「control test」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

The first power supply unit 22 is connected to a control circuit 12 so as to supply a predetermined voltage waveform to the control circuit 12 during the period of operation test.例文帳に追加

第１電源ユニット２２は、動作試験時に、制御回路１２と接続されかつ該制御回路１２に所定の電圧波形を供給する。 - 特許庁

A readout control test determination part 23 determines that readout control is normal when the higher priority cell is read out prior to the lower priority cell.例文帳に追加

読出制御試験判定部２３は低優先セルよりも先に高優先セルが読み出されたとき読出制御が正常であると判断する。 - 特許庁

The alarm circuit 400 is responsive to the preset control signal to reset or test the alarm in dependence on the preset control signal.例文帳に追加

該警報回路（４００）は、該プリセットされた制御信号に応答して、該プリセットされた制御信号に依存して、該警報装置をリセットまたはテストする。 - 特許庁

Namely, the CPU for lamp control performs control for executing operation contents designated by the test command sent from the CPU of the main substrate.例文帳に追加

すなわち、ランプ制御用ＣＰＵは、主基板のＣＰＵから送られたテストコマンドが指定する動作内容を実行するための制御を行う。 - 特許庁

In response to a command from the test scenario control part 32, a traffic generator control part 34 controls the operation of a traffic generator connected to a network.例文帳に追加

トラフィックジェネレータ制御部３４は、テストシナリオ制御部３２からの指示を受け、ネットワークに接続されたトラフィックジェネレータの動作を制御する。 - 特許庁

A host test interface circuit TICU transmits a test control signal TCMD externally inputted or the like to each of the test interface circuits TIC0-TIC2 or selected one of the test interface circuits TIC0-TIC2 in accordance with a memory core selecting signal MCR <1:0>.例文帳に追加

上位テストインターフェイス回路ＴＩＣＵは、外部から入力されるテスト制御信号ＴＣＭＤ等を、メモリコア選択信号ＭＣＲ＜１：０＞に応じて、テストインターフェイス回路ＴＩＣ０〜ＴＩＣ２の各々、もしくはテストインターフェイス回路ＴＩＣ０〜ＴＩＣ２の選択された１個に対して伝達する。 - 特許庁

A control section controls so as to operate only the test apparatus selected in the test apparatus selection mode screen C in the test mode screen D, and controls so as not to operate any other apparatus under operation which are not selected in the test apparatus selection mode screen C.例文帳に追加

制御部は、試験モード画面Ｄでは、試験機器選択モード画面Ｃにおいて選択された試験機器のみの操作を可能するように制御し、試験機器選択モード画面Ｃにおいて選択されていない他の運転中の機器は操作できないように制御する。 - 特許庁

The test is started by a test start time counter 4 measuring the text start time, and a host I/O check part 5 confirms that a disk array control part 9 is not executing an I/O instruction from a host computer I, and thereafter, a data test part 6 executes the data read test.例文帳に追加

テスト開始時間を計測するテスト開始時間カウンタ４によりテスト開始が起動され、ホストＩ／Ｏチェック部５がディスクアレイ制御部９がホストコンピュータ１からのＩ／Ｏ命令を実行中でないことを確認した後に、データテスト部６がデータの読み出しテストを実行する。 - 特許庁

When a user inputs test data to a test terminal 101, and inputs information related to an expected recognition result and decision conditions as evaluation conditions, an evaluation condition setting part 205 sets the evaluation conditions, and a test data transmission control part 202 transmits test data to each image recognition part.例文帳に追加

利用者がテスト端末１０１に、テストデータを入力し、期待する認識結果に関する情報と判定条件を評価条件として入力すると、評価条件設定部２０５は評価条件を設定し、テストデータ送信制御部２０２はテストデータを各画像認識部に送信する。 - 特許庁

To solve the following problem: test costs such as test time and test program development man-days increase, and human errors increase due to test program complications, because control by individual chips becomes necessary in the case where a plurality of chips are simultaneously measured by an external device, because trimming data is a random data peculiar to each chip.例文帳に追加

トリミングデータはチップ毎に固有のランダムなデータであるため、外部装置により複数チップを同時測定している場合、チップ個別の制御が必要となり、テスト時間・テストプログラム開発工数等のテストコストやテストプログラム複雑化によるヒューマンエラー増大を招く。 - 特許庁

