「control test」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

The control part 15 executes the basic test/diagnostic program or the new test/diagnostic program according to the result determining the execution instruction.例文帳に追加

そして制御部１５は、実行指示を判別した結果に従って、基本試験・診断プログラム、或いは、新規試験・診断プログラムを実行する。 - 特許庁

The test results inputted from an input section 1 under the control of a control section 4 are registered in a test result DB 6 and the number of correct answers by fields is registered into the number-of-correct-answer-by-field DB 10.例文帳に追加

制御部４の制御下、入力部１より入力された試験結果は試験結果ＤＢ６に登録され、分野別正解数が分野別正解数ＤＢ１０に登録される。 - 特許庁

To perform a simple and efficient test by facilitating formation of a test vector, when testing the operation state of an electronic control system having a plurality of electronic control units.例文帳に追加

複数の電子制御装置を有する電子制御システムの動作状態を試験するにあたり、テストベクタの作成を容易なものとして、簡便且つ効率的に試験を行えるようにする。 - 特許庁

When a display control command from a main board is a test command, a display controlling CPU 631 executes control with a content directed by the test command to an LCD.例文帳に追加

動作確認を行うための主基板からの表示制御コマンドがテストコマンドであれば、表示制御用ＣＰＵ６３１は、ＬＣＤに対して、テストコマンドで指示された内容の制御を実行する。 - 特許庁

A single loop is formed allowing the test signal generated by the control CPU 1 to be input to the SDO terminal of the control CPU 1 through the board under test 2 and the jig 3.例文帳に追加

制御ＣＰＵ１で発生した試験信号が被検査基板２、治具３を経由して制御ＣＰＵ１のＳＤＯ端子に入力されて一巡する単一ループが形成される。 - 特許庁

When the functional operation of the semiconductor circuit 30 itself is to be tested, the test data is fed to an input terminal TDI, and a test control signal is fed to control terminals TCK and TMS, and TRST.例文帳に追加

半導体テスト回路３０自体の機能動作をテストする場合、テストデータを入力端子ＴＤＩに入力すると共に、テスト制御信号を制御端子ＴＣＫ，ＴＭＳ，ＴＲＳＴに入力する。 - 特許庁

An LMP (link manager protocol) control unit 13 is designed to select one of data channels of the optical transmission IF unit, and to control the O/E converting unit 15, to transmit the test message through the selected data channel.例文帳に追加

ＬＭＰ制御部１３は，光送信ＩＦ部のデータチャネルの１つを選択し，選択したデータチャネルにより，Ｏ／Ｅ変換部１５からのTestメッセージが送信されるように制御する。 - 特許庁

When the two test signals RRT and CRT are simultaneously set to "H", the control signal XF becomes "L" and the control signal YFD becomes "H" if the inside becomes in a correct test state.例文帳に追加

２つの試験信号ＲＲＴ，ＣＲＴを同時に“Ｈ”に設定したとき、内部が正しい試験状態になれば、制御信号ＸＦは“Ｌ”、制御信号ＹＦＤは“Ｈ”となる。 - 特許庁

To provide a game machine allowing a test device side to precisely grasp a change in a control state of the game machine and perform a test based on the change in the precise control state.例文帳に追加

試験装置側で遊技機の制御状態の遷移を正確に把握して正確な制御状態の遷移に基づいて試験を行うことができるようにした遊技機を提供すること。 - 特許庁

When the test execution control part 521 discriminates that the predetermined prescribed transfer errors have occurred, the test execution control part 521 instructs the adjustment of a PLL circuit 363 to the HDD 1.例文帳に追加

テスト実行制御部５２１が、予め定められた所定の転送エラーが発生したと判定すると、テスト実行制御部５２１は、ＨＤＤ１にＰＬＬ回路３６３の調整を指示する。 - 特許庁

The control wirings 5 and 6 can be fixed to H or L by the input from the I/O output control terminal 15 and the test control terminals 9 and 16.例文帳に追加

