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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > control testの意味・解説 > control testに関連した英語例文

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control testの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 2117



例文

Access to the memories MEM1-MEMn is controlled by controlling a test sequence of the memories MEM1-MEMn by a test sequence control part 1 according to the test sequence setting from the outside, and by enabling/disabling chip enable signals CE1-CEn by a memory access control part 2 according to instructions from the test sequence control part 1.例文帳に追加

テストシーケンス制御部1が、外部からのテストシーケンス設定に従ってメモリMEM1〜MEMnのテストシーケンスを制御し、メモリアクセス制御部2が、テストシーケンス制御部1からの指示に従ってチップイネーブル信号CE1〜CEnの有効/無効を切り替え、メモリMEM1〜MEMnへのアクセスを制御する。 - 特許庁

In the branch prediction circuit test device 1, a random instruction generation part 11 generates a random instruction sequence, and a test execution control part 12 makes a device 2 of the test object execute the instruction sequence.例文帳に追加

分岐予測回路試験装置1のランダム命令生成部11がランダム命令列を生成し、試験実行制御部12が該命令列を被試験対象装置2に実行させる。 - 特許庁

A test signal given to the integrated memory is varied in synchronization with a test clock signal, an invalid state is set by a control signal being not synchronizing with this test clock signal, and given to the memory (3).例文帳に追加

混載メモリへ与えられるテスト信号をテストクロック信号に同期して変化させかつこのテストクロック信号と非同期の制御信号で無効状態を設定し、メモリ(3)へ与える。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus, a semiconductor test apparatus control method, a program, and a storage medium which generate a large-current load with high precision only by functions of a test apparatus.例文帳に追加

テスト装置の機能のみで大電流負荷を高精度に生成することができる半導体試験装置、半導体試験装置の制御方法、プログラム、及び記録媒体を提供する。 - 特許庁

例文

After receiving the loop control response frame, the transmission apparatus 1-31 transmits the test frame to the frame transmission interval and checks the returned test frame to test the quality of the lines.例文帳に追加

伝送装置1−31はループ制御応答フレームを受信後、試験フレームをフレーム伝達区間に送出し、返送された試験フレームをチェックして回線の品質を試験する。 - 特許庁


例文

The tester comprises a vibration part 1a for vibrating the test body, a drive control means (for example, CPU8 and the like) and is a vibration tester 100 for conducting the vibration test of a test body.例文帳に追加

供試体を加振する加振部1aと、加振部の駆動を制御する駆動制御手段(例えば、CPU8等)と、を備え、供試体の振動試験を行う振動試験装置100である。 - 特許庁

By setting each test switch 4, etc., into a collectively closed state, a test signal from the test signal control circuit 1 is transmitted to the direct current indicators 3, etc., to thereby enable operation confirmation.例文帳に追加

試験スイッチ4、…、4を一括閉状態にすることにより、試験信号制御回路1からの試験信号を直流電流指示計3、…、3に流し、動作確認が可能となる。 - 特許庁

The remote tester is provided with a test control part which sends test signals so that operation times by test signals of fire sensors connected to the same sensor line do not overlap with each other.例文帳に追加

遠隔試験器には、同じ感知器回線に接続された各火災感知器の試験信号による作動時間が重複しないように試験信号を送出する試験制御部を設ける。 - 特許庁

An input switch signal 8 is set in a test mode by a test enable signal input from a test setting terminal 5, and a signal input from a tester 2 is input into an address control 9.例文帳に追加

テスト設定端子5から入力されるテストイネーブル信号によって入力切替スイッチ8はテストモードに設定し、テスター2から入力される信号はアドレスコントロール9に入力する。 - 特許庁

例文

When fixing test images TA to TC are formed on the recording body (S1), a supervisory control part reads test image data (S3) and calculates toner requirement adhesion amount from the test image data obtained at S3 (S4).例文帳に追加

記録体S上に定着テスト画像TA〜TCが作成されると(S1)、統括制御部は、S3で得たテスト画像データからトナー要求付着量を算出する(S4)。 - 特許庁

例文

To provide a control method in a material test apparatus to be posed at a targeted position as close as possible in a material test under cyclic loads, and the material test apparatus.例文帳に追加

