「control test」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor device which can test a programmable impedance control function simultaneously with a function test of a device.例文帳に追加

デバイスのファンクションテストと同時にプログラマブル・インピーダンス制御機能の試験を行うことができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a vibration test control device capable of performing a random vibration test setting the kurtosis of a random signal as a parameter.例文帳に追加

ランダム信号の尖度をパラメータとするランダム振動試験を行うことのできる振動試験制御装置を提供するにある。 - 特許庁

A circuit for the test hardly has to be increased because the program control arithmetic circuits that originally exit are used to perform the test.例文帳に追加

また元々存在するプログラム制御演算回路を用いてテストを行うので、テスト用の回路増加はほとんど発生しない。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit 100 includes a power amplifier 15, the thermal protection circuit sensing an abnormal heating of the power amplifier 15 and protecting the power amplifier 15, a test circuit 10 having a test terminal for applying a test voltage and performing the operation test of the thermal protection circuit according to the test voltage, and a control circuit 16 having a control terminal for applying a control voltage and performing a control on an internal circuit according to the control voltage.例文帳に追加

半導体集積回路１００は、パワーアンプ１５と、パワーアンプ１５の異常発熱を検知してパワーアンプ１５を保護する熱保護回路と、テスト電圧を印加するテスト端子を有し、テスト電圧に応じて熱保護回路の動作テストを行うテスト回路１０と、制御電圧を印加する制御端子を有し、制御電圧に応じて内部回路の制御を行う制御回路１６と、を備える。 - 特許庁

The function test control part 12 also holds the control signal CS for handling the operation voltages with respect to the voltage control part 15 at least corresponding to the test program and the voltage control part 15 gets the operation voltages varied according to the control signal CS.例文帳に追加

かつ、機能試験制御部１２は、少なくとも試験プログラムに応じた電圧制御部１５に対する動作電圧操作用の制御信号ＣＳを保持し、電圧制御部１５は、制御信号ＣＳに応じて動作電圧が可変される。 - 特許庁

In the test chart reconfiguration, the test chart control section 204 refers to the frequency of use of each color for updating the test chart of the operating image-forming device 10 by referring to the test chart of other image-forming devices.例文帳に追加

テストチャート再構成時には、テストチャート制御部２０４は、それぞれの色の使用頻度を参照し、他の画像形成装置のテストチャートを参照して、動作する画像形成装置１０のテストチャートを更新する。 - 特許庁

When receiving a test printing command, a test printing control part 38 determines test printing contents to be implemented from the command and the set contents stored in the logo setting storage part 37a and the logo test printing setting storage part 37b.例文帳に追加

テスト印刷制御部３８は、テスト印刷指令を受けて、指令と、ロゴ設定記憶部３７ａとロゴテスト印刷設定記憶部３７ｂとに記憶された設定内容とから、実行するテスト印刷内容を決定する。 - 特許庁

A test writing control circuit 12 operates in a test mode and in each regular cell array CA 1-4, writes test data in a regular memory cell at a position corresponding to the position of the parity memory cell where test parity data are written.例文帳に追加

試験書き込み制御回路１２は、試験モード中に動作し、各レギュラーセルアレイＣＡ１−４において、試験データを、試験パリティデータが書き込まれるパリティメモリセルの位置に対応する位置のレギュラーメモリセルに書き込む。 - 特許庁

A control unit 51 has a test marking means, and a test marking step for performing the test marking on a preset test marking area is performed before the formal marking in an official marking area on an object 2 to be printed.例文帳に追加

制御部５１は、テストマーキング手段を備えており、印字対象物２上の正式マーキング領域への正式マーキングの前に、予め設定したテストマーキング領域へのテストマーキングを行うテストマーキングステップが実行される。 - 特許庁

To provide a test method of a control program, which is capable of easily checking whether the control program mounted on a control model or an electronic control unit is abnormal or not when performing model base development and to provide a test device and a test program for use in this method.例文帳に追加