制御配線５、６はＩ／Ｏ・出力制御端子１５、テスト制御端子９、１６からの入力によりＨまたはＬに固定することができる。 - 特許庁

ELECTRIC POWER SUBSTATION MONITORING CONTROL SYSTEM, AUTOMATIC PHONE ANSWERING DEVICE IN ELECTRIC POWER SUBSTATION MONITORING CONTROL SYSTEM AND TEST METHOD IN ELECTRIC POWER SUBSTATION MONITORING CONTROL SYSTEM例文帳に追加

変電所監視制御システム、変電所監視制御システムにおける電話自動応答装置および変電所監視制御システムにおける試験方法 - 特許庁

Information and a reference value input and calculated in the engineering process are processed by a process control part, the process control part calculates all the tests to be executed by the test module and results obtained in the test process by the test module are provided to the process control part.例文帳に追加

エンジニアリングプロセス内に入力され、算出される情報及び基準値は、プロセス制御部によって処理され、プロセス制御部は、テストモジュールによって実行されるべき全てのテストを算出し、テストモジュールによりテストプロセスで得られた結果は、プロセス制御部に提供される。 - 特許庁

The monitor and control for executing the control and monitor and driving operation of a plant is provided with a means for preserving I/O test data or the test results at a factory test, job site adjustment, and periodical check in a plant monitor and control and a means for displaying the preserved data.例文帳に追加

プラントの制御と監視及び運転操作を行なう監視制御装置において、工場試験時，現地調整時，定期点検時等のＩ／Ｏ試験データや試験結果をプラント監視制御装置内部に保存する手段と、前記保存したデータを表示する手段とを備えた。 - 特許庁

The control unit executes the radio device measuring instrument control program to instruct the radio device measuring instrument to perform the test and adjustment.例文帳に追加

制御部は、前記無線機測定器制御プログラムを実行して、前記無線機測定器に前記試験・調整の指示を行う。 - 特許庁

The switches 11 of each buffer are switched according to a control signal outputted from a pull-up/pulldown control test buffer 12.例文帳に追加

そして、プルアップ／プルダウン制御テストバッファ１２から出力された制御信号が各バッファのスイッチ１１を切替えるようにする。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, CONTROL METHOD THEREOF FOR EXTERNAL EQUIPMENT, AND STORAGE MEDIUM STORED WITH CONTROL PROGRAM THEREOF例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験装置における外部機器の制御方法、及びその制御プログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁

The state of the test operation of each control device is collected through a conventional control system transmitting medium and is recognized.例文帳に追加

各制御装置の試験動作の状態は従来の制御システム伝送媒体を通じて収集され、確認されることになる。 - 特許庁

To provide an accelerated weathering test system which can compute actual surface temperature of a test piece aiming at accurate and stable weathering test in order to control environmental conditions in a laboratory.例文帳に追加

正確で安定した耐候試験を目的として、試験室内の環境条件を制御する為に、試験片の実際の表面温度を求めることのできる促進耐候性試験装置の提供。 - 特許庁

When a test by the self-test circuit 10A is finished, a finish signal FA is outputted, an enable-signal EA from the test control circuit 20 is stopped, and an enable-signal E is outputted.例文帳に追加

自己試験回路１０Ａによる試験が完了すると完了信号ＦＡが出力され、試験制御回路２０からのイネーブル信号ＥＡが停止され、イネーブル信号ＥＢが出力される。 - 特許庁

To provide an electronic component testing apparatus which can correctly control a temperature of an electronic part even when the electronic component generates heat by itself at a test time, and can test the electronic component at a desired test temperature.例文帳に追加

試験時に電子部品が自己発熱しても、電子部品の温度を正確に制御し、所望の試験温度にて電子部品を試験することができる電子部品試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an automatic testing apparatus for a remote monitoring control device and a testing method in which a test is enabled with a little job-site handling personnel and test procedures or test data can be prepared.例文帳に追加

