| 意味 | 例文 |
scan-pathの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 212件
In a scan path test, the semiconductor integrated circuit device is provided with the number of the terminals of a test clock SCLK which is fewer than the number of domains of user clocks (UCLK1 to UCLK3) and comprises a test clock control circuit (TCLKCTL) for controlling whether a pulse of the test clock SCLK is allowed to propagate through a test clock line or to be cut off.例文帳に追加
スキャンパステストの際、ユーザクロック（ＵＣＬＫ１〜ＵＣＬＫ３）ドメイン数よりも少ない数のテストクロックＳＣＬＫの端子を確保し、テストクロックライン上にテストクロックＳＣＬＫのパルスを伝播するか遮断するかを制御するテストクロック制御回路（ＴＣＬＫＣＴＬ）を備えている。 - 特許庁
The clock control section includes the oscillator circuit for generating the pulses and outputting them and is configured so that the last pulse out of the predetermined number of pulses is output with a logical value immediately after an active edge for allowing the scan path circuit to input/output values maintained.例文帳に追加
前記クロック制御部は、前記パルスを生成して出力する発振回路を有し、かつ、前記所定の数のパルスのうち、最後のパルスを、前記スキャンパス回路が値を入出力するためのアクティブエッジの直後の論理値を保って出力するように構成されている。 - 特許庁
The multi-chip package 1 has integrated circuits IC1, IC2 including an internal cell which is a test object, and IC1 has an internal input terminal 7A connected to the external terminal 8A for the test, a separation multiplex circuit 5 connected thereto, and a scanning control circuit 3 for controlling a scan path test signal in the internal cell.例文帳に追加
マルチチップパッケージ１は、テスト対象となる内部セルを含む集積回路ＩＣ１、ＩＣ２を有し、ＩＣ１は、テスト用外部端子８Ａに接続された内部入力端子７Ａ、これに接続された分離多重回路５、及び内部セルのスキャンパステスト信号を制御するスキャン制御回路３を有する。 - 特許庁
Thus, the light beam emitted from the first LD 2001 is made diagonally incident to the polygon mirror 2007, as in an LD1 optical path 2005, vertically passes through the fθ lens 2003 for the first LD, advances with appropriate position and angle, by means of a reflecting mirror 2009, and is focused to scan a face to be scanned.例文帳に追加
このため、第１ＬＤ２００１から放射された光ビームは、ＬＤ１光路２００５の軌道のように、ポリゴンミラー２００７に斜入射し、第１ＬＤ用ｆθレンズ２００３内を垂直に通過した後、反射ミラー２００９によって適切な位置と角度で進み、被走査面上にて結像され走査を行う。 - 特許庁
A background color switching part 110 has a plate-like background member 111 facing the image reading part 120 and composed of a white member 111a and a black member 111b which have the colors white and black respectively and switches a background color on an image scan light path of the image reading part 120 to white or black.例文帳に追加
背景色切替部１１０は、画像読取部１２０と対向するように配置され且つ白及び黒の色を有する白色部材１１１ａ及び黒色部材１１１ｂで構成される板状の背景部材１１１を有し、画像読取部１２０の画像読取光路上に位置する背景色を白又は黒に切り替える。 - 特許庁
The synchronous detection means is provided with an index sensor 338 and an index mirror 337 which bends the optical path of a light beam before the index sensor 338, and the index mirror 337 is arranged at 5 to 40° to the direction of a horizontal scan so that reflected light approaches a polygon mirror 334.例文帳に追加
同期検出手段にはインデックスセンサ３３８と光ビームをインデックスセンサ３３８に至る途中に光路を折り曲げるインデックスミラー３３７とが設けられていて、インデックスミラー３３７は主走査方向に対し平行位置より反射光がポリゴンミラー３３４側に近づく方向に５°〜４０°傾けて配置する。 - 特許庁
