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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 検査回数に関連した英語例文

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検査回数の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 117



例文

複数の種類の検査を行うときの検査用接触子の移動回数を少なくし、検査工数を低減した基板検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a substrate inspecting device reducing the man days of an inspection by decreasing the number of the movement of inspection contact shoes when inspecting a plurality of kinds of inspections. - 特許庁

集団検診等における全体の検査回数を減らして効率良く視力検査を行う。例文帳に追加

To efficiently conduct visual acuity tests while reducing the total number of tests in a group examination, etc. - 特許庁

検査治具の挿入回数を減らすことができ、燃料棒間隙を効率よく検査することができる燃料集合体の検査治具を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection tool of a fuel assembly that can reduce the number of insertion times of the inspection tool and efficiently inspect the fuel rod interval. - 特許庁

車両運用計画作成部120は、検査周期を満足するために最低限必要な仕業検査検査回数を想定する。例文帳に追加

This vehicle operation program creation part 120 assumes a frequency of check-up tests minimally necessary for satisfying the test period. - 特許庁

例文

ディセーブルユニットは検査ユニットに結合され、特定の限度検査回数に基づいて検査ユニットをディセーブルするように構成される。例文帳に追加

The disable unit is combined with the test unit and is constituted so as to disable the test unit, based on specified limited frequency of tests. - 特許庁


例文

検査を実行した回数を計数する検査回数計数手段と、検査費用に関するパラメータを入力するパラメータ入力手段と、前記検査回数と前記パラメータとに基づいて一群の検査における実績検査費用を演算する検査費用演算手段とを有するようにした外観検査装置。例文帳に追加

This visual inspection apparatus has an count-counting of inspection means for counting the number of executed inspection times, a parameter input means for inputting parameters related to inspection cost, and an inspection cost-operating means for calculating the actual inspection costs at a group of inspections on the basis of the number of inspection times and the parameters. - 特許庁

本発明は、1回の画像取り込みで複数の検査対象部品を検査するとともに、画像取り込み回数およびカメラまたは検査対象の移動回数を減らすことで検査の高速化を図る外観検査装置および外観検査方法を提供することを課題とする。例文帳に追加

To realize an apparatus and a method for visual inspection in which the inspection can be performed at a high speed, by inspecting a plurality of components to be inspected by one image fetching operation, and reducing the number of times of an image fetching operation and the number of times of the movement of a camera or the objects to be inspected. - 特許庁

基板に設けられる配線パターンの導通検査時における検査回数を低減し、検査時間を短縮することができる基板検査方法及び基板検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a substrate inspection method and a substrate inspection device capable of shortening an inspection time by reducing the number of inspection times at a conduction inspection time of wiring patterns provided on the substrate. - 特許庁

基板電気検査装置のスキャナのチャンネル数が不足した場合でも基板検査治具の増加および検査回数の増加をせずに被検査基板の電気検査を行えるようにする。例文帳に追加

To carry out an electric inspection of a board to be inspected without increasing its board inspecting jigs and inspection frequencies even when the number of channels of a scanner of a board electric inspection apparatus gets low. - 特許庁

例文

被検者の応答入力の回数を減らし、検査時間を短縮する。例文帳に追加

To reduce number of times for response input by a subject, and shorten an amount of test time. - 特許庁

例文

複数の基板に対して並列的に短絡検査を実施し、短絡の検査回数を減少させて検査時間を短縮することのできる基板検査装置の提供。例文帳に追加

To provide a substrate inspecting device capable of shortening an inspection time, by performing short-circuiting inspection in parallel to a plurality of substrates to reduce the frequency of inspection for short circuitings. - 特許庁

カムシャフト1回転あたりのカムロブの外周面の各部位の検査回数を増やし、検査精度が向上したカムシャフトのカムロブ外周面の検査方法及びその検査装置。例文帳に追加

To provide a method of inspecting a cam lob circumferential surface in which inspection precision is improved by increasing the frequency of the inspection of each part of the cam lob circumferential surface per revolution of a camshaft and a device for inspecting the same. - 特許庁

半導体集積回路パターンの欠陥検査において、欠陥検査回数を制限しつつ、致命欠陥の管理を容易にする。例文帳に追加

To facilitate the management of critical defects while restricting the number of defect inspections, in the defect inspections of a semiconductor integrated circuit pattern. - 特許庁