少ない現場対応要員で試験が可能であり、予め試験手順や試験データを準備できることのできる遠方監視制御装置の自動試験装置と試験方法を提供すること。 - 特許庁

A test chart control section 204 determines whether the reconfiguration request of test chart specifications has been received from a terminal unit 2, or the like, and whether it triggered the reconfiguration of a preset test chart.例文帳に追加

テストチャート制御部２０４は、端末装置２等からテストチャート仕様の再構成依頼を受け付けたか否か、及び予め設定されているテストチャート再構成の契機となったか否かを判断する。 - 特許庁

When the coincidence signal SWp is outputted, an interruption control circuit 154 outputs the test data held in the test data register 151 to heads of a plurality of test data latch circuits 114.例文帳に追加

割込み制御回路１５４は、一致信号ＳＷｐが出力された場合に、複数のテストデータラッチ回路１１４の先頭に対しテストデータレジスタ１５１に保持されているテストデータを出力する。 - 特許庁

Data on bioaccumulativity (BCF, logKow) and degradability (biodegradability, hydrolytic properties, etc.) shall be based on the test methods specified by the Chemical Substances Control Law (Law Concerning the Examination and Regulation of Manufacture, etc of Chemical Substances), OECD Test Guidelines, ASTM Standard Test Methods, etc.例文帳に追加

生物蓄積性（BCF、logKow）、易分解性（生分解性、加水分解性など）のデータは、化審法に規定する試験法、OECDテストガイドライン、ASTM標準試験法等に準拠し信頼のおけるものとする。 - 経済産業省

To provide a simple solution not requiring tracking/control of an inversion characteristic executed by a test developer in developing a test code, and capable of maintaining the algorithmic side of a test pattern.例文帳に追加

試験コードを開発する際に、試験開発者が反転特性の追跡・管理を行なう必要がなく、なおかつ試験パターンのアルゴリズム的側面を維持することができる単純なソリューションを提供する。 - 特許庁

The main control unit changes test value to be changed shown by information to be changed, associated with the first test value or the second test value in advance, on the basis of the generated expected value changing data.例文帳に追加

主制御部は、第１検査値又は第２検査値に予め対応付けられた変更対象情報が示す変更対象の検査値を、前記生成した期待値変更用データに基づいて変更する。 - 特許庁

This test mode entry circuit is provided with test mode entry controllers 191-193 generating an enable-control signal bMSETENB enabling continuous input of a second command only at the time of test mode entry when the signal bMSET is received with a continuous cycle synchronizing with a clock in this test mode entry circuit.例文帳に追加

このテストモードエントリ回路において信号bMSET をクロックに同期した連続したサイクルで受ける際、第２のコマンドの連続した入力をテストモードエントリ時のみ可能にするイネーブル制御信号bMSETENBを生成するテストモードエントリコントローラ191 〜193 を設けた。 - 特許庁

Each of a plurality of stacked semiconductor chips 21 to 24 comprises: a bump electrode BP_0; a test pad PAD_0; a test buffer TD_0 that receives signals, which are supplied from the test pad, and supplies it to the bump electrode; and a buffer control part BC that supplies control signals which control the active/inactive state of the test buffer.例文帳に追加

積層された複数の半導体チップ２１〜２４のそれぞれが、バンプ電極ＢＰ＿０と、テストパッドＰＡＤ＿０と、テストパッドから供給される信号を受け取りバンプ電極に供給するテストバッファＴＤ＿０と、テストバッファの活性状態と非活性状態とを制御する制御信号を供給するバッファ制御部ＢＣとを含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can shorten the time needed to test a semiconductor device, a control method of the semiconductor test device for external equipment, and a storage medium stored with its control program.例文帳に追加

本発明の課題は、半導体デバイスの試験に要する時間を短縮することを可能とする半導体試験装置、半導体試験装置における外部機器の制御方法、及びその制御プログラムを記憶した記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

