「internal test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

COLD WATER MELTABLE CAP FOR PIPE INTERNAL PRESSURE TEST例文帳に追加

配管内圧力試験用冷水可溶キャップ - 特許庁

An LSI has a scan test mode for performing a scan test of an internal circuit.例文帳に追加

ＬＳＩは、内部回路をスキャンテストするためのスキャンテストモードを有する。 - 特許庁

SYSTEM OF TAGGING GAS ENCLOSURE TO INTERNAL PRESSURE CREEP TEST PIECE例文帳に追加

内圧クリープ試験片へのタグガス封入装置 - 特許庁

INTERNAL OPERATION CLOCK GENERATION CIRCUIT PROVIDED WITH TEST FUNCTION例文帳に追加

テスト機能を備えた内部動作クロック生成回路 - 特許庁

To perform a memory test using an internal memory with smaller capacity than that of a memory under test.例文帳に追加

被試験メモリの試験を被試験メモリの容量よりも少ない内部メモリで試験する。 - 特許庁

The semiconductor data processing device is provided with: test circuits (7, 8) for generating a test pattern in a CPU and internal circuits, testing them and maintaining the test results; a test control circuit (6) for activating the test circuits; a test start register (9); a test status register (10); and a test general register (11).例文帳に追加

ＣＰＵ及び内部回路にテストパターンを発生してテストを行って結果を保持するテスト回路(７，８)と、テスト回路を起動するテスト制御回路（６）と共に、テスト起動レジスタ（９）、テスト状態レジスタ(１０)、及びテスト汎用レジスタ(１１)を備える。 - 特許庁

To allow a BIST (Built-In Self Test) circuit used for a manufacturing test of a LSI internal memory, to be used for initializing a cache memory also.例文帳に追加

ＬＳＩ内部メモリの製造テストに用いられるＢＩＳＴ（Build-In Self Test）回路をキャッシュメモリの初期化にも使用できるようにする。 - 特許庁

To provide a scan test circuit that enables the observation of an internal signal when necessary during a scan test without increasing the number of test terminals.例文帳に追加

テスト端子数を増加させることなく、スキャンテスト中に内部信号を随時観測できるスキャンテスト回路を提供する。 - 特許庁

INTERNAL COMBUSTION ENGINE START TORQUE TRANSMISSION MECHANISM AND INTERNAL COMBUSTION ENGINE FORCED ROTATION DRIVE TEST METHOD例文帳に追加

内燃機関始動回転力伝達機構及び内燃機関強制回転駆動試験方法 - 特許庁

Also, an internal packet generating circuit generates a packet signal for test at high speed by an internal clock.例文帳に追加

また、内部パケット発生回路は、内部クロックによって、テスト用パケット信号を高速に発生する。 - 特許庁

To facilitate an operation margin test for an internal power source voltage.例文帳に追加

内部電源電圧に対する動作マージン試験の容易化を図る。 - 特許庁

With a start bit set in the test start register, the test control circuit starts a test operation of the CPU with the test circuits, accumulates test results, and resets the CPU and the internal circuits in response to the completion of the test operation.例文帳に追加

テスト起動レジスタにスタートビットがセットされて、テスト制御回路は、テスト回路によるＣＰＵなどのテスト動作を起動しテスト結果を蓄積し、テスト動作の終了に応答してＣＰＵと内部回路をリセットする。 - 特許庁

To provide a test circuit structure capable of executing the test of an I/O part and the test of an internal test in parallel in order to shorten the testing time in a semiconductor integrated circuit equipped with scan test function, and a test method therefor.例文帳に追加

スキャンテスト機能を備えた半導体集積回路において、テスト時間短縮のため、Ｉ/Ｏ部のテストと内部回路のテストの並列実行が可能なテスト回路構成やそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

The test piece holder, incorporated with the internal standard, is controlled so as not to stop at a test piece mounting position.例文帳に追加

そして内部標準を組み込んだ試験片ホルダーは試験片載置位置に停止しないよう制御する。 - 特許庁

An internal storage means can not be accessed at the scan test time.例文帳に追加

またスキャンテスト時に内部の記憶手段にアクセスできないようにする。 - 特許庁

The first program section is programmed when a test of an internal circuit is passed.例文帳に追加

第１プログラム部は、内部回路のテストがパスしたときにプログラムされる。 - 特許庁

The high-speed internal clock 18 is supplied to a test object circuit 16, and a prescribed test is executed synchronously with the internal high-speed clock 18.例文帳に追加

