「PROFILE MEASUREMENT」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

DELAY PROFILE MEASUREMENT APPARATUS AND DELAY PROFILE MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

遅延プロファイル測定装置および遅延プロファイル測定方法 - 特許庁

DELAY PROFILE MEASUREMENT METHOD AND DELAY PROFILE MEASUREMENT CIRCUIT例文帳に追加

遅延プロファイル測定方法および遅延プロファイル測定回路 - 特許庁

SURFACE PROFILE MEASUREMENT METHOD AND SURFACE PROFILE MEASUREMENT APPARATUS例文帳に追加

表面形状測定方法及び表面形状測定装置 - 特許庁

SCRAP SURFACE PROFILE MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

スクラップ表面プロファイル計測方法 - 特許庁

DELAY PROFILE MEASUREMENT METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

遅延プロファイル測定方法及び装置 - 特許庁

DELAY PROFILE MEASUREMENT DEVICE AND PROGRAM例文帳に追加

遅延プロファイル測定装置及びプログラム - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASUREMENT OF ROLL PROFILE例文帳に追加

ロールプロフィールの測定方法および装置 - 特許庁

SURFACE PROFILE MEASURING APPARATUS AND SURFACE PROFILE MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

表面形状測定装置および表面形状測定方法 - 特許庁

DELAY PROFILE MEASUREMENT DEVICE FOR OFDM WAVE例文帳に追加

ＯＦＤＭ波の遅延プロファイル測定装置 - 特許庁

MEASUREMENT OF IMPURITY CARRIER CONCENTRATION PROFILE例文帳に追加

不純物キャリア濃度プロファイルの測定方法 - 特許庁

BEAM PROFILE MEASUREMENT METHOD AND EXPOSING METHOD例文帳に追加

ビームプロファイル測定方法および露光方法 - 特許庁

HOLDER OF PROFILE IRREGULARITY MEASUREMENT WITH LASER INTERFEROMETER例文帳に追加

レーザー干渉計での面精度計測保持具 - 特許庁

MEASUREMENT METHOD OF PROFILE, ETCHING DISPERSION ESTIMATION METHOD AND MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加

プロファイルの測定方法、エッチングばらつき予測方法および測定装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MEASUREMENT OF REFRACTIVE INDEX PROFILE例文帳に追加

屈折率分布の測定装置及び測定方法 - 特許庁

SURFACE PROFILE MEASUREMENT METHOD UNDER LIQUID AND ITS SYSTEM例文帳に追加

液体下の表面形状測定方法及びそのシステム - 特許庁

ALIGNER, AND RETICLE PROFILE MEASUREMENT DEVICE AND METHOD例文帳に追加

露光装置並びにレチクル形状測定装置及び方法 - 特許庁

PROFILE MEASUREMENT METHOD OF REFRACTORY MATERIAL IN CONVERTER, AND THICKNESS MEASUREMENT METHOD OF REFRACTORY MATERIAL例文帳に追加

転炉における耐火物のプロファイル測定方法及び耐火物の厚み測定方法 - 特許庁

The profile generating device comprises an extractor, a color measurement part, a data generator, and a profile generator.例文帳に追加

プロファイル作成装置は、抽出部、測色部、データ作成部、およびプロファイル作成部を備えている。 - 特許庁

OPTICAL MEASUREMENT AND AUTOMATIC PROCESS CONTROL USING CORRELATION BETWEEN PROFILE MODEL AND IMPORTANT PROFILE SHAPE例文帳に追加