The illumination light beams emitted from laser light sources (2, 14) are simultaneously made incident on the phase-modulation-type spatial light modulator (5) arranged in a position optically conjugate to the pupil position of an objective lens (12), and a two-dimensional scanning means (16) to scan a sample (13) disposed on an illumination optical path different from that of the spatial light modulator (5), respectively.例文帳に追加
レーザ光源（２、１４）から射出された照明光を、対物レンズ（１２）の瞳位置と光学的に共役な位置に配置された位相変調型空間光変調器（５）と、空間光変調器（５）とは異なる照明光路上に配置された標本（１３）を走査する２次元走査手段（１６）へ同時に入射させる。 - 特許庁
An external input signal multiplexed with the scan path test signal for IC1 and IC2 is entered from the external terminal 8A for the test into the separation multiplex circuit 5, separated and supplied to the scanning control circuits 3, 13, and Scanout signals are received from each scanning control circuit 3, 13, multiplexed and outputted through the external terminal 8A.例文帳に追加
分離多重回路５には、テスト用外部端子８ＡからＩＣ１及びＩＣ２用のスキャンパステスト信号が多重化された外部入力信号が入力され、これを分離してスキャン制御回路３、１３に供給し、各スキャン制御回路３、１３からScanout信号を受け取り、これを多重化して外部端子８Ａを介して出力する。 - 特許庁
The apparatus includes moving drive means for moving a detector 32 provided at a radiation detecting section 31, and an X-ray tube 42 and an X-ray detector 43 provided at the X-ray scan section 41 to positions where they are not mutually positioned on a detection path in diagnosis using the nuclear medical diagnosis device or in diagnosis using the X-ray CT device.例文帳に追加
そして、核医学診断装置による診断の際、または前記Ｘ線ＣＴ装置による診断の際に、放射線検出部３１が有する検出器３２と、Ｘ線スキャン部４１が有するＸ線管４２及びＸ線検出器４３とを、相互に検出経路に位置しない位置に移動させる移動駆動手段を備えた。 - 特許庁
Thus, the design of the scan test having a high failure detection rate is realized without increasing the chip area associated with the speed performance of an access path of the RAM or the hard macro core or the addition of a test circuit.例文帳に追加
あるいはスキャンテストのキャプチャ動作時にＲＡＭやハードマクロコアのデータ蓄積回路へキャプチャデータを順次蓄積しスキャンテスト後にＬＳＩ外部へ読み出して外部のＬＳＩテスタで期待値照合することでＲＡＭやハードマクロコアのアクセスパスの速度性能やテスト回路追加に伴うチップ面積増加を招くことなく、高い故障検出率のスキャンテスト設計を実現できる。 - 特許庁
An address of a PE router which is a next hop distributed by a BGP protocol, and an address of a D router which is a next hop distributed by an OSPF protocol, are correspondingly registered in a next hop database 33, a next hop changed by scanning in a scan processing part 30 is detected and a BGP database change part 32 changes a recursive next hop only in changed path information.例文帳に追加
ＢＧＰプロトコルで配布されるネクストホップであるＰＥルータのアドレスと、ＯＳＰＦプロトコルで配布されるネクストホップであるＤルータのアドレスをネクストホップデータベース３３に対応付けて登録し、スキャン処理部３０のスキャニングで変更のあったネクストホップを検出し、ＢＧＰデータベース変更部３２が、変更のあった経路情報のみのリガーシブのネクストホップを変更する。 - 特許庁
The exposure apparatus comprises a plurality of light-emitting devices (136), scanning means (112, 114) for causing light irradiated from the plurality of light-emitting devices (136) to scan on the substrate along a predetermined direction in order to expose a photosensitive substrate, and restriction members (146) disposed in each optical path of the light irradiated from the plurality of light-emitting devices (136).例文帳に追加
本発明に係る露光装置は、複数の発光素子（１３６）と、感光性の基板を露光するために、上記複数の発光素子（１３６）から照射される光を所定の走査方向に沿って基板上に走査させる走査手段（１１２、１１４）と、上記複数の発光素子（１３６）から照射される光の各光路中に配置された規制部材（１４６）とを備える。 - 特許庁
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