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termination testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 37件
SUBSCRIBER LINE TERMINATION EQUIPMENT AND LOOPBACK TEST METHOD例文帳に追加
加入者線端局装置および折り返し試験方法 - 特許庁
To provide a termination circuit that can measure a DUT(Device Under Test) while coping with both connected/disconnected states of the termination resistors of the termination circuit depending on a test condition of the DUT.例文帳に追加
DUTのテスト条件に応じて、終端回路における終端抵抗の接続/不接続両方の状態に対応させ、DUTの測定を可能とすることである。 - 特許庁
The test monitoring device 20 sends out a test termination signal to the control parameter adjustment device 10 when a predetermined termination condition is met.例文帳に追加
テスト監視装置20は、予め定められた終了条件を満たす場合、制御パラメータ調整装置10にテスト終了信号を送出する。 - 特許庁
When the control parameter adjustment device 10 receives the test termination signal from the test monitoring device 20, the control parameter calculated upon receipt of the test termination signal is applied to a control device 6.例文帳に追加
制御パラメータ調整装置10は、テスト監視装置20からテスト終了信号を受信した場合、該テスト終了信号受信時に算出された制御パラメータを制御装置6に適用する。 - 特許庁
A test device 530 periodically observes a self-test termination signal BEND during the self-test execution and starts to apply the next code to the integrated circuit 500 immediately after observing the signal showing the termination.例文帳に追加
テスト装置530は,自己テスト実行中,自己テスト終了信号BENDを定期的に観測し,終了を示す信号を観測すれば直ちに次回のコードを半導体集積回路500へ印加し始める。 - 特許庁
The LAPD terminator is provided with: an LAPD termination unit 116; and a test frame conversion part 120.例文帳に追加
LAPD終端装置に、LAPD終端部116と、試験フレーム変換部120とを設ける。 - 特許庁
The test commands are treated as an invalid command in the game mode, and the game commands are treated as a forced termination command for the tests in the test mode.例文帳に追加
テストコマンドは、遊技モードにおいては無効コマンドとして扱われ、遊技コマンドは、テストモードにおいてはテストの強制終了コマンドとして扱われる。 - 特許庁
The Ethernet-HSD converter includes: an HSD line termination section; a speed conversion section; and an Ethernet frame termination section, and the HSD line termination section has: a means that detects LOOP 2 bits received at the loop test and capsulates a random pattern for the loop test to an Ethernet frame; and a means that uncapsulates the capsulated random pattern for the loop test from the Ethernet frame.例文帳に追加
HSD回線終端部と、速度変換部と、イーサネットフレーム終端部とを備え、HSD回線終端部は、ループ試験時に送信されるLOOP2ビットを検出し、ループ試験用のランダムパターンをイーサネットフレームにカプセリング化する手段と、当該カプセリング化されたループ試験用のランダムパターンをイーサネットフレームからアンカプセリング化する手段とを有する。 - 特許庁
The input termination control device of a semiconductor memory is constituted of an input termination for matching impedance when a signal is received at a transmission line, a test circuit receiving an input termination-off instruction and an off-release-instruction and outputting the input termination off-control signal, and first and second switch performing switching-on-off by the input termination on-off control signal of the test circuit.例文帳に追加
半導体メモリの入力ターミネーション制御装置において、伝送ラインに信号が受信されるときにインピーダンスをマッチングさせるための入力ターミネーションと、外部からテスト入力ピンを通して入力ターミネーションオフ命令及びオフ解除命令を受けて前記入力ターミネーションオン・オフ制御信号を出力するテスト回路と、前記テスト回路の入力ターミネーションオン・オフ制御信号によりスイッチングオン・オフする第1及び第2スイッチと、から構成される。 - 特許庁
The LAN device 100 reads the loopback test termination request information as well as test result information from the received communication protocol 302, dissolves the loop construction of a transmit/receive circuit part 101, and displays the test result on the LED unit 105.例文帳に追加
