「tunnel microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

PROBE, CANTILEVER BEAM, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND MEASURING METHOD OF SCANNING TUNNEL MICROSCOPE例文帳に追加

探針、片持ち梁、走査型プローブ顕微鏡、及び走査型トンネル顕微鏡の測定方法 - 特許庁

At first, a measuring sample is placed on a stage of a scanning tunnel microscope.例文帳に追加

まず、走査型トンネル顕微鏡のステージ上に測定試料を載置する。 - 特許庁

This acceleration recording device utilizes STM (scanning tunnel microscope).例文帳に追加

ＳＴＭ（走査型トンネル顕微鏡）を利用した加速度記録装置である。 - 特許庁

To provide a probe sharpening method capable of arbitrarily forming the taper angle of the leading end of a probe for STM(scanning tunnel microscope), AFM(atomic force microscope) and SNOM(scanning near field optical microscope).例文帳に追加

ＳＴＭ、ＡＦＭ、ＳＮＯＭ用のプローブ先端のテーパー角を任意に形成可能なプローブの尖鋭化方法を提供する。 - 特許庁

SCANNING TUNNEL MICROSCOPE AND NANO-SCALE SURFACE OBSERVATION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡およびこれを用いたナノスケール表面観察法 - 特許庁

The voltage may be applied using a probe of a scanning tunnel microscope.例文帳に追加

また前記パルス電圧を走査トンネル顕微鏡のプローブを用いてかけてもよい。 - 特許庁

HETERODYNE BEAT PROBE SCANNING PROBE TUNNEL MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING MICRO SIGNAL SUPERIMPOSED THEREBY ON TUNNEL CURRENT例文帳に追加

ヘテロダインビートプローブ走査プローブトンネル顕微鏡およびこれによってトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法 - 特許庁

Tunnel electrons are radiated to the metal fine particle 11 by radiation means 12 comprising a scanning tunnel microscope (STM).例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡（ＳＴＭ）から成る照射手段１２により、その金属微粒子１１にトンネル電子を照射する。 - 特許庁

The data of a scanning region of a predetermined range from STM(scanning tunnel microscope) 1 is taken in an image memory 3.例文帳に追加

ＳＴＭ１からの所定範囲の走査領域のデータを画像メモリ３に取り込む。 - 特許庁

To provide a scanning tunnel microscope that picks up an image in both going and returning ways for effectively utilizing the image when the microscope is driven by a triangular wave.例文帳に追加

三角波で駆動した場合に、行きだけでなく帰りでも像を取り有効に利用する走査トンネル顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

Next, a tilt angle of a measuring surface of the measuring sample is detected by the scanning tunnel microscope.例文帳に追加

次に、走査型トンネル顕微鏡により測定試料の測定面の傾斜角度を検出する。 - 特許庁

SCANNING TUNNEL MICROSCOPE CAPABLE OF MEASURING SURFACE OF ELECTRICALLY NONCONDUCTIVE MATTER BY TWO PROBES例文帳に追加

２本の探針で非電導性物質表面の測定ができるようにした走査型トンネル顕微鏡 - 特許庁

To provide a heterodyne beat probe scanning probe tunnel microscope capable of easily and unfailingly detecting a weak RF signal, and a method of specifying a heterodyne beat signal by the scanning probe tunnel microscope.例文帳に追加

微小なＲＦ信号検出を容易かつ確実に行うことのできるヘテロダインビートプローブ走査プローブ顕微鏡、更にはこの走査プローブ顕微鏡によるへテロダインビート信号の特定方法を提供する。 - 特許庁

An atmospheric pressure scanning tunnel microscope system is used, and Pt/Ir is used for a probe 2 as one electrode.例文帳に追加

大気圧走査トンネル顕微鏡システムを用い、一方の電極としての探針２にはＰｔ／Ｉｒを用いる。 - 特許庁

an instrument called scanning tunnel microscope 例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡という,トンネル効果を利用して物質表面の原子の大きさ程度の凹凸を測定する装置 - EDR日英対訳辞書

HETERODYNE BEAT PROBE SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF MICROSIGNAL SUPPERPOSED ON TUNNEL CURRENT USING IT例文帳に追加

ヘテロダインビートプローブ走査プローブ顕微鏡およびこれによってトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法 - 特許庁

Subsequently, the maximum forwardly-movable value in a z direction of a probe of the scanning tunnel microscope is determined on the basis of the detected tilt angle.例文帳に追加

その後、検出した傾斜角度に基づいて走査型トンネル顕微鏡の探針のｚ方向の最大前進可能値を決める。 - 特許庁

Then, the scanning tunnel microscope is used to acquire an STM image by scanning the probe along the measuring surface of the measuring sample on the condition that a tunnel current value is constant while preventing the probe from moving beyond the maximum forwardly-movable value.例文帳に追加

次いで、走査型トンネル顕微鏡を使用し、探針が最大前進可能値を超えて移動しないようにし、トンネル電流値が一定の条件で探針を測定試料の測定面に沿って走査してＳＴＭ像を取得する。 - 特許庁

To provide a highly reliable method for manufacturing the silver probe of a scanning tunnel microscope through the use of methyl alcohol as the solvent of an electrolyte, electrolytic grinding, and electrolytic etching.例文帳に追加

