「WIEN」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

Typical Wien filter systems do not focus in the y direction. 例文帳に追加

典型的なウィーンフィルタ系は、y方向に焦点合わせをしない。 - 科学技術論文動詞集

WIEN E×B MASS FILTER OF ABERRATION CORRECTION FOR REMOVING NEUTRAL MATERIAL FROM BEAM例文帳に追加

ビームから中性物質を除去する収差補正のウィーンＥ×Ｂ質量フィルタ - 特許庁

FIXING TOOL FOR ASSEMBLING EACH MEMBER COMPOSING A DEVICE SUCH AS WIEN FILTER例文帳に追加

ウィーンフィルタといったようなデバイスを構成する各部材を組み立てるための固定具 - 特許庁

REDUCTION IN ABERRATION CAUSED BY WIEN FILTER IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡等においてウィーンフィルタによって生成される収差の低減 - 特許庁

To provide a Wien filter wherein a quadrupole electric component and a magnetic component have the same distribution.例文帳に追加

四極子電気成分と磁気成分が同一の分布を有するウィーンフィルタを提供する。 - 特許庁

To provide a wide aperture Wien E×B mass filter for use in a focused ion beam system.例文帳に追加

集束イオンビームシステムで使用するための大開口のウィーンＥ×Ｂ質量フィルタを提供する。 - 特許庁

This Wien filter type energy analyzer 11 has 12 magnetic poles formed by electrodes 13 and yokeless coils 14.例文帳に追加

ウィーンフィルタ型エネルギーアナライザ１１は、電極１３とヨークレスコイル１４による磁極を１２極にしている。 - 特許庁

This monochromator for charged particle has a plurality of Wien filters arranged in series back and forth in the diffusion direction of the particles, and part of the Wien filters is turned at a turning angle of 90° about the optical axis with respect to another Wien filter.例文帳に追加

荷電粒子用モノクロメータにおいて、粒子の拡散方向に相前後して直列に配置された複数のウィーンフィルタを有しており、このウィーンフィルタの一部は、別のウィーンフィルタに対して光軸の周りに９０°の回動角で回動して配置されていることを特徴とする荷電粒子用モノクロメータを構成する。 - 特許庁

These electron beams are deflected by the Wien filter 13 and two electron beams emitted from the Wien filter 13 are decelerated by a retarding voltage through a cathode lens 14 to vertically enter and illuminate a predetermined range of a sample surface 15.例文帳に追加

これらの電子ビームは、ウィーンフィルター１３によって偏向され、ウィーンフィルター１３を出た２つの電子ビームは、その後カソードレンズ１４を介して、リターディング電圧により減速され、試料面１５の所定範囲を垂直に落射照明する。 - 特許庁

To provide a Wien bridge oscillation circuit which can be easily controlled and by which stability of signals can be improved.例文帳に追加

制御を容易にでき、信号の安定性を向上させることができるウィーンブリッジ発振回路を提供すること。 - 特許庁

To provide an aberration correction optical device having a plurality of multipole type Wien filters, and capable of correcting aberration of a charged particle beam optical system.例文帳に追加

複数の多極子型ウィーン・フィルターを有し、荷電粒子線光学系の収差を補正できる収差補正光学装置を提供する。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEMS, PARTICULARLY MASS FILTER FOR ION BEAM SYSTEM AND WIDE APERTURE WIEN E×B MASS FILTER例文帳に追加

大開口のウィーンＥ×Ｂ質量フィルタ本発明は、荷電粒子ビームシステムに関し、特に、イオンビームシステムのための質量フィルタに関する。 - 特許庁

A device for processing a sample with the use of ion beams is so structured that a Wien filter 2 is arranged between an ion source 1 and a sample 2, and the ion beams from the ion source 1 are made to pass through the Wien filter 2 so as to have the beams shaped in a shape suited for processing of the sample.例文帳に追加

イオンビームを用いて試料を加工する装置において、イオン源１と試料４の間にウィーンフィルタ２を配置し、イオン源１からのイオンビームを前記ウィーンフィルタ２を通すことで、ビームの形状を試料の加工に適した形に整形するように構成する。 - 特許庁

The apparatus of correcting aberration comprises at least one of 2π-type Wien filter having multipole structure and ratio of quadrupole, hexapole, or octapole component to dipole component of electric or magnetic field around the optical axis of the Wien filter is determined within a specified range separately from a formula.例文帳に追加