この高速内部クロック１８をテスト対象回路１６に供給し、この内部高速クロック１８に同期させて所定の試験を実行する。 - 特許庁

The internal address corresponds to an individual memory element within the memory under test.例文帳に追加

内部アドレスは検査すべきメモリ内の個々のメモリ要素に対応する。 - 特許庁

The tester includes a heater 6 abutting on the bottom part of a test container 5, for supporting the test container 5 from the downside, and heating the internal test liquid through the test container 5.例文帳に追加

試験容器５の底部に当接し、当該試験容器５を下方から支持するとともに、当該試験容器５を介して内部の試験液を加熱するヒータ６を設ける。 - 特許庁

A test mode signal TM is inputted from a test mode determining circuit 30 to the POR circuit 25 in the test mode for testing the operation of an internal circuit.例文帳に追加

内部回路の動作をテストするテストモードにおいて、テストモード判定回路３０からテストモード信号ＴＭをＰＯＲ回路２５に入力する。 - 特許庁

The test circuit 13 judges setting of a test mode based on the detection signal, and supplies a prescribed test signal to the internal circuit 14.例文帳に追加

テスト回路１３は、検出信号ＣＯによりテストモードが設定された旨を判断して、所定のテスト信号を内部回路１４に供給する。 - 特許庁

A pattern generating circuit of the logic chip is operated in a first test mode, to generate an internal test pattern for the memory chip.例文帳に追加

ロジックチップのパターン発生回路は、第１試験モード時に動作し、メモリチップ用の内部試験パターンを発生する。 - 特許庁

To conduct a test by use of the internal clocks of a semiconductor integrated device (LSI).例文帳に追加

半導体集積装置（ＬＳＩ）の内部クロックを利用してテストを行う。 - 特許庁

To provide an internal inspection device capable of observing a test object while suppressing a halation even when the internal shape of the test object changes.例文帳に追加

被検体の内部の形状が変化しても、ハレーションが生じることを抑えて被検体を観察することが可能な内部検査装置を提供する。 - 特許庁

Internal test control signals are generated from a small number of signals given through an address terminal when operated in a test mode by a test signal generating circuit 8.例文帳に追加

テストモード動作時アドレス端子を介して与えられる少数の信号から内部テスト制御信号をテスト信号発生回路（８）により生成する。 - 特許庁

To automatically extract a test pattern for operating a test object near a boundary condition without analyzing the internal structure of the test object.例文帳に追加

検証対象の内部構造を解析することなく、検証対象を境界条件の近傍で動作させるためのテストパターンを自動的に抽出する。 - 特許庁

AUTOMATIC FAILURE TESTING OF LOGICAL BLOCK USING INTERNAL AT-SPEED LOGIC BUILT IN SELF TEST例文帳に追加

内部アットスピード論理ＢＩＳＴを用いた論理ブロックの自動故障試験 - 特許庁

TEST PIECE AND METHOD FOR MEASURING INTERNAL STRESS OF COATING例文帳に追加

被膜の内部応力測定用試験片および被膜の内部応力測定方法 - 特許庁

To provide an internal pressure fatigue testing machine capable of performing a more accurate test by suppressing fluctuation of a test pressure at the driving/stopping time of an auxiliary oil pressure source regardless of the pressure of an internal pressure test.例文帳に追加

内圧試験の圧力に係わらず、補助油圧源の駆動／停止時における試験圧力の変動を抑制し、より正確な試験を行うことのできる内圧疲労試験機を提供する。 - 特許庁

A pattern select circuit selects an internal test pattern output from the pattern generating circuit in a first test mode, and selects an external test pattern supplied through a test terminal in a second test mode to output the selected test pattern to the memory chip.例文帳に追加

パターン選択回路は、第１試験モード時に、パターン発生回路から出力される内部試験パターンを選択し、第２試験モード時に、試験端子を介して供給される外部試験パターンを選択し、選択した試験パターンをメモリチップに出力する。 - 特許庁

A plurality of latch circuits (F1-F7) which correspond to internal nodes of an internal circuit (LK#2) and latch signals of the corresponding internal nodes are arranged in a test path (302).例文帳に追加

内部回路（ＬＫ＃２）の内部ノードに対応して対応の内部ノードの信号をラッチする複数のラッチ回路（Ｆ１−Ｆ７）をテストパス（３０２）に配置する。 - 特許庁

A catheter test simulator 2 is equipped with an internal organ model 14 which simulates an internal organ and CCD cameras 28 and 29 for imaging the model.例文帳に追加