光計測及びプロファイルモデルと重要プロファイル形状との相関を用いた自動プロセス制御 - 特許庁

PROFILE MEASUREMENT DEVICE AND METHOD OF ELECTRON BEAM AND LASER BEAM例文帳に追加

電子ビーム及びレーザービームのプロファイル測定装置及び方法 - 特許庁

The gain profile is measured by sweeping the measurement wavelength λm.例文帳に追加

測定波長λｍを掃引することで、ゲインプロファイルを測定する。 - 特許庁

MEASUREMENT METHOD AND MEASUREMENT SYSTEM FOR PROFILE DIMENSION OF RAILWAY VEHICLE, TARGET USED FOR THE MEASUREMENT METHOD, AND RAILWAY VEHICLE PROFILE DIMENSION INSPECTION SYSTEM EQUIPPED WITH THE MEASUREMENT SYSTEM例文帳に追加

鉄道車両の出来形寸法の計測方法および計測システム、並びにその計測方法に用いられるターゲット、並びにその計測システムを具えた鉄道車両の出来形寸法検査システム - 特許庁

To provide a profile measurement apparatus for combining the high accuracy and a high speed during an autonomous profile measurement.例文帳に追加

本発明の目的は、自律倣い測定の高精度化と高速化との両立を実現することのできる倣い測定装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a film thickness measurement device capable of film thickness line profile measurement (multipoint film thickness measurement on a straight line), while moving a measurement object, concerning a measurement object film.例文帳に追加

測定対象物の膜について、測定対象物を移動させながら、膜厚ラインプロファイル測定（直線上の多点における膜厚測定）が行える膜厚測定装置を提供する。 - 特許庁

Then, while the end face 12a is set in a state of being in parallel with the reference surface M, a profile measurement section 32 uses a profile-measuring instrument 24 for measuring a cam profile.例文帳に追加

そして、端面１２ａを基準面Ｍと平行にした状態で、プロフィール測定部３２はプロフィール測定器２４を用いてカムプロフィールを測定する。 - 特許庁

To make it possible to perform accurate profile adjustment by performing a notification when a color measurement condition is different from that at the time of profile generation in profile adjustment processing.例文帳に追加

プロファイル調整処理において、プロファイル生成時との測色条件の違いがあるとき報知を行うことで、精度の良いプロファイル調整を可能とする。 - 特許庁

This profile measurement device includes: a profile measurement device 30 for measuring a cross-sectional profile of each beam in the vicinity of a collision position at which the electron beam 1 and the laser beam 3 crash into each other; and a moving device 40 for continuously moving the profile measurement device in a predetermined direction nearly coincident with the axial directions of the respective beams.例文帳に追加

電子ビーム１とレーザービーム３が正面衝突する衝突位置近傍の各ビームの断面プロファイルを測定するプロファイル測定装置３０と、プロファイル測定装置を各ビームの軸方向にほぼ一致する所定の方向に連続的に移動する移動装置４０とを備える。 - 特許庁

One or greater profile parameters of the structure is determined by the measurement diffraction signal and the profile models.例文帳に追加

その構造体の１以上のプロファイルパラメータは、測定回折信号及び選択されたプロファイルモデルに基づいて決定される。 - 特許庁

To provide a method for easily comparing reference profile data (reference PD) with created measurement profile data (measurement PD) and analyzing an expression state of a gene.例文帳に追加

参照プロファイルデータ（参照ＰＤ）と作成された測定プロファイルデータ（測定ＰＤ）の対比と遺伝子の発現状態の解析を容易に行う方法を提供する。 - 特許庁

Then the one-dimensional measurement and intensity profile of the edge to be measured are determined.例文帳に追加

それから測定すべきエッジの１次元の測定・強度プロファイルを決定すること。 - 特許庁

To provide a profile measuring device that can precisely profile a thickness in a circumferential direction via online thickness value measurement.例文帳に追加

オンラインでの厚さ値測定で円周方向の厚さの精度のよいプロファイルを得ることができるプロファイル測定装置を実現する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR THREE-DIMENSIONAL MEASUREMENT OF TOOTH PROFILE例文帳に追加

歯型の三次元測定のための測定装置並びに歯型の三次元測定のための方法 - 特許庁

To precisely acquire measurement data of an internal surface profile of a cylindrical member with no defect even for a complicated structure such as a groove or a rib, and to extend a measurement range in a height direction in profile measurement without deteriorating measurement accuracy.例文帳に追加

