upper testerとは 意味・読み方・使い方

In the leak tester, a support rod 22 is inserted in the center part of the upper wall of a chamber 1 with the longitudinal direction set vertically, and the support rod 22 is supported on the upper wall of the chamber vertically movably and fixably.例文帳に追加

チャンバ１の上壁の中央部には、支持棒２２がその長手方向を垂直にして挿通しており、支持棒２２は上下動可能にかつ固定可能に、チャンバ上壁に支持されている。 - 特許庁

A tester processor 10 expands a test range by the portion of the resolution of a measurement, and it sets a pass value and a fail value which correspond respectively to its upper limit and its lower limit.例文帳に追加

テスタプロセッサ１０は、試験範囲を測定の分解能分広げた後に、その上限と下限のそれぞれに対応したパス値とフェイル値をセットする。 - 特許庁

In a tensile tester 1, a tubular body 2 is enclosed, at the opposite ends thereof, with upper and lower plates 3, 4 supported by an inner core 5 and an outer spacer 6.例文帳に追加

リング引張り試験装置(1) では円筒体(2) の両端が上下プレート(3,4) により密閉され、同プレート(3,4) はインナーコア(5) 及びアウタースペーサ(6) により支持されている。 - 特許庁

Whereby the wire can be exposed to perform the failure analysis by the electronic beam tester, even when the object wire is covered with the upper wire.例文帳に追加

対象となる配線が上層配線により覆われている場合でも、当該配線を露出し、電子ビームテスタによる故障解析が実現可能になる。 - 特許庁

An accuracy diagnosing step S30 is carried out, wherein an IC tester having a plurality of pins is diagnosed whether the IC tester has its specification accuracy, based on whether each pin outputs an output value belonging to a specification band ranging from a specification lower-limit value to a specification upper-limit value.例文帳に追加

複数のピンを有するＩＣテスタの個々のピンが、規格下限値から規格上限値までの規格幅に属する出力値を出力するか否かによって、ＩＣテスタがその規格精度を有するか否かを診断する精度診断ステップＳ３０を行う。 - 特許庁

To realize the verification of the propagation of a failure signal of a lower wire covered with a wire at its upper layer, in failure analysis of a semiconductor integrated circuit using an electronic beam tester.例文帳に追加

電子ビームテスタを用いた半導体集積回路の故障解析において、上層を配線に覆われた下層配線の故障信号伝播の検証を実現する。 - 特許庁

A plug hole 17 of a tester pin 18 for connecting the sensor circuit to a monitor 29 is formed vertically from an upper surface of the sensor main body 41 and inside the outer cover 43.例文帳に追加

センサ回路をモニタ２９に接続するためのテスタピン１８の差込み孔１７が、外カバー４３の内方で、センサ本体４１の上面から上下方向に沿って形成されている。 - 特許庁

The material tester is equipped with a support 10, a pair of upper and lower clamp arms 12 and 14, a guide rod 15, the holders 16 and 18 provided on the respective clamp arms 12 and 14 and a cam rod 20.例文帳に追加

試験機は、支持体１０と、一対の上，下クランプアーム１２，１４と、ガイドロッド１５と、各クランプアーム１２，１４に設けられた挟持具１６，１８と、カムロッド２０とを備えている。 - 特許庁