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control testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2117件
When the received lamp control command is a test command, the control of contents instructed by the test command is executed.例文帳に追加
受信したランプ制御コマンドがテストコマンドであれば、テストコマンドで指示された内容の制御を実行する。 - 特許庁
AMPLIFICATION CONTROL DEVICE, TEST SIGNAL GENERATION MODULE, TEST DEVICE, AMPLIFICATION CONTROL METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
増幅制御装置、試験用信号生成モジュール、試験装置、増幅制御方法、プログラム、記録媒体 - 特許庁
LINEAR GAS VALVE CYCLE CONTROL, CUTOFF VALVE AND TEST THEREOF例文帳に追加
リニアガスバルブサイクル制御、遮断バルブ及びその試験 - 特許庁
A test control part 24 performs processing for performing automatic test of detected resources, and a test performing part 25 conducts a test.例文帳に追加
試験制御部24は、検出されたリソースに対して自動試験を行なうための処理を行ない、試験実行部25は、試験を実行する。 - 特許庁
The control part inputs the test data to the scan input terminals when the burn-in test is started through the test substrate.例文帳に追加
制御部は、バーンインテストを開始するときに試験基板を介してテストデータをスキャン入力端子に供給する。 - 特許庁
The LSI test apparatus includes a test unit, a determination unit, a selection unit, and a control unit.例文帳に追加
LSI試験装置は、試験部と、判定部と、選択部と、制御部とを具備する。 - 特許庁
VEHICLE BENCH TEST SYSTEM, AND ROTATION CONTROL PAD FOR VEHICLE BENCH TEST SYSTEM例文帳に追加
車両台上試験装置及び車両台上試験装置用回転制御パッド - 特許庁
The test control section A12 particularizes the suspicious fault location on the basis of a test result report frame from the test control section B22 and a test result of its own apparatus and informs a maintenance personnel about the result of particularization.例文帳に追加
試験制御部A12は試験制御部B22からの試験結果報告フレームと自装置の試験結果とを基に被疑箇所を特定し、保守者に通知する。 - 特許庁
A burn-in test device includes a test substrate for mounting a semiconductor device and a control part for supplying a control signal and test data for controlling the motion of the burn-in test.例文帳に追加
バーンインテスト装置は、半導体装置を搭載する試験基板と、バーンインテストの動作を制御する制御信号及びテストデータを供給する制御部とを具備する。 - 特許庁
OPERATION CONTROL METHOD OF REFRIGERATOR IN ENVIRONMENTAL TEST SYSTEM, AND ENVIRONMENTAL TEST SYSTEM例文帳に追加
環境試験装置における冷凍機の動作制御方法及び環境試験装置 - 特許庁
A control unit transmits a test instruction to a limit switch, the test instruction triggers an electronic self-test in the limit switch and the control unit monitors the result of the self-test.例文帳に追加
制御ユニットはテスト命令を限界スイッチに送信し、該テスト命令は限界スイッチで電子的自己テストをトリガし、該自己テストの結果を制御ユニットが監視する。 - 特許庁
A test clock control structure includes a programmable test clock controller.例文帳に追加
1つの実施形態では、テストクロック制御構造は、プログラム可能テストクロックコントローラを含む。 - 特許庁
TEST PATTERN GENERATION DEVICE, CONTROL METHOD OF TEST PATTERN GENERATION DEVICE, AND FAILURE DETECTION DEVICE例文帳に追加
テストパターン生成器、テストパターン生成器の制御方法、および、故障検出装置 - 特許庁
The test mode indicates thermal throttling control using the thermal control setting.例文帳に追加
試験モードは、温度制御設定を用いたサーマル・スロットリング制御を示す。 - 特許庁
IC TEST SYSTEM, ITS CONTROL METHOD AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加
ICテストシステム、その制御方法及び記憶媒体 - 特許庁
TEST BURN-IN BOARD CONTROL METHOD AND BURN-IN TESTING SYSTEM例文帳に追加
テストバーンインボード管理方法及びバーンイン試験システム - 特許庁
CONTROL METHOD AND CONTROL SYSTEM FOR AUTOMATIC TEST AS WELL AS INFORMATION RECORDING MEDIUM FOR RECORDING AUTOMATIC TEST CONTROL PROGRAM例文帳に追加
自動試験制御方法および自動試験制御システムならびに自動試験制御プログラムを記録した情報記録媒体 - 特許庁
The semiconductor data processing device is provided with: test circuits (7, 8) for generating a test pattern in a CPU and internal circuits, testing them and maintaining the test results; a test control circuit (6) for activating the test circuits; a test start register (9); a test status register (10); and a test general register (11).例文帳に追加
