test approachとは 意味・読み方・使い方

Basic approach applied in assessing inventive step e.g. test for non-obviousness, avoidance of ex post facto reasoning, and considering what the skilled man would have done starting from a given problem発音を聞く 例文帳に追加

進歩性の判断に適用される基本的手法　例) 非自明性のテスト、事後的分析の排除、当業者が所与の課題から出発してどのように行動したか（would have done）の検討 - 特許庁

A pair of test piece holders 3 and 4 is arranged on linear guides 5 and 6 so they can mutually approach and separate on one straight line.例文帳に追加

一直線上で互いに接近したり離れたりすることが可能なように一対の試験体保持具３と４がリニアガイド５と６の上に配置されている。 - 特許庁

A right indent 13 and a left indent 14 are mounted inside the other end of the arms to contact the test piece 10 and a spring 17 is provided in the middle of each arm to urge a force in the direction of making right and left arms approach each other.例文帳に追加

アームの他端の内側には試験片１０に接触させるための右圧子１３と左圧子１４が取り付けられており、またアームの中程には左右のアームが互いに近づく方向の力を付勢するバネ１７が設けられている。 - 特許庁

To provide a new approach, by providing a specific basestock mixture in order to meet "ring-sticking" test requirements and the like.例文帳に追加

“リング粘着”試験要件等の要件を満足させるための、従来とは異なる、特定のベースストック混合物を提供することによるアプローチを提供すること。 - 特許庁

The cleaning device includes the front end which can contact the electrode by relative movement in the vertical direction where the probe device body and the test object approach each other and separate from each other at a lower part and a front part from the needle tip.例文帳に追加

前記清掃装置は、前記プローブ装置本体と前記被検査体とが相寄り相離れる上下方向への相対移動により前記電極に接触可能の前端部を前記針先より下方及び前方に備える。 - 特許庁

To provide test data for imparting contrast equal to or exceeding conventional approach and assisting the high reliable diagnosis of a medical state and a disease due to a medical anatomical image while using an aeration parameter lowered so as to be matched with imaging work if possible.例文帳に追加

従来のアプローチと同等か又はこれを上回るコントラストを与え、しかも可能ならば撮像作業に整合するように低下させた曝射パラメータを用いつつ、医用解剖学的画像による医学的状態及び疾患の信頼性の高い診断を支援する試験データを提供する。 - 特許庁

A right contact 13 and left contact 14 with a plurality of contact surfaces to the test piece 10 are mounted to the other ends of the arms, and a spring 17 for providing a force which biases the right and left arms in a direction of approach of each other is provided at the midpoints of the arms.例文帳に追加

アームの他端には試験片１０に対する複数の接触面を持った右接触子１３と左接触子１４が取り付けられており、またアームの中程には左右のアームが互いに近づく方向の力を付勢するバネ１７が設けられている。 - 特許庁

A discharge pulse generator 32 is disposed on a test board 31 such that it can approach a position corresponding to the central part of a probe card 33 freely or can recede therefrom freely thus correcting the transmission path length of a discharge pulse generated from the discharge pulse generator 32.例文帳に追加

テストボード３１上に放電パルス発生器３２をプローブカード３３の中心部と対応する位置に対して近接および離間自在に配し、放電パルス発生器３２による放電パルスの伝送経路の長さを補正する。 - 特許庁