カテーテルシミュレータ２は、臓器を模擬した臓器モデル１４と、これを撮像するＣＣＤカメラ２８，２９を備える。 - 特許庁

A test influence determination part 140 determines whether there are any Web applications influenced by the test results, and the internal state reproduction part 120 reproduces the states before the test from the test influence to continue the test.例文帳に追加

テスト影響判定部１４０にて前記テスト結果の影響を受けたＷｅｂアプリケーションの有無を判定し、テストの継続を実現するために内部状態再現部１２０にてテストの影響をテスト実施前の状態に再現する。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit has a plurality of first pads for which an internal test circuit conducts an electric test and a plurality of second pads for which an external test device conducts an electric test.例文帳に追加

半導体集積回路は、内部試験回路により電気的試験が行われる複数の第１パッドと、外部の試験装置により電気的試験が行われる複数の第２パッドとを有する。 - 特許庁

This test method of an IC chip 100 including an internal regulator 10, and an internal circuit 20 receiving supply of an internal voltage from the internal regulator 10 includes processes for: measuring the internal voltage Vreg output from the internal regulator 10; and supplying a test voltage having the same height as a measured value of the internal voltage Vreg to the internal circuit 20.例文帳に追加

内部レギュレータ１０と、内部レギュレータ１０から内部電圧の供給を受ける内部回路２０と、を備えたＩＣチップ１００の試験方法であって、内部レギュレータ１０から出力される内部電圧Ｖｒｅｇを測定する工程と、内部電圧Ｖｒｅｇの測定値と同じ大きさの試験電圧を内部回路２０に供給する工程と、を含む。 - 特許庁

Accordingly, since the test of the I/O part and the test of the internal circuit can be executed in parallel, the testing time can be shortened.例文帳に追加

これによって、Ｉ/Ｏ部のテストと内部回路のテストが並行して実行できるため、テスト時間の短縮が可能となる。 - 特許庁

A multiplying circuit 10 generates an internal test clock signal TST CLK2 made by multiplying an external test clock signal TST CLK inputted to the test pin terminal group TPG.例文帳に追加

逓倍回路１０は、テストピン端子群ＴＰＧに入力される外部テストクロック信号ＴＳＴ＿ＣＬＫを逓倍した内部テストクロック信号ＴＳＴ＿ＣＬＫ２を生成する。 - 特許庁

The case for test medicine 1 has a plurality of areas for a dosage of the internal clinical trial medicine.例文帳に追加

試験薬用ケース１には、１回分の治験用内服薬を入れるエリアが複数ある。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, MONITORING METHOD FOR VOLTAGE OF INTERNAL POWER SOURCE LINE, AND METHOD FOR DISCRIMINATING TEST MODE例文帳に追加

半導体装置、内部電源線の電圧のモニタ方法および試験モードの判別方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT WITH CONTROLLABLE TEST ACCESS TO INTERNAL ANALOG SIGNAL PADS OF AREA ARRAY例文帳に追加

領域アレイの内部アナログ信号パッドへの制御可能テスト・アクセスをもつ集積回路 - 特許庁

To obtain a semiconductor device that can easily and accurately test the internal clock generation operation.例文帳に追加

内部クロック生成動作を容易かつ正確にテストできる半導体装置を提供する。 - 特許庁

A brushless motor for test is prepared and a rotor assembly is allocated in the internal side of a stator assembly.例文帳に追加

試験用のブラシレスモータを準備し、ロ−タアセンブリをステータアセンブリの内側に配置する。 - 特許庁

A competent sysadmin will turn off all of these inetd-internal test services. 例文帳に追加

有能なシステム管理者はこの手の inetd内部テストサービスのすべてを無効にしておくものです。 - FreeBSD

The semiconductor device 10 is provided with the test circuit 14 for observing the internal signal by outputting the internal signal out of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置は、内部信号を半導体装置の外部へ出力して観測するためのテスト回路を備えている。 - 特許庁

An internal clock generating circuit (3) generates internal clock signals (CLKP, CLKN, CLK) at double the speed of an external clock signal in a test mode.例文帳に追加

内部クロック発生回路（３）は、テストモード時においては、外部クロック信号の２倍の速度で内部クロック信号（ＣＬＫＰ，ＣＬＫＮ，ＣＬＫ）を生成する。 - 特許庁