コンタクト検層の英語

ウエハ一括コンタクトボード用多層配線基板、該多層配線基板に接続するコネクタ、及びそれらの接続構造、並びに検査装置例文帳に追加

MULTILAYER INTERCONNECTION BOARD FOR WAFER COLLECTIVE CONDUCT BOARD, CONNECTOR CONNECTING TO IT, CONNECTION STRUCTURE FOR THEM, AND INSPECTING DEVICE - 特許庁

この検査パッド１４上にも同様に不導体層１０を形成し、その形成良否をプローブカードのコンタクト前に検査する。例文帳に追加

The method also includes a step of forming the non-conductor layer 10 similarly on the inspecting pad 14, and inspecting of whether the formation is good or not before the contact with the probe card. - 特許庁

光検出器は、光が電気的出力に変換される光検出器活性層３６を含むほぼ平面状の半導体層の組合せを含むとともに、第１外側電気的コンタクト層３４と第２外側電気的コンタクト層４２とを含む。例文帳に追加

The light detector 20 includes the combination of almost plane-shaped semiconductor layers including a light detector activating layer 36 in which lights are converted into electric outputs, and also includes a first outside electric contact layer 34 and a second outside electric contact layer 42. - 特許庁

そして、発熱部と検出電極との間に介在される層間絶縁膜に、基板及び層間絶縁膜よりも熱伝導率の高い材料が充填された複数のコンタクトホールが設けられ、各検出電極は互いに異なる発熱素子とコンタクトホールを介して接続されている。例文帳に追加

Furthermore, in an interlayer insulating film interposed between the heating section and the detection electrode, a plurality of contact holes filled up with a material having a thermal conductivity higher than those of the substrate and the interlayer insulating film are disposed, and respective detection electrodes are connected through the heating elements and the contact holes different from each other. - 特許庁

ニードルカード１が検査ヘッド５に対するコンタクトインタフェースとして用いられる基板３に接続されている、ニードルカードのニードルセット６をコンタクト形成すべきウェハ８に関連して平坦化するためのニードルカード調整装置を一層簡単に調整できるようにする。例文帳に追加

To adjust a needle card adjusting device for flattening, in relation to a wafer 8 to be contactedly formed with the needle set 6 of a needle card 1, connected with a substrate 3 which is used as a contact interface to an inspection head 5, more simply. - 特許庁

アバランシェ光検出器は、基板Ｓ上に積層されたコレクター層Ｃとエミッタ層(トップコンタクト層)Ｅ間にエミッタ光吸収層１０２を備え、光吸収層１０２とコレクター層Ｃ間に電荷層１０３，１０７、増幅層１０４、１０８及び電子コンタクト層１０５で構成されたアバランシェ利得構造層が２層設けられている。例文帳に追加

The avalanche photodetector has an emitter light absorption layer 102 between a collector layer C and an emitter layer (top contact layer) E formed on a substrate S wherein two avalanche gain structure layers comprising charge layers 103 and 107, amplification layers 104 and 108 and an electron contact layer 105 are formed between the light absorption layer 102 and the collector layer C. - 特許庁

導電膜と絶縁膜が交互に積層された積層体に形成されたコンタクトホールの異常を検出できる検査装置及び検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection device and an inspection method, capable of detecting abnormality of a contact hole arranged in a laminate body formed by alternately laminating a conductive film and an insulating film. - 特許庁

層間絶縁層におけるコンタクトホールを形成した領域での膜残りを検出し、且つ層間絶縁層の膜残りの厚みを精度良く求める。例文帳に追加

To detect residue of film in a region in which a contact hole is formed in an interlayer insulation layer, and to accurately obtain thickness of residue of film of the interlayer insulation layer. - 特許庁