「self-testing」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

METHOD AND APPARATUS FOR MEMORY SELF TESTING例文帳に追加

メモリ自己テストの方法と装置 - 特許庁

TESTING DEVICE AND METHOD FOR SELF-ADVANCING TESTING MACHINE例文帳に追加

自走式試験機の試験装置及びその試験方法 - 特許庁

INCORPORATED SELF-TESTING CIRCUIT FOR MEMORY ELEMENT例文帳に追加

メモリー素子用内蔵自己テスト回路 - 特許庁

SELF TESTING METHOD FOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

集積回路装置の自己テスト方法 - 特許庁

SELF-DIAGNOSTIC SYSTEM IN TESTING DEVICE FOR IC例文帳に追加

ＩＣ試験装置における自己診断方式 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SELF-EXCITED CONVERTER例文帳に追加

自励式変換器の試験方法および装置 - 特許庁

SELF-SYNCHRONOUS TYPE LOGIC CIRCUIT HAVING TESTING CIRCUIT例文帳に追加

テスト回路を有する自己同期型論理回路 - 特許庁

ELECTRIC CHANNEL SELF-INSPECTION SEMICONDUCTOR TESTING SYSTEM例文帳に追加

電気チャネル自己検査式半導体試験システム - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND SELF-DIAGNOSTIC METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体試験装置及び半導体試験装置の自己診断方法 - 特許庁

VIBRATION TESTING METHOD USING SELF-ADVANCING VIBRATION GENERATOR例文帳に追加

自走式起振機を用いた振動試験方法 - 特許庁

TEST SYSTEM FOR ELECTRONIC APPARATUS HAVING SELF-TESTING FUNCTION例文帳に追加

自己試験機能を有する電子装置の試験方式 - 特許庁

To provide a self-cleaning socket for testing package components.例文帳に追加

セルフクリーニング式パッケージ部品試験用ソケットの提供。 - 特許庁

SELF-TESTING SYSTEM, SELF-TESTING REACTOR PROTECTION SYSTEM AND METHOD FOR STARTING SAFE OPERATION IN RESPONSE TO MONITORING OF PARAMETER例文帳に追加

パラメータの監視に応動して安全動作を開始するための自己試験系、自己試験原子炉保護系及び方法 - 特許庁

To provide an electric channel self-inspection semiconductor testing system.例文帳に追加

電気チャネル自己検査式半導体試験システムの提供。 - 特許庁

RADIO TERMINAL TESTING APPARATUS USING SINGLE SELF-COMPLEMENTARY ANTENNA例文帳に追加

単一の自己補対アンテナを用いる無線端末試験装置 - 特許庁

SELF-TESTING APPARATUS AND METHOD FOR RECONFIGURABLE DEVICE LOADING BOARD例文帳に追加

リコンフィグラブルデバイス搭載ボードのセルフテスト装置および方法 - 特許庁

SELF-SYNCHRONIZATION LOGIC CIRCUIT HAVING TEST CIRCUIT AND METHOD OF TESTING SELF-SYNCHRONIZATION LOGIC CIRCUIT例文帳に追加

テスト回路を有する自己同期型論理回路および自己同期型論理回路のテスト方法 - 特許庁

MEMORY CONTROLLER WITH SELF-TEST FUNCTION, AND METHOD OF TESTING MEMORY CONTROLLER例文帳に追加

セルフテスト機能のあるメモリコントローラ及びそれをテストする方法 - 特許庁

To provide an eye testing apparatus with which eye testing work can be efficiently performed in a self-conscious way.例文帳に追加

効率よく自覚的な検眼作業を行うことのできる検眼装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND CIRCUIT FOR SELF-CALIBRATING AND TESTING QPSK TRANSCEIVER例文帳に追加

ＱＰＳＫトランシーバの自己校正及び試験の方法並びに回路 - 特許庁

To provide a circuit pack self-testing system adapted to testing on an electronic device of a circuit pack.例文帳に追加

回路パックの電子デバイス上で試験を行うように適合された回路パック自己試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a radio terminal testing apparatus using a single self-complementary antenna.例文帳に追加

単一の自己補対アンテナを用いる無線端末試験装置を提供する。 - 特許庁

The self-testing system 10 executes various testing programs in a testing set, and maintains a history record of a test result from the set in a nonvolatile memory 30.例文帳に追加

自己試験システムは、試験セットにおける様々な試験プログラムを実行し、以前の試験セットからの試験結果の履歴レコードを不揮発性メモリに維持する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit having short test time for self testing of function.例文帳に追加

自己機能テストのテスト時間が短い半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

AUTOMATIC FAILURE TESTING OF LOGICAL BLOCK USING INTERNAL AT-SPEED LOGIC BUILT IN SELF TEST例文帳に追加

内部アットスピード論理ＢＩＳＴを用いた論理ブロックの自動故障試験 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING SELF-TEST FUNCTION AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

自己テスト機能を備える半導体装置および当該半導体装置のテスト方法 - 特許庁

To obtain a function for self-calibrating and testing QPSK transmitter/receiver integrated circuit.例文帳に追加

ＱＰＳＫ送信器／受信器集積回路を自己校正、試験する機能を得る。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT INCORPORATING SELF-TESTING CIRCUIT, AND METHOD FOR DIAGNOSING FAULT IN THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

