「control test」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

A data transfer control circuit 15 is provided with a test data register 151 holding temporarily test data from the outside, and a test code register 152 holding temporarily a test code corresponding to the test data.例文帳に追加

データ転送制御回路１５は、外部からのテストデータを一時保持するテストデータレジスタ１５１と、このテストデータに対応するテストコードを一時保持するテストコードレジスタ１５２とを備える。 - 特許庁

REAL TIME AUTOMATIC MONITORING CONTROL SYSTEM FOR SPACE FLYING BODY TEST例文帳に追加

宇宙飛翔体試験リアルタイム自動監視制御システム - 特許庁

TRANSMISSION EQUIPMENT, TEST METHOD AND TRANSMISSION EQUIPMENT CONTROL PROGRAM例文帳に追加

伝送装置、試験方法および伝送装置制御プログラム - 特許庁

TEST METHOD FOR INTEGRATED CIRCUIT WITH FLEXIBLE TIMING CONTROL例文帳に追加

フレキシブルタイミング制御を有する集積回路のテスト方法 - 特許庁

CONTROL METHOD AND DEVICE FOR FLOW OF LIQUID TEST PACKAGE AND例文帳に追加

液体試験パッケ—ジの流れの制御法及び制御装置 - 特許庁

A test control circuit 13 is arranged inside the chip 11.例文帳に追加

チップ１１内には、テスト制御回路１３が配置される。 - 特許庁

SCAN FLIP-FLOP CIRCUIT, SCAN TEST CIRCUIT, AND CONTROL METHOD THEREOF例文帳に追加

スキャンフリップフロップ回路、スキャンテスト回路及びその制御方法 - 特許庁

With a start bit set in the test start register, the test control circuit starts a test operation of the CPU with the test circuits, accumulates test results, and resets the CPU and the internal circuits in response to the completion of the test operation.例文帳に追加

テスト起動レジスタにスタートビットがセットされて、テスト制御回路は、テスト回路によるＣＰＵなどのテスト動作を起動しテスト結果を蓄積し、テスト動作の終了に応答してＣＰＵと内部回路をリセットする。 - 特許庁

A relay 8 of a test object removed from a control panel is attached to a pedestal 7 for test.例文帳に追加

制御盤１３から取り外した試験対象のリレー８を試験用台座７に取り付ける。 - 特許庁

A timer 10 for a test is used for making a control part 2 measure a time in a test mode.例文帳に追加

テスト用タイマ１０は、制御部２がテストモード時に計時を行うために用いるものである。 - 特許庁

The portable train monitor test apparatus 4 comprises a test control unit 40 and an interface card.例文帳に追加

可搬型列車モニタ試験装置４は、試験制御部４０及びインタフェースカードから構成される。 - 特許庁

One of the emulators receives a test response by responding to the test message and transmits it to the control system.例文帳に追加

テスト・メッセージに応答して、エミュレータの１つがテスト応答を受信し、制御システムに伝送する。 - 特許庁

To control a docking position of a test head by a plurality of position limit switches provided on the test head.例文帳に追加

テストヘッドのドッキング位置をテストヘッドに設けられた複数のポジションリミットスイッチで制御する。 - 特許庁

A test signal 12 and control signal 13 are inputted a control circuit 3.例文帳に追加

制御回路３にはテスト信号１２と制御信号１３が入力されている。 - 特許庁

A test control trunk 40 decodes the test line information, recognizes the test line, monitors the state of use of the test line, and transmits the line switching signal for avoiding the closing of the line during the test when the line is idle to perform test control.例文帳に追加

試験制御トランク４０は、試験回線情報の解読を行い試験回線を認識して、試験回線の使用状態を監視し、回線が空きの場合は、試験中の回線閉塞を回避するための回線切替信号を送出して、試験制御を行う。 - 特許庁

A test execution control means 1 instructs a test information input means 2, a test instruction sequence generating means 3, an expected value generating means 4, and a test execution result decision means 5 to perform processings and performs execution control over the whole test.例文帳に追加