Moreover, the driver board 32 of each test unit 3 performs a test specific to the driver board with respect to the burn-in board 4 connected via the motherboard 33, according to the instruction for starting testing the control unit 2, and outputs the test result to the control unit 2.例文帳に追加

また、各テストユニット３のドライバボード３２は、そのドライバボード固有の試験を、制御装置２のテスト開始の指示に応じて、マザーボード３３を介して接続したバーンインボード４に対して行い、試験結果を制御装置２に出力する。 - 特許庁

A mobile station test section of the mobile station automatically test a voice system of a radio channel connected at actual communication among a control station, a base station and the mobile station when the voice system makes no speech and transmits test result data to the control station.例文帳に追加

制御局、基地局、移動局間で実際の通信に接続する無線回線に、移動局の移動局試験部は、音声系が通話しない時に、自動的に音声系に対する試験を行い、試験の結果データを制御局へ送出する。 - 特許庁

A burn-in apparatus comprises a thermostat apparatus 1, a control unit 2, and a plurality of test units 3.例文帳に追加

恒温槽装置１、制御装置２、複数のテストユニット３よりバーンイン装置を構成する。 - 特許庁

To control the temperature of a test piece with good accuracy in the case of testing while the temperature is controlled.例文帳に追加

温度制御しながら試験を行う場合に試験片の温度を精度よく制御する。 - 特許庁

In a mode M3 for an actual test, actual tests are performed by using control values corrected by the use of the collected data.例文帳に追加

実試験になるモードＭ３では、収集したデータで制御値を補正して実試験を行う。 - 特許庁

TEMPERATURE TEST SYSTEM FOR ELECTRONIC APPARATUS AND METHOD OF CONTROLLING THE SAME AND TEMPERATURE CONTROL UNIT AND PROGRAM例文帳に追加

電子機器の温度試験システムとその制御方法および温度調整装置ならびにプログラム - 特許庁

A command read control circuit reads commands recorded in a command recording section at a test mode.例文帳に追加

コマンド読み出し制御回路は、試験モード時にコマンド記録部に記録されたコマンドを読み出す。 - 特許庁

To efficiently perform a quality control test with respect to a radiation image detector in high frequency.例文帳に追加

放射線画像検出装置に対し高い頻度で効率よく品質管理試験を行う。 - 特許庁

A programmable remote controller 3 outputs a remote control signal to a television 2 in accordance with a test pattern A.例文帳に追加

プログラマブルリモコン３は、テストパターンＡに従いリモートコントロール信号をテレビ２に出力する。 - 特許庁

CONTROL SYSTEM AND TEST FOR MEDICAL TECHNOLOGY AND/OR METHOD OF OPERATION OF TREATMENT APPARATUS例文帳に追加

医療技術の制御システムおよび医療技術の検査および／または治療装置の操作方法 - 特許庁

The system region includes a test recording area, a recording control information area, and a user data read-in area.例文帳に追加

システム領域は、テスト記録エリアと記録制御情報エリアとユーザデータリードインエリアとを含む。 - 特許庁

The system estimates the leakage current by analyzing variations in a control signal against an external test vector.例文帳に追加

外部からのテストベクタに対する制御信号の変化を解析して、リーク電流を見積もる。 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR INSULATING OIL, TEST METHOD OF INSULATING OIL, AND MAINTENANCE CONTROL METHOD OF TRANSFORMER例文帳に追加

絶縁油の試験装置及び絶縁油の試験方法ならびに変圧器の保守管理方法 - 特許庁

This test device 1 of the terminal fittings is provided with a CCD camera 5 and a control device 7 or the like.例文帳に追加

端子金具の検査装置１はＣＣＤカメラ５と制御装置７などを備えている。 - 特許庁

CONTROL COMPOSITION AND METHOD OF USE FOR COAGULATION TEST, EVALUATION DEVICE AND KIT例文帳に追加

対照組成物および該対照組成物の凝固試験への使用方法、評価装置およびキット - 特許庁