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thermal image analysisとは 意味・読み方・使い方
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「thermal image analysis」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 12件
The thermal printer is equipped with an image analysis section 16 for analyzing an image pattern printed on the sheet from print information provided to the thermal head 2, and a ribbon control mechanism 7.例文帳に追加
サーマルヘッド２に与えられる印刷情報から用紙に印刷される画像パターンを解析する画像解析部１６と、リボン制御機構７とを具備する。 - 特許庁
DATA IMAGE RECORDER, THERMAL ANALYSIS APPARATUS, DATA IMAGE RECORDING METHOD, NORMALIZATION METHOD OF IMAGE DATA, CALCULATION METHOD OF THERMOPHYSICAL PROPERTY AND DISPLAY METHOD OF RECORDED IMAGE例文帳に追加
データ画像記録装置、熱分析装置、データ画像記録方法、画像データの正規化方法、熱物性量の算出方法および記録画像の表示方法 - 特許庁
To provide specific absorption rate measurement and energy-delivery device characterization using a thermal phantom and an image analysis.例文帳に追加
熱ファントムおよび画像解析を使用する比吸収率測定およびエネルギー送達デバイス特徴付けを提供すること。 - 特許庁
A thermal image quality integration test verification is performed, and optimum driving, control output parameter analysis and measurement are adjusted.例文帳に追加
熱影像品質統合テスト検証を行い、最適駆動と制御出力パラメーター分析と測定を調整する。 - 特許庁
The thermal image captured by the thermography device 11 is subjected to image analysis to determine the displacement of the individual measuring object fuel rods on the basis of the relative position of light receiving sections of the individual measuring object fuel rods.例文帳に追加
サーモグラフィー装置１１で捉えた熱画像を画像分析し、各々の被測定燃料棒の受光部分の相対位置から被測定燃料棒の変位を測定する。 - 特許庁
A thermal analysis device 640 of this thermal analysis system 600 emits light from a light source 610 to a dielectric layer 330 on a front board 300 baked by the baking device after glass paste is applied thereto in a laminar form, and acquires an actual image where the state of its reflected light is expressed as a reflected light image.例文帳に追加
熱解析システム６００の熱解析装置６４０は、ガラスペーストが層状に塗着された後に焼成装置にて焼成された前面基板３００上の誘電体層３３０に対して、光源６１０から光を照射して、その反射光の状態が反射光像として表現された実画像を取得する。 - 特許庁
The system further includes a radiation capturing component operable to capture a thermal image of incident radiation in the screening area, the radiation capturing component further operable to determine an analysis area in the captured image based on the first coordinates in the captured light image.例文帳に追加
このシステムは、検査領域における入射放射線の熱画像を撮影する放射線画像撮影コンポーネントを更に含み、該放射線画像撮影コンポーネントは、前撮影された光画像中の前記第１の座標に基づいて、撮影された熱画像中の分析領域を判定する働きをする。 - 特許庁
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「thermal image analysis」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 12件
A tire position detecting unit 323 measures the position in the left-right direction of a driving wheel on the roller 23 from the photographed image of a tire camera 4, and a roller diameter calculation unit 324 calculates the radius of the roller 23 at the measured position of the driving wheel based on the current shape of the roller 23, obtained by the analysis result of the thermal deformation analysis device 322.例文帳に追加
タイヤ位置検出部３２３は、タイヤカメラ４の撮影画像より、ローラ２３上の駆動輪の左右方向位置を測定し、ローラ径算出部３２４は、熱変形解析装置３２２の解析結果より求まるローラ２３の現在の形状に基づいて、測定した駆動輪位置におけるローラ２３の半径を算出する。 - 特許庁
Thus, when the fixing section has thermal distribution applied even if the fixing section does not repeat operation in reality, a person who verifies can verify, through the analysis of a print output from the image forming apparatus, whether the image forming process can be properly performed or not.例文帳に追加
検証者は、画像形成装置から出力された印刷物を解析することにより、実際に定着部が繰り返し動作しなくても、定着部が繰り返し動作した後の熱分布になったときに画像形成処理が正常に行われるかを検証することができる。 - 特許庁
Then, the existence of the RFID tag 3 mounted on the object (13) is recognized based on the status of communication to be performed between the RFID tag 3 and the antenna 2 and image analysis based on the infrared energy by using the RFID tag 3 as a thermal source.例文帳に追加
そして、対象物（１３）に取り付けられたＲＦＩＤタグ３の存在を、前記ＲＦＩＤタグ３とアンテナ２の間に行われる通信の状態と、前記ＲＦＩＤタグ３を熱源とした赤外線エネルギーに基づく画像解析とに基づいて認識する。 - 特許庁
Fractal analysis based on N(R)×RD=C (1) (where N(R) is the number of cubes required for covering, R is a length of one side of the cube, D is a fractal dimension, and C is a constant (volume of an object solid)) is performed in accordance with the data image of thermal distribution to obtain a fractal dimension.例文帳に追加
熱分布のデータ画像から、Ｎ（Ｒ）・ＲＤ＝Ｃ…（１）（但し、式中、Ｎ（Ｒ）は被覆に必要な立方体の数、Ｒは立方体の一辺の長さ、Ｄはフラクタル次元、及びＣは定数（対象立体の体積）を表す）に基づいてフラクタル解析を行い、フラクタル次元を求める。 - 特許庁
To provide a stem for semiconductor devices and a manufacturing method of the stem wherein no grain lump is generated in its heat sink in spite of adopting the heat sink made of a copper material having a high thermal conductivity, and the flatness of the mounting surface of the heat sink can be inspected easily by an image analysis.例文帳に追加
熱伝導率の高い銅材から成るヒートシンクを採用しながら、ヒートシンクに結晶粒塊を生じさせることなく、画像解析により容易に前記搭載面の平面度を検査することができる半導体装置用ステムおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁
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