試験実行制御手段１は、試験情報入力手段２と試験命令列生成手段３と期待値作成手段４と試験実行結果判定手段５とに対して処理を指示し、試験全体の実行制御を行う。 - 特許庁

The test control circuit 12 transfers a self-test ROM address 22, self-test ROM control signal 23, and self-test ROM data output 10 or the like with a self-test ROM 6, and transmits a CPU reset signal 24 to the CPU 1 for reset control.例文帳に追加

テスト制御回路１２は、セルフテストＲＯＭ６との間でセルフテストＲＯＭアドレス２２、セルフテストＲＯＭ制御信号２３、セルフテストＲＯＭデータ出力１０などのやり取りを行い、ＣＰＵ１に対してＣＰＵリセット信号２４を送ってリセット制御する。 - 特許庁

To appropriately control a suction section, considering test-pattern recording.例文帳に追加

テストパターンの記録を考慮して吸引部を適切に制御する。 - 特許庁

MEASUREMENT/TEST ACCESS CONTROL DEVICE, METHOD ,AND ITS PROGRAM例文帳に追加

測定／試験アクセス制御装置及び方法並びにそのプログラム - 特許庁

CONTROL MATERIAL AND CALIBRATION MATERIAL FOR BLOOD COAGULATION TEST例文帳に追加

血液凝固試験のためのコントロール物質および較正物質 - 特許庁

TRANSFERRING OF INTEGRATED CIRCUIT AND ACTIVE TEMPERATURE CONTROL FOR TEST例文帳に追加

テストのための集積回路の搬送および能動温度制御 - 特許庁

MOTOR CONTROL CIRCUIT AND DURABILITY TEST DEVICE FOR ENDOSCOPE OPERATION PART例文帳に追加

モータ制御回路および内視鏡操作部耐久試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE EQUIPPED WITH RADIO CONTROL TEST FUNCTION例文帳に追加

無線制御テスト機能を備えた半導体集積回路装置 - 特許庁

In this case, the logic block 21 outputs data in a built-in register to a test control part 31 based on a control signal of the test control part 31.例文帳に追加

このとき、論理ブロック２１は、テスト制御部３１のコントロール信号に基づいて、内蔵するレジスタのデータをテスト制御部３１に出力する。 - 特許庁

To shorten the test time for outputting the test results for plural test objects in ECU(electronic control unit) to the tester side so as to improve test efficiency.例文帳に追加

ＥＣＵ（電子制御ユニット）における複数の検査対象に対する検査結果を検査テスタ側に出力する際の検査時間を短縮し検査効率を向上すること。 - 特許庁

When receiving the test acknowledgement frame, the test control section A12 applies loopback setting to a test function section A13, which transmits a test frame for checking the error frame.例文帳に追加

試験制御部Ａ１２は試験応答フレームを受信すると、試験機能部Ａ１３にループバック設定を行って試験フレームの送信にてエラーフレームのチェックを行う。 - 特許庁

The stress test circuit (11) outputs control signals (TM1-TM3) for performing a stress test to a test object (2) and the stress test determination circuit (12).例文帳に追加

ここにおいて、ストレス試験回路（１１）は、ストレス試験を実行するための制御信号（ＴＭ１〜ＴＭ３）を試験対象（２）とストレス試験判定回路（１２）とに出力する。 - 特許庁

To provide the test device and method of an automatic control function capable of easily performing a test, and obtaining a highly reliable test result.例文帳に追加

試験が容易かつ信頼性の高い試験結果を得ることができる自動制御機能の試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

A test recording is carried out by the generation of a test pattern utilizing a control judgment device (CPU) 1, and the signal processing selection at the test recording time.例文帳に追加

制御判断装置（ＣＰＵ）１を利用したテストパターン発生とテスト記録時の信号処理選択によりテスト記録をおこなう。 - 特許庁

A test signal of a plurality of bits in which only a test control signal T1 becomes a high level and test control signals T2 to Tn become a low level is inputted to a decoder DEC.例文帳に追加

