検査回数の英語

基板に設けられる配線パターンの導通検査時における検査回数を低減し、検査時間を短縮することができる基板検査方法及び基板検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a substrate inspection method and a substrate inspection device capable of shortening an inspection time by reducing the number of inspection times at a conduction inspection time of wiring patterns provided on the substrate. - 特許庁

基板電気検査装置のスキャナのチャンネル数が不足した場合でも基板検査治具の増加および検査回数の増加をせずに被検査基板の電気検査を行えるようにする。例文帳に追加

To carry out an electric inspection of a board to be inspected without increasing its board inspecting jigs and inspection frequencies even when the number of channels of a scanner of a board electric inspection apparatus gets low. - 特許庁

被検者の応答入力の回数を減らし、検査時間を短縮する。例文帳に追加

To reduce number of times for response input by a subject, and shorten an amount of test time. - 特許庁

複数の基板に対して並列的に短絡検査を実施し、短絡の検査回数を減少させて検査時間を短縮することのできる基板検査装置の提供。例文帳に追加

To provide a substrate inspecting device capable of shortening an inspection time, by performing short-circuiting inspection in parallel to a plurality of substrates to reduce the frequency of inspection for short circuitings. - 特許庁

カムシャフト１回転あたりのカムロブの外周面の各部位の検査回数を増やし、検査精度が向上したカムシャフトのカムロブ外周面の検査方法及びその検査装置。例文帳に追加

To provide a method of inspecting a cam lob circumferential surface in which inspection precision is improved by increasing the frequency of the inspection of each part of the cam lob circumferential surface per revolution of a camshaft and a device for inspecting the same. - 特許庁

半導体集積回路パターンの欠陥検査において、欠陥検査回数を制限しつつ、致命欠陥の管理を容易にする。例文帳に追加

To facilitate the management of critical defects while restricting the number of defect inspections, in the defect inspections of a semiconductor integrated circuit pattern. - 特許庁

撮影間にまたがった画像を、合成して、検査に用いることで、撮影回数を減らし、検査時間を短くする方法を用いる。例文帳に追加

This method can reduce the time required for inspection through reduction in the number of times of imaging, by synthesizing the images taken by a plurality times of imaging and then using the same images for inspection. - 特許庁

テープキャリアの巻き替え回数を減らすと共に、自動外観検査装置での検査歩留まりを向上させることを可能とする。例文帳に追加

To reduce the number of rewinding of a tape carrier and improve inspection yield in an automatic visual inspection device. - 特許庁