「memory test」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

TEST SYSTEM OF SEMICONDUCTOR MEMORY MODULE AND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

半導体メモリモジュールの試験システムおよび製造方法 - 特許庁

NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置及びそのテスト方法 - 特許庁

NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS SELF-TEST METHOD例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置とその自己テスト方法 - 特許庁

SYNCHRONOUS TYPE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

同期型半導体記憶装置およびそのテスト方法 - 特許庁

DYNAMIC RANDOM ACCESS MEMORY DEVICE AND TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ装置およびその検査方法 - 特許庁

To provide a memory test device which can perform a memory test and write of user data provided by a user.例文帳に追加

メモリ検査とユーザーから提供されたユーザデータの書込みを行うことができるメモリ検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a memory card device, capable of performing test without increasing the number of test pads.例文帳に追加

テストパッドを増加することなくテストを可能とするメモリカード装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test equipment for a memory device testing a memory device of a packet type.例文帳に追加

パケット方式のメモリデバイスを試験するメモリデバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置のテスト方法、半導体記憶装置及び半導体装置 - 特許庁

The memory access circuit is provided with a test data generation circuit for generating test data and a memory access test control circuit for outputting a memory write test start signal in response to an external synchronizing signal.例文帳に追加

メモリアクセス回路は、テストデータを生成するテストデータ生成回路と、外部同期信号に応答してメモリ書き込みテストスタート信号を出力するメモリアクセステスト制御回路とを具備する構成である。 - 特許庁

The memory test system is equipped with a memory testing device 10 having the fail memory 15 for storing a test result of the memory to be tested and a controller 1 for controlling the memory testing device 10.例文帳に追加

メモリ試験システムは、被試験メモリの試験結果を格納するフェイルメモリ１５を有するメモリ試験装置１０と、メモリ試験装置１０を制御する制御装置１とを備える。 - 特許庁

To improve a test efficiency per socket in an aging test of memory parts and enable the aging test for a different type of memory parts as well.例文帳に追加

メモリ部品のエージングテストにおいてソケット当たりのテスト効率を改善し、異なる型式のメモリ部品についてもエージングテストを可能とする。 - 特許庁

Each gateway includes a test pattern generator and a test memory analyzer that are used for an in-operation test of the video signal.例文帳に追加

各ゲートウェイはビデオ信号の稼働中テストを行うためのテスト・パターン・ジェネレータ及びテスト測定アナライザを含む。 - 特許庁

A start, test program storage means 22 downloads the test program to a memory of each device in a test device group 4.例文帳に追加

起動試験プログラム格納手段２２は、試験プログラムを試験装置群４の各装置のメモリにダウンロードする。 - 特許庁

To provide a processor, a memory test method, and a memory test system capable of an operation test of a built-in data memory by a passage similar to a case of making access to the built-in data memory at ordinary operation time (command executing time).例文帳に追加

通常の動作時（命令実行時）に内蔵データメモリにアクセスする場合と同様の経路により内蔵データメモリの動作テストが可能なプロセッサ、メモリテスト方法、メモリテストシステムを提供する。 - 特許庁

To simultaneously test a first memory and a second memory of which data storage method is different from that of the first memory.例文帳に追加

第１メモリと、第１メモリとはデータの記憶方式が異なる第２メモリとを同時にテストすること。 - 特許庁

The external packet memory address signal represents a plurality of addressable memory elements in a memory under test.例文帳に追加

外部パケットメモリアドレス信号は検査すべきメモリにおける複数のアドレス可能なメモリ要素を表示する。 - 特許庁

To provide a method for testing memory which utilizes a general memory test program independent of an internal memory configuration.例文帳に追加

メモリの内部構成に依存しない汎用的な試験プログラムによるメモリ試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method of a ferroelectric memory in which a stress test can be performed at high speed.例文帳に追加

ストレス試験を高速に行うことができる強誘電体メモリの試験方法。 - 特許庁

A test control section 2 writes test data in a memory 1 to be tested through a control section 3.例文帳に追加

検査制御部２はメモリ制御部３を介して検査データを被検メモリ１に書込む。 - 特許庁

According to a test write command inputted from the outside, the test data is written simultaneously to the memory cells.例文帳に追加