CPU及び内部回路にテストパターンを発生してテストを行って結果を保持するテスト回路(7,8)と、テスト回路を起動するテスト制御回路(6)と共に、テスト起動レジスタ(9)、テスト状態レジスタ(10)、及びテスト汎用レジスタ(11)を備える。 - 特許庁
FILL-TEST METHOD, FILL-TEST APPARATUS AND FILL-CONTROL APPARATUS FOR FILLING例文帳に追加
フィリング充填検査方法、フィリング充填検査装置、および、フィリング充填制御装置 - 特許庁
A test program 11 is a program that is built in a host device to control the entire test.例文帳に追加
試験プログラム11は上位装置に内蔵され試験全体を制御するプログラムである。 - 特許庁
The control test support system 1 is provided with the testing tool 3 and a test device body 4.例文帳に追加
制御テスト支援システム1は、テスト治具3と、テスト装置本体4とを備えている。 - 特許庁
The wireless control unit 4 includes a test telegram transmitting unit 41 which transmits test telegrams.例文帳に追加
無線制御部4に試験電文を送出する試験電文送出部41を設ける。 - 特許庁
MEMORY TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND OPERATION CONTROL METHOD FOR MEMORY TEST CIRCUIT例文帳に追加
メモリテスト回路、半導体集積回路装置、およびメモリテスト回路の動作制御方法 - 特許庁
A test control reception signal means 21 of the communication equipment receives the test control signal frame and a test control signal storage means 22 stores the received frame for a prescribed period.例文帳に追加
試験制御受信信号手段21により、試験制御信号フレームが受信され、受信されたフレームは、試験制御信号記憶手段22で一定の期間、記憶される。 - 特許庁
TEMPERATURE TEST CONTROL SYSTEM FOR THERMAL SHOCK TESTING APPARATUS例文帳に追加
冷熱衝撃試験装置の温度試験制御方式 - 特許庁
DAMPING TEST METHOD, CONTROL APPARATUS, HYDRAULIC SYSTEM, AND PROGRAM例文帳に追加
ダンピング試験方法、制御装置、油圧システム及びプログラム - 特許庁
To provide a test device that evaluates priority control performance of a relaying device.例文帳に追加
中継装置の優先制御性能を評価する。 - 特許庁
FURNACE AND RELIABILITY TEST METHOD OF THERMOCOUPLE FOR CONTROL例文帳に追加
炉及び制御用熱電対の信頼性試験方法 - 特許庁
DRIVE CIRCUIT OF DISPLAY DEVICE AND TEST CONTROL METHOD例文帳に追加
表示装置の駆動回路及びそのテスト制御方法 - 特許庁
HOT WATER HEATING SYSTEM AND ITS TEST OPERATION CONTROL METHOD例文帳に追加
温水暖房システム及びその試運転制御方法 - 特許庁
FLOW VELOCITY DISTRIBUTION CONTROL DEVICE IN WIND TUNNEL TEST FACILITY例文帳に追加
風洞実験施設における流速分布制御装置 - 特許庁
TEST EQUIPMENT FOR PLANT MONITORING CONTROL SYSTEM AND PROGRAM FOR THE SAME例文帳に追加
プラント監視制御システムのテスト装置及びそのプログラム - 特許庁
TEST CONTROL APPARATUS FOR DELAY ELEMENT AND MEMORY CONTROLLER CIRCUIT例文帳に追加
遅延素子のテスト制御装置およびメモリコントローラ回路 - 特許庁
USB DEVICE LOOPBACK TEST CONTROL DEVICE AND METHOD例文帳に追加
USBデバイスループバックテスト制御装置およびその方法 - 特許庁
The pin card executes the test with control of a test system control part 17 based on the loaded waveform images.例文帳に追加
ピンカードは、テストシステム制御部17の制御により、ローディングされた波形イメージに基づいてテストを実行する。 - 特許庁
Did you carry out the test using that control panel? 例文帳に追加
あなたはその制御盤を使ってテストしたのですか? - Weblio Email例文集
METHOD FOR TESTING COMMUNICATION TRANSMISSION LINE, AND TEST CONTROL METHOD例文帳に追加
通信伝送路の試験方法及び試験制御方法 - 特許庁
SUPERVISION CONTROL SYSTEM TOTAL TEST METHOD, AND SIMULATION DEVICE例文帳に追加
監視制御システム総合試験方法及び模擬装置 - 特許庁
The self test circuits 10A, 10B are controlled so that test operation is performed alternately by a test control circuit 20.例文帳に追加
自己試験回路10A,10Bは、試験制御回路20によって交互に試験動作を行うように制御される。 - 特許庁
To provide a remote control test system for a band controller which can conduct a remote control test of a band control functions by the band controller.例文帳に追加
帯域制御装置による帯域制御機能の遠隔試験を実現する帯域制御装置の遠隔試験システムを提供する。 - 特許庁
To provide a test method and device capable of implementing a test for maintenance and operation such as a loopback test and a code error rate test by means of remote control.例文帳に追加
折返し試験や符号誤り率試験などの保守運用のための試験を遠隔制御により実施できる試験方法および装置を得ることである。 - 特許庁
The specified pattern is superposed on a test image when the test image is printed in image density control and image density control is carried out using the test image.例文帳に追加
画像濃度制御時に試験画像を印字する際に試験画像に特定パターンを重畳し、その試験画像を用いて画像濃度制御を行う。 - 特許庁
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