繰り返し荷重の材料試験において、極力狙った位置でポーズさせることができる材料試験装置における制御方法および材料試験装置を提供する。 - 特許庁

As the various products, articles for nursing care, foodstuffs, a test body for emission test, a test body for inspection, a micro camera, a key, control equipment for pet, a credit card, ink, equipment for animal experiment, toys and cosmetics are exemplified.例文帳に追加

介護用品、食料品、排出試験用試験体、検査用試験体、マイクロカメラ、鍵、ペット用管理備品、クレジットカード、インク、動物実験用備品、遊び道具、化粧品の各種製品。 - 特許庁

Further, the first and second hydraulic motors 4 and 5 are connected to a hydraulic control part B, thus executing at least one of the damping force test, speed test, and load driving test of the vehicle.例文帳に追加

さらに、第1及び第2の油圧モータ4、5を油圧制御部Bに接続して、車両の制動力試験、速度試験、負荷走行試験の少なくとも一を実施可能とする。 - 特許庁

The end point control employs a large volume relative to the test chamber volume upon which is drawn a deep vacuum and then exposed to the test chamber to quickly exhaust the sterilant gas from the test chamber.例文帳に追加

終了時点制御では、検査チャンバが大きく減圧されて殺菌ガスが急速に排出される時点で、その検査チャンバの容積に比べて大きな容積を用いる。 - 特許庁

The test execution control section 231 repeats same processing by changing the write current value.例文帳に追加

テスト実行制御部231は、ライト電流値を変化させて同様の処理を繰り返す。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS BURN-IN TESTING METHOD, ITS MANUFACTURING METHOD, BURN-IN TEST CONTROL CIRCUIT例文帳に追加

半導体装置及びそのバーンインテスト方法、製造方法並びにバーンインテスト制御回路 - 特許庁

A value of an internal row address signal bit is set from an address buffer 2 according to the test control signal, and operations of a row selecting circuit 3 and a bit line peripheral circuit 4 are controlled by a row system control circuit 10 with a test controlling function according to the test control signal.例文帳に追加

このテスト制御信号に従ってアドレスバッファ(2)からの内部ロウアドレス信号ビットの値を設定し、かつテスト制御信号に従ってテスト制御機能付行系制御回路(10)が行選択回路(3)およびビット線周辺回路(4)の動作を制御する。 - 特許庁

When a vender test mode in which voltage acceleration test is performed is selected, a level control signal is outputted from a control circuit 10, an internal power source circuit 13 varies a level of internal voltage based on this level control signal, and burn-in test is performed in an outputted state.例文帳に追加

電圧加速テストを行うベンダテストモードがエントリされるとレベル制御信号がコントロール回路10から出力され、このレベル制御信号に基づいて内部電源回路13が、内部電圧のレベルを可変して出力した状態でバーンインテストを行う。 - 特許庁

In the same way, an output side of a gate circuit 30 is connected to a control test circuit 40.例文帳に追加

同様に、ゲート回路30の出力側が制御試験回路40に接続される。 - 特許庁

HIGH-TEMPERATURE FATIGUE TEST METHOD CAPABLE OF ACCURATE TEMPERATURE CONTROL AND MEASUREMENT USING SMALL-SIZED FURNACE例文帳に追加

小型加熱炉を用いた正確な温度制御と測定が可能な高温疲労試験法 - 特許庁

A conversion circuit part 24 is provided between the test mode circuit 23 and the common control part 28.例文帳に追加

テストモード回路部23と共通制御部28との間に変換回路部24を設ける。 - 特許庁

Furthermore, the system control section 25 starts a subscriber test section 24 on the basis of the operating state.例文帳に追加

さらに、該装置制御部25が、加入者試験部24を該使用状態に基づいて起動する。 - 特許庁

The image of the test cell is loaded and the volume of the cell is calculated using a control means 12.例文帳に追加

そのテストセルの画像を取り込み、制御手段12でセルの体積を演算する。 - 特許庁

A control part 30 forms a toner image of a test pattern to the photoreceptor drum 4.例文帳に追加

制御部30は、テストパターンのトナー画像を感光体ドラム4に対して形成させる。 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND POSITIONING CONTROL METHOD FOR TEST PIECE STAGE IN THE SAME例文帳に追加

