局所欠陥の英語

欠陥の有無による受光強度の差が微小であり環境光が変動する場合でも欠陥を検出し、局所的に受光強度が変動しても誤認することなく欠陥を精度よく検出する。例文帳に追加

To detect a flaw even when the difference of detection intencity of light due to the presence of the flaw is minute and environment light changes and to precisely detect a flaw without mistaking even if the detection intensity of light locally changes. - 特許庁

基板の表面にパターン欠陥を有する電子回路パターンが形成された表示装置の前記パターン欠陥を修正する修正装置であって、 前記パターン欠陥の領域に局所的なプラズマの照射によって前記パターン欠陥を修正するプラズマ照射手段を備えてなる。例文帳に追加

The correcting device corrects a pattern defect of the display in which an electronic circuit pattern having the pattern defect on a surface of a substrate is formed, and is equipped with a plasma irradiation means of irradiating an area of the pattern defect locally with plasma to correct the pattern defect. - 特許庁

そして、エネルギービーム照射手段１０により、先の流体の作用によっても除去されずに残った黒欠陥に局所的にエネルギービームが照射されることにより、黒欠陥が除去され、これにより、異物および黒欠陥を含む欠陥が除去されてマスクが修正される。例文帳に追加

The black defect which remains without being removed by the action of the fluid is locally irradiated with energy beam by an energy beam irradiation means 10, and then the black defect is removed, and thus defects including foreign matters and black defects are removed to correct the mask. - 特許庁

欠陥検出部５３では、位置補正後の被検査画像の局所領域を、参照画像の対応する位置から２次元的に移動しつつ局所領域に含まれる画素値と参照画像の対応する画素値とを比較することにより、被検査画像中の欠陥が局所的に検出される。例文帳に追加

The defect in the inspected image is detected locally in the defect detecting part 53, by comparing a picture element value included in a local area with a corresponding picture element value of the reference image, while moving two-dimensionally the local area of the inspected image after position-corrected from a corresponding position of the reference image. - 特許庁

修正する際に修正箇所周辺に損傷を与えることなく、局所的に良好な透明導電膜の形成を行うことで、欠陥部分を良品化するカラーフィルタ基板の欠陥修正方法と、この欠陥修正方法によって修正されたカラーフィルタ基板を提供する。例文帳に追加

To provide a method for correcting a defect on a color filter substrate improving a defective part by locally forming a favorable transparent conductive film without damaging a periphery of a correction part when correcting it; and to provide a color filter substrate corrected by the method for correcting the defect. - 特許庁

固体撮像素子の読み出し方法を区別することなく、読み出し画素の配列で同色画素の欠陥が連続しているかどうかを局所的に判別し、適切な欠陥画素補正処理を行うことができる欠陥補正回路及びそれを備えた撮像装置を提供する。例文帳に追加

To provide a signal processing circuit which can perform suitable defective pixel correction processing by locally determining whether defects of pixels of the same color are consective in an array of read pixels without discriminating a readout method of a solid-state imaging element, and to provide an imaging device with the signal processing circuit. - 特許庁

欠陥ボリュームが制御された欠陥が導入された３次元フォトニック結晶などのための微粒子構造体を提供すること、また、構造体全体の繰り返しを乱すことなく、局所的に欠陥が導入された周期的な微粒子構造体を提供すること。例文帳に追加

To provide a particulate structure for a 3-dimensional photonic crystal or the like into which a defect, in which a defective volume is controlled, is introduced, and also to provide a periodic particulate structure into which a defect is introduced locally without disturbing the global repetition of the structure. - 特許庁

フラットパネルディスプレイの隔壁欠陥部の修復において、欠陥修正箇所と正常箇所の形状差、特性差を生じることなく、欠陥修復箇所に対して局所塗布、露光、現像、洗浄、熱硬化を行うことなく、基板全面に亘り一括修復を行う方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a method for performing batch restoration over a whole plane of a substrate without causing shape differences, property differences of a defect correction portion and a normal portion and without performing local application, exposure, development, washing, and thermosetting in the restoration of a partition defective part of a flat panel display. - 特許庁