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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > "SI FILM"に関連した英語例文

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"SI FILM"を含む例文一覧と使い方

該当件数 : 294



例文

METHOD OF FORMING POLYCRYSTALLINE Si FILM例文帳に追加

多結晶Si膜の形成方法 - 特許庁

ETCHING METHOD OF Si FILM例文帳に追加

Si膜のエッチング方法 - 特許庁

In an inspection process of crystallinity of a p-Si film 23, irradiation light Lout is emitted to the p-Si film 23 and an a-Si film 230 to acquire transmission images of the p-Si film 23 and the a-Si film 230.例文帳に追加

p−Si膜23の結晶化度の検査処理の際に、p−Si膜23およびa−Si膜230へ向けて照射光Loutを照射し、p−Si膜23およびa−Si膜230の透過画像を取得する。 - 特許庁

The surface of the multi-crystal Si film 6 is exposed by washing treatment, and then an amorphous Si film 7 is formed on the multi-crystal Si film 6.例文帳に追加

洗浄処理により多結晶Si膜6の表面が露出した状態にした後、多結晶Si膜6上に非晶質Si膜7を形成する。 - 特許庁

例文

For example, a-Si film 13 and n^+-type a-Si film 15 accomplish the bank.例文帳に追加

例えば、a−Si膜13とn+型a−Si膜15とがバンクを成している。 - 特許庁


例文

An a-Si film 12 is heat treated to form an a-Si film 12a in which nuclei are generated.例文帳に追加

a−Si膜12に加熱処理を行って、結晶核が発生したa−Si膜12aを形成する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING CRYSTALLIZATION Si FILM例文帳に追加

結晶化Si膜の評価方法及びその装置 - 特許庁

A TFT element 1 comprises: a P doped n^+a-Si film 6 formed on an a-Si film 5; and an Si film 7 of less than 1 nm formed on the P doped n^+a-Si film 6.例文帳に追加

TFT素子1は、a−Si膜5上に形成されたPドープn^+a−Si膜6と、Pドープn^+a−Si膜6上に形成された1nm以下のSi酸化膜7を有している。 - 特許庁

Al-Si FILM, AND METHOD FOR DEPOSITING THE SAME例文帳に追加

Al−Si膜およびその形成方法 - 特許庁

例文

To enhance uniformity in the film quality of a laser crystalline poly-Si film and a laser activation doped poly-Si film.例文帳に追加

レーザー結晶化poly−Si膜およびレーザー活性化ドープpoly−Si膜の膜質の均一性向上をはかる。 - 特許庁

例文

To prevent an Si film from separating off and cracking from occurring in a nitride semiconductor when the nitride semiconductor is grown in crystal on the Si film.例文帳に追加

Si上に窒化物半導体を結晶成長する際に、Siのはがれをなくすとともに、窒化物半導体中のクラックの発生を抑制する。 - 特許庁

Then, the a-Si film 102a is crystallized into a p-Si film 102b by nickel, which promotes its crystallization through subjecting it to thermal treatment.例文帳に追加

次に、加熱処理することによって、a−Si膜102aを結晶化を助長するニッケルにより結晶化させてp−Si膜102bを形成する。 - 特許庁

An a-Si film 12 is formed all over a quartz substrate 11 and a protection film 13 is formed in a region which becomes a display part on the a-Si film 12.例文帳に追加

石英基板11全面にa−Si膜12を形成し、そのa−Si膜膜12上の表示部となる領域に保護膜13を形成する。 - 特許庁

To enhance power generation efficiency by facilitating to increase optical intensity on the interface of a p-type Si film and an n-type Si film.例文帳に追加

本発明は、該p型Si膜とn型Si膜との界面の光強度を上げやすくして発電効率を高めることを課題とする。 - 特許庁

After that, a TFT and capacity are created on the Poly-Si film with superior uniformity and the Poly-Si film with large surface area, respectively.例文帳に追加

その後、均一性の良いPoly−Si膜上にTFTを、表面積の大きなPoly−Si膜上に容量をそれぞれ作製する。 - 特許庁

After wet etching the metal film 106, n^+a-Si film 105 and an a-Si film 104 are dry etched.例文帳に追加

金属膜106をウエットエッチングした後、n^+a−Si膜105、a−Si膜104をドライエッチングする。 - 特許庁

Consequently, a transmission image (transmission image data D1) of the p-Si film 23 and a-Si film 230 is obtained.例文帳に追加

これにより、p−Si膜23およびa−Si膜230の透過画像(透過画像データD1)を取得する。 - 特許庁

Consequently, an interference fringe image (interference fringe image data D1) of the p-Si film 23 and a-Si film 230 is obtained.例文帳に追加