LAN装置100は、受信した通信プロコトル302から折返し試験終了要求情報および試験結果情報を読み出し、送受信回路部101のループ構成を解除し、LED部105に試験結果の表示を行う。 - 特許庁
To shorten the construction period of a low-temperature tank, and also to reduce costs required for an ammonia purge after the termination of an inner tub leak test in the low-temperature tank.例文帳に追加
低温タンクの工期短縮及び低温タンクの内槽リークテスト終了後のアンモニアパージに要するコスト削減を目的とする。 - 特許庁
To suppress a supply voltage overshoot occurring at the same time as the termination of a function test for a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加
半導体集積回路装置の機能試験の際、機能試験終了と同時に生じる電源電圧をオーバーシュートを抑制する。 - 特許庁
To provide a semiconductor component that can easily come into contact with a termination surface for a test signal from outside when a defect occurs.例文帳に追加
欠陥が発生した場合に、容易に外部からテスト信号のための接続面に接触することができる半導体コンポーネントを提供する。 - 特許庁
Through the selected input/output port, an optical test signal termination trunk 121 then transmits a test signal, to which a port number of the input/output port is added, to an opposite-side node 10.例文帳に追加
そして、光試験信号終端トランク121はその選択した入出力ポート経由で、その入出力ポートのポート番号を付加した試験信号を相手方のノード10へ送信する。 - 特許庁
To provide an input termination control device in which analysis for initial defects, functions, and reliability of a semiconductor memory at a test can be easily performed by controlling ON/OFF of an input termination of a semiconductor memory, and its method.例文帳に追加
半導体メモリの入力ターミネーションをオン・オフ制御して、テストの際に半導体メモリの初期不良、機能分析、信頼性分析を容易にすることができる入力ターミネーション制御装置及びその方法を提供すること。 - 特許庁
A height position of a probe is controlled to position so that a lower end of the probe at the termination of discharging becomes a height corresponding to a height of a liquid surface at the termination of discharging in a cuvette, in discharging the test reagent or the specimen into the cuvette by the probe.例文帳に追加
プローブがキュベット内に試薬あるいは検体を吐出するにあたり、吐出終了時のプローブの下端がキュベット内の吐出終了時の液面高さに応じた高さとなるようにプローブの高さ位置を制御する。 - 特許庁
The measured signals and obtained data can be analyzed on-line and also sent to a computer system for off-line analysis after termination of a test.例文帳に追加
測定された信号および得られたデータは、オンライン解析が可能であると共に、テスト終了後のオフライン解析のためにコンピュータシステムに送信可能である。 - 特許庁
To provide a helium gas bombing apparatus which allows an accurate helium leak test by reducing the time elapsed from the bombing termination time to the helium leak test starting time and can reduce costs without using a large number of tanks.例文帳に追加
ボンビング終了時からヘリウムリークテスト開始時点までの経過時間を短くすることにより正確なヘリウムリークテストを可能にし、しかも、多数のタンクを用いずにコストを低減できるヘリウムボンビング装置を提供する。 - 特許庁
This plastic artificial light-weight aggregate has a coating on at least a part of plastic crushed materials with hardened product of a hydraulic inorganic composition having 5 min to 2 hours of termination time in the coagulation test.例文帳に追加
プラスチック粉砕物の表面の少なくとも一部に、凝結試験における終結時間が5分〜2時間の水硬性無機質組成物の硬化物が被覆されている。 - 特許庁
The test packet is looped back at the electric physical layer termination section 510 of the optical conversion repeater 50 and looped back to the optical conversion bridge 40 via the optical fiber transmission line 20.例文帳に追加
試験パケットは光変換リピータの電気物理層終端部510において折り返されて光ファイバ伝送路20を介して光変換ブリッジ40にループバックされる。 - 特許庁
To provide a testing device and method in which termination processing can be carried out efficiently in safety upon occurrence of abnormality in a test object, i.e. a power converter.例文帳に追加
試験対象である電力変換器の異常発生時に、効率的かつ安全な異常検出時終了処理が可能な試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁
