「dut」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor testing device reducing a management load of a DUT board.例文帳に追加

DUTボードの管理負担を軽減する半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

SIMULTANEOUS TEST FOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, USING INTER-DUT COMPARISON AND INTRA-DUT COMARISON例文帳に追加

ＤＵＴ間及びＤＵＴ内比較を用いる、集積回路デバイスの同時テスト - 特許庁

To provide a system and a method for compressing effectively a test data for testing a device to be tested (DUT).例文帳に追加

試験対象デバイス(DUT)をテストするためのテストデータをより効果的に圧縮する。 - 特許庁

A DUT 101 is measured, and the measured value is compensated on a systematic error, based on an error coefficient.例文帳に追加

DUT 101を測定し、その測定値を、誤差係数に基づいて系統誤差について補正する。 - 特許庁

A photodetector detects photon emission from the DUT.例文帳に追加

光検出器が、ＤＵＴからの光子放出を検出する。 - 特許庁

DUT BOARD AND TESTER FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置用ＤＵＴボードおよびテスタ - 特許庁

DUT BOARD, AND TESTING METHOD USING IT例文帳に追加

ＤＵＴボード及びそれを用いるテスト方法 - 特許庁

A DUT substrate 15 supplies a signal to the contacter 13.例文帳に追加

ＤＵＴ基板15は、コンタクタ13に信号を供給する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DUT CONTACTOR例文帳に追加

ＤＵＴコンタクタのための方法及び装置 - 特許庁

DEVICE FOR DISCRIMINATING DUT INTERFACE例文帳に追加

ＤＵＴインターフェース識別装置 - 特許庁

DUT INTERFACE FOR SEMI-CONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のＤＵＴインターフェース - 特許庁

In the DUT board capable of being connected with a semiconductor device and including a terminal capable of transmitting data for determining quality of the semiconductor device to a tester, the DUT board for semiconductor device includes a board storage device storing first information to be a base of determining compatibility between the tester and the DUT board.例文帳に追加

半導体装置と接続することが可能であって、前記半導体装置の良否判定を行うためのデータをテスタに送信可能な端子を備えたDUTボードにおいて、 前記DUTボードは、前記テスタとDUTボードとの適合性判断の基礎となる第１の情報を格納するボード記憶装置を備えていることを特徴とする半導体装置用DUTボード。 - 特許庁

An optical element inspection tool includes the stage for measuring characteristics of DUT in which an optical element is encapsulated, a guide part for positioning the DUT, and an optical member for pushing the DUT to the stage and contacting to the DUT, and having a diameter so as to expose the DUT.例文帳に追加

光素子を封入したＤＵＴの特性を測定するステージと、前記ＤＵＴの位置決めを行うガイド部と、前記ＤＵＴを前記ステージに押し付け、前記ＤＵＴに接触させるとともに、前記ＤＵＴが露出する口径を有する光学部材とを備える光素子検査治具。 - 特許庁

This inspection method and the inspection circuit make it possible to inject jitter in the DUT in DUT output.例文帳に追加

この検査方法および検査回路はＤＵＴ出力においてＤＵＴにジッタを注入することを可能にする。 - 特許庁

A signal to be measured (DUT output signal), from a measuring object device (DUT) 1, is supplied to a first and a second coincidence detection circuits 2, 3.例文帳に追加

測定対象デバイス（ＤＵＴ）１からの被測定信号（ＤＵＴ出力信号）が第１及び第２の一致検出回路２、３に供給される。 - 特許庁

The first DUT response and the second DUT response exhibit independence from the second signal and the first signal, respectively.例文帳に追加

第１のＤＵＴ応答及び第２のＤＵＴ応答は、それぞれ第２の信号及び第１の信号から独立していることを示す。 - 特許庁

This inspection system 1 includes a DUT 10, a DUT 20, a driver 30, a comparator 40, a comparator 50 and an electronic relay 70.例文帳に追加

検査システム１は、ＤＵＴ１０、ＤＵＴ２０、ドライバ３０、コンパレータ４０、コンパレータ５０、および電子リレー７０を備えている。 - 特許庁

A reference channel mixer 36 receives the input signal of the DUT, and a test channel mixer 40 receives a return signal from the DUT.例文帳に追加

