interface degradationとは 意味・読み方・使い方

To provide an integrated circuit device which enables a high-speed interface circuit to be assembled therein, while preventing degradation in display quality, and to provide an electronic equipment including the device.例文帳に追加

表示品質の劣化を防止しながら高速インターフェース回路を組み込むことができる集積回路装置及びこれを含む電子機器を提供すること。 - 特許庁

To obtain a semiconductor storage device having a structure minimally suppressing the performance degradation of a phase-change memory or the like having a phase-change film and an interface film and a manufacturing method for the semiconductor storage device.例文帳に追加

相変化膜及び界面膜を有する相変化メモリ等の性能劣化を最小限に抑えた構造の半導体記憶装置及びその製造方法を得る。 - 特許庁

To transmit voice signals of a plurality of channels employing a voice compression technology efficiently without causing degradation in a primary group digital hierarchy interface (T1 interface) and to provide an on- demand transmission system in an ATM network adopting a specified signaling bit.例文帳に追加

一次群ディジタルハイアラーキインタフェース（Ｔ１インタフェース）において、音声圧縮技術を用いた複数チャネルの音声信号を、劣化なく効率良く伝送し、また、規定されるシグナリングビットによるＡＴＭ網におけるオンデマンド伝送方式を提供する。 - 特許庁

To materialize a device for constituting a forward error correction (FEC) frame, capable of supporting an optical interface comprising a plurality of lanes, and avoiding an unnecessary rate enhancement being a factor for degradation in transmission characteristics.例文帳に追加

複数のレーンからなる光インタフェースに対応可能で、伝送特性劣化の要因となる不要な速度上昇を回避したＦＥＣフレーム構成装置を実現することを目的とする。 - 特許庁

When the inspection light transmits through the measuring part 50a, the energy of the inspection light is reduced by the degree of degradation of oil to be inspected at the interface between the light guide member 50 and oil to be inspected.例文帳に追加

検査光が測定部５０ａを伝搬するとき、導光部材５０と被検査オイルとの界面で、被検査オイルの劣化の程度によって検査光のエネルギーが減少する。 - 特許庁

To suppress the degradation of durability which is caused by the occurrence of air bubbles at the interface between a hydrogen transmission metal layer and an electrolyte layer of a hydrogen transmission metal layer/electrolyte composite.例文帳に追加

水素透過性金属層・電解質複合体における水素透過性金属層と電解質層との界面での空泡発生に起因する耐久性の低下を抑制する。 - 特許庁

To suppress the degradation of the withstand voltage and reliability of a gate insulating film resulting from C (carbon) in a SiC substrate and an increase of a charge amount in the gate insulating film, and to suppress an increase of interface level density on an interface between the gate insulating film and the SiC substrate.例文帳に追加

ＳｉＣ基板中のＣ（炭素）に起因するゲート絶縁膜の絶縁耐圧や信頼性の低下、及びゲート絶縁膜中の電荷量の増大を抑制し、更に、ゲート絶縁膜／ＳｉＣ基板界面における界面準位密度の増大を抑制する。 - 特許庁

Nitrogen in the interface between the semiconductor substrate 201 and the gate insulation film 205 prevents diffusion of boron from source and drain part 208 to suppress abnormal diffusion of boron, and simultaneously, the halogen element in the gate insulation film 205 serves to prevent the degradation of the characteristic of the interface of a channel and gate insulation film.例文帳に追加

半導体基板２０１とゲート絶縁膜２０５界面の窒素が、ソース・ドレイン部２０８からのボロンの拡散を防いで、ボロンの異常拡散を抑制すると同時に、ゲート絶縁膜２０５中のハロゲン元素がチャネル・ゲート絶縁膜の界面特性の劣化を防ぐ。 - 特許庁