A control circuit 12 controls at least one of the test signal detection circuit 23 and the test signal detection circuit 20 so that the test signal detection circuit 20 detects the prescribed call signal 704 only when the test signal generation circuit 23 generates the prescribed call signal 704.例文帳に追加

また、制御回路12が、テスト信号発生回路23が所定の呼出信号704を発生しているときのみ、テスト信号検出回路20が所定の呼出信号704を検出するように、テスト信号発生回路23及びテスト信号検出回路20の中の少なくともいずれか一方を制御する。 - 特許庁

This anti-aging test control system comprises processes performing a hormone test, a blood biochemical test, and a tumor marker test for determining measures for anti-aging, comparing the results with respective reference values, and examining the hormone by calculating an optimal hormone level relative ratio from the following calculation formula.例文帳に追加

抗老化への対処の判定のために、ホルモン系検査、血液生化学検査、腫瘍マーカー検査を行い、その結果を各基準値との参照を行うことと、ホルモン系検査を以下の計算式により至適ホルモン量相対比率を算出することを含む抗老化検査管理システム。 - 特許庁

When reproducing the test, a test ID is inputted, information held in the bug management database is used, an input signal time serially reproduced by the test data, and a control signal of the operation history are inputted to the test equipment, and the generated bug is reproduced.例文帳に追加

また、テストの再現時には、テストＩＤを入力して、そのバグ管理データベースに保持されている情報を利用し、時系列的にテストデータによって再現される入力信号と、操作履歴の制御信号をテスト機器に入力することにより、発生したバグを再現させる。 - 特許庁

A control circuit 4 for controlling an operation mode in the test for the logic circuit 2 and the DRAM 3 is provided on the same chip mounted with the logic circuit 2 and the DRAM 3, a scanning test mode is set in the burn-in test in the logic circuit 2, a burn-in test mode is set therein in the DRAM 3.例文帳に追加

ロジック回路２とＤＲＡＭ３が搭載される同一チップ上に、これらの試験時の動作モードを制御するためのコントロール回路４を設け、バーンイン試験時には、ロジック回路２についてはスキャン試験モードに設定させ、ＤＲＡＭ３についてはバーンイン試験モードに設定させる。 - 特許庁

A test chart is displayed by a video display means of the head mount display, a test chart which can be compared with the test chart is provided on the reverse surface of a battery lid of a control unit, and the observer compares both the test charts with each other while putting on the head mount display.例文帳に追加

ヘッドマウントディスプレイの映像表示手段にテストチャートを表示させるとともに、このテストチャートと比較可能なテストチャートを制御ユニットの電池蓋の裏面に備え、観者がヘッドマウントディスプレイを装着したままで両テストチャートの比較を行うことを可能とする。 - 特許庁

The control device controls the heating hot water supply part 1 to execute boiling-up test operation for checking the operation of the heating hot water supply part 1, and stores a test operation completing flag to be in an established condition showing that the boiling-up test operation is completed when the boiling-up test operation is completed.例文帳に追加

制御装置は、加熱給湯部１を制御して加熱給湯部１の動作を確認するための沸き上げ試運転を行わせ、沸き上げ試運転が完了した場合には沸き上げ試運転が完了したことを示す沸き上げ試運転完了フラグを成立状態として記憶する。 - 特許庁

When the evaluation test is executed (S204), the operation PC processes the resultant data of the evaluation test by the evaluation function (S206), extracts two test conditions obtained by changing the condition value (S208), and a three-dimensional graph is created by two extracted test conditions and the control performance (S210).例文帳に追加

評価試験を実行すると（Ｓ２０４）、オペレーションＰＣは、評価試験の結果データを評価関数により処理し（Ｓ２０６）、条件値を変化させた試験条件を２個抽出し（Ｓ２０８）、抽出した２個の試験条件と制御性能とで３次元グラフを作成する（Ｓ２１０）。 - 特許庁

This memory test circuit is provided with: signal generating circuits for respectively generating a CS signal, an address signal, a data signal and an R/W signal of a memory to be tested; and a test setting control circuit for generating the control data of these signal generating circuits.例文帳に追加

被テストメモリのＣＳ信号、アドレス信号、データ信号、Ｒ／Ｗ信号を生成する各信号生成回路と、これらの信号生成回路の制御データを発生するテスト設定制御回路を備える。 - 特許庁