基準チャネル・ミキサ３６がＤＵＴの入力信号を受け、テスト・チャネル・ミキサ４０がＤＵＴからの戻り信号を受ける。 - 特許庁

To make a test pattern at a level over a wide range possible to be given to a DUT in a terminal circuit connected to the DUT.例文帳に追加

ＤＵＴに接続される終端回路において、ＤＵＴに、広範囲のレベルの試験パターンを与えることができるようにすることである。 - 特許庁

Finally, a step 104 computes Z parameter Z^(DEV) of an intrinsic element FET by using S parameter S of the functional circuit DUT and the hybrid parameter A.例文帳に追加

最後に、ステップ１０４において、機能回路DUTのSパラメータS及びハイブリッドパラメータAを用いて真性素子FETのZパラメータZ^(DEV)を演算する。 - 特許庁

While the DUT receives a test signal 240 causing the active device to modulate, the selected region of the DUT is illuminated.例文帳に追加

ＤＵＴが、能動デバイスに変調させるテスト信号２４０を受信している間に、ＤＵＴの選択領域が照射される。 - 特許庁

An input terminal 22 of the DUT 20 is connected to the input terminal 12 of the DUT 10 through wiring 66.例文帳に追加

ＤＵＴ２０の入力端子２２は、ＤＵＴ１０の入力端子１２に配線６６を介して接続されている。 - 特許庁

With this information, users can quickly grade a testing device (DUT) 12 to be selected.例文帳に追加

この情報を伴い、使用者は、選択される試験用装置（DUT）１２の等級を早急に付与することができる。 - 特許庁

Phase changes that are caused by the DUT are determined by measuring the phase differences between modulation sidebands of the test portion of the local oscillator signal.例文帳に追加

DUTによって引き起こされる位相変化は、局部発振器信号のテスト部分の変調側波帯間の位相差を測定することによって決定される。 - 特許庁

To provide a method for easily observing a characteristic change process resulting in breakage of a DUT, when a characteristic of the DUT is measured by performing continuous sweepings.例文帳に追加

連続掃引をしてＤＵＴの特性測定を行う時に、ＤＵＴが破壊に至る特性変化の過程を容易に観測する方法を提供する。 - 特許庁

A test device 2a simultaneously tests a plurality of DUT 1.例文帳に追加

試験装置２ａは、複数のＤＵＴ１を同時に試験する。 - 特許庁

LAYOUT FOR DUT ARRAY USED FOR SEMICONDUCTOR WAFER TEST例文帳に追加

半導体ウェハ・テストに用いられるＤＵＴアレイ用のレイアウト - 特許庁

To prevent a leakage voltage from being applied from a semiconductor relay to a DUT.例文帳に追加

半導体リレーからＤＵＴへ漏れ電圧が印加されるのを防止する。 - 特許庁

PROBE CARD AND DUT CARD PROVIDED WITH MIXED SIGNAL PROCESSING CIRCUIT例文帳に追加

混合信号処理回路を有するプローブカードおよび被試験カード - 特許庁

To provide a testing device of DUT having a bidirectional differential interface.例文帳に追加

双方向差動インタフェースを有するＤＵＴの試験装置を提供する。 - 特許庁

The inputs to the devices under test (DUT) 28, 38 are reconstructed.例文帳に追加

被検査デバイス（ＤＵＴ）（２８，３８）に対する入力が再構成される。 - 特許庁

DUT MOUNTING TABLE WITH CALIBRATION LEVER, AND CALIBRATING METHOD USING SAME例文帳に追加

校正用レバーを備えたＤＵＴ置き台及びそれらを用いた校正方法 - 特許庁

By inputting the photoelectric signal and the modulated signal into an amplitude/ phase difference measuring device 17, the wave-length dispersion and loss wavelength dependency of the DUT is obtained using the amplitude and the phase difference detected with the amplitude/phase difference measuring device for the cases where DUT is inserted and not inserted in the light path.例文帳に追加