また、デコーダＤＥＣにテスト制御信号Ｔ１のみがハイレベルとなり、テスト制御信号Ｔ２乃至Ｔｎがロウレベルとなる複数ビットのテスト信号を入力する。 - 特許庁

STARTUP CONTROL METHOD OF DEVICE, SELF DIAGNOSTIC TEST METHOD OF DEVICE, CONTROL BOARD, EQUIPMENT AND INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

装置の起動制御方法、装置の自己診断試験方法、制御基板、機器、検査システム - 特許庁

CONTROL TIMING TEST SYSTEM FOR ENCODER, AND CONTROL TIMING TESTING METHOD OF THE ENCODER例文帳に追加

エンコーダ装置の制御タイミング試験システム及びエンコーダ装置の制御タイミング試験方法 - 特許庁

To provide a test execution managing device for a distributed control system for efficiently performing a test.例文帳に追加

試験の効率化を図ることができる分散制御システムの試験実行管理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sterilization/disinfection test system and a control method suitable for collecting test data.例文帳に追加

検査データを収集するのに適した殺菌・消毒検査システムおよび制御方法を提供する。 - 特許庁

To control the temperature adjustment mechanism of integrated circuit probe device test environment, and thereby enhance the reliability of test results.例文帳に追加

集積回路プローブ装置試験環境の温度を制御し、よって試験結果の角度を高める。 - 特許庁

To automate a test of a plant control device, to shorten testing time and to improve the accuracy of a test result.例文帳に追加

プラント制御装置の試験を自動化し、試験時間の短縮と試験結果の精度を上げること。 - 特許庁

The game machine also has a test command output means for transmitting a series of commands for test operation to the control board.例文帳に追加

制御基板に対して一連のテスト用動作コマンドを送信するテストコマンド出力手段を設ける。 - 特許庁

When receiving an error frame, a fault monitor section A11 makes a test request to a test control section A12.例文帳に追加

障害監視部Ａ１１はエラーフレームを受信すると、試験制御部Ａ１２に試験要求を行う。 - 特許庁

During the pressure test, the control rod drive system driving water pump is operated to maintain the test pressure.例文帳に追加

耐圧試験中は、制御棒駆動系駆動水ポンプを運転して上記試験圧力が保持される。 - 特許庁

When the control parameter adjustment device 10 receives the test termination signal from the test monitoring device 20, the control parameter calculated upon receipt of the test termination signal is applied to a control device 6.例文帳に追加

制御パラメータ調整装置１０は、テスト監視装置２０からテスト終了信号を受信した場合、該テスト終了信号受信時に算出された制御パラメータを制御装置６に適用する。 - 特許庁

The BIST control part transmits, in the test mode, control data, a command signal, test pattern data and a test address signal to the BIST logic circuit through the system bus to test the IP block, and compresses and stores the test result data received through the system bus.例文帳に追加

ＢＩＳＴコントロール部は、テストモードで、システムバスを介してＢＩＳＴロジック回路に制御データ、コマンド信号、テストパターンデータ、及びテストアドレス信号を伝送してＩＰブロックをテストし、システムバスを介して受信されるテスト結果データを圧縮して保存する。 - 特許庁

To improve the accuracy of a system test in a train operation control system.例文帳に追加

列車運行管理システムのシステム試験の精度を向上させる。 - 特許庁

TEST METHOD AND CIRCUIT FOR POWER SUPPLY CONTROL INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

電源制御集積回路装置の試験方法および試験回路 - 特許庁

TEST EQUIPMENT, ITS CONTROL METHOD, PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

試験装置及びその制御方法、並びにプログラム及び記憶媒体 - 特許庁

FLOW CONTROLLER AND TEST METHOD THEREFOR, AND FLOW CONTROL METHOD例文帳に追加

流量制御装置、その検定方法及び流量制御方法 - 特許庁