自己テスト回路内蔵の半導体集積回路およびその故障診断方法 - 特許庁

This seabed cone penetration testing machine is constituted by attaching a weight to the testing machine and letting a plurality of penetration rods attached to the testing machine and having different lengths penetrate by making use of pressurization by self-weight of the testing machine including the weight as penetration force.例文帳に追加

試験機に重錘が取り付けられ、重錘を含めた試験機の自重加圧を貫入力として、試験機に取り付けられた長さの異なる複数の貫入ロッドを貫入させる。 - 特許庁

To provide a testing apparatus which brings about further accurate test results by enabling a test to be performed even in a small piece of land by a self-propelled testing machine.例文帳に追加

狭い土地であっても自走式試験機による試験を可能とし、より正確な試験結果を得る試験装置の提供。 - 特許庁

To achieve a semiconductor testing apparatus which can absorb self-heating, produced in an IC under testing by the semiconductor test apparatus itself.例文帳に追加

試験状態のＩＣに発生する自己発熱を、試験装置自体で吸熱することができる半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor wafer having self-shielding capability, and to provide a testing method of the wafer.例文帳に追加

自己遮蔽機能を有する半導体ウェーハおよびそれのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a programmable self-test controller useful in self-testing for many types of memory defects of different manufacturers or different design methods.例文帳に追加

メーカや設計方式が異なる種々のメモリの不良を自己テストするのに有用な、プログラム可能な自己テスト・コントローラを提供する。 - 特許庁

To provide an electronic component testing device which is capable of performing a test at an accurate temperature in consideration of self-heating of an electronic component during testing.例文帳に追加

テスト時における電子部品の自己発熱を考慮して正確な温度で試験を行うことができる電子部品試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of reducing a labor for performing self-diagnosis and minimizing wasting in testing results hitherto obtained in response to the results of the self-diagnosis.例文帳に追加

自己診断を行う手間を軽減するとともに、自己診断の結果に応じてそれまでに行った試験結果が無駄になることを最小限に抑えることができる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a self-test controller which is useful for self-testing faults of various memories in which a manufacturer and a design system are different, and which is programmable.例文帳に追加

メーカや設計方式が異なる種々のメモリの不良を自己テストするのに有用な、プログラム可能な自己テスト・コントローラを提供する。 - 特許庁

This network load testing method is different from a conventional testing method, does not stop the transmission of the self-device on the basis of the reception completion of the opposite device but stops the transmission of the self-device on the basis of the reception completion of the self-device itself.例文帳に追加

本発明のネットワーク負荷試験方法は、従来の試験方法と異なり、相手装置側の受信完了に基づいて、自装置側の送信が停止せず、自装置側自身の受信完了に基づいて、自装置側の送信が停止する。 - 特許庁

In the self-propelled testing machine which performs a test by inserting a test rod 10 into the ground, the testing apparatus A is constituted in such a manner as to be separable and manually transferable.例文帳に追加

地中に試験用ロッド１０を挿入して試験する自走式試験機１において試験装置Ａを分離し手動で移送できる構成とした。 - 特許庁

A method and a circuit for self-calibrating and testing QPSK transmitter/receiver integrated circuit are provided.例文帳に追加

ＱＰＳＫ送信器／受信器集積回路を自己校正、試験する方法及び回路が提供される。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH CIRCUIT FUNCTION OF SELF-DIAGONOSTIC TEST AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

自己診断テスト回路機能を備えた半導体集積回路および半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

To provide a base station apparatus for conducting self-monitoring of the operation even when a dedicated testing apparatus is not provided.例文帳に追加

専用の試験装置を備えることなく、自己の動作監視を行うことができる基地局装置を提供する。 - 特許庁

. Type E: Self-reactive substances that, in laboratory testing, neither detonate nor deflagrate at all, and show only minimal or no effect when heated under confinement.例文帳に追加

タイプE：実験室の試験において、全く爆轟も爆燃もせず、密封下の加熱で反応が弱いかまたは無い。 - 経済産業省

To obtain an integrated circuit device equipped with a built-in self-test circuit suitable for testing a multi-port memory.例文帳に追加

マルチポートメモリをテストするのに好適な組み込み自己テスト回路を備える集積回路装置を実現する。 - 特許庁

This electric channel self-inspection semiconductor testing system includes: a tester head; a plurality of parameter detection units; and a self-inspection controller, the tester head having a plurality of testing circuit boards inserted therein, the plurality of testing circuit boards being provided with a plurality of power channels, a plurality of I/O channels, and a plurality of drive channels.例文帳に追加

本電気チャネル自己検査式半導体試験システムは、試験ヘッド、複数のパラメータ検出ユニット、自己検査コントローラを包含し、該試験ヘッド内に複数の試験回路板が挿入され、それは複数の電源チャネル、複数の伝送チャネル、及び複数の駆動チャネルを具備する。 - 特許庁

A system for at-functional-clock-speed continuous scan array built-in self testing (ABIST) of multiport memory is disclosed.例文帳に追加

機能性クロック速度でのマルチポート・メモリの連続走査アレイ内蔵自己テスト（ＡＢＩＳＴ）のためのシステムが開示される。 - 特許庁