電解液の溶媒としてメチルアルコールを使用し、電解研磨及び又は電解腐蝕により、信頼性の高い走査トンネル顕微鏡の銀探針製作方法を提供する。 - 特許庁

To produce a scanning tunnel microscope(STM) probe preventing the contamination of a probe and using the function of STM without improving an STM device to obtain high resolving power.例文帳に追加

探針の汚染を防ぎ、ＳＴＭ装置に改良を加えることなく、ＳＴＭの機能を使用して、しかも、高い分解能を得ることができる走査トンネル顕微鏡探針の作製方法を提供する。 - 特許庁

In a scanning probe microscope, such as a scanning tunnel microscope, one part of the layer 4 is selectively etched away by scanning the surface of the layer 4 with a probe 5 to make the layer 3 partially exposed, and a strain distribution to respond to the shape of the pattern of the layer 4 is formed on the surface of a sample.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、例えば走査型トンネル顕微鏡において、プローブ５でＧａＡｓ層４の表面を走査することによりＧａＡｓ層４を選択的にエッチング除去してＩｎＧａＡｓ層３を部分的に露出させ、試料表面にＧａＡｓ層４のパターン形状に応じた歪分布を形成する。 - 特許庁

This SQUID microscope is characterized in that a space between an end of the probe of a SQUID microscope part thereof and the specimen to be measured is measured by means of a variation in a tunnel current generated therebetween and that a control part is provided to control the space between the probe and the specimen so that the value of the current becomes a desired value.例文帳に追加

本発明１のＳＱＵＩＤ顕微鏡は、そのＳＱＵＩＤ顕微鏡部のプローブの先端と被測定試料との間隔をその間に生じるトンネル電流の変動にて測定し、この電流値が所望の値となるように前記プローブと被測定試料との間隔を制御する制御部が設けてあることを特徴とする構成を採用した。 - 特許庁

The stylet 5 of a scanning tunneling microscope (STM) is installed in the vicinity of a point where the DNA 3 is taken into the inside of the RNA polymerase 2 and the distance between the stylet and the DNA 3 is kept to be constant to be metered with a tunnel current.例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡の探針５をピエゾスキャナ６とピエゾスキャナ駆動回路７を用いてＤＮＡ３がＲＮＡポリメラーゼ２の内部に取り込まれる個所の近傍に設置し、ＤＮＡ３との距離をトンネル電流が計測できる一定の距離に保つ。 - 特許庁

The tunnel barrier 12 has such a quantum thin line constriction structure that a silicon oxide film 17 as an electric boundary supporting oxide film formed using an interatomic force microscope or the like is formed by oxidizing the quantum thin line from its surface to its nearly central part.例文帳に追加

トンネル障壁部１２は、原子間力顕微鏡等を用いて形成された電界支援酸化膜であるシリコン酸化膜１７が量子細線１１の表面からそのほぼ中心部まで酸化して形成された量子細線コンストリクション（＝くびれ）構造を有している。 - 特許庁

In the invention 2, in the SQUID microscope of the invention 1, the control section measures the interval between the tip of the probe and the sample to be measured with a tunnel current occurring between them, and controls the interval between the probe and the sample to be measured so that this current value becomes a desired value.例文帳に追加

また、発明2では、発明1のＳＱＵＩＤ顕微鏡において、前記制御部は、プローブの先端と被測定試料との間隔をその間に生じるトンネル電流にて計測し、この電流値が所望の値となるように前記プローブと被測定試料との間隔を制御することを特徴とする構成を採用した。 - 特許庁

In an ultrahigh density information storage device based on monomolecular switching, a sub phthalocyanine molecule being an asymmetric polar molecule arranged on and adsorbed by a metal surface realizes recording density of several tens of terabits/cm^2 by reversibly inverting the orientation of the molecules using a scanning tunnel microscope.例文帳に追加

単分子スイッチングに基づく超高密度情報蓄積デバイスにおいて、金属表面に配列吸着させた非対称極性分子であるサブフタロシアニン分子を、走査型トンネル顕微鏡を用いて、前記分子の配向を可逆的に反転させることにより、数十テラビット／ｃｍ^2 の記録密度を実現する。 - 特許庁

To provide a method for quantitatively measuring the surface potential distribution of a solid, especially a semiconductor with high space dissolving capacity using a scanning type tunnel microscope by solving the conventional technical problem that the distance between a probe and the surface of a sample and the thickness of the depleted layer of the surface of the sample are unclear and the measurement in the depleted layer region is difficult, and an apparatus therefor.例文帳に追加

探針／試料表面距離が不明、試料表面の空乏層 厚が不明、空乏層領域での計測が困難、という従来技術の問題点を解決し、固体表面、特に半導体表面の表面電位分布を、走査型トンネル顕微鏡を用いて高い空間分解能で定量的に計測する方法とそのための装置を提供する。 - 特許庁

When the surface of the semiconductor which is a measuring target is observed by a scanning tunnel microscope (STM), the STM image of the surface of the semiconductor by applying positive voltage to the semiconductor on the basis of a probe is compared with the STM image of the surface of the semiconductor obtained by applying negative voltage to the semiconductor on the basis of the probe to detect the impurity atom in the semiconductor.例文帳に追加

被測定対象物である半導体表面を走査型トンネル顕微鏡(STM)で観察する際に、探針を基準として半導体に正の電圧を印加して得られた半導体表面のSTM像と、探針を基準として半導体に負の電圧を印加して得られた半導体表面のSTM像とを比較することにより、半導体中の不純物原子を検出することを特徴とする半導体不純物原子検出方法である。 - 特許庁