integral testとは 意味・読み方・使い方

To provide integral welding and a test method for performing the on-going quality management test of a super-compact electronic connecting part in manufacturing a non-contact smart card.例文帳に追加

非接触スマートカードの製造における超小型電子接続部の進行中の品質管理テストを行なうための、一体型溶接およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device provided with a timing generator capable of reducing remarkably a circuit scale for realizing generation functions for both a tester channel required to generate a test pattern by a unit of a test rate, and a tester channel required to generate a test pattern having a unit of prescribed integral-times of the test rate.例文帳に追加

テストレート単位に試験パターンを発生することが求められるテスタチャンネルと、前記テストレートの所定整数倍単位の試験パターンを発生することが求められるテスタチャンネルとの両方の発生機能を実現するための回路規模を大幅に低減可能とするタイミング発生器を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A learning test region about one parameter of a disk is made length integral multiple of wobble beat period width caused in a reproduced wobble signal of wobble, test recording about one parameter value is performed for the learning test region, reproduction of test recording, reproduction evaluation, and preservation of a reproduction evaluation result are performed.例文帳に追加

ディスクの１つのパラメータに関する学習テスト領域をウォブルの再生ウォブル信号に生じるウォブルビート周期幅の整数倍の長さとし、学習テスト領域に対し１つのパラメータ値に関するテスト記録を行い、テスト記録の再生、再生評価、及び再生評価結果の保存を行う。 - 特許庁

A welding head to be used for bonding an antenna to an IC module in one sheet constituted of a plurality of smart card modules includes an integral test unit such as a reader/writer(R/W) unit.例文帳に追加

複数のスマートカードモジュールからなる１枚のシートのうちのＩＣモジュールにアンテナをボンディングするのに用いる溶接ヘッドは、たとえばリーダ／ライタ（Ｒ／Ｗ）ユニットなどの一体型テストユニットを含む。 - 特許庁

The integral formation of the reaction vessel and the burner and/or the reaction vessel and the exhaust hole makes it possible to produce a fine glass particle deposit showing extremely excellent screening test results.例文帳に追加

反応容器とバーナーを一体形成する、および／又は反応容器と排気口を一体形成することにより、ファイバ化した後のスクリーニング試験結果の極めて高いガラス微粒子堆積体を製造できる。 - 特許庁

The method and the apparatus for testing the NQR enable the test of the existence of a nucleus selected in the sample (especially a nucleus in an integral spin quantum number such as ^14N).例文帳に追加

本発明はまた、試料における選択された核（特に、^１４Ｎの如き整数スピン量子数の核）の存在についてテストするＮＱＲテストの方法および装置に関する。 - 特許庁

A test pattern utilized for acquiring an eccentricity correction value and an outside diameter correction value is formed to have a surplus region exceeding an integral multiple of the circumferential length of a roller.例文帳に追加

偏心補正値および外径補正値を取得するために利用されるテストパターンは、ローラの周長の整数倍を超える過剰領域を持って形成される。 - 特許庁

A charging voltage of a charging device 2 and a developing bias voltage of a developing bias power source 11 are so set that when a latent image potential value of a test latent image and a developing current integral value are detected, the difference (potential difference) between the latent image potential value and developing bias voltage is varied in steps.例文帳に追加

テスト潜像の潜像電位値と現像電流積分値を検出する際に、潜像電位値と現像バイアス電圧の差（電位差）を段階的に変化させるように、帯電装置２の帯電電圧と現像バイアス電源１１の現像バイアス電圧を設定する。 - 特許庁