電子顕微鏡装置および同装置における試料ステージの位置決め制御方法 - 特許庁

LOG COLLECTION AUTOMATED DEVICE, LOG COLLECTION AUTOMATION TEST SYSTEM AND LOG COLLECTION CONTROL METHOD例文帳に追加

ログ収集自動化装置、ログ収集自動化試験システム、及びログ収集制御方法 - 特許庁

Control software accesses the data storage, and determines a duty cycle corresponding to the test clock.例文帳に追加

制御ソフトウェアはデータ・ストアにアクセスして、テスト・クロック対応のデューティ・サイクルを決定する。 - 特許庁

Each test control signal FTG is supplied to the input end of the other.例文帳に追加

また、他方の入力端には、それぞれテスト制御信号FTGが供給される。 - 特許庁

The image pickup control section picks up a test image without flash and a main image with flash.例文帳に追加

撮像制御部は、閃光無しのテスト画像と、閃光有りの本画像を撮像する。 - 特許庁

To easily confirm I/O test data or adjustment records by a monitor and control.例文帳に追加

監視制御装置でI/O試験データや調整記録を容易に確認できるようにしたい。 - 特許庁

PRINTER, IMAGE PROCESSOR, PRINTING CONTROL METHOD, PROGRAM, TEST PATTERN DATA, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

印刷装置、情報処理装置、印刷制御方法、プログラム、テストパターンデータ及び記録媒体 - 特許庁

(a) Programs for use in equipment for digital control of propulsion equipment or test equipment therefor 例文帳に追加

イ 推進装置又はその試験装置をデジタル制御するための装置に用いるためのもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

13C GLUCOSE RESPIRATION TEST FOR DIAGNOSING DIABETES SYMPTOMS, AND FOR MONITORING BLOOD SUGAR CONTROL例文帳に追加

糖尿病症状の診断及び血糖コントロール監視用13Cグルコース呼気試験 - 特許庁

The centralized supervisory and control equipment is provided with a tester for generating test data in place of telemeter data from each control station to be supervised, and the test data generated from the tester are received and displayed on a display part to test the centralized supervisory and control equipment.例文帳に追加

各被監視制御所からのテレメータデータに代わって試験データを発生させる試験器を集中監視制御装置に備え、この試験器から発生した試験データを受信し表示部に表示させて前記集中監視制御装置の試験を行う。 - 特許庁

The composite deterioration testing apparatus 1 for performing the deterioration test of a test target is equipped with an expansion and contraction control unit 3 for imparting expansion and contraction force to the test target 2 and a weather factor control unit for imparting the deterioration factor caused by the weather to the test target 2.例文帳に追加

試験対象物の劣化試験を行う複合劣化試験装置において、試験対象物に伸縮力を付与する伸縮制御装置と、試験対象物に天候に起因する劣化因子を付与する天候因子制御装置と、を備えている、複合劣化試験装置 - 特許庁

Each of the control systems (13, 14) includes a control valve (23, 26), a state switching valve (24, 27) and a test orifice circuit.例文帳に追加

制御系統(13、14)は、制御弁(23、26)と状態切替弁(24、27)と検査用オリフィス回路とを有する。 - 特許庁

To provide a control system and the like allowing a communication test of protocol data to be conducted without creating a control instruction program.例文帳に追加

制御指令プログラムを作成することなく、プロトコル・データの交信テストをすることができる制御システム等を得る。 - 特許庁

To prevent a vibration test stand from generating yawing by incorporating control for preventing yawing from being generated into the control of an actuator.例文帳に追加

アクチュエータの制御にヨーイングを生じさせない制御を組み込んで振動試験台にヨーイングを生じさせない。 - 特許庁

CONTROL MODULE AND CONTROL SYSTEM ACTING ON TEST ATMOSPHERE PARAMETER, METHOD FOR CONTROLLING MICROSCOPE APPARATUS AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

試験環境パラメータに作用する制御モジュールおよび制御システム、顕微鏡装置を制御する方法、および、コンピュータ・プログラム - 特許庁

To provide a monitoring control system capable of performing monitoring control processing by an existing terminal, even during test processing.例文帳に追加

試験処理中でも、既設の端末による監視制御処理を実行できる監視制御システムを提供することにある。 - 特許庁

To reduce a failure in gaining test data and drop in test accuracy attributed to the deviation of the actual torque generated from a sample brake off the torque range in a test in which a pad is pressed onto a rotor or a drum of the sample brake by a hydraulic constant control or a torque constant control.例文帳に追加