By establishing a test call through the network by way of a dial-back loop 8 to a test telephone number 11, establishing a second call through the network to the required telephone 6 and simulating pre-termination conditions at network termination 14, actual signaling tones at the network edge are monitored by corresponding apparatus 16 to that present at customer premises 3.例文帳に追加
ダイヤルバックループ8によりネットワークを通って試験呼を試験電話番号11へ設定し、ネットワークを通って第2の呼を必要な電話6へ設定し、ネットワーク終端部14で事前終端状況をシミュレートすることによって、ネットワークエッジの実際のシグナリングトーンは顧客構内3に存在する装置に対応する装置16により監視される。 - 特許庁
On the optical fiber causing change in the reflectivity, before or after the second measurement, if R1/R2=14 dB based on the first measurement, it is discriminated as the termination by the test light-shielding filter 6; and if R1/R2=0 dB it is determined as termination by an open point 5.例文帳に追加
2回の測定の前後で反射率に変化を生じた光ファイバにつき、1回目の測定値に基づきR1/R2=14dBであれば試験光遮断フィルタ6による終端と判定し、R1/R2=0dBであれば開放点5による終端と判定する。 - 特許庁
When the data group D does not satisfy the approximation termination condition, split test subroutine Split-Data (D, D_1, and D_2) is performed to the data group D to divide the data group D to D_1 and D_2.例文帳に追加
データ集合Dが近似終了条件を満たさないときは、データ集合Dに対して分割テストサブルーチンSplit-Data(D,D_1,D_2)を行い、データ集合DをD_1とD_2に分割する。 - 特許庁
The electronic apparatus 100 brings a configuration device 2 to write configuration data (logic circuit information) which are stored in a memory device 1, into the programmable device, and a programmable region of the programmable device is equipped with a first test circuit 5 for carrying out a test in order to determine the termination of the configuration, and circuit information of the first test circuit 5 is contained in the configuration data.例文帳に追加
電子機器100は、記憶デバイス1に記憶されたコンフィギュレーションデータ(論理回路情報)をコンフィギュレーションデバイス2によりプログラマブルデバイスに書き込み、プログラマブルデバイスのプログラマブル領域に、コンフィギュレーションの終了を判断するためのテストを行う第1のテスト回路5を備え、コンフィギュレーションデータには、第1のテスト回路5の回路情報が含まれている。 - 特許庁
A program has a means for randomly executing a test execution process and a means for managing the control and termination of the process, and has a mechanism for automatically conducting these means, in the system verification of the logical circuit.例文帳に追加
論理回路のシステム検証において、テスト実行プロセスをランダム実行させる手段と、プロセスの実行、終了を管理する手段とを有し、それらの手段を自動的に行う仕組みを有するプログラム。 - 特許庁
To provide an inter-LAN connection system that can effectively carry out a loopback test from a communication company to a termination point of a subscriber in the case of connecting a user LAN to a broadband LAN of the communication enterprise via an optical fiber transmission line.例文帳に追加
ユーザLANを通信事業者の広域LANに光ファイバ伝送路を介して接続する際に、通信事業者側から宅内の終端点までのループバック試験を有効に実施する。 - 特許庁
A test control circuit 4 has; a detector 12 which detects termination of a memory test which a BIST circuit 2A performs and outputs a reset signal; and a BIST circuit controller 13 which makes the BIST circuit 2A operate repeatedly based on the reset signal.例文帳に追加
本発明にかかるテスト制御回路4は、BIST回路2Aが実行するメモリテストの終了を検出し、リセット信号を出力する検出器12と、リセット信号に基づきBIST回路2Aを繰り返し動作させるBIST回路コントローラ13とを有することを特徴とするものである。 - 特許庁
The semiconductor chip 2 is surrounded by an electrically insulating encapsulating material 3 and has on its surface 6 at least one termination surface for a test signal, which is covered by the encapsulating material 3.例文帳に追加
半導体チップ2は、電気的に絶縁するカプセル材料3によって包囲されており、かつその表面6に、カプセル材料3によって覆われる、テスト信号のための少なくとも1つの接続面を有している。 - 特許庁
