「current probe method」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

EDDY CURRENT FLAW DETECTION METHOD, INSERTION TYPE PROBE AND EDDY CURRENT FLAW DETECTOR USING INSERTION TYPE PROBE例文帳に追加

渦流探傷方法、挿入型プローブ該挿入型プローブを用いた渦流探傷装置 - 特許庁

EDDY-CURRENT TEST PROBE AND EDDY-CURRENT TEST METHOD USING THE PROBE例文帳に追加

渦流探傷検査用プローブおよびこれを用いた渦流探傷検査方法 - 特許庁

EDDY CURRENT FLAW DETECTION PROBE, FLAW DETECTOR, AND FLAW DETECTION METHOD例文帳に追加

渦電流探傷プローブ，探傷装置及び探傷方法 - 特許庁

EDDY CURRENT FLAW DETECTION PROBE, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

渦電流探傷プローブ及びその製造方法 - 特許庁

PULSE EDDY CURRENT SENSOR PROBE AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

パルス渦電流センサプローブ及び検査方法 - 特許庁

EDDY CURRENT PROBE, INSPECTING SYSTEM AND INSPECTING METHOD例文帳に追加

渦電流プローブ、検査システム及び検査方法 - 特許庁

METHOD FOR EDDY CURRENT FLAW DETECTION AND FLAW DETECTION PROBE例文帳に追加

渦電流探傷法及び探傷プローブ - 特許庁

PROBE AND METHOD FOR INSPECTING EDDY CURRENT FLAW例文帳に追加

渦流探傷用プローブ及び渦流探傷方法 - 特許庁

EDDY CURRENT FLAW DETECTING METHOD AND EDDY CURRENT FLAW DETECTING PROBE FOR REALIZING DEEP PENETRATION OF EDDY CURRENT例文帳に追加

深い渦電流の浸透を実現する渦電流探傷法および渦電流探傷プローブ - 特許庁

EDDY CURRENT FLAW DETECTION METHOD, EDDY CURRENT FLAW DETECTION PROBE, AND EDDY CURRENT FLAW DETECTION DEVICE例文帳に追加

渦電流探傷方法、渦電流探傷プローブ、及び渦電流探傷装置 - 特許庁

EDDY CURRENT FLAW DETECTING PROBE, EDDY CURRENT FLAW DETECTING DEVICE, AND EDDY CURRENT FLAW DETECTION METHOD例文帳に追加

渦電流探傷プローブ及び渦電流探傷装置並びに渦電流探傷方法 - 特許庁

EDDY CURRENT PROBE FOR FLAW DETECTION, EDDY CURRENT DEVICE FOR FLAW DETECTION, AND EDDY CURRENT METHOD FOR FLAW DETECTION例文帳に追加

渦電流探傷プローブ、渦電流探傷装置及び渦電流探傷方法 - 特許庁

CURRENT PROBE MODELING METHOD, CURRENT PROBE MODEL CREATION DEVICE, SIMULATION METHOD, SIMULATION DEVICE, AND PROGRAM例文帳に追加

