scan mechanism and a scan method having a simple structure and high scanning repeatability and enabling high straightness.例文帳に追加
その構造が簡素であり、走査の繰り返し精度が高く、しかも高い真直度が可能になる垂直2次元面の走査機構および走査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a signal generator suitable for surely presetting only the channel of a specified frequency band in initial scan or re-scan.例文帳に追加
初期スキャン又は再スキャンにおいて、特定の周波数帯域のチャンネルだけを確実にプリセットするために好適な信号発生装置を提供する。 - 特許庁
When an obstacle is detected on a closer position than a threshold distance, a scan locus is set, wherein a scan frequency near the obstacle is heightened.例文帳に追加
さらに、障害物が閾値距離よりも接近する位置に検出されたときには、障害物近傍のスキャン頻度が高められるスキャン軌跡を設定する。 - 特許庁
The scan pass test circuit having no malfunction and a large operating margin can be made by this configuration, and the instantaneous current consumption at the time of scan test can be reduced.例文帳に追加
この構成により、誤動作のない動作マージンの大きいスキャンパス・テスト回路が可能となり、またスキャンテスト時の瞬時消費電流を削減できる。 - 特許庁
The magnetic resonance imaging system includes a prep scan section, a prep image generating section, a cardiac time phase determining section, an imaging scan section, and an imaging image generating section.例文帳に追加
磁気共鳴イメージング装置は、プレップスキャン部、プレップ画像生成部、心時相決定部、イメージングスキャン部およびイメージング画像生成部を備える。 - 特許庁
The patterned semiconductor layer over the scan lines between the etching protective layers and the data lines is removed to expose the patterned dielectric layer over the scan lines.例文帳に追加
エッチング保護層とデータラインの間の走査線の上のパターン化された半導体層は除去され、走査線の上にパターン化された誘電体層を露出する。 - 特許庁
To provide a failure analysis method for a logic circuit which identifies the failure on a scan chain without requiring an additional circuit in a conventional scan design.例文帳に追加
通常のスキャン設計において、追加回路を必要とせずにスキャンチェーン上の故障箇所を特定する論理回路の故障解析方法を提供する。 - 特許庁
To provide an X-ray CT system allowing a user to select a scan prioritizing the reduction of exposure or a scan prioritizing an image quality according to an imaging site or purpose.例文帳に追加
撮影部位又は目的に応じて被曝低減を優先するスキャンと画質を優先するスキャンとを選択できるX線CT装置を提供する。 - 特許庁
To provide an optical scanner in which a drive circuit for imparting a scan signal can be simplified by decreasing the number of scan signal transmission lines.例文帳に追加
走査信号伝送路の本数を減らして、走査信号を与えるための駆動回路を簡略化することができる光走査装置を提供する。 - 特許庁
When it is determined that there is no prescribed color change in a scan, the amount-of-change calculation section 3 may scan other positions or directions.例文帳に追加
なお、ある走査で所定の色変化を有していないと判定された場合に、変化量算出部3が他の位置又は方向の走査を行うようにするとよい。 - 特許庁
At C2 process circuits 28G, 28B, and 28R, five scan lines of inputted memory reading signal are converted for outputting into the signal with six scan lines.例文帳に追加
C2処理回路28G、28B、28Rでは、入力されるメモリ読み出し信号の走査線5本を、走査線6本の信号に変換して出力する。 - 特許庁
When a recipient of the job data reads the printed document by the multifunction device to generate scan data, the multifunction device transmits the scan data to the output managing device.例文帳に追加
ジョブデータの受領者が印刷された文書を複合機で読み取ってスキャンデータを生成すると、複合機はスキャンデータを出力管理装置に送信する。 - 特許庁
The vertical line scan data stream of the processing result is inputted to a second data stream converter, converted to the original horizontal line scan data stream and outputted.例文帳に追加
処理結果の垂直ラインスキャン・データストリームを、第2のデータストリーム変換装置140に入力し、元の水平ラインスキャン・データストリームに変換し出力する。 - 特許庁
According to the difference between the actual scan speed and the initial setting one, the setting value of scan setting speed or fetching data length on position detection is corrected.例文帳に追加