Since the network test of the test server 6 can be conducted independent of the main control part 2, a load is not given to the main storage bus 24 and multiple client cards 401-40n can be inserted into one client control machine 1.例文帳に追加

主制御部２とは独立して試験用サーバ６のネットワーク試験を実行できるので、主記憶バス２４に負荷がかからず、１台のクライアント制御マシン１に多数のクライアントカード４０_1〜４０_nを挿入できる。 - 特許庁

The operation mode control unit 4 is used when the sensor LSI 50 is tested, and outputs to the operation timing generation unit 5 a mode control signal Sms designating either an operation test mode or an intermittent operation test mode.例文帳に追加

動作モード制御部４は、センサＬＳＩ５０のテスト工程のときに用いられ、間欠動作テストモードと動作テストモードいずれかを指定するモード制御信号Ｓｍｓを動作タイミング生成部５に出力する。 - 特許庁

Further, the tester simultaneously generates test data about a plurality of control stations to be supervised entirely or partially to thereby be able to simultaneously test the plurality of control stations to be supervised entirely or partially.例文帳に追加

さらに、試験器は、複数の被監視制御所の全てまたは一部について試験データを同時に発生させことにより、複数の被監視制御所の全てまたは一部について同時に試験を行うことができる。 - 特許庁

A test processor 112 transmits a first control signal and a second control signal to a first pattern generation part 114 in a tester 110 and a first pattern generation part 124 in a test head 120, respectively (ST150).例文帳に追加

テストプロセッサ１１２が第１制御信号および第２制御信号をそれぞれテスタ１１０内の第１パターン発生部１１４およびテストヘッド１２０内の第１パターン発生部１２４に伝送する（ＳＴ１５０）。 - 特許庁

After the completion of the test, when the control of the motor 9 is started, the main CPU 2 performs the control in such a manner that the driving signals may be outputted to the FET 7 and the FET 8 by the path which has been determined to be normal by the test.例文帳に追加

試験終了後、モータ９の制御を開始する際には、メインＣＰＵ２は上記試験で正常だと判定された経路でＦＥＴ７及びＦＥＴ８へ駆動信号を出力するように制御する。 - 特許庁

To provide a control apparatus having triplicated configuration capable of performing a simulation test for the triplicated control apparatus during plant operation without cable connection for the simulation test.例文帳に追加

シミュレーション試験のためのケーブルの接続作業を必要とせず、しかもプラントの運転中に３重化された制御装置のシミュレーション試験を行うことができる３重化構成制御装置を提供することである。 - 特許庁

The focus control device for a camera module to control a focus by using test charts is provided with a magnifying glass 6, and first chart 2 and second charts 3-5 which are used for test charts.例文帳に追加

この発明は、テストチャートを用いてフォーカス調整を行なうカメラモジュールのフォーカス調整装置にかかり、拡大鏡６と、テストチャートとなる少なくとも第１のチャート２および第２のチャート３，４，５とを備える。 - 特許庁

To provide a charge and discharge control circuit and a rechargeable power unit provided with a charge and discharge control terminal having a test function and capable of switching among a normal application state, a charge and discharge state and a test state.例文帳に追加

テスト機能を兼有する充放電制御端子を備え、通常応用状態、充放電禁止状態及びテスト状態を切り替えることが可能な充放電制御回路及び充電式電源装置の提供。 - 特許庁

A disclosed example method includes: identifying, using a processor, an execution path through a batch configuration of a process control system; generating a test plan for the execution path; stimulating the process control system to execute the test plan; and recording a result of the test plan.例文帳に追加

開示される例示的方法は、プロセッサを使用して、プロセス制御システムのバッチ構成を通して、実行経路を識別することと、実行経路のための試験計画を生成することと、試験計画を実行するようにプロセス制御システムを促進することと、試験計画の結果を記録することと、を含む。 - 特許庁

A control section 31 of a terminal device 3 controls a control tool 2 to transmit command information for setting the operating state of a CD player 1 subjected to one test to a predetermined one base state before setting it to a test state for the next test.例文帳に追加

端末装置３の制御部３１が、１の試験による動作が終了した後のＣＤプレーヤー１の動作状態を、次の試験の動作を行うためのテスト状態に設定する前に、所定の１の基底状態に設定するコマンド情報を制御治具２に送信させるように制御する。 - 特許庁