油圧一定制御またはトルク一定制御により供試ブレーキのロータまたはドラムにパッドを押圧した試験では、供試ブレーキが発生する実トルクがトルクレンジを外れて試験データ取得失敗や試験精度を低下させる。 - 特許庁

The testing circuit is arranged so that the data for selecting the test mode is fed from a tester 35 to a BISI control circuit 50 provided in a BIST circuit 40, and from the control circuit 50, the result of selecting the test mode is emitted synchronously with the test clock tck.例文帳に追加

テスタ35から、テストモード選択用のデータをBIST回路40内のBISI制御回路50に入力すれば、この制御回路50から、テストクロックtckに同期してテストモード選択結果が出力される。 - 特許庁

A control means 14 having an in-circuit test function 11, a function test function 12 and a communication test function 13 and collectively controlling the operations of these test functions and the operation procesure thereof according to the test program set in a circuit board is provided.例文帳に追加

インサーキットテスト機能11と、ファンクションテスト機能12と、通信テスト機能13とを一体に備え、これらの各テスト機能の動作とその動作手順を、前記回路基板に対して設定したテストプログラムに従って一括管理して制御する制御手段14とを備える。 - 特許庁

A test coil 12 for testing the performance of a main coil 11 is mounted near the main coil 11 in advance, a test signal is transmitted to the test coil 12, and a test control part 33A determines the quality by measuring a detection level of the main circuit receiving the test signal.例文帳に追加

主コイル11の性能を試験するための試験用コイル12を主コイル11の近傍に予め配置し、試験用コイル12に試験用信号を送り、これを受信した主回路の検知レベルを測定することによって試験制御部33Aが良否判定を行う。 - 特許庁

In a scan path test, the semiconductor integrated circuit device is provided with the number of the terminals of a test clock SCLK which is fewer than the number of domains of user clocks (UCLK1 to UCLK3) and comprises a test clock control circuit (TCLKCTL) for controlling whether a pulse of the test clock SCLK is allowed to propagate through a test clock line or to be cut off.例文帳に追加

スキャンパステストの際、ユーザクロック(UCLK1〜UCLK3)ドメイン数よりも少ない数のテストクロックSCLKの端子を確保し、テストクロックライン上にテストクロックSCLKのパルスを伝播するか遮断するかを制御するテストクロック制御回路(TCLKCTL)を備えている。 - 特許庁

A wafer control host 1 has a test condition database 3, that stores test conditions including information on the quality decision test program for a semiconductor chip, information on a specific characteristic value and a characteristic measurement test program for measurement, and information on a chip address for carrying out a characteristic measurement test.例文帳に追加

ウエハ制御ホスト1は、半導体チップの合否判定テストプログラムの情報と、具体的な特性値と測定するための特性測定テストプログラムの情報と、特性測定テストを行うチップアドレスの情報とを含むテスト条件が記憶されているテスト条件データベース3を備える。 - 特許庁

The sub-driver control circuit 20 performs correction control of a test pattern signal output from a waveform formatter 12 based on a control signal, and outputs a corrected test pattern signal to the sub-driver SDR1.例文帳に追加

サブドライバ制御回路20は、制御信号に基づいて、波形フォーマッタ12から出力されるテストパターン信号の修正制御を行い、修正されたテストパターン信号をサブドライバSDR1に出力する。 - 特許庁

To provide test chamber system for maintaining the sealing performance of decompression space on which the device under test is mounted to accurately control air pressure of the decompression space.例文帳に追加

試験チャンバ装置において、被試験装置を設置する減圧空間の密閉性を維持し、減圧空間の正確な気圧制御を行う。 - 特許庁

A test circuit conducting the starting test of the oscillation circuit where a quartz oscillator is oscillated is provided with an oscillator to be tested, and a control unit.例文帳に追加

これは発振器の起動試験装置のON−OFF回路が遅いため、規定された試験回数を行うのに時間がかかる問題があった。 - 特許庁

例文

To quickly and accurately record a test result on a control board, to easily manage the test result, and to promote paperless management.例文帳に追加

制御盤などの試験結果を迅速かつ正確に記録し、試験結果を容易に管理することができるとともに、ペーパレス化を促進すること。 - 特許庁




  
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日本法令外国語訳データベースシステム
※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
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