この実スキャン速度と初期設定速度との差に応じて、位置検出時におけるスキャン設定速度または取り込みデータ長の設定値を補正する。 - 特許庁
To provide a scan test device of which the number of input terminals for inputting test data can be reduced without increasing a circuit scale, and to provide a scan test method.例文帳に追加
回路規模が増大することなく、テストデータを入力する入力端子の個数を削減できるスキャンテスト装置及びスキャンテスト方法を提供すること。 - 特許庁
The display panel 3 has a substrate 31, further has scan lines S_21 to S_2m, data lines D_21 to D_2n and thin-film transistors positioned on an interlace region of the scan lines and the data lines, on the substrate 31.例文帳に追加
表示パネル3は基板31を有し、さらに、基板31上にはスキャンラインS_21〜S_2m、データラインD_21〜D_2n及び、これらのインターレース領域に位置する薄膜トランジスタを有する。 - 特許庁
The cameras 62a and 62b transfer all of obtained image data in the full scan mode, and extract and transfer a part of obtained image data in the partial scan mode.例文帳に追加
カメラ62a,62bは、フルスキャンモードでは、得られた画像データの全てを転送し、パーシャルスキャンモードでは、得られた画像データから一部を抽出して転送する。 - 特許庁
To provide a liquid crystal display device with a common inversion drive that is able to decrease amplitude voltage produced by scan signals of scan lines.例文帳に追加
走査線の走査信号の振幅電圧を小さくすることができるコモン反転駆動を用いた液晶表示装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
To prevent a formation of an inversely tapered cross-sectional end portion of a scan line due to alkali formed from peeling liquid and water during a resist-peeling process after patterning of the scan line.例文帳に追加
走査線をパターニング後、レジスト剥離の際、剥離液と水で形成されるアルカリによって走査線の断面端部が逆テーパとなることを防止する。 - 特許庁
The etching protective layers cover the exposed scan lines exposed by the patterned dielectric layer and the patterned semiconductor layer, and are electrically connected to the scan lines.例文帳に追加
エッチング保護層は、パターン化された誘電体層とパターン化された半導体層によって露出された走査線を覆い、走査線に電気的に接続される。 - 特許庁
To easily perform an assembly operation of a scan unit even when a projected part, etc. is formed on the lower surface of the scan unit in an image forming apparatus.例文帳に追加
画像形成装置において、スキャンユニットの下面に突起部等が形成されていても、スキャンユニットの組立作業を容易に行うことができるようにする。 - 特許庁
The mark output section 54 outputs a mark right signal after the lapse of the scan counts T3a and T3b from the time point of inputting the scan count start timing signal.例文帳に追加
マーク出力部54は、スキャンカウント開始タイミング信号の入力時点からスキャンカウントT3a,T3b経過後に、マーク良信号を出力する。 - 特許庁
A controller adjusts an exposure time of the imaging element through sequential scan by the scanner similar to the shutter during accumulation start scan of the imaging element.例文帳に追加
制御部は、撮像素子の蓄積開始走査時におけるシャッターのように、走査部によって順次走査させて撮像素子の露光時間を調整する。 - 特許庁
The processor is configured to color scan the image pattern in a first direction and monochrome scan the image pattern in a second direction different from the first direction.例文帳に追加
この装置のプロセッサーは、第1の方向に前記イメージパターンをカラースキャンし、第1の方向と異なる第2の方向にイメージパターンをモノクロスキャンする。 - 特許庁
When a scan direction control signal indicating the reverse scan is inputted, the timing control section performs sequence change processing by utilizing a line memory 304.例文帳に追加
逆スキャンを示すスキャン方向制御信号が入力されると、タイミング・コントロール部は、ライン・メモリ304を利用して、順序変更処理を行う。 - 特許庁
The light emitting device comprises a panel 300, a control part 302, a first scan driving part 304, a second scan driving part 306, a discharge part 308, a precharge part 310, and a data driving part 312.例文帳に追加
本発明の発光素子は、パネル300、制御部302、第1スキャン駆動部304、第2スキャン駆動部306、放電部308、プリチャージ部310及びデータ駆動部312を含む。 - 特許庁
To improve lithography and precision, by correcting drawing misregistration due to movement or swinging of a stage, in a mask scan system provided with a scan deflector.例文帳に追加
