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emission testとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 排気試験; 排ガス検査
「emission test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 60件
To provide a flash light emission confirming device by which the result of the test light emission of flash can be easily confirmed.例文帳に追加
フラッシュのテスト発光の結果を容易に確認することができるフラッシュ発光確認装置を提供する。 - 特許庁
A slope value calculated from an emission result of test emission using a multi-pulse modulation signal, and the slope calculated from the emission result of erasing power DC in the multi-stage recording-power emission recording are appropriately and separately used.例文帳に追加
マルチパルス変調信号でテスト発光した発光結果より算出した傾きと、上記記録パワー多段階発光記録の消去パワーDC発光結果より算出した傾きとを使い分ける。 - 特許庁
To provide an emission treatment device for performing test of an internal combustion engine with high efficiency.例文帳に追加
高い効率をもって内燃機関の試験を行うことのできる排気処理装置を提供する。 - 特許庁
The image light emission part 400 has a test pattern and projects image light for indicating the test pattern.例文帳に追加
画像光射出部400は、テストパターンを有しており、テストパターンを表す画像光を射出する。 - 特許庁
TEST METHOD OF CATHODE PANEL FOR COLD-CATHODE FIELD ELECTRON EMISSION DISPLAY DEVICE, MANUFACTURING METHOD OF COLD CATHODE FIELD ELECTRON EMISSION DISPLAY DEVICE, AS WELL AS COLD-CATHODE FIELD ELECTRON EMISSION DISPLAY DEVICE例文帳に追加
冷陰極電界電子放出表示装置用のカソードパネルの検査方法、冷陰極電界電子放出表示装置の製造方法、並びに、冷陰極電界電子放出表示装置 - 特許庁
To provide a light emission substrate and its manufacturing method, to provide a droplet material spotting precision test substrate for light emission substrate and its manufacturing method, to provide a method of measuring droplet material spotting precision, to provide an electrooptical device comprising the light emission substrate, and to provide electronic equipment comprising the electrooptical device.例文帳に追加
発光用基板およびその製造方法、発光用基板用液滴材料着弾精度試験基板およびその製造方法、液滴材料着弾精度の測定方法、電気光学装置ならびに電子機器を提供する。 - 特許庁
While the preview button 9 is depressed, whether the built-in type flash unit 5 performs modeling light emission or test light emission for repeating light emission is determined by the custom setting operation of the electronic camera 1.例文帳に追加
プレビューボタン9が押圧されている間に、内蔵式閃光装置5のモデリング発光を行うか、または、リピーティング発光のテスト発光を行うかについては、電子カメラ1のカスタム設定操作によって決定される。 - 特許庁
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「emission test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 60件
At this time, when a built-in type flash unit 5 is in a use position, the device 5 performs modeling light emission or test emission for repeating light emission.例文帳に追加
このとき、内蔵式閃光装置5が使用位置であれば、内蔵式閃光装置5のモデリング発光、または、リピーティング発光のテスト発光が行われる。 - 特許庁
Since the emission line projected by the projector 7 is previously adjusted so as to coincide with the load axis, the center axis of the test piece can be brought to coincide with the load axis by only adjusting the position of the test piece while visually checking such that the emission line is located on the center of the test piece.例文帳に追加
投光器7が投影する輝線は負荷軸と一致するようにあらかじめ調整されているので、この輝線が試験片の中心に来るように目視によって確認しながら試験片の位置調整を行うだけで試験片の中心軸を負荷軸と一致させることができる。 - 特許庁
As the various products, articles for nursing care, foodstuffs, a test body for emission test, a test body for inspection, a micro camera, a key, control equipment for pet, a credit card, ink, equipment for animal experiment, toys and cosmetics are exemplified.例文帳に追加
介護用品、食料品、排出試験用試験体、検査用試験体、マイクロカメラ、鍵、ペット用管理備品、クレジットカード、インク、動物実験用備品、遊び道具、化粧品の各種製品。 - 特許庁
The light emission substrate 1003 is provided with: a pixel region 110 having bank regions 220 and light emission regions 230 divided by the bank regions 220; a droplet material spotting precision test region 210 disposed besides the pixel region 110; function layers disposed on the light emission regions 230; and a spotting precision test layer 226 disposed on the droplet material spotting precision test region 210.例文帳に追加
本発明の発光用基板1003は、バンク領域220およびバンク領域220によって区画された発光領域230を有する画素領域110と、画素領域110以外に設けられた着弾精度試験用領域210と、発光領域230に設けられた機能層と、着弾精度試験用領域210に設けられた着弾精度試験用層226と、を備える。 - 特許庁
The system acquires two or more synthetic light emission integration images while changing an end test pattern address, and carries out comparison of synthetic light emission integration images on good and defective semiconductor devices in an ascending order of the end test pattern addresses, i.e., in ascending order of the end test pattern addresses close to the starting test pattern address.例文帳に追加
終了テストパターンアドレスを変化させながら複数の合成発光積分画像を取得し、終了テストパターンアドレスが小さい順、すなわち開始テストパターンアドレスに近い終了テストパターンアドレスから順に良品および不良品半導体装置の合成発光積分画像の比較を行う。 - 特許庁
Test light emission in the recording power level is performed during the jump between layers, also is performed in a period in which a focus error signal becomes the prescribed value or more.例文帳に追加
記録パワーレベルでのテスト発光が、層間ジャンプ中であり、かつフォーカスエラー信号が所定値以上になる期間に行われる。 - 特許庁
According to this invention, the test is performed considering the emission positions (X_1, X_2) of the secondary particles 9 on the substrate relative to the position of the detector 5.例文帳に追加
本発明によれば、検出器5の位置に対する二次粒子9の基板上での放出位置(X1,X2)を考慮して試験を行う。 - 特許庁
To provide a positron emission tomography capable of easily positioning a test subject.例文帳に追加
被検体のポジショニングを容易にすることが可能な陽電子放射断層撮像装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
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