これにより、p−Si膜23およびa−Si膜230の干渉縞画像(干渉縞画像データD1)を取得する。 - 特許庁

A linearly polarized beam light 13 is applied to an amorphous Si film 11 for laser annealing to form a polycrystal Si film 12.例文帳に追加

非晶質Si膜11に直線偏光のビーム光13を照射してレーザアニールをすることにより、多結晶Si膜12を形成する。 - 特許庁

Contamination and the surface oxidation of the a-Si film 13a are prevented, and the characteristics of the TFT using a p-Si film obtained by crystalizing the film are stabilized.例文帳に追加

a−Si膜13aの汚染や表面酸化が防止され、これを結晶化して得られたp−Si膜を用いたTFTの特性が安定化する。 - 特許庁

Thereafter, dehydrogenation annealing of the a-Si film 13a is performed by RTA.例文帳に追加

その後、RTAによりa−Si膜13aの脱水素アニールを行う。 - 特許庁

SPUTTERING TARGET FOR FORMING THIN Ge-Si FILM OF SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加

半導体素子のGe−Si系薄膜形成用スパッタリングターゲット - 特許庁

Namely, an a-Si film is immediately formed on the crystallite film.例文帳に追加

すなわち、微結晶膜上に直ちにa−Si膜が形成される。 - 特許庁

The method of crystallizing the amorphous Si film 22 includes doping the amorphous Si film 22 formed on a substrate 20 with predetermined metal ions, and annealing the amorphous Si film 22 doped with the metal ions, to crystallize the amorphous Si film 22.例文帳に追加

基板20上に形成された非晶質シリコン層22に所定の金属イオンをドーピングする段階と、金属イオンがドーピングされた非晶質シリコン層22をアニーリングして非晶質シリコン層22を結晶化する段階と、を有する非晶質シリコン層22の結晶化方法である。 - 特許庁

To obtain a high-quality poly-Si film at a low process temperature.例文帳に追加

低いプロセス温度で高品質のpoly−Si膜を得る。 - 特許庁

The thickness of the seed Si film 8 is ≥0.1 nm and not more than 5 nm.例文帳に追加

シードSi膜8の膜厚は、0.1nm以上5nm未満である。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR REFINING Si AND APPARATUS FOR PRODUCING REFINED Si FILM例文帳に追加

Si精製方法、Si精製装置及びSi精製膜製造装置 - 特許庁

To form a high-quality Poly-Si film containing a trace of impurities.例文帳に追加

極めて不純物の少ない高品質なPoly−Si膜を形成する。 - 特許庁

Finally, an a-Si film 104 containing Ni and P is removed.例文帳に追加

最後に、Ni,Pを含有するa−Si膜104を除去する。 - 特許庁

In inspection processing on the crystallinity of a p-Si film 23, an LED 12 irradiates the p-Si film 23 and an a-Si film 230 with irradiation light Lout.例文帳に追加

p−Si膜23の結晶化度の検査処理の際に、p−Si膜23およびa−Si膜230へ向けて、LED12によって照射光Loutを照射する。 - 特許庁

In an inspection step for the crystallinity of a p-Si film 23, the p-Si film 23 and an a-Si film 230 are each irradiated with irradiation light Lout by an LED 12.例文帳に追加

p−Si膜23の結晶化度の検査処理の際に、p−Si膜23およびa−Si膜230へ向けて、LED12によって照射光Loutをそれぞれ照射する。 - 特許庁

Subsequently, a second (third layer) poly-Si film 33 is formed on the oxide film on the first poly-Si film and the second poly-Si film is subjected to anisotropic etching using a resist opened at the light receiving part before an electrode DV3 is formed.例文帳に追加

次に第1多結晶Si膜上の酸化膜上に第2(3層目)の多結晶Si膜33を形成後、受光部を開口したレジストを用い第2の多結晶Si膜を異方性エッチングし、電極DV3を形成する。 - 特許庁

A Si film 3 is formed on a substrate 4 of a magnetic head by a spatter method, and mixing for the Si film 3 is prevented by film-forming a lower layer ta-C film 2 on the Si film 3 by a FCVA method with a bias voltage OV.例文帳に追加

磁気ヘッドの基板4上にスパッタ法によりSi膜3を形成し、前記Si膜3上にバイアス電圧0VでのFCVA法により下層ta−C膜2を成膜することでSi膜3とのミキシングを防止する。 - 特許庁

The method of doping the SiC includes a step of forming an Si film containing a dopant on at least part of the surface of the SiC, and a step of subjecting the SiC and the Si film to heat treatment in a state where the Si film is formed on the SiC.例文帳に追加

ドーパントを含むSi膜をSiCの表面の少なくとも一部に形成する工程と、Si膜をSiCに形成した状態でSiCおよびSi膜を熱処理する工程と、を含む、SiCへのドーピング方法とその方法を用いたSiC半導体装置の製造方法である。 - 特許庁