This device has a constitution wherein an interface 28 for transferring a signal between the BOST device 20 and a CPU of an external control device 40 is installed, and a control signal for a test and a test analysis result signal are transferred through the interface 28, to thereby execute the test and the evaluation.例文帳に追加

ＢＯＳＴ装置２０と外部制御装置４０のＣＰＵとの間で信号のやり取りを行なうインターフェース２８を設け、このインターフェース２８を介してテスト用の制御信号及びテスト解析結果信号をやり取りし、テストと評価を行なう構成とする。 - 特許庁

This optical disk has a data storage area and a test writing area to be used to adjust the power of the laser used for writing, and it is also provided with a test writing control area to write and control the information about the test writing area.例文帳に追加

データ記録領域と、光ディスクに記録を行うレーザの出力を調整するための試し書きに使用される試し書き領域を有する光ディスクで、前記試し書き領域に関する情報を記録し、前記試し書き領域を管理するための試し書き管理領域を有する光ディスクとする。 - 特許庁

One test control signal 34 is generated, the at least one test module 30 is electrically separated at least partially from the at least one wire 38, 40 and/or the at least one terminal in an operation mode of the electronic circuit, using the test control signal, and a switching current is evaded in the at least one test module.例文帳に追加

１つの試験制御信号（３４）が生成され、この試験制御信号を用いて、電子回路の動作モードで、少なくとも１つの試験モジュール（３０）が、少なくとも部分的に、少なくとも１つの線（３８、４０）または少なくとも１つの端子から電気的に分離されて、少なくとも１つの試験モジュールにおいてスイッチング電流が回避される。 - 特許庁

A test signal RRT for testing the redundant memory cell in the direction of a line, a control signal XF generated by the test signal RRT, a test signal CRT for testing the redundant memory cell in the direction of a column, and a control signal YFD generated by the test signal CRT are provided to an output buffer 100A.例文帳に追加

行方向の冗長メモリセルを試験するための試験信号ＲＲＴとこの試験信号ＲＲＴによって生成される制御信号ＸＦ、及び列方向の冗長メモリセルを試験するための試験信号ＣＲＴとこの試験信号ＣＲＴによって生成される制御信号ＹＦＤが、出力バッファ１００Ａに与えられる。 - 特許庁

The semiconductor device having a test mode comprises a non-volatile memory 1 for storing a test mode control code at a specific address, a generator 3 for generating a fixed value indicating test mode prohibition/permission, and a hamming distance judging circuit 4 for controlling shift to the test mode according to whether the hamming distance between the control code and the fixed value is lower than a specific value or not.例文帳に追加

テストモードを有する半導体装置であって、所定番地にテストモード制御コードを記憶する不揮発性メモリ１と、テストモード禁止／許可を示す固定値を発生する発生部３と、前記制御コードと前記固定値とのハミング距離が所定数以下であるか否かに応じて前記テストモードへの移行を制御するハミング距離判定回路４とを備える。 - 特許庁

The test result dout is compared with the test pattern din of the expected value by a data comparator 70, and the comparing result compout is held by an output control circuit 80 and fed out synchronously with the test clock tck.例文帳に追加

テスト結果ｄｏｕｔは、データ比較器７０によって期待値のテストパターンｄｉｎと比較され、この比較結果ｃｏｍｐｏｕｔが出力制御回路８０に保持され、テストクロックｔｃ ｋに同期して外部へ出力される。 - 特許庁

A display control substrate 80 also carries a display test circuit 120, and the display test circuit 120 has a test CPU 121 loaded with an I/O port, etc., and a ROM 122 stored with a program, etc., executed by the CPU 121.例文帳に追加

表示制御基板８０には表示試験回路１２０も搭載され、表示試験回路１２０は、Ｉ／Ｏポート等を内蔵した試験用のＣＰＵ１２１と、ＣＰＵ１２１が実行するプログラム等が格納されたＲＯＭ１２２を有する。 - 特許庁

Once the test starts, the display control part 213 refers to the previously created test information 224 and controls the unit simulating part 211 on the assumption that there is instruction information whose content is described in the test information 224.例文帳に追加

試験が開始されると、表示制御部２１３は、予め作成された試験情報２２４を参照することにより、試験情報２２４に記述されている内容の指示情報があったものとして、ユニット模擬部２１１を制御する。 - 特許庁

