「mean defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a defect pixel replacement system where pixel data of a defective pixel are replaced with a weight mean of pixel data of a normal pixel when there is a defect in a pixel being a configuration unit of a video input section and to provide a video display device.例文帳に追加

欠陥画素置換方式及び映像表示装置に関し、映像入力部の構成単位である画素に欠陥がある場合に、欠陥画素の画素データを正常画素の画素データの荷重平均で置換する欠陥画素置換方式及び映像表示装置を提供する。 - 特許庁

The method and device inspect the defect generated in the outward appearance of the object to be inspected through the image processing and the defect is detected by comparing image data at respective inspection points of the object to be inspected with a specific mean value.例文帳に追加

検査対象物の外観に生じている欠陥を画像処理により検査する欠陥検出方法及び欠陥検出装置であって、検査対象物の各検査ポイントにおける画像データを、所定の平均値と比較することにより欠陥を検出するものである。 - 特許庁

The defect pixel detection method for the solid-state image pickup element compares a mean value of pixel data of pixels around a target pixel with pixel data of the target pixel so as to discriminate whether or not the target pixel is defective.例文帳に追加

固体撮像素子の欠陥画素検出方法において、注目画素の周囲の画素データの平均値と、注目画素の画素データとを比較することによって、注目画素が欠陥画素である否かを判定する。 - 特許庁

Three-dimensional image data are obtained through operation from pieces of two-dimensional image data obtained by picking up an image more than one and the mean value of height, the volume, the plain-view shape, etc., of the cream solder 280 are found to detect a defect in printing.例文帳に追加

複数回の撮像による複数の２次元像データから演算により３次元像データを取得し、クリーム半田３８０の高さの平均値，体積，平面視の印刷形状等を求め、印刷不良を検出する。 - 特許庁

Regarding the method of forming an electrodeposition coating film in which the defect in gas pinholes is reduced, the object to be coated is dipped into a cationic electrodeposition coating material comprising resin fine particles with a mean particle diameter of 0.5 to 20 μm by the amount of 1 to 30 wt.% to the solid content of the coating material, and is subjected to electrodeposition coating.例文帳に追加

平均粒径０．５〜２０μｍを有する樹脂微粒子を塗料固形分に対し１〜３０重量％の量で含有するカチオン電着塗料中に被塗物を浸漬した後、電着塗装することを特徴とする、ガスピン欠陥の少ない電着塗膜の形成方法。 - 特許庁

(2) The term "defect" as used in this Act shall mean a lack of safety that the product ordinarily should provide, taking into account the nature of the product, the ordinarily foreseeable manner of use of the product, the time when the manufacturer, etc. delivered the product, and other circumstances concerning the product. 例文帳に追加

２　この法律において「欠陥」とは、当該製造物の特性、その通常予見される使用形態、その製造業者等が当該製造物を引き渡した時期その他の当該製造物に係る事情を考慮して、当該製造物が通常有すべき安全性を欠いていることをいう。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

For example, when a chemical substance is described merely by its name or its chemical formula in a publication and the description does not show the manufacturing process clearly enough that a person skilled in the art is able to manufacture the substance on the basis of the common general knowledge as of the filing, the chemical substance is not included in "cited inventions"(Note that this does not mean that the claim violates the enablement requirement under Article 36(4)(i) where the publication is a patent application claiming the chemical substance as one of the alternatives described in the Markush form). Even though the prior art constitutes an incomplete expression or there is a defect in some of the prior art, it can be cited in assessing the novelty and the inventive step, when the person skilled in the art can readily understand the technical features of the claimed invention based on common technical knowledge or empirical rules. 例文帳に追加

したがって、例えば、刊行物に化学物質名又は化学構造式によりその化学物質が示されている場合において、当業者が本願出願時の技術常識を参酌しても、当該化学物質を製造できることが明らかであるように記載されていないときは、当該化学物質は「引用発明」とはならない（なお、これは、当該刊行物が当該化学物質を選択肢の一部とするマーカッシュ形式の請求項を有する特許文献であるとした場合に、その請求項が第36条第4項第1号の実施先行技術に不完全な表現が含まれるか又は一部の先行技術に瑕疵があったとしても、当業者が技術常識や経験則に基づき容易に発明の技術的特徴を理解することができる場合は、新規性及び進歩性を判断する際に引用することが可能である)。 - 特許庁