forward‐scattered lightの英語

Forward scattered light separated laterally by the total reflection mirror 22 is detected by a photoelectric conversion element 23, and specularly reflected light 7 which directly passes through a central dividing area is detected by a specularly reflected light detection means 30, whereby the forward scattered light and the specularly reflected light can be detected at the same time while inhibiting their mutual influence.例文帳に追加

この全反射ミラー２２で側方に分離された前方散乱光は光電変換素子２３で検出され、中央の分割領域を直通する正反射光７は正反射光検出手段３０で検出されるので、前方散乱光と正反射光とで互の影響を抑制しつつ同時に検出することできる。 - 特許庁

To achieve high efficient defect inspection with a high defect capture rate in a surface defect inspection device for a wafer and the like by enabling detection of forward scattered light with high sensitivity and at the same time enabling detection of specularly reflected light with high sensitivity.例文帳に追加

ウエーハ等の表面欠陥検査装置において、前方散乱光を高感度で検出し、正反射光をも同時に高感度検出可能とすることで、欠陥捕捉率の高い高効率の欠陥検査を実現。 - 特許庁

A light-emitting time and intensity of a forward scattered light are detected from each particle included in the sample liquid as size informations, and a scattergram is formed by using them as parameters.例文帳に追加

試料液に含まれる各粒子から大きさ情報として前方散乱光発光時間、前方散乱光強度を検出し、それらをパラメータとしたスキャッタグラムを作成する。 - 特許庁

To provide a particle analyzing apparatus capable of obtaining a high-contrast image, even from optically transparent particles and obtaining the characteristic parameters of the particle, based on at least forward scattered light.例文帳に追加

光を透過する粒子であってもコントラストが高い画像の取得と、少なくとも前方散乱光に基づく粒子の特徴パラメータの取得が可能な粒子分析装置を提供する。 - 特許庁

When light is scattered by the liquid crystal layer 30, a part of a forward scattered component is returned to a second substrate 20 side, or an observer side by the reflection factor adjusting layer 11B and the metal layer 11A, and the reflection factor improves.例文帳に追加

液晶層３０により光が散乱される場合には、前方散乱成分の一部が反射率調整層１１Ｂおよび金属層１１Ａにより第２基板２０側すなわち観察者側へと戻され、反射率が向上する。 - 特許庁

An absorption coefficient and a scattering coefficient of the sample 30 are calculated based on the intensity I_i of light incoming to the sample 30, the intensity I_o of the transmitted straight light, and the total intensities I_o+I_s of the transmitted straight light and the forward-scattered light.例文帳に追加

試料３０に入射する光の強度Ｉ_ｉと透過直進光の強度Ｉ_ｏと透過直進光と前方散乱光を合わせた光の強度Ｉ_ｏ＋Ｉ_ｓとに基づいて、試料３０の吸収係数及び散乱係数を算出する演算処理を行う。 - 特許庁

Because of this, detection of minute defect is achieved by using detection signals of only forward scattered light among scattered light detection signals detected in many directions while high-accuracy detection of roughness is achieved by using detection signals of only back scattered light.例文帳に追加

このため、多方向で検出した散乱光検出信号のうち、前方散乱光のみの検出信号を用いることにより微小欠陥の検出が可能となり、後方散乱光のみの検出信号を用いることによりラフネスの高精度検出が可能となる。 - 特許庁