An exemplary apparatus comprises: an exponential waveform generator; an input recorder coupled to output of the exponential waveform generator; a transmission line under test coupled to the output of the exponential waveform generator; an output recorder coupled to the transmission line under test; an additional transmission line coupled to the transmission line under test; and a termination impedance coupled to the additional transmission line and to ground.例文帳に追加
例示的な機器は、指数波形発生器と、指数波形発生器の出力に結合する入力記録器と、指数波形発生器の出力に結合するテスト対象の伝送路と、テスト対象の伝送路に結合する出力記録器と、テスト対象の伝送路に結合する別の伝送路と、別の伝送路と接地とに結合する終端インピーダンスとを備える。 - 特許庁
A semiconductor storage device is equipped with the RAM (random access memory) (10), the ODT (on die termination) circuit (30), and a JTAG (joint test action group) circuit (20).例文帳に追加
本発明の半導体記憶装置は、RAM(Random Access Memory)(10)と、ODT(On Die Termination)回路(30)と、JTAG(Joint Test Action Group)回路(20)と、を具備している。 - 特許庁
The test frame conversion part revises the transmission frame data received from the communication channel to convert the transmission frame data into frame data received by either of the first and second communication terminals in the case of carrying out the LAPD test and thereafter outputs the received frame data to either of the first and second communication terminals via the LAPD termination unit.例文帳に追加
試験フレーム変換部は、LAPD試験のとき、通信回線から入力される送信フレームデータを改編することによって、第1及び第2通信端末のいずれかの端末の受信フレームデータに変換し、しかる後LAPD終端部を介して、第1及び第2通信端末のいずれかに受信フレームデータを出力する。 - 特許庁
A control circuit of the semiconductor integrated circuit 100 turns on first and second switch circuits in a test operation mode for measuring the resistance of the termination resistor, and turns off the first and second switch circuits in a normal operation mode for implementing a normal operation.例文帳に追加
半導体集積回路100の制御回路は、終端抵抗の抵抗値を測定するテスト動作モード時は、第1のスイッチ回路および第2のスイッチ回路をオンし、通常動作する通常動作モード時は、第1のスイッチ回路および第2のスイッチ回路をオフする。 - 特許庁
The termination of the resistive center conductor signal cable 206 in the signal processing instrument is provided to the signal acquisition system, where the capacitive load of a device under test at higher frequencies is reduced by reducing the input capacitance of the probe tip circuit resulting in an increase in signal acquisition frequency bandwidth.例文帳に追加
信号処理装置内における抵抗性中心導体信号ケーブル206の終端が信号取込みシステムに提供されるが、これによれば、プローブ・チップ回路の入力キャパシタンスを減少させることで、信号取込み周波数の帯域幅が増加する結果となり、これよって、高周波数における被測定デバイスへのキャパシタンスの負荷が低減される。 - 特許庁
After the experimental test of Fuchi, in the summer of 1945 just before the end of the war, some young military officers visited Tenmei to tell about the former Prime Minister 'Fumimaro KONOE' who had formed his government three times and been maneuvering for termination of war with his latent power, which was the exact opposite of the military's intention. 例文帳に追加
この扶乩実験の後、終戦直前の昭和20年の夏のある日に軍関係者(青年将校達数名)が天明のもとを訪れたのは、それまでに都合3度の内閣を組閣しその後も隠然とした力と、軍部の考えとは正反対に独自の終戦工作を画策していたらしい元内閣総理大臣経験者である「近衛文麿」に関してであった。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
to acts performed by non-authorized third parties, regarding patented inventions, which aim exclusively the production of information, data and test results directed to procure commerce registration, in Brazil or any other country, to allow the exploitation and commercialization of the patented product, after the termination of the terms provided in article 10. 例文帳に追加
許可を得ていない第三者が特許発明に関してする行為であって,第 40条(訳注:原文の第10条は誤まりと思われる。)に規定した存続期間の終了後における特許製品の利用及び商業化を可能にするために,ブラジル又は外国において商業登記をするための情報,資料及び試験結果を提供することのみをその目的としているもの - 特許庁
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