筒形状部材の内面形状を、溝やリブなどの複雑な構造であっても、測定データを欠損することなく精度良く取得し、また測定精度を低下させることなく形状測定の高さ方向の測定範囲を広げること。 - 特許庁

The model and intensity profile are distinguished, by the data of the location Xm within the measurement and the intensity profile relative to a reference point.例文帳に追加

測定・強度プロファイル内にてモデル・強度プロファイルを基準点に対して相対的にその位置ｘ__ｍのデータで識別すること。 - 特許庁

To provide a profile measuring apparatus 1 for sensitively and highly accurately measuring a profile regardless of size from a small-sized measurement object S to a large-sized measurement object S.例文帳に追加

小型の計測対象物Ｓから大型の計測対象物Ｓまで、そのサイズに関係なく形状を感度良く高精度に計測することができる形状計測装置１を提供する。 - 特許庁

To provide a profile measuring instrument capable of rapidly deciding whether the measurement and molding of a profile molded by winding a strip-like rubber material are well performed, and a profile measuring method using it.例文帳に追加

迅速に帯状ゴム材料の巻き付けで成形されたプロファイルの計測と成形の良否判定を行うことができるプロファイル測定装置とそのプロファイル測定方法を提供する。 - 特許庁

To optimally operate the blast furnace by bringing an actual deposition profile closer to a theoretical deposition profile by carrying out a deposition profile measurement of steel ore or coke for every turning of a shooter.例文帳に追加

鉄鋼石やコークスの堆積プロフィール測定をシュータの一旋回毎に行うことで、実際の堆積プロフィールを理論堆積プロフィールにより近づけて最適な高炉の操業を行う。 - 特許庁

To enable measurement of weak radio waves by suppressing the occurrence of measurement error owing to sidelobe error even in the case of delay profile measurement when the arrival times of incoming waves are near.例文帳に追加

到来波の到達時間が近い場合の遅延プロファイル測定であっても、サイドローブ誤差による測定誤差の発生を抑え、微弱な電波の測定を可能にする。 - 特許庁

To provide a delay profile measurement device that uses a device and a material easily acquired so as to simply measure the delay profile of an OFDM wave.例文帳に追加

入手が容易な機材を用いて簡単にＯＦＤＭ波の遅延プロファイルの測定ができる遅延プロファイル測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface profile measurement apparatus capable of correctly and simply finding a distortion, and measuring a correct surface profile.例文帳に追加

正確かつ簡単にディストーションを求めることができ、正確な面形状を測定することができる面形状計測装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a surface profile measuring method which can measure the surface profile of an object under measurement using a probe easily and with high precision.例文帳に追加

プローブを用いて、容易かつ高精度に被検物の表面形状を測定することができる表面形状の測定方法を提供する。 - 特許庁

A delay profile measurement section 33 calculates correlation power by each delay time for the synthesized data to generate a delay profile.例文帳に追加

遅延プロファイル測定部３３は、合成された後のデータに対して各遅延時間毎の相関電力を算出して遅延プロファイルを作成する。 - 特許庁

To provide a profile irregularity measurement holder with a laser interferometer measuring with high accuracy and high efficiency, the profile irregularity of objects to be measured with various sizes.例文帳に追加

各種大きさの被計測物の面精度を高精度、高能率で計測するレーザー干渉計での面精度計測保持具を提供する。 - 特許庁

To reduce the calculation quantity and power consumption of a path- searching part and a delay profile measurement part.例文帳に追加

パスサーチ部および遅延プロファイル測定部の計算量の低減と消費電力の削減を図る。 - 特許庁

The probe diameter was confirmed to be 0.2 nm by the measurement of FWHM from an intensity profile. 例文帳に追加

プローブ径は、強度プロファイルから(得た)半値幅の測定によって0.2nmであることが確認された。 - 科学技術論文動詞集