termination testとは 意味・読み方・使い方

The LAN device 100 reads the loopback test termination request information as well as test result information from the received communication protocol 302, dissolves the loop construction of a transmit/receive circuit part 101, and displays the test result on the LED unit 105.例文帳に追加

LAN装置１００は、受信した通信プロコトル３０２から折返し試験終了要求情報および試験結果情報を読み出し、送受信回路部１０１のループ構成を解除し、LED部１０５に試験結果の表示を行う。 - 特許庁

After finishing the transmission of the loopback test data, the main apparatus 200 adds test result information to the communication protocol 302 of a loopback test termination request for transmission to the LAN device 100.例文帳に追加

折返しデータの送信完了後、折返し試験終了要求の通信プロトコル３０２に試験結果情報を付加し、LAN装置１００へ送信する。 - 特許庁

A height position of a probe is controlled to position so that a lower end of the probe at the termination of discharging becomes a height corresponding to a height of a liquid surface at the termination of discharging in a cuvette, in discharging the test reagent or the specimen into the cuvette by the probe.例文帳に追加

プローブがキュベット内に試薬あるいは検体を吐出するにあたり、吐出終了時のプローブの下端がキュベット内の吐出終了時の液面高さに応じた高さとなるようにプローブの高さ位置を制御する。 - 特許庁

To provide a semiconductor component that can easily come into contact with a termination surface for a test signal from outside when a defect occurs.例文帳に追加

欠陥が発生した場合に、容易に外部からテスト信号のための接続面に接触することができる半導体コンポーネントを提供する。 - 特許庁

To suppress a supply voltage overshoot occurring at the same time as the termination of a function test for a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置の機能試験の際、機能試験終了と同時に生じる電源電圧をオーバーシュートを抑制する。 - 特許庁

To shorten the construction period of a low-temperature tank, and also to reduce costs required for an ammonia purge after the termination of an inner tub leak test in the low-temperature tank.例文帳に追加

低温タンクの工期短縮及び低温タンクの内槽リークテスト終了後のアンモニアパージに要するコスト削減を目的とする。 - 特許庁

The input termination control device of a semiconductor memory is constituted of an input termination for matching impedance when a signal is received at a transmission line, a test circuit receiving an input termination-off instruction and an off-release-instruction and outputting the input termination off-control signal, and first and second switch performing switching-on-off by the input termination on-off control signal of the test circuit.例文帳に追加

半導体メモリの入力ターミネーション制御装置において、伝送ラインに信号が受信されるときにインピーダンスをマッチングさせるための入力ターミネーションと、外部からテスト入力ピンを通して入力ターミネーションオフ命令及びオフ解除命令を受けて前記入力ターミネーションオン・オフ制御信号を出力するテスト回路と、前記テスト回路の入力ターミネーションオン・オフ制御信号によりスイッチングオン・オフする第１及び第２スイッチと、から構成される。 - 特許庁

Through the selected input/output port, an optical test signal termination trunk 121 then transmits a test signal, to which a port number of the input/output port is added, to an opposite-side node 10.例文帳に追加

そして、光試験信号終端トランク１２１はその選択した入出力ポート経由で、その入出力ポートのポート番号を付加した試験信号を相手方のノード１０へ送信する。 - 特許庁