dut device under testとは 意味・読み方・使い方

To provide a testing device for changing a hardware logic of a gate array held by a test module corresponding to the properties of a device under test (DUT), and performing a proper test to the DUT.例文帳に追加

テストモジュールが有するゲートアレイのハードウェア論理をＤＵＴの性質に応じて変更し、当該ＤＵＴに適切な試験を実行する試験装置を提供する。 - 特許庁

To flexibly allocate a measuring port of VNA (vector network analyzer) to a device port of an adapter and a DUT (device under test).例文帳に追加

アダプタ及びＤＵＴの装置ポートに対するＶＮＡの測定ポートを柔軟に割り当てる。 - 特許庁

The semiconductor inspection device 50 irradiates the semiconductor device (DUT (Device under Test)) 3 with a laser beam, and specifies a failure part of the semiconductor device (DUT) 3 using the DLS (Dynamic Laser Stimulation) method.例文帳に追加

半導体検査装置５０は、半導体デバイス（ＤＵＴ）３にレーザ光を照射し、ＤＬＳ法を用いて半導体デバイス（ＤＵＴ）３の故障箇所の特定を行う。 - 特許庁

This testing device for testing a DUT (Device Under Test) comprises a first electric terminal and a first optical terminal.例文帳に追加

第１の電気端子及び第１の光端子を備えた、ＤＵＴを試験するための試験デバイスが提供される。 - 特許庁

This invention relates to detection of each of the spectral components of a received response signal (S2) from a device under test (DUT 12) in response to a stimulus signal (S1).例文帳に追加

本発明は、刺激信号(S1)に応答して試験対象デバイス(DUT 12)から受信した応答信号(S2)のそれぞれのスペクトル成分を検出することに関する。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester for effectively reducing a cost in response to a type of a DUT (device under test).例文帳に追加

ＤＵＴの種類に応じて効果的にコスト低減を図ることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a termination circuit that can measure a DUT(Device Under Test) while coping with both connected/disconnected states of the termination resistors of the termination circuit depending on a test condition of the DUT.例文帳に追加

ＤＵＴのテスト条件に応じて、終端回路における終端抵抗の接続／不接続両方の状態に対応させ、ＤＵＴの測定を可能とすることである。 - 特許庁

To arrange a device under test (DUT) in a terminal end of a cable, with a characteristic impedance equal to a desired impedance.例文帳に追加

所望のインピーダンスに等しい特性インピーダンスを有してＤＵＴがケーブルの末端に配置できるようすること。 - 特許庁