多極子構造の２π型ウィーンフィルタを少なくとも一つ用いたものであって、各ウィーンフィルタの光軸近傍における電場及び磁場の４極子、６極子及び８極子の成分の、双極子の成分に対する比率を別途定式で定められた範囲に規定した、収差補正装置。 - 特許庁

An E×B Wien mass filter provides an independently-adjustable electric field combined with an electric dipole field required for mass separation.例文帳に追加

Ｅ×Ｂウィーン質量フィルタが、質量分離するために必要な電気双極子の電場と組み合わされた独立して調整可能な電場を提供する。 - 特許庁

Since the magnetic pole is replaced with the coil, the inner diameter of the Wien filter type energy analyzer 11 can be enlarged and its sensitivity can be enhanced.例文帳に追加

磁極をヨークレスコイルに置き換えたことにより、ウィーンフィルタ型エネルギーアナライザ１１は、アナライザの内径を大きくすることができ、感度を向上させることができた。 - 特許庁

A Wien filter 8-1 of the type constituted by a multipolar lens for on-axis chromatic aberration correction and performing image-formation twice is disposed between a magnifying lens of the secondary electron-optical system and a beam splitter 5-1 splitting a primary electron beam from a secondary electron beam to correct the on-axis chromatic aberration generated in an objective lens 14-1 through the Wien filter 8-1.例文帳に追加

軸上色収差補正用の多極子レンズからなり、２回結像するウィーンフィルタ８-1が、２次電子光学系の拡大レンズ１０-1と１次電子ビーム及び２次電子ビームを分離するビーム分離器５-1との間に配置され、対物レンズ１４-1で生じた軸上色収差を、ウィーンフィルタ８-1で補正する。 - 特許庁

Therefore, this Wien filter type energy analyzer can generate an electric field E and a magnetic field B capable of erasing aberration from secondary aberration up to tertiary aperture aberration.例文帳に追加

このため、ウィーンフィルタ型エネルギーアナライザ１１は、２次収差、３次の開口収差までを消去できるような電場Ｅと磁場Ｂを発生することができるようになった。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus which acquires a pattern image, or the like, by utilizing electron beams and especially can reduce unevenness in aberrations and intensity of the electron beam using a Wien filter.例文帳に追加

本発明は、電子ビームを利用して、パターン像等を取得する検査装置に関し、特に、ウィーンフィルタによる収差や電子ビームの強度むらを低減することができる検査装置に関する。 - 特許庁

To provide a Wien filter type energy analyzer capable of suppressing deterioration of sensitivity by fully making the best use of its aberration correcting characteristics to reduce electrons lost in the analyzer.例文帳に追加

ウィーンフィルタの持つ収差補正の特性を十分に生かし、アナライザで損失する電子を低減して感度の低下を抑えることができるウィーンフィルタ型アナライザの提供を目的とする。 - 特許庁

To correct three astigmatisms by positively generating an electrostatic hexapole field against a hexapole field generated accompanying an electrostatic deflection field and a static magnetic deflection field in a Wien filter.例文帳に追加

ウィーンフィルタ内で静電偏向場、及び静磁偏向場に付随して発生する六極子場に対して、静電六極子場を積極的に発生させ、３回非点を補正する。 - 特許庁

Based on the supplied potential signal Va, the potential control means 18 controls an electric/magnetic pole power supply 17, so that the common potential Va is given to an electric pole of the Wien filter 16 and to a magnetic pole thereof.例文帳に追加

電位制御手段１８は、送られてくる電位信号Ｖａに基づき、ウイーンフィルタ１６の電極と磁極に共通の電位Ｖａが与えられるように電磁極電源１７を制御する。 - 特許庁

In this mapping type electron microscope, an illuminating mirror cylinder 11 is disposed to have an angle of θ1 relative to an optical axis and an illuminating mirror cylinder 12 is disposed to have an angle of θ2 relative to the optical axis, these cylinders 11 and 12 emit electron beams to the center of a Wien filter 13.例文帳に追加

照明鏡筒１１は光軸とθ１の角度、照明鏡筒１２は光軸とθ２の角度をなして設けられ、ウィーンフィルター１３の中心に向けて電子ビームを放出している。 - 特許庁

Also by the resistance 40 inserted between the output terminal of the operation amplifier 20 and the capacitor 26, the oscillation condition of the Wien bridge oscillation circuit constituted of an ultrasonic sensor 14 and a negative capacitance circuit 18 can be shifted.例文帳に追加