To provide a highly accurate modeling for an adaptation method of a control parameter of an internal combustion engine even when a discrepancy exists between the test condition determined by the test planning method and the actual test condition.例文帳に追加

本発明は、内燃機関の制御パラメータの適合方法に関し、実験計画法により決定した試験条件と実際の試験条件との間にずれが生じた場合であっても高い精度でモデル化を行うことを目的とする。 - 特許庁

When a test is started, a control means 110 generates a timing signal for generating a test pattern signal according to set information and generates the address designation signal of the test pattern memory means 130 every cycle period.例文帳に追加

試験が開始されると、制御手段１１０は、設定情報に従ってテストパターン信号を生成するタイミング信号を発生するとともに、サイクル周期毎にテストパターン記憶手段１３０のアドレス指定信号を発生する。 - 特許庁

To provide a technique for verifying function operation of a virtual tape device under a test operation environment by operating a test program on a host computer that is a host control device and a test program on a monitoring terminal.例文帳に追加

上位制御装置であるホストコンピュータ上の試験用プログラムと監視端末の試験プログラムとを稼働させることによって、この試験運用環境下における仮想テープ装置の機能動作を検証する技術を提供する。 - 特許庁

At the time of testing a circuit 40, test control information is inputted externally to a test interface circuit 14 and set in the scan register 41 of circuit modules 21-24 to be tested through a test signal chain 20.例文帳に追加

被テスト回路（４０）のテストを行なうとき、外部からテストインタフェース回路（１４）にテスト制御情報を入力し、テスト対象回路モジュール（２１〜２４）のスキャンレジスタ（４１）にテスト信号チェーン（２０）を介してテスト制御情報をセットする。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system not making an unnecessary evaluation of a device by immediately identifying a defect cause in a semiconductor test system having an overcurrent protective device in a control signal output circuit of a test head.例文帳に追加

テストヘッドの制御信号出力回路に過電流保護装置を備えた半導体試験システムにおいて、不良原因が即座に特定され、無駄なデバイス判定を行うことのない半導体試験システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

A pseudo terminal 204 for a test with a pseudo terminal control part 205 for a test connected thereto is connected to a VoIP subscriber circuit 203 to be a test target, and thus, a direct current loop forming part 245 simulatively forms a direct current loop.例文帳に追加

試験用擬似端末制御部２０５の接続された試験用擬似端末２０４を試験対象となるＶｏＩＰ加入者回路２０３に接続し、直流ループ形成部２４５で擬似的に直流ループを形成する。 - 特許庁

To provide a link power control test method of a mobile communication system, enabling acquisition of an effect in a test room similar to an actual field test by replacing a radio path between a base station and a mobile station with an attenuator.例文帳に追加

基地局と移動局との間の無線経路を減衰器に取り替えることにより、試験室内で実際にフィールドで試験するごとき効果を得るようにした移動通信システムのリンク電力制御試験法を提供する。 - 特許庁

A semiconductor test apparatus for testing a DUT 1 includes a tester section 2 provided with a plurality of test channels to be connected to the DUT 1 for testing, and a tester control section 3 provided with a hardware control section 21 for switching a connection to an unused and normal one of the test channels connectible to a faulty test channel when any one of the test channels becomes faulty.例文帳に追加

ＤＵＴ１の試験を行うための半導体試験装置であって、ＤＵＴ１に接続して試験を行うためのテストチャネルを複数備えるテスタ部２と、テストチャネルのうち何れかのテストチャネルが故障したときに、故障したテストチャネルに接続可能なテストチャネルのうち未使用且つ正常なテストチャネルに接続を切り替える制御を行うハードウェア制御部２１を備えるテスタ管理部３とを備えている。 - 特許庁

The burn-in test of the semiconductor device 302 to be tested is performed by supplying scan-in signals S102, memory test signals S103 and test mode control signals S101 from the test pattern generation means 301 to the semiconductor inspection device 100, time measurement is performed in the time measurement means 305 for the test result and the generation time of a defect/a fault is specified.例文帳に追加

テストパターン発生手段３０１から半導体検査装置１００にスキャンイン信号Ｓ１０２、メモリテスト信号Ｓ１０３、テストモード制御信号Ｓ１０１を供給して被試験半導体装置３０２のバーンイン試験を行い、その試験結果は時間計測手段３０５で時間計測が行われ不良・故障の発生時間を特定する。 - 特許庁