atomic displacementとは 意味・読み方・使い方

When the position of a probe 2 is changed by atomic force or the like operating between a measurement object and the probe 2, the displacement is transferred to a PZT 4 through Si single crystal 1 for deforming the PZT 4, thus generating voltage between a lower electrode 3 and an upper electrode 5.例文帳に追加

測定物体と探針２の間に働く原子間力等により探針２の位置が変化すると、その変位はSi単結晶１を介してＰＺＴ４に伝わり、ＰＺＴ４を変形させるので、下部電極３と上部電極５間に電圧が発生する。 - 特許庁

To provide a scanning type probe microscope for stabilizing the measurement of a force gradient and a displacement current, for example, in an atomic force microscope for improving accuracy, and at the same time to provide a high-density information-reproducing apparatus using the configuration of the scanning-type probe microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡などにおける力勾配の測定と変位電流の測定を安定させ、精度を高めることを可能にする走査型プローブ顕微鏡を提供するとともに、この走査型プローブ顕微鏡の構成を用いた高密度の情報再生装置を提供する。 - 特許庁

To enhance an extraction computation speed of a diffusion coefficient extraction which determines the diffusion coefficient related to a diffusion phenomenon in a diffusion phenomenon in which regions such as a grain boundary, an interface, a surface, and the like are spatially biased from a mean square-root displacement, by tracing atoms by use of a molecular dynamic method, and eliminate an offset of atomic vibrations.例文帳に追加

分子動力学法を用いて原子をトレースして平均二乗変位から粒界、界面、表面などの領域が空間的に偏った拡散現象に関する拡散係数を求める拡散係数抽出の抽出計算速度を向上するとともに、原子振動のオフセットを取り除くことを可能にする。 - 特許庁

In the atomic force microscope, the cantilever control device 1 is constituted of: the cantilever 10 having the probe 12; an actuator 20 for causing the self-oscillation of the cantilever 10; an oscillation speed detector 30 for detecting the oscillation speed of the cantilever 10; a displacement calculator 32 for calculating the oscillation displacement of the cantilever 10 and a controller 40 for forming a signal for driving the actuator 20.例文帳に追加

原子間力顕微鏡において、探針１２を有するカンチレバー１０と、カンチレバー１０を自励振動させるアクチュエータ２０と、カンチレバー１０の振動速度を検出する振動速度検出器３０と、カンチレバー１０の振動変位を算出する変位算出器３２と、アクチュエータ２０を駆動するための信号を生成する制御器４０とから、カンチレバー制御装置１を構成し、フィードバック制御信号Ｓを（Ｋ−Ｇ・ｘ^2）・ｄｘ／ｄｔとする。 - 特許庁

To provide a signal detection apparatus enabling simplification of a mechanism for detecting the displacement of a probe and simplification of the arrangement of a detection system even if a plurality of probes are in use, thus enabling a space saving, a scanning atomic force microscope constructed of the detection apparatus, and a signal detection method.例文帳に追加

プローブ変位検出のための機構を簡単化することができ、また複数のプローブを用いる場合においても検出系の構成を簡便化することができ、省スペース化を図ることが可能な信号検出装置、該信号検出装置によって構成した走査型原子間力顕微鏡、および信号検出方法を提供する。 - 特許庁

In the atomic layer growth including introduction of hafnium compound raw material, introduction of yttrium compound raw material and introduction of an oxidizing agent as one cycle, introduction times of the hafnium compound raw material and the yttrium compound raw material are controlled and a displacement rate of a sample surface OH group due to the raw materials is controlled, thereby accurately controlling the quantity of yttrium to be added into the hafnia.例文帳に追加

ハフニウム化合物原料の導入、イットリウム化合物原料の導入、酸化剤の導入を１サイクルとした原子層成長法において、ハフニウム化合物原料とイットリウム化合物原料の導入時間を制御し、試料表面OH基の各原料による置換率を制御することで、ハフニア中へのイットリウムの添加量を正確に制御する。 - 特許庁

In the signal detection apparatus detecting an atomic force acting between a probe and a sample and measuring the unevenness or electric characteristic of the sample surface from changes in signals, the probe is driven by an electrostatic force working between a plate electrode on the support base of the probe and another plate electrode provided oppositely to the former electrode on the probe and the displacement of the probe is detected from changes in electrostatic capacitance between the electrodes.例文帳に追加

プローブと試料との間に働く原子間力を検出し、それらの信号の変化から該試料表面の凹凸あるいは電気特性を測定する信号検出装置において、前記プローブを、該プローブの支持基板上の平板電極と、それに対向して設けられた該プローブ上の平板電極との間に働く静電力によって駆動し、該電極間の静電容量の変化から、前記プローブの変位を検出するように構成する。 - 特許庁