撮影間にまたがった画像を、合成して、検査に用いることで、撮影回数を減らし、検査時間を短くする方法を用いる。例文帳に追加

This method can reduce the time required for inspection through reduction in the number of times of imaging, by synthesizing the images taken by a plurality times of imaging and then using the same images for inspection. - 特許庁

テープキャリアの巻き替え回数を減らすと共に、自動外観検査装置での検査歩留まりを向上させることを可能とする。例文帳に追加

To reduce the number of rewinding of a tape carrier and improve inspection yield in an automatic visual inspection device. - 特許庁

施工者が検査指示書に記載された検査項目を適正に実施すると実績記憶部DB2に実績回数が累積して記憶される。例文帳に追加

When the constructor appropriately carries out the test items written in the test instruction, the number of achievements is accumulated and stored in an achievement storage part DB 2. - 特許庁

電気検査回数を可及的に低減し、もって迅速に多数の接点を有する電気配線システムの電気検査を行うこと。例文帳に追加

To swiftly carry out electrical inspection of an electric wiring system having a multiplicity of contacts by minimizing the number of electrical inspections. - 特許庁

再書き込み処理終了後、検査対象ブロックのリード回数RCを初期化する。例文帳に追加

After the end of rewrite processing, the read count RC of the check target block is initialized. - 特許庁

フォトマスクを所定露光回数毎に検査し、ウエハへの転写性を有する欠陥を評価する。例文帳に追加

The photomask is inspected every predetermined exposure frequency, and defects having transferability to the wafer are evaluated. - 特許庁

この関係抽出では、各検査項目における異常回数に注目する。例文帳に追加

In the extraction of the relationship, the number of abnormalities on each test item is given attention. - 特許庁

また、記憶部15や記憶部書込読出部86の検査履歴、及び印刷装置1に対するインクカートリッジ10の挿抜回数に対応させた、検査範囲を検査する。例文帳に追加

Also, the inspection history of the storage section 15 or the storage section writing/reading section 86, and an inspection range corresponding to the insertion/removal number of times of the ink cartridge 10 to the printing device 1 are inspected. - 特許庁

被検体6の検査範囲を入力し、入力された被検体6の検査範囲に基づいて検査範囲全域を撮像するために必要なX線画像の撮像ポイントと走査回数を算出する。例文帳に追加

An inspection range for a specimen 6 is input, and image picking-up points of an X-ray image and a scanning number necessary for image-picking up the whole area of the inspection range are calculated, based on the input inspection range for the specimen 6. - 特許庁

メモリへのアクセス回数を少なくし、短い検査時間でボード上に搭載したメモリ部品のアドレス線とデータ線の導通を確認するメモリー検査方法およびメモリー検査装置を提供する点にある。例文帳に追加

To provide a method and a device for inspecting a memory, in which the number of access to the memory is reduced and the electric conduction of the address lines and data lines of memory parts loaded on a board is confirmed in a short inspection time. - 特許庁

検査位置の移動回数を大幅に減らすことができ、モニタ上で拡大して検査することができるため、傷などの検査を容易かつ確実に行うことができる。例文帳に追加

The number of times of the movement of the inspection position can be sharply reduced and the surface of the lens can be inspected in a magnified state to easily and certainly inspect a damage or the like. - 特許庁

メモリコントローラ3は、リード回数RCがリード回数閾値RCthを上回る検査対象ブロックが存在するか否かを判定する。例文帳に追加

A memory controller 3 determines the presence/absence of a check target block in which the read count RC exceeds a read count threshold value RCth. - 特許庁

連続予告を実行するという判定結果となった場合には、実行回数カウンタのカウント値が検査回数カウンタのカウント値よりも小さい値であれば、実行回数カウンタに検査回数カウンタのカウント値を設定する。例文帳に追加

When the execution of the successive advance notice is the result of the judgment and if the counts of the frequency of execution counter are smaller than those of a frequency of inspection counter, the counts of the frequency of inspection counter are set on the frequency of execution counter. - 特許庁

