通電テストの英語

半導体基板に貫通電極を形成する際に良好なストッパーとして働き、さらにダイソート等のテスト工程においても良好なテストを行うことができる電極パッドを備えた半導体パッケージを提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor package equipped with an electrode pad which serves as an effective stopper when forming a through-hole electrode in a semiconductor substrate and contributes to successful testing in a testing process such as the Die Sort test. - 特許庁

貫通電極を備える半導体チップ間の接続の良否をテストするにあたり、回路規模の拡大の抑制、テスト時間の短縮、および、ピン端子数の削減を図る。例文帳に追加

To attain suppression of expansion of circuit scale, reduction of a test time, and reduction of the number of pin terminals when testing the propriety of a connection between semiconductor chips including through-electrodes. - 特許庁

動作チェック装置のテスト用共通電極３９は個々のドライバ３１のコレクタに接続する個別電極３２に接続した全てのテスト用抵抗体３８に接続される。例文帳に追加

The testing common electrode 39 of an operation checking device is connected to all testing resistors 38 connected to individual electrodes 32 connected to the collector of each driver 31. - 特許庁

動作チェック装置のテスト用共通電極３９は個々のドライバ３１のコレクタに接続する個別電極３２に接続した全てのテスト用抵抗体３８に接続される。例文帳に追加

In this operation check system, common testing electrode 39 is connected to all the testing resistive elements 38 connected with discrete electrode 32 connecting to collectors of individual driver 31. - 特許庁

ハイブリッド集積回路装置等のプリント基板２の複数枚を、素材基板１を使用して同時に製作して、そのテストを行う場合に、通電用プローブを接触するテスト用端子電極７を設けることのためにプリント基板が大型化することを防止する。例文帳に追加

To prevent a printed board from becoming larger in size due to terminal electrodes for test with which conducting probes are brought into contact when a plurality of printed boards of hybrid integrated circuit devices, etc., is simultaneously manufactured by using a base material substrate and the manufactured printed boards are tested. - 特許庁

テストインターフェイス回路の初段ゲートがフローティング状態になり貫通電流が流れ、さらに次段以降のゲートのステートが不定となるため、テストモード設定時のリードデータマスク機能の検査および評価ができない。例文帳に追加

To solve the problem that since a first stage gate of a test interface circuit becomes a floating state and pass-through current flows therein and state of gates on and after the next stage is made unstable, the test and evaluation of a read-data mask function at setting of test mode cannot be performed. - 特許庁

変流器に、過電流検知用の第１のコイルの他、過電流検出回路の動作テストを行うための第２のコイルを設け、過電流検出回路の動作テストを行うとき、該第２のコイルにテスト電流を通電して該第１のコイルに起電力を誘起させ、該起電力に基づき過電流検出回路を動作させる構成とする。例文帳に追加

The electronic circuit breaker is structured such that a second coil for executing an operation test of the overcurrent detection circuit is arranged in a current transformer in addition to a first coil for overcurrent detection; and, when the operation test of the overcurrent detection circuit is executed, a test current is carried to the second coil to induce electromotive force in the first coil, and the overcurrent detection circuit is operated based on the electromotive force. - 特許庁

タイミング発生装置４４が順次ドライバ３１に駆動信号を印加して１個毎にオンにすると、電源Ｖ1 と接地共通配線４５との間に抵抗Ｒx とテスト用抵抗体３８を介して電流が流れ、検知器４３にはテスト用共通電極３９の電位となる抵抗Ｒx とテスト用抵抗体３８の抵抗値ｒ38との電位ｖs が入力される。例文帳に追加

When a timing generator 44 applies driving signals in turn to the driver 31 to turn on one by one, a current is passed between the power source V1 and commonly grounded wiring 45 through the resistance Rx and the resistors 38, and potential vs of the resistance Rx and the resistance value r38 of the resistors 38 to be the potential of the common electrode 39 is input into the detector 43. - 特許庁