After catalyst metal is selectively introduced all over a region which becomes a peripheral driving circuit on the a-Si film 12, the a-Si film 12 is heated, crystal growth is carried out, and a CG silicon film 14 and a-p-Si film 15 are formed.例文帳に追加

次に、上記a−Si膜12上の周辺駆動回路となる領域全面に触媒金属を選択的に導入した後、a−Si膜12を加熱することにより結晶成長させてCGシリコン膜14およびp−Si膜15を形成する。 - 特許庁

An a-Si film 14 containing P is then formed directly on the entire surface of the CGS film 13 and Ni element is gettered from the CGS film 13 to the a-Si film 14 by heat treating the CGS film 13 and the a-Si film 14.例文帳に追加

CGS膜13上の全面に、Pを含有したa−Si膜14を直接形成して、CGS膜13,a−Si膜14に加熱処理を施すことにより、CGS膜13からa−Si膜14にNi元素をゲッタリングする。 - 特許庁

In the inspection processing of a p-Si film 23, an LED 12 irradiates the p-Si film 23 with an irradiating light Lout from a rear side of a movable stage 11, on which a transparent substrate 20 (Si thin-film substrate 2) formed with the p-Si film 23 is mounted.例文帳に追加

p−Si膜23の検査処理の際に、p−Si膜23が形成された透明基板20(Si薄膜基板2)を搭載する可動ステージ11の裏側から、p−Si膜23へ向けてLED12によって、照射光Loutを照射する。 - 特許庁

P is ion-implanted into the amorphous Si film 7 of an n channel MOS transistor part, and B is ion-implanted into the amorphous Si film 7 of a p channel MOS transistor part, and then heat treatment is carried out so that the amorphous Si film 7 can be crystallized, and impurity can be activated.例文帳に追加

nチャネルMOSトランジスタ部の非晶質Si膜7にPをイオン注入し、pチャネルMOSトランジスタ部の非晶質Si膜7にBをイオン注入した後、熱処理を行うことにより、非晶質Si膜7を結晶化させるとともに、不純物の活性化を行う。 - 特許庁

An a-Si film 3 is formed on a glass substrate 1 and nickel 5 which are used as catalyst elements are introduced in the film 3.例文帳に追加

ガラス基板1上にa‐Si膜3を成膜し、触媒元素としてのニッケル5を導入する。 - 特許庁

The amorphous film (a-Si film) 3 is formed through a sputtering method using Ar gas.例文帳に追加

非晶質膜(a−Si膜)3は、Arガスを用いたスパッタ法にて形成する。 - 特許庁

A polycrystalline Si film 8a and a silicide film 14a are formed on the layer 13.例文帳に追加

n型拡散層13の上に、多結晶Si膜8aおよびシリサイド膜14aを形成する。 - 特許庁

Then, a chemical oxide film is produced on the surface of the a-Si film by a hydrogen-peroxide processing.例文帳に追加

次に、過酸化水素処理によりa−Si膜の表面にケミカル酸化膜を生成させる。 - 特許庁

To obtain a high-quality poly-Si film and MOS interface at a low processing temperature.例文帳に追加

低いプロセス温度で高品質のpoly−Si膜およびMOS界面を得る。 - 特許庁

On the basis of the determined transmission contrast, screening of the p-Si film 23 is performed.例文帳に追加

そして求めた透過コントラストに基づいて、p−Si膜23に対する選別を行う。 - 特許庁

To form a strain Si film on a semiconductor substrate with high producibility efficiency and at a low cost.例文帳に追加

半導体基板上に歪Si膜を生産効率よく低コストで形成すること。 - 特許庁

A gate insulting film 5 and a multi-crystal Si film 6 are successively formed on an Si substrate 1.例文帳に追加

Si基板1上にゲート絶縁膜5および多結晶Si膜6を順次形成する。 - 特許庁

A Si film 51 is formed on a 42-alloy cavity plate 10 with a sputtering method or the like.例文帳に追加

42合金製のキャビティプレート10に、スパッタ法等を用いてSi膜51を形成する。 - 特許庁

A polycrystalline Si film 3 and an SiO2 2 are removed to form a groove element isolation region 9.例文帳に追加

多結晶Si膜3およびSiO_2 膜2を除去し、溝素子分離領域9を形成する。 - 特許庁

Based on the obtained transmission contrast, selection to the p-Si film 23 is performed.例文帳に追加

そして、求めた透過コントラストに基づいて、p−Si膜23に対する選別を行う。 - 特許庁

例文

A Si film 20 is vapor-deposited on the entire surface, sand a SiN film 21 is formed, and Si is diffused by heat treatment to constrict a current.例文帳に追加

Si膜20を全面に蒸着し、SiN膜21を形成し、熱処理でSiを拡散させ電流を狭窄する。 - 特許庁

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