モデルベース開発を行うにあたって、制御モデルや電子制御装置に実装された制御プログラムの異常の有無を簡易に検査することのできる制御プログラムの検査方法、及び該制御プログラムの検査に用いる検査装置及び検査プログラムを提供する。 - 特許庁

This device includes the train operation control system 1 during working, a test system 6 including an environment equivalent to the train operation control system 1 to test the train operation control system 1 and a gateway device 5 for connecting the train operation control system 1 during working and the test system 6.例文帳に追加

稼動中の列車運行管理システム１と、列車運行管理システム１の試験のために、列車運行管理システム１と等価な環境を備えた試験系システム６と、稼動中の列車運行管理システム１と試験系システム６との間を接続するゲートウェイ装置５を備える。 - 特許庁

RAM 5 stores the data for test generated by the logic operation part 4 according to the control by the control part 3.例文帳に追加

ＲＡＭ５は制御部３による制御に応じてロジック演算部４が生成したテスト用データを記憶する。 - 特許庁

To provide a control parameter adjustment system properly terminating an adjustment test of a control parameter.例文帳に追加

制御パラメータの調整テストを適切に終了させることが可能な制御パラメータ調整システムを提供する。 - 特許庁

These image data and the bit map image are test-printed from an output section 26 under printing control due to a printing control section 22.例文帳に追加

このイメージデータとビットマップイメージを印刷制御部２２で印刷制御して出力部２６からテストプリントする。 - 特許庁

A test program control part 4 translates commands of the test program and outputs a change request signal including a change parameter after the change and an input terminal of a change target to a test parameter control part 5 when the change of the parameter value of a test signal is requested.例文帳に追加

試験プログラム制御部4は、試験プログラムのコマンドを翻訳し、試験信号のパラメータ数値の変更を要求している場合、変更対象の入力端子と、変更後の変更パラメータとを含む変更要求信号を試験パラメータ制御部5に出力する。 - 特許庁

The transfer of the verification/test pattern of the DUT (external computer→FPGA for control→pattern storage memory), the transfer of the verification/test control data of the DUT (external computer→FPGA for control), and the transfer of the verification/test result (result storage memory→FPGA for control→external computer) are instructed by software for control through a microcomputer.例文帳に追加

ＤＵＴの検証／テストパターンの転送（外部コンピュータ→制御用ＦＰＧＡ→パターン格納メモリ）と、ＤＵＴの検証／テスト制御データの転送（外部コンピュータ→制御用ＦＰＧＡ）と、検証／テスト結果の転送（結果格納メモリ→制御用ＦＰＧＡ→外部コンピュータ）は、共にマイコンを介して制御用ソフトウェアによって指示される。 - 特許庁

To perform a test of raised electric inertia control accuracy by reducing the vibration response.例文帳に追加

振動的な応答を低減し、電気慣性制御精度を高めた試験ができる。 - 特許庁

A memory control unit for a hard macro or a soft macro can be selected by a memory control unit selection part 10, and a test item to be applied can be selected by a test item selection part 11.例文帳に追加

メモリ制御部選択部１０によりハードマクロかソフトマクロのメモリ制御部を選択でき、テスト項目選択部１１で適用テスト項目を選択できる。 - 特許庁

The test terminal and the control terminal are combined as one common terminal KP.例文帳に追加

そして、テスト端子と制御端子とを１つの共通端子ＫＰに共通化した。 - 特許庁

BACK PRESSURE RESISTANCE TEST METHOD FOR FILTER CARTRIDGE AND FILTERING PROCESS CONTROL METHOD FOR PLANT例文帳に追加

フィルタカートリッジの逆圧耐性試験方法及びプラントの濾過工程制御方法 - 特許庁

A logic operation part 4 generates data for test on the basis of an operation control signal generated by the execution of the above-mentioned program for test by the control part 3.例文帳に追加

ロジック演算部４は制御部３が上記テスト用プログラムを実行することによって生成した演算制御信号に基づいてテスト用データを生成する。 - 特許庁

To improve the efficiency in test process control by consistently and continuously executing the work from the preparing and approving work of a test specification to the control of a schedule and the registration of a result.例文帳に追加