光電気信号と変調信号を振幅／位相差測定装置17に入力し、 DUTを光路に挿入する場合と挿入しない場合について振幅／位相差測定装置で検出された振幅及び位相差を元に、 DUTの波長分散及び損失波長依存性を求める。 - 特許庁

A contact ball 404 of the DUT is brought into sufficient contact with a contact pad 406 of a contactor when bringing the DUT 402 into contact with the integrated type contactor/the DUT board 400, by aligning the contact pad 406 with the contact ball 404 of the DUT.例文帳に追加

コンタクトパッド４０６をＤＵＴにおけるコンタクトボール４０４と位置合わせすることにより、ＤＵＴ４０２を一体型コンタクタ／ＤＵＴボード４００と接触させる際に、ＤＵＴのコンタクトボール４０４とコンタクタのコンタクトパッド４０６との十分な接触が実現される。 - 特許庁

This system for testing the plurality of integrated circuit(IC) devices (DUT) of testing objects is provided with an interface circuit coupled to a tester to receives a data value from a single channel or a plurality of channels so as to provide error information as to the DUT.例文帳に追加

テスト対象の複数の集積回路（IC）デバイス（DUT）をテストするためのシステムであって、このシステムは、単一チャンネルまたは複数チャンネルのテスターからデータ値を受け取って、DUTに関するエラー情報を提供するための、前記テスターに結合されたインターフェース回路を備える。 - 特許庁

A load capacitance C_L is connected to a power supply terminal of a DUT 1.例文帳に追加

ＤＵＴ１の電源端子には、負荷容量Ｃ_Ｌが接続される。 - 特許庁

Plural DUT's 110 are loaded on trays 130A, 130B.例文帳に追加

トレー１３０Ａ・１３０Ｂは複数のＤＵＴ１１０を載置する。 - 特許庁

The DUT 4 propagates this logic series to a flip-flop 6.例文帳に追加

ＤＵＴ（４）は、この論理系列をフリップフロップ（６）に伝播する。 - 特許庁

In this test method, a plurality of good samples of DUT are screened (S100).例文帳に追加

ＤＵＴの複数の良品サンプルを選別する（Ｓ１００）。 - 特許庁

To increase a frequency with which a DUT can be tested.例文帳に追加

ＤＵＴがテストされることができる周波数を増加させる。 - 特許庁

The group delay of the DUT is measured by modulating test and reference portions of a local oscillator signal at different frequencies to create modulation sidebands 205, applying the modulated test portion of the local oscillator signal to DUT 120,420, 920, 1020, and 1120, and then optically mixing the two modulated signals.例文帳に追加

DUTの群遅延は、局部発振器信号のテスト部分と基準部分を異なる周波数で変調して、変調側波帯(205)を生成し、局部発振器信号の被変調テスト部分をDUT(120,420,920,1020,1120)に印加し、次に、２つ被変調信号を光学的に混合することによって測定される。 - 特許庁

The light reflected from the DUT is collected and is converted into an electrical signal.例文帳に追加

ＤＵＴから反射された光は収集され、電気信号に変換される。 - 特許庁

This parallel AC measurement method includes a step of applying a first signal on the first DUT, a step of applying a second signal on the second DUT, that is, a mutually orthogonal step of simultaneously generating the first signal and the second signal, a step of measuring a first DUT response, and a step of measuring a second DUT response.例文帳に追加

第１の信号を第１のＤＵＴに印加する工程と、第２の信号を第２のＤＵＴに印加する工程であって、第１の信号及び第２の信号は同時に生じ、互いに直交する工程と、第１のＤＵＴ応答を測定する工程と、第２のＤＵＴ応答を測定する工程とを含む。 - 特許庁

COMPENSATION FOR DEGRADATION OF TEST SIGNAL DUE TO DUT FAULT例文帳に追加

ＤＵＴの故障に起因するテスト信号の劣化の補償 - 特許庁

The framework determines the output result from a DUT or the DUT model to the prescribed test item executed based on the test plan program based on the test result data stored in the test result database.例文帳に追加

フレームワークは、テストプランプログラムに基づいて実行される所定のテスト項目に対するDUT又はＤＵＴモデルからの出力結果を、試験結果データベースに格納された試験結果データに基づいて決定する。 - 特許庁