「electron sampling」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide means for surely sampling a minute article in a sampling device (typically an electron microscope) having an observation system using a charged particles.例文帳に追加

電子顕微鏡に代表される荷電粒子を利用する観察系を有するサンプリング装置において、微小物体を確実にサンプリングする手段を提供することを目的とする。 - 特許庁

This sampler is equipped with a device for generating an electron beam by irradiating a light signal to a negative-electrode cathode, a deflecting electrode for deflecting a generated electron beam, a sampling slit for partly transmitting the deflected electron beam, and an electric charge detection means for detecting the amount of electric charge (or integrated current) of the transmitted electron beam.例文帳に追加

光信号を陰極カソードに照射して電子ビームを発生させる装置と、発生した電子ビームを偏向する偏向電極と、偏向された電子ビームの一部を透過させるサンプリングスリットと、透過した電子ビームの電荷量（又は積算電流）を検出する電荷検出手段を備えている。 - 特許庁

To provide an inspection device and method using a scanning electron microscope which detects an highly accurate electron beam image and excludes limitation of an AD conversion element for a low sampling rate as a subject matter.例文帳に追加

高精度の電子線画像を検出すると同時に、その際問題となる低サンプリングレートに対するＡＤ変換素子の制約を排除した走査電子顕微鏡を用いた検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for preparing samples for transmission electron microscope observation and a sampling apparatus whereby extracted samples can be fixed in an arbitrary direction to a sample stage.例文帳に追加

摘出試料を任意の方向に向けて試料台に固定することが可能な透過電子顕微鏡観察用試料作製方法およびサンプリング装置を提供する。 - 特許庁

A peak detecting circuit 19 creates a line profile of a sampling value respective to each position scanned by the electron beam and determines whether an analysis position is positioned from its peak position above or under a focus point of an electrospectrometer.例文帳に追加

ピーク検出回路１９は、各電子線走査位置に対するサンプリング値のラインプロファイルを作成し、そのピーク位置から分析位置が電子分光器のフォーカス点より上に位置するか下に位置するかを求める。 - 特許庁

To increase a ratio of x rays made incident on a diffraction grating and an image sensor in a system for diffracting characteristic x-rays from a sample irradiated with an electron beam by the diffraction grating and sampling a spectrum by the image sensor.例文帳に追加

電子線を照射した試料からの特性Ｘ線を回折格子により回折させてイメージセンサでスペクトルを採取するシステムにおいて、回折格子やイメージセンサに入射するＸ線の比率を大きくする。 - 特許庁

The sampling device includes a board for placing the sample of minute article, a probe for moving the sample of minute article, and electron beam radiating means for charging the sample of minute article.例文帳に追加

前記目的を達成するために本発明は、微小物体試料を載せる基板と、前記微小物体試料を移動させるプローブと、前記微小物体試料を帯電させる電子線照射手段とを備えるサンプリング装置を提供する。 - 特許庁

It is discovered that the cutaneous blood vessel function can be evaluated by sampling keratin from the skin with a tape strip etc. and examining the mRNA amount corresponding to mitochondria electron transmitting genes and/or blood vessel growing factor genes contained therein.例文帳に追加

皮膚からテープストリップ等によって角質を採取し、そこに含まれるミトコンドリア電子伝達系遺伝子及び／又は血管成長因子遺伝子に対応するｍＲＮＡ量を調べることにより、皮膚血管機能を評価できることを見出した。 - 特許庁

This sampling apparatus used in preparing samples for transmission electron microscope observation by a focused ion beam processing apparatus includes a probe which can rotate which its shaft being as an axis of rotation and a rotating means for rotating the probe.例文帳に追加

また、集束イオンビーム加工装置による透過電子顕微鏡観察用試料作製に用いるサンプリング装置は、プローブの軸を回転軸とする回転が可能なプローブと、その回転を行うための回転手段とを備えることを特徴とする。 - 特許庁

The micro testpiece processing and observation device are equipped with a focused ion beam optical system and an electron optical system in an identical vacuum device, and separate a micro testpiece including the desired region of the testpiece by a charged particle beam forming process, and have a probe for sampling the micro testpiece separated.例文帳に追加

上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。 - 特許庁

In the micro testpiece processing and observation device, a focused ion beam optical system and an electron optical system are equipped in an identical vacuum device, and a micro testpiece including the desired region of the testpiece is separated by a charged particle beam forming process, and a probe for sampling the micro testpiece separated is equipped.例文帳に追加

上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。 - 特許庁

Then, pulse width modulated signals corresponding to respective sampling values in which the video signal is sampled are obtained and a pulse width limit corresponding to a display mode showing the brightness of the display video is applied to these pulse width modulated signals and these signals are given to the plurality of the electron discharge elements 42.例文帳に追加

そして、映像信号をサンプリングした各サンプリング値に対応したパルス幅変調信号を得、この各パルス幅変調信号に対して表示映像の明るさを示す表示モードに応じたパルス幅制限を施して複数の電子放出素子４２に与える。 - 特許庁