プログラムモデル検査の順序に起因して検査対象の関数が実行されなくなる現象を回避し、関数の実行回数の制限を安全に行うことができ、プログラムモデル検査の実行時間を削減するプログラムモデル検査を提供する。例文帳に追加

To provide a program model inspection which avoids a phenomenon in which functions to be inspected are not executed owing to the order of inspection of program models, safely restricts the number of execution times of the functions, and reduces the execution time for program model inspection. - 特許庁

可変印刷に用いるテンプレート情報と可変印刷情報とに基づいて印刷装置で生成される画像情報を表示して利用者に検査させる場合において、画像情報の検査回数を減少する可変印刷検査装置及び可変印刷検査プログラムを提供する。例文帳に追加

To provide a variable print inspection apparatus and a variable print inspection program for decreasing the number of times of inspecting image information in the case where image information generated by a printing device on the basis of template information used for variable print and variable print information is displayed for an inspection by a user. - 特許庁

表示部に物品の振分け方向ごとの検査結果の判定回数回数積算値を振分け方向と並べて表示する物品検査装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an apparatus for inspecting articles which displays a frequency integrated value of determination frequency of an inspection result in every sorting direction of articles and the sortting direction of articles side by side on a display part. - 特許庁

クリーニングコントローラ301は、検査用接触子を半導体デバイスの電極群に接触させた回数が所定回数増加するごとに、あるいは検査用接触子を半導体デバイスの電極に接触させた状態で得られる検査データが劣化したとき、清掃動作を実行させる。例文帳に追加

A cleaning controller 301 performs cleaning whenever the number of times that a contact for inspection is brought into contact with an electrode group of a semiconductor device increases a predetermined number of times or when the inspection data obtained in a state that the contact is brought into contact with the electrode group is deteriorated. - 特許庁

不揮発性メモリの検査において通常複数回実施する必要のある消去動作の回数を少なくすることによって、検査時間を減少させ検査コストを低減させることができる不揮発性メモリ内蔵マイコンを提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a microcomputer incorporating a non-volatile memory in which a test time and a test cost can be reduced by decreasing the number of times of erasure operation required normally for performing with the number of plural times in a test of a non-volatile memory. - 特許庁

搬送ラインに対し疑似ピンホールが穿孔されたテストピースを投入することなく且つ検査回数に依存せずに、ピンホール検査機自体のピンホール検出精度を適宜確認することが可能な自己診断機能を内蔵した自己診断機能付きピンホール検査機を提供する。例文帳に追加

To provide a pinhole inspection machine with a self-diagnosis function having the built-in self-diagnosis function, capable of confirming properly pinhole detection accuracy of the pinhole inspection machine itself without inputting a test piece on which a pseudo pinhole is bored into a conveyance line, and without depending on the number of inspection times. - 特許庁

検査回路は、被検査回路内の回路ユニット間の通信発生パターンに基づいて、回路部分間で通信発生回数が最も小さくなるように分割される。例文帳に追加

The inspected circuit is divided based on communication occurrence pattern between circuit units in the inspected circuit so that communication occurrences may become the smallest between circuit parts. - 特許庁

検査チェッカー7は、検査チェッカー7自身が備えるスイッチが操作されると、そのスイッチの操作回数に応じた数のパルス信号をカウンタ回路3に出力する。例文帳に追加

An inspection checker 7 outputs pulse signals whose number corresponds to the number of operation times of a switch to a counter circuit 3, when the switch that the inspector checker 7 oneself has is operated. - 特許庁

これにより従来必要であった消去動作の回数を減少させることが可能となり、検査時間を削減し検査コストを低減させることができる。例文帳に追加

Thereby, the number of times of erasure operation required hitherto can be decreased, and a test time and a test cost can be reduced. - 特許庁

ヘッドの劣化による交換作業回数を低減して検査のスループットを向上させることができるヘッドの劣化検出方法および磁気ディスク検査装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide a method of detecting deterioration of a head, in which throughput of inspection can be improved by reducing the number of times of exchange work caused by deterioration of the head, and to provide a magnetic disk inspection apparatus. - 特許庁

従来の目的アドレスを1ビット単位で検査する2分木の方法とは相違して、Nビット単位(N>1)で検査するM分木の構造を用いて、検索テーブルのアクセス回数を低減する。例文帳に追加

