ミクロン 単位の英語

電鋳法により、小さな穴あきのミクロン単位の精度を持つ金属製電磁波シールドを、安価に生産、提供する。例文帳に追加

To produce and provide an electromagnetic wave shield that has precision of micron order of boring of a small hole inexpensively by electroforming. - 特許庁

流体抵抗減少のために、ミクロン単位の微小突起による乱流発生を阻止乃至抑止、抑制可能な水着等を提供する。例文帳に追加

To provide a wear such as a swimming suit enabling blockage or control and suppression of occurrence of turbulent flow with minute protrusions of micron unit so as to decease fluid resistance. - 特許庁

光学ユニットのレンズ等光学部材の接着固定において、ミクロン単位の組立位置精度を保証し、かつ、耐環境性を向上させる。例文帳に追加

To guarantee the positional accuracy of assembly in micron units and to improve environmental resistance in attaching and fixing the optical member such as a lens of an optical unit. - 特許庁

振れの最大値にある調整用押圧部材５９が芯振れが最小になるよう進退動されて振れがミクロン単位で微調整される。例文帳に追加

The pressing members 59 for adjustment staying at the maximum deflection reciprocally move so that the center deflection is the minimum and minute adjustments in the micron order are executed. - 特許庁

ミクロン単位の小さな穴のあるポーラス電鋳を含め、世界トップレベルの電鋳技術を複数有している。例文帳に追加

Including a porous electroforming, which utilizes micron-size pores, they have multiple world's top class technologies. - 経済産業省

寸法不知の特徴は同一装置上で計測され、ミクロン単位のより正確な読み取り値を実現するために較正曲線を使用してピクセル単位の計測寸法が較正される。例文帳に追加

Distinctions of unknown dimensions are measured on identical equipment, and then the calibration curve is used to calibrate measured dimensions in pixel to obtain more accurate readings in units of microns. - 特許庁

本発明のＤＬＣ薄膜（炭素膜）の薄片構造の高さはミクロンメータ単位、厚さはナノメーター単位なので、ＤＬＣ薄膜（炭素膜）の薄片構造の高さと広さは高い縦幅比である。例文帳に追加

A height of the thin piece structure of the DLC thin film (carbon film) is micron meter unit and a thickness thereof is a nano meter unit, in the present invention, and the thin piece structure of the DLC thin film (carbon film) has resultingly a high height-to-width ratio. - 特許庁

イオン照射領域とイオン非照射領域を規定するマスクのエッジ部に数ミクロンから数百ミクロン単位のマークを付けることにより、このマークに注目してマスクと試料の位置関係を確認して光学顕微鏡での観察を容易にし、数ミクロン程度の位置精度の高い断面試料を作製することを特徴としている。例文帳に追加

A mask of a several micron-several hundred micron unit is applied to the edge part of the mask for prescribing an ion irradiation region and an ion non-irradiation region and the positional relation of the mask, and the sample is confirmed, on the basis of the mark to facilitate the observation due to an optical microscope to manufacture a cross-sectional sample high in positional precision of about several microns. - 特許庁