スキャン偏向器を備えたマスクスキャン方式において、ステージの移動や揺動に伴う描画位置ずれを補正して描画精度の向上をはかる。 - 特許庁
The display pixel Blue1 is connected to the scan line Gate1, scan line Gate2, and signal line SR1 through TFTs 12a and 13a.例文帳に追加
表示画素Blue1はTFT12a、13aを介して走査線Gate1と、走査線Gate2と、信号線SR1とに接続する。 - 特許庁
Since the scan output is made constant by the signal of the one polarity in general operation, the power consumption accompanying the change of scan output can be suppressed.例文帳に追加
上記一方の極性の信号により、通常動作時にスキャン出力が一定となるため、スキャン出力の変化に伴う消費電力が抑制される。 - 特許庁
To provide a scan testing method of a semiconductor integrated circuit of advanced integration, and the semi-conductor integrated circuit to be tested by the scan testing method.例文帳に追加
集積化の進んだ半導体集積回路に対するスキャンテスト方法、及び該スキャンテスト方法によりテストされる半導体集積回路を求める。 - 特許庁
To shorten scan time of a message by scanning and pipeline processing of transmitting and receiving candidate messages and to improve reliability of message scan.例文帳に追加
送受信候補メッセージのスキャンをパイプライン処理化することにより、該メッセージのスキャン時間を短縮し、かつメッセージスキャンの信頼性を向上させる。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit having the fewest terminals for a scan test as possible, and easily configuring the scan test.例文帳に追加
スキャンテスト用の外部端子の数をなるべく少なくしながら、スキャンテストの設定を容易に行なうことができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory of a scan system in which data setting can be performed with the number of times of scan shift being comparatively less.例文帳に追加
本発明は、比較的少ないスキャンシフトの回数でデータ設定が可能なスキャン方式の半導体記憶装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
In the normal operation state, a scan pulse is applied to electron emission portions 13 through contact resistors R_cont of upper electrodes 14 from a scan line 12.例文帳に追加
通常の動作状態では、走査線12から上部電極14のコンタクト抵抗Rcontを介して、電子放出部13に走査パルスが印加される。 - 特許庁
FULL-WIDTH ARRAY SPECTROPHOTOMETER, METHOD FOR FULL-WIDTH SCAN COLOR ANALYSIS OF COLLAR INSPECTION OBJECT, AND METHOD FOR PERFECT TRANSVERSE-DIRECTIONAL SCAN COLOR ANALYSIS OF COLOR PRINTING SHEET例文帳に追加
全幅アレイ分光光度計、カラー検査対象の全幅走査カラー解析の方法、および、カラー印刷シートの完全横方向走査カラー解析の方法 - 特許庁
The scan chain comprises one ring from each of a plurality of devices, and each ring 25 comprises, or inserted, at least one status resistor for testing the scan chain.例文帳に追加
スキャンチェーンは、複数の装置の各々からの1つのリングを備えており、各リング25はスキャンチェーンをテストするための1つ以上の介在するステータスレシ゛スタを有する。 - 特許庁
A second subtractor 46 performs phase compensation of a phase difference between the first reference position operation signal of the n-th scan and the reference position signal of the n-th scan.例文帳に追加
そして、第2減算器46は、n回目スキャンの第1基準位置演算信号とn回目スキャンの基準位置信号との位相差を位相補償する。 - 特許庁
During the scan is performed, the printer 20 stores reception states of regular packets transmitted by the controller 10 through the scan channel, and calculates a reception success rate.例文帳に追加
プリンタ20は、スキャン中、スキャンチャネルによってコントローラ10から送信される定期パケットの受信状態を記憶し、受信成功率を算出する。 - 特許庁
The search device 100 compares the estimated times t1 and t2 and determines whether the index scan method or the text scan method, is adopted for search.例文帳に追加
検索装置100は、予測時間t1及びt2を比較して、インデックススキャン方式及びテキストスキャン方式の何れにより検索処理を行うかを決定する。 - 特許庁
Further, a strip-like reflection board 21 is mounted onto cover glass 7 along a bottom edge of a laser beam scan area SA so as to overlap the laser beam scan area SA.例文帳に追加
また、レーザ光走査領域SAの下端に沿って走査領域SAに重なるように、短冊状の反射板21をカバーガラス7に取り付けてある。 - 特許庁
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