また、オペアンプ２０の出力端子とコンデンサ２６との間に挿入した抵抗４０により、超音波センサ１４及び負性容量回路１８で構成されるウィーンブリッジ発振回路の発振条件を外すことができる。 - 特許庁

A Wien filter 30 and the ECR ion source 20 each use a coil to utilize a magnetic field where a magnetic field generated by the coil and a magnetic field by the cyclotron are overlapped.例文帳に追加

Ｗｉｅｎフィルター３０やＥＣＲイオン源２０においては磁場が利用されるため、それぞれにはコイルが用いられているが、これらにおいて用いられる磁場は、これらのコイルによって生成された磁場とサイクロトロンの磁場が重畳した磁場となっている。 - 特許庁

This pattern inspection/measurement device is structured such that a secondary signal converging lens 69 is installed at a position of the crossover in the traveling direction of the primary electron beam, or on a path of a separated secondary signal by causing the secondary signal to spatially separate the primary electron beam by a Wien filter 18.例文帳に追加

二次信号収束用レンズ６９を、前記一次電子線の進行方向上クロスオーバの位置に、若しくはウィーンフィルタ１８により二次信号が前記一次電子線を空間的に分離させ、分離された二次信号の進路上に設置する構成とする。 - 特許庁

An electron beam emitted from an electron gun 1 forms a reduced image on a sample 18 through a multi-opening 2, a reducing glass 3, a non-dispersing Wien filter 5, a tablet lens 10, an electromagnetic deflector 11, a beam separator 12 and a tablet lens 17 constituting an objective lens.例文帳に追加

電子銃１から放出された電子線は、マルチ開口２、縮小レンズ３、非分散のウィーンフィルタ５、タブレットレンズ１０、電磁偏向器１１、ビーム分離器１２及び対物レンズを構成するタブレットレンズ１７を介して試料１８上に縮小像を形成する。 - 特許庁

When image magnification is changed by using an objective mini lens 7, an objective-lens control means 21 controls an OL power supply 19 and an OL power supply 20 so that the position of an image field formed by a system made by combining an objective lens 6 with the objective mini lens 7 is positioned at all times in the middle of a Wien filter 16.例文帳に追加

対物ミニレンズ７を用いて像倍率を変えていく場合、対物レンズ制御手段２１は、対物レンズ６と対物ミニレンズ７を合わせた系がつくる像面位置が常にウイーンフィルタ１６の中央に来るように、ＯＬ電源１９とＯＭ電源２０を制御する。 - 特許庁

An electrostatic field generating part 4 generates a multipole electrostatic field such as an electrostatic deflection field, an electrostatic quadrupole field, and an electrostatic hexapole field by adjusting applied voltages of the respective power supplies according to an instruction operated by a user using an operation part 6 in order to focus a beam on a slit in a monochromator applied with this 12-pole Wien filter.例文帳に追加

静電場発生部４は、この１２極型ウィーンフィルタが適用されるモノクロメータにおいてスリット上でビームを絞るために、ユーザが操作部６を使って操作した指示にしたがって、各電源の印加電圧を調整し、静電偏向場、静電四極子場、静電六極子場のような多重極静電場を発生する。 - 特許庁

This Wien filter has an optical axis almost parallel to a Z-axis which is a direction of movement of a charged particle, and has N poles (N≥12) with faces almost parallel to the optical axis.例文帳に追加

荷電粒子の進行方向であるＺ軸にほぼ平行な光軸を有し、この光軸にほぼ平行な面を持つＮ個（Ｎ≧１２）の極を有するウィーンフィルタであって、Ｘ軸方向に双極子電場が生成され、Ｘ軸方向から光軸について反時計回りに第ｉ極（１≦ｉ≦Ｎ）において四極子電気成分及び磁気成分をそれぞれ生成する電圧Ｖ_２（ｉ）及びアンペアターンＮＩ_２（ｉ）は、前記反時計回りに第ｉ極の中心までの角度をθ_ｉとし、四極子成分が４個の極で構成されるときに与えられるべき電圧及びアンペアターンをそれぞれＶ_２ｍａｘ及びＮＩ_２ｍａｘとすると、次の式によって与えられる。 - 特許庁