カレントプローブモデル化方法、カレントプローブモデル作成装置、シミュレーション方法、シミュレーション装置、及びプログラム - 特許庁

MULTI-COIL TYPE PROBE OF EDDY CURRENT FLAW DETECTOR AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

渦流探傷装置のマルチコイル式プローブ及びその製造方法 - 特許庁

METHOD FOR SURVEYING GENERATION SOURCE OF ELECTROMAGNETIC WAVES, AND CURRENT PROBE USED THEREFOR例文帳に追加

電磁波発生源探査方法及びそれに用いる電流プローブ - 特許庁

EDDY CURRENT FLAW DETECTION MULTI-COIL PROBE AND ITS MANUFACURING METHOD例文帳に追加

渦流探傷マルチコイル式プローブ及びその製造方法 - 特許庁

LASER CURRENT METER AND PROBE MANUFACTURING METHOD USED THEREIN例文帳に追加

レーザ流速計及びこれに用いられるプローブの製造方法 - 特許庁

POSITION DETECTION METHOD AND POSITION DETECTION DEVICE FOR STRUCTURE BY EDDY CURRENT PROBE例文帳に追加

渦電流探査による構造物の位置検出方法及び位置検出装置 - 特許庁

EDDY CURRENT FLAW DETECTION MULTI-COIL TYPE PROBE, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

渦流探傷マルチコイル式プローブ及びその製造方法 - 特許庁

MEASUREMENT CURRENT VALUE DETERMINING METHOD AND FOUR-PROBE RESISTIVITY MEASURING APPARATUS例文帳に追加

測定電流値決定方法及び４探針抵抗率測定装置 - 特許庁

METHOD FOR PASSING CURRENT BETWEEN SCANNED PROBE AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

走査されるプローブと記憶媒体との間に電流を流すための方法 - 特許庁

NON-CONTACT VOLTAGE/CURRENT PROBE DEVICE, AND VOLTAGE/CURRENT MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

非接触型電圧電流プローブ装置とこれを用いた電圧電流測定方法 - 特許庁

HETERODYNE BEAT PROBE SCANNING PROBE TUNNEL MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING MICRO SIGNAL SUPERIMPOSED THEREBY ON TUNNEL CURRENT例文帳に追加

ヘテロダインビートプローブ走査プローブトンネル顕微鏡およびこれによってトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法 - 特許庁

HETERODYNE BEAT PROBE SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF MICROSIGNAL SUPPERPOSED ON TUNNEL CURRENT USING IT例文帳に追加

ヘテロダインビートプローブ走査プローブ顕微鏡およびこれによってトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE TESTING METHOD FOR SEAMED SECTION OF ELECTRO-RESISTANCE-WELDED TUBE AND PROBE-TYPE EDDY-CURRENT FLAW DETECTOR例文帳に追加

電縫鋼管シーム部の非破壊検査方法とプローブ型渦流探傷装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING FLAW OF INSPECTING OBJECT, AND PROBE FOR EDDY CURRENT FLAW DETECTION例文帳に追加

検査対象物の探傷方法および装置ならびに渦流探傷用プローブ - 特許庁

To provide an eddy current flaw detection probe, an eddy current flaw detection device, and an eddy current flaw detection method for performing flaw detection of a defect inside a capillary, and eliminating an error resulting from lift-off of a probe included in a flaw detection signal.例文帳に追加

細管内面の欠陥を探傷することができると共に、探傷信号に含まれるプローブのリフトオフに起因する誤差をなくすことができる渦流探傷プローブ、渦流探傷装置、及び渦流探傷方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING EDDY CURRENT FLAW OF TUBE WITH INNER FIN, DIFFERENTIAL COIL AND PROBE FOR DETECTING EDDY CURRENT FLAW例文帳に追加

内面フィン付き管の渦流探傷方法、渦流探傷用差動コイル及び渦流探傷用プローブ - 特許庁

To provide an insulation coated probe pin in which no current leakage is generated, when the tip of the probe pin is in contact, and to provide a method for producing the insulation coated probe pin by which the workability is not lowered, and which does not use organic solvents or special chemicals.例文帳に追加

プローブ針先端部が接触しても通電リークが発生しないプローブ針を提供すること、および作業性が低下せず、有機溶剤や特殊な薬品を使用しない絶縁被覆プローブ針の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe for furthermore improving the sensitivity by enhancing the linearity response of a displacement current with respect to a displacement of vibration and to provide an array probe and a method of manufacturing the ultrasonic probe.例文帳に追加

振動の変位に対する変位電流の直線応答性を良くすることにより、感度のさらなる向上を図った超音波探触子、アレイ探触子および超音波探触子の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an eddy-current test probe and an eddy-current test method using the probe having high detection precision to detect defects of a heat exchanger tube with inner fins.例文帳に追加

インナーフィン付き伝熱管における伝熱管自体に発生した欠陥の検出精度を向上させることができる渦流探傷検査用プローブおよびこれを用いる渦流探傷検査方法を提供することである。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw detection probe wherein the close adhesion of the projection installed on the eddy current flaw detection probe as a spacer is stabilized even in the inspection of the surface of an object to be inspected small in sharp unevenness and curvature, and a method for manufacturing the same.例文帳に追加

鋭利な凸凹や、曲率の小さい被検査体面の検査でも、渦電流プローブにスペーサーとして設置する突起物の密着を安定させた渦電流プローブ及びその製造方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw detection method, an insertion type probe and an eddy current flaw detector using the insertion type probe, capable of detecting a longitudinal flaw occurring in the inner surface of an elongated drawn pipe.例文帳に追加