テスト仕様書の作成・承認作業からスケジュール管理、成果物の登録に至るまでを一貫性をもって連続的に行ない、テスト工程管理の効率化を図る。 - 特許庁

ELECTROMAGNETIC REFRIGERATING CAPACITY CONTROL DEVICE AND ENVIRONMENTAL TEST DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME例文帳に追加

電磁弁式の冷凍能力制御装置及びこれを備えた環境試験装置 - 特許庁

To control vehicle travel not to depart from allowable range of travel test pattern.例文帳に追加

走行テストパターンの許容範囲を外れないように、車両の走行を制御する。 - 特許庁

A USB connection section 11 connects the control device 10 and the test device 20.例文帳に追加

ＵＳＢ接続部１１は、制御装置１０と試験装置２０との接続を行う。 - 特許庁

The signal generating circuits and the test setting control circuit have shift registers, and control data and test data are serially inputted to these shift registers from external terminals.例文帳に追加

信号生成回路及びテスト設定制御回路はシフトレジスタを備えており、これらのシフトレジスタに制御データやテストデータが外部端子よりシリアルに入力される。 - 特許庁

A second set of relays control the connection of the metallic line test bus to the subscriber line.例文帳に追加

第二リレー群が、メタル回線テストバスの加入者回線への接続を制御する。 - 特許庁

To test an ECU(electronic control unit) having plural CPU in a simple constitution.例文帳に追加

複数のＣＰＵを有するＥＣＵ（電子制御装置）を簡易な構成でテストする。 - 特許庁

To test entire condition code set instructions without interruption of advanced control.例文帳に追加

先行制御を中断せずに全ての条件コード設定命令の試験を行う。 - 特許庁

When a test key of a control panel or a remote control device is operated by the user, a control part controls to superpose and display a test pattern TP (horizontal line Lh and vertical line Lv) on an input image Pi.例文帳に追加

制御部は、ユーザによって操作パネル又はリモコンのテストキーが操作されると、入力画像Ｐｉ上にテストパターンＴＰ（水平ラインＬｈ及び垂直ラインＬｖ）を重畳表示させる。 - 特許庁

The semiconductor-testing device includes: a test board including a plurality of test pins, where the semiconductor device to be tested is mounted; a test part for testing continuity between the plurality of test pins and a plurality of device pins; and a control part for identifying test pins continuous to the device pins from among the plurality of test pins to allocate test pins connected to the device pins by referring to coordinates of the device pins.例文帳に追加

試験対象の半導体装置が搭載される、複数のテストピンを含むテストボードと、複数のテストピンと複数のデバイスピンとの導通を試験するテスト部と、複数のテストピンのうち、デバイスピンと導通するテストピンを特定し、デバイスピンの座標を参照してデバイスピンに接続するテストピンを割り当てる制御部とを有する。 - 特許庁

The control board has test operation means A15 and A16 for making the game device perform the test operation in a predetermined state corresponding to each command for test operation transmitted from the test command output means when the game mode is transferred to a test mode.例文帳に追加

制御基板に、テストモードに移行した場合に、テストコマンド出力手段から送信される一連のテスト用動作コマンドの各々に対応して予め定められた態様で遊技装置にテスト動作を行わせるテスト動作手段（Ａ１５，Ａ１６）を設ける。 - 特許庁

The main controller 10 of the game machine 1 includes an individual test value generator 12 for generating a first or second individual test value when a control command to be output is a first or second control command, adds the first individual test value to the first control command or the second individual test value to the second control command, and transmits it to a post-stage part 20 or the peripheral part 30.例文帳に追加

遊技機１の主制御部１０は、出力する制御コマンドが第１又は第２制御コマンドの時、第１又は第２個体検査値を生成する個体検査値生成部１２を備え、第１個体検査値を第１制御コマンド、又は第２個体検査値を第２制御コマンドに付加して後段部２０又は周辺部３０へ送信する。 - 特許庁

