test by comparisonとは 意味・読み方・使い方

To test by a few operators coping with the field, and to test efficiently, accurately and quickly by operating a test terminal by a single operator, when performing an operation test of a comparison protection relay device represented by a transmission line differential current type protection relay device installed in an adjacent power station.例文帳に追加

隣接する電気所に設置される送電線差動電流式保護継電装置代表される比較保護継電装置の動作試験をするにあたり、少ない現場対応要員で試験可能であり、試験端末を一人で操作することにより、試験が効率的に、正確に、迅速に行うことができること。 - 特許庁

In comparison with an element pattern (a), the test pattern of a corresponding part to a coil contact section 4 is split up and down by an insulation layer.例文帳に追加

テストパターンは、（ａ）の素子パターンと比較すると、コイルコンタクト部４に対応する部分が絶縁層によって上下に分断されている。 - 特許庁

The test and reference images are tiled, and image comparison is carried out on a tile-by-tile basis.例文帳に追加

前記検査画像および前記基準画像は、タイル化され、画像比較が、タイル−バイ−タイルベースで実行される。 - 特許庁

The comparison circuit 24 discriminates whether an accessed memory cell is normal or abnormal by comparing the expected value data with the data Dt for test.例文帳に追加

比較回路２４は、アクセスを行ったメモリセルが正常か異常かをデータＤｓ，Ｄｔの比較により判定する。 - 特許庁

The read data of the block unit is compared with the data of the test data by a data comparison deciding circuit included in a data transfer buffer 101.例文帳に追加

データ転送バッファ１０１に含まれるデータ比較判定回路において、読出したブロック単位のデータを比較判定する。 - 特許庁

A test operation result pattern TRPa obtained by the operation and the comparing pattern CPa are compared in a comparison circuit 70.例文帳に追加

そして、当該動作によって得られたテスト動作結果パターンＴＲＰａと比較用パターンＣＰａとが比較回路７０で比較される。 - 特許庁

The test program complying with the operation specifications by generation processing 11 for the test program is generated to add the test program to the test program 4 when determination is made to the absence of the test program complying with the operation specifications and necessity of the addition of the test program by determination processing 10 after a result is obtained by retrieving the attribute comparison result 8 by determination processing 9.例文帳に追加

判断処理９にて属性比較結果８を検索した結果、動作仕様に対するテストプログラムが存在しないと判断され、判断処理１０にてテストプログラムの追加が必要であると判断されたとき、テストプログラムの生成処理１１にて前記動作仕様に対応したテストプログラムを生成してテストプログラム４に付加する。 - 特許庁

In the semiconductor testing circuit 101, the comparators 141 and 142 compare a response signal with the reference signal by offsetting the test signal included in a synthetic signal and the test signal included in the comparison signal, by inputting the comparison signal and the synthetic signal of synthesizing the test signal and the response signal outputted from the test object device 20.例文帳に追加

半導体試験回路１０１では、コンパレータ１４１，１４２は、試験信号と試験対象装置２０から出力された応答信号とを合成した合成信号と、比較信号とを入力され、合成信号に含まれる試験信号と比較信号に含まれる試験信号とを相殺し応答信号と基準信号とを比較する。 - 特許庁