長尺の引抜管の内面に生ずる縦傷を検出できる渦流探傷方法、挿入型プローブ及び該挿入型プローブを用いた渦流探傷装置を提供する。 - 特許庁

By measuring with a measurement means of four-terminal method, comprising a current probe 40, a voltage probe 42, a constant current source 44, and a measurement part 52, etc., the resistance value of the metal resistor 14 is adjusted at high precision.例文帳に追加

電流用プローブ４０、電圧用プローブ４２、定電流源４４及び測定部５２などの４端子法の測定手段８により測定しつつ金属抵抗体１４の抵抗値を高精度に調整する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING MAIN AXIS ELECTRIC RESISTIVITY OF TWO-DIMENSIONAL AND THREE-DIMENSIONAL ANISOTROPIC SUBSTANCES BY MULTIPOINT VOLTAGE-CURRENT PROBE METHOD例文帳に追加

多点電圧・電流プローブ法による２次元、および３次元異方性物質の主軸電気抵抗率測定方法およびその測定装置 - 特許庁

METHOD OF EVALUATING LIFT-OFF AMOUNT BETWEEN EDDY CURRENT FLAW DETECTING PROBE AND INSPECTED OBJECT, AND EVALUATION DEVICE THEREFOR, EDDY CURRENT FLAW DETECTION METHOD, AND EDDY CURRENT FLAW DETECTOR例文帳に追加

渦電流探傷プローブと被検査体のリフトオフ量評価方法及びその評価装置並びに渦電流探傷方法及び渦電流探傷装置 - 特許庁

To provide a multilayer electric probe having the capability of enduring high current and the desired mechanical strength and its manufacturing method.例文帳に追加

耐高電流能力および所望の機械強度を有する多層電気プローブおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and its using method capable of preventing generation of a photoelectric current by a laser beam in a sample.例文帳に追加

レーザー光による光起電流を試料に発生させない走査型プローブ顕微鏡およびその使用方法を提供する。 - 特許庁

PHASED SCAN EDDY CURRENT ARRAY PROBE AND PHASED SCANNING METHOD FOR PROVIDING COMPLETE AND CONTINUOUS COVERAGE OF TEST SURFACE WITHOUT SCANNING MECHANICALLY例文帳に追加

同期式走査渦電流アレイプローブ及び機械的に走査することなく検査面の完全で連続的な到達範囲を提供する同期式走査方法 - 特許庁

To avoid a large current from flowing through a specific probe pin by a simple mechanism, relating to a testing device and a testing method.例文帳に追加

試験装置及び試験方法に関し、簡単な機構により特定のプローブピンに大電流が流れることを回避する。 - 特許庁

This enables the current flowing to the pattern 4 and probe 3, and the temperature of a probe unit 1 for use in the photochemical gas phase deposit method can be raised.例文帳に追加

したがって、電流通路パターン４及び探針３へ電流を流すことが可能となり、光化学気相堆積法用プローブ１の温度を上昇させることができる。 - 特許庁

The method obtains the relationship between the current flowing through the coil of the needle pressure generation device and the needle pressure of the probe, from this relationship, the fluctuation of the needle pressure of the probe is automatically calibrated.例文帳に追加

本発明の方法は、針圧発生装置のコイルに流す電流と探針の針圧との関係を求め、求めた関係に基いて探針の針圧の変化を自動的に較正する。 - 特許庁

To provide a phased scanning method and a phased scan eddy current array probe suitable for an in-situ eddy current inspection of a structure without scanning mechanically.例文帳に追加

機械的に走査することなく、構造体の現場での渦電流検査に適する同期式走査方法及び同期式走査渦電流アレイプローブを提供する。 - 特許庁

To provide an exciting power measuring method of a crystal oscillation circuit for calculating exciting power, while suppressing influences of a current probe, without measuring any exciting current.例文帳に追加

電流プローブの影響を抑え、励振電流を測定することなく、励振電力を算出する水晶発振回路の励振電力測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for determining a current value of an electric current applied to a sample in order to obtain a voltage value required for measuring the sample in four-probe resistivity measurement.例文帳に追加

４探針抵抗率測定において試料の測定に必要な電圧値を実現するために、試料に供給すべき電流の電流値を決定する方法を提供する。 - 特許庁