A control procedure information converting part 130 for test case generation inputs the model identifier and the model configuration information for test case generation and generates a test case generation condition by using a control procedure obtained by retrieving the control procedure storing part 102 by using the model identifier, the model configuration information for test case generation and the control procedure.例文帳に追加

テストケース生成用制御手順情報変換部１３０は、機種識別子とテストケース生成用機種構成情報とを入力し、機種識別子を用いて制御手順記憶部１０２を検索して取得した制御手順と、テストケース生成用機種構成情報と制御手順とを用いて、テストケース生成条件を生成する。 - 特許庁

The semiconductor test device is equipped with a control means 79 which is used to test the operation of a measured semiconductor element (DUT) 40.例文帳に追加

半導体試験装置は、被測定半導体素子（ＤＵＴ）４０の動作を試験するために用いられる制御手段７９を備える。 - 特許庁

Then, the control computer 20 can display the test scheduled input screen for inputting the schedule of a test on the monitor 30.例文帳に追加

そして、制御コンピュータ２０は、テストのスケジュールを入力させるためのテストスケジュール入力画面を、モニタ３０に表示することができる。 - 特許庁

To suppress increase of wiring area from a data output terminal of each memory to a test control circuit in an incorporated memory test circuit.例文帳に追加

組み込み型メモリ試験回路において、各メモリのデータ出力端子から試験制御回路までの配線面積の増加を抑制する。 - 特許庁

To obtain a photographing condition and to set it without test exposure to a test object and independently of a method for radioscopic control.例文帳に追加

被検体に対しテスト曝射を行うことなく、また、透視制御の方法に依存することなく撮影条件を求めて設定する。 - 特許庁

The scan test self-synchronization control circuit 101-103 is set in such a state as handshake ends before third way at the time of test.例文帳に追加

スキャンテスト対応自己同期制御回路１０１〜１０３は、テスト時に３ウェイ目までハンドシェイクが終了した状態に設定される。 - 特許庁

To obtain an off-line test device for achieving, by one computer the off-line test of a sequence control program to be performed by a programmable controller.例文帳に追加

プログラマブルコントローラで実行されるシーケンス制御プログラムのオフラインテストを１台のコンピュータで実現可能なオフラインテスト装置を得ること。 - 特許庁

Feature test macros allow the programmer to control the definitions that are exposed by system header files when a program is compiled. 例文帳に追加

機能検査マクロ (feature test macro) により、プログラマはプログラムがコンパイルされる際にシステムのヘッダファイルにより公開される定義を制御することができる。 - JM

TEST PATTERN GENERATION METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST PATTERN GENERATOR OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, CONTROL PROGRAM, READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

半導体集積回路のテストパターン生成方法および半導体集積回路のテストパターン生成装置、制御プログラム、可読記録媒体 - 特許庁

Each of the naturally promoted weathering test devices includes a temperature control system for keeping the test piece at a desired temperature.例文帳に追加

それぞれの自然促進される風化および試験装置は試験片を所望の温度で維持するための温度制御システムを含んでいる。 - 特許庁

When the control information for pulling a subscriber line into a tester is transmitted from the new test reception board system 1B, it is converted by the test command conversion part 62, and a subscriber line test is performed by the tester 10 provided inside a remote housing device 5 by the control of the test connection control part 61.例文帳に追加

新試験受付台システム１Ｂから加入者線を試験器に引き込むための制御情報が送信されると、試験コマンド変換部６２により変換されて、試験接続制御部６１の制御により、遠隔収容装置５内に設けられた試験器１０により加入者線試験が行われることを特徴とする。 - 特許庁

A base station device replaces terminal information received from a mobile terminal device 2 with a test patter, transmits to the mobile terminal device 2 control information corresponding to the test pattern, with which the terminal information has been replaced, as test control information and receives from the mobile terminal device 2 a response to the transmitted test control information.例文帳に追加

基地局装置１は、移動端末装置２から受信した端末情報をテストパターンに置き換え、置き換えられたテストパターンに応じた制御情報を試験用制御情報として移動端末装置２に送信し、送信された試験用制御情報に対する応答を移動端末装置２から受信する。 - 特許庁