外部から入力されるテストライトコマンドに応じて、テストデータを同時にメモリセルへ書き込む。 - 特許庁

A test circuit performs test determination by write-in and read-out for the memory array.例文帳に追加

テスト回路は、上記メモリアレイに対する書き込みと読み出しによる試験判定を行う。 - 特許庁

A test system 100 is configured to test the operation of a semiconductor memory device.例文帳に追加

テストシステム１００は、半導体記憶装置の動作テストを実行するためのシステムである。 - 特許庁

To provide a parallel bit test method and a parallel bit test circuit of a semiconductor memory device.例文帳に追加

半導体メモリ装置の並列ビットテスト方法及び並列ビットテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a MRAD test circuit, a semiconductor memory provided with this circuit, and an MRAD test method.例文帳に追加

MRADテスト回路、これを具備する半導体メモリ装置及びMRADテスト方法を提供する。 - 特許庁

To reduce a test cost of a synchronous semiconductor memory and to improve test quality.例文帳に追加

同期式半導体記憶装置のテストコストを削減し且つテスト品質を向上する。 - 特許庁

PROGRAMMABLE MEMORY BUILT-IN SELF-TEST COMBINING MICRO- CODE AND FINITE STATE MACHINE SELF-TEST例文帳に追加

マイクロコードと有限状態機械セルフテストを組み合わせるプログラマブル・メモリビルトイン・セルフテスト - 特許庁

To shorten a test time is a semiconductor test device testing a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリの試験を行う半導体試験装置に於いて、試験時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile memory card and a test method therefor that can shorten the time for test of a nonvolatile memory after the assembly of the memory card.例文帳に追加

メモリカードの組み立て後に不揮発性メモリのテストを短時間で行うことができる不揮発性メモリカードおよびそのテスト方法を実現する。 - 特許庁

TEST METHOD FOR NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY AND NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

不揮発性半導体メモリ装置の検査方法および不揮発性半導体メモリ装置 - 特許庁

This ROM is provided with a main memory cell 101, and a spare memory cell 102 for test.例文帳に追加

このＲＯＭは、本メモリセル１０１、試験用の予備メモリセル１０２とを備える。 - 特許庁

SELF ERASE/WRITE DEVICE OF SEMICONDUCTOR MEMORY AND SELF BURN-IN TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体メモリのセルフイレース・ライト装置および半導体メモリのセルフバーンインテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY, AND WORD LINE MULTIPLE SELECTION TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体記憶装置及び半導体記憶装置のワード線多重選択試験方法 - 特許庁

A test circuit 12 tests the memory cell of a memory block 10 by hardware.例文帳に追加

テスト回路１２はメモリブロック１０のメモリセルに対してハードウエアでテストを実行する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体記憶装置および半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND READ TEST METHOD例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置及び読み出しテスト方法 - 特許庁

To effectively utilize a memory region for storing a test pattern.例文帳に追加

テストパターンを格納するメモリ領域を有効に活用する。 - 特許庁

NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY IC AND ITS BURN-IN TEST METHOD例文帳に追加

不揮発性半導体メモリＩＣ及びそのバーンインテスト方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR TESTER OF SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS DEVICE例文帳に追加

半導体メモリ装置のテスタのテスト方法及びその装置 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and its test method.例文帳に追加

半導体メモリ装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR EXECUTING MEMORY TEST, COMPUTER PROGRAM, AND SYSTEM例文帳に追加

メモリのテストを実行する方法、コンピュータ・プログラム、およびシステム - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY, ITS MANUFACTURING METHOD, AND TEST DEVICE THEREFOR例文帳に追加

半導体記憶装置、その製造方法、及びその試験装置。 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING OF FERROELECTRIC MEMORY AND TEST SYSTEM OF THE SAME例文帳に追加

強誘電体メモリの製造方法および試験システム - 特許庁

METHOD AND DEVICE OF REDUNDANCY ARITHMETIC OPERATION, AND MEMORY TEST DEVICE例文帳に追加

リダンダンシ演算方法及び装置並びにメモリ試験装置 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device of which the test time is short.例文帳に追加

テスト時間が短い半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