Different from a conventional binary tree method where an object address is checked in the unit of 1 bit, an M-branch tree structure is used where the object address is checked in the unit of N-bits (N>1) to reduce the number of access times to a retrieval table. - 特許庁

変数格納エリアとして用いられるスタックの検査回数を削減しつつ、CPUの利用効率を向上させ、変数格納エリアとして用いられるスタックを好適に検査することができるようにする。例文帳に追加

To suitably inspect a stack used as a variable storage area by improving the use efficiency of a CPU, while reducing the frequency of inspection of the stack, used as a variable storage area. - 特許庁

検査対象物の、欠陥や腐食等の経時的減肉による緩やかな断面変化を、少ない回数で、正確且つ短時間に測定できる非破壊検査システムの提供。例文帳に追加

To provide a nondestructive inspection system for accurately and quickly measuring the sectional change of an inspection target, due to aging thinness caused by defects, corrosion, or the like, with few number of times. - 特許庁

BGAパッケージの多ピン化に伴い、はんだボール接合部の検査回数が増加することを抑え、はんだボール接合部の状態の認識が良く、検査時間を短縮する。例文帳に追加

To suppress the increase of the number of times of inspection of a solder ball joint caused by the increase of the number of pins of a BGA package, to satisfactorily recognize the status of the solder ball joint, and to shorten an inspection time. - 特許庁

複数の検査にまたがってX線撮影を行う際に、X線撮影ユニットの切替え回数を減らして、効率的な検査を実施できるようにする。例文帳に追加

To reduce the frequency to switch among X-ray photographing units in taking X-ray photographs for a plurality of inspections on a subject, so that the inspection efficiency can improve. - 特許庁

欠陥同一判定部21は、複数の検査工程に配置された欠陥検査装置によって検出された欠陥が同一欠陥であるか否かを判定して欠陥検出回数を求める。例文帳に追加

A defect identification determining part 21 obtains the times of defect detection by determining whether the defects detected by defect inspection devices arranged in a plurality of inspection processes are the same defects or not. - 特許庁

検査積Qの位数が位数qの約数であり、且つ、安全変数sの回数だけループを繰り返していれば、検査合格の旨を出力して処理を終了する。例文帳に追加

When the order of the inspection product Q is a divisor of the order (1) and the loop is repeated as many times as the safe variable (s), inspection success is outputted and the process is ended. - 特許庁

洗濯後の検査で再洗濯が必要とされた場合、その再洗濯も1回として洗濯回数にカウントする。例文帳に追加

To count a re-washing as one time of a washing frequency when the re-washing is required by an inspection after a washing. - 特許庁

MDプレーヤ26のFFC用雌コネクタ27へ差し込んでMDプレーヤ26の検査に使用するFFC10の使用回数を増大させる。例文帳に追加

To increase the use time of the FFC 10 used for inspection of the MD player by inserting into the FFC female connector 27 of the MD player 26. - 特許庁

予測対象者の検査回数が少ない場合でも、その先の将来の健康状態の推移を精度良く予測して表示できるようにする。例文帳に追加

To accurately predict and display the transition of a health condition in the future even after a little number of times of examinations for a prediction target person. - 特許庁

限度使用回数を超えた使用を禁止する手段を備えた診断検査結果読取り装置を提供すること。例文帳に追加

To provide diagnostic testing result reader that includes a means for inhibiting frequency of usage beyond its limits. - 特許庁

予告設定処理において、CPUは、始動入賞カウンタのカウント値を処理数に設定し、検査回数カウンタのカウント値を初期化する。例文帳に追加

In the advance notice setting processing, a CPU sets the counts of a start winning counter for the frequency of processing and initializes the counts of a number-of-inspection counter. - 特許庁

槽内の余剰溶液量を随時検査、随時調整補充可能であるため設備停止の回数を減らすことができる。例文帳に追加

Since the excess solution quantity in the vessel can be inspected at any time or adjusted and replenished at any time, the number of times of equipment stop can be reduced. - 特許庁

例文

特性異方性が問題となる場合であっても測定回数を2倍に増やすことなく効率良く検査を実施する。例文帳に追加

To enable efficient inspection without increasing the frequency of measurement twice even when